537 С 285 Седьмов, Н. А. Магнитоминералогические особенности магнетита из различных осадочных пород и отложений [Текст] / Н. А. Седьмов, В. Ф. Бабанин [и др.] // Вестник Московского университета. Сер. 3, Физика. Астрономия. - 2004. - N 1. - Библиогр.: с. 65 (10 назв. ) . - ISSN 0201-7385
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): магнетит -- магнитная фракция -- почва -- мессбауэровская спектроскопия -- магнитные измерения -- рентгеновская дифрактометрия -- растровая электронная микроскопия -- элементарный анализ Аннотация: С помощью мессбауэровской спектроскопии, магнитных измерений, рентгеновской дифрактометрии, растровой электронной микроскопии и элементарного микроанализа исследованы магнитные фракции, выделенные из различных типов отложений и почв. В изученных магнитных фракциях основная составная часть представлена магнетиком. По форме мессбауэровского спектра, ширине и интенсивности линий установлены магнитные и минералогические особенности природного магнетика и расчитана степень вакансий в его структуре. Показано, что этот параметр магнетита определяется окислительно-восстановительной обстановкой в среде их образования. Доп.точки доступа: Бабанин, В. Ф.; Морозов, В. В.; Залуцкий, А. А.; Трухин, В. И.; Шоба, С. А. |
Галиев, Г. Б. Исследование структурного совершенства, распределения и перерапределения кремния в эпитаксиальных пленках GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках с ориентациями (100), (111)А, (111)В [Текст] / Г. Б. Галиев, В. Г. Мокеров [и др.] // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N4. - Библиогр.: с. 52 (15 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): эпитаксиальные пленки -- арсенид галлия -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- рентгеновская дифрактометрия -- атомно-силовая микроскопия -- ВИМС -- термический отжиг -- легирование -- рельеф поверхности -- ионное травление Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии и ВИМС исследованы распределение кремния до и после термического отжига в тонких легированных слоях GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках с ориентациями (100), (111)А, (111)В. С помощью атомно-силового микроскопа исследованы рельефы поверхности выращенных эпитаксиальных пленок вне и внутри кратера ионного травления, возникающего во время измерения методом ВИМС. Выявлены особенности рельефа поверхности внутри кратера для разных ориентаций. Обнаруженные изменения формы профилей легирования объяснены как особенностями развития рельефа поверхности во время ионного травления при измерении методом ВИМС, так и ускоренной диффузией Si по дефектам роста Доп.точки доступа: Мокеров, В.Г.; Сарайкин, В.В.; Слепнев, Ю.В; Шагимуратов, Г.И.; Имамов, Р.М.; Пашаев, Э.М. |
539.2 Ш 958 Шульпина, И. Л. Применение комплекса дифракционных методов в исследовании реальной структуры материалов (обзор [Текст] / И. Л. Шульпина // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 1. - Библиогр.: с. 27 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Геология--Минералогия--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дефекты -- диагностика материалов -- дислокации -- дифрактометрия (метод) -- дифракция -- материаловедение -- микроскопия -- техника -- топография (метод) -- электронная микроскопия (метод) -- электронная техника Аннотация: Обсуждается целесообразность комплексного применения дифракционных методов - рентгеновской дифрактометрии, топографии и электронной микроскопии - для исследования реальной структуры новых материалов электронной техники. Показаны возможности такого применения с учетом современного состояния дифракционных методов. |
535.338.43.533.59 И 264 Игнатенко, П. И. Дифрактометрические исследования влияния условий получения алмазных пленок на монокристалл кремния [Текст] / П. И. Игнатенко, И. В. Сельская // Известия вузов. Физика. - 2002. - Т.45,N2. - Библиогр.: с. 79 (8 назв.) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): алмазные пленки -- дифрактометрия -- кремниевые подложки -- рост пленок -- синтез пленок Аннотация: Дифрактометрическим методом исследовано влияние параметров синтеза на рост алмазных пленок. При концентрации метана 2 и 4%, температурах подложек 1073, 1173, 1273 К с повышением давления, от5 до 22 кПа, увеличивается скорость роста алмазной пленки. Максимальная скорость роста (1,2 нм/с) имеет место при давлении 21,3 кПа, температуре подложки 1173 К и концентрации метана 4%. При этом, ка правило, растут текстурированные алмазные пленки с текстурой <110> либо <311>, либо с двойной текстурой <110>+<311> Перейти: http://www.tsu.ru/ru/derision/physics Доп.точки доступа: Сельская, И.В. |
669-176:548.4 У 760 Усов, В. В. Фрактальная природа дислокационной структуры низколегированной стали контролируемой прокатки [Текст] / В. В. Усов, Н. М. Шкатуляк // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 11. - Библиогр.: с. 48 (17 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Машиностроение--Общая технология металлов--Металлургия. Металлы и сплавы Кл.слова (ненормированные): низколегированные стали -- рентгеновская дифрактометрия -- электронная микроскопия -- пластическая деформация -- деформированные стали -- деформация прокаткой -- деформированные металлические системы Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии и просвечивающей электронной микроскопии изучена кристаллографическая текстура и дислокационная структура низколегированной стали после контролируемой прокатки. Показано, что формирование кристаллографической текстуры и соответствующей дислокационной структуры взаимосвязано. Эти процессы есть проявление различных сторон общего явления - развитой пластической деформации. Методом покрытия сетками различного масштаба определены фрактальные размерности границ ячеистой дислокационной структуры главных текстурных компонентов деформированной стали. Доп.точки доступа: Шкатуляк, Н. М. |
621.357.7 Р 605 Родионов, И. В. Влияние низкотемпературного окисления опескоструенной поверхности титана на адгезию плазмонапыленных гидроксиапатитовых покрытий [Текст] / И. В. Родионов, А. В. Лясникова, Л. А. Большаков, Ю. В. Серянов // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2003. - Т.46,N6. - Библиогр.: с.64-65 (8 назв.) . - ISSN 0579-2991
Рубрики: Энергетика--Электротехника Кл.слова (ненормированные): адгезия -- гидроксиапатитовые покрытия -- окисление -- опескоструенные поверхности -- плазмонапыленные покрытия -- профилометрия -- рентгеновская дифрактометрия -- титан Аннотация: С помощью профилометрии и рентгеновской дифрактометрии исследовано низкотемпературное окисление опескоструенной поверхности титана. Показано, что вначале окисление идет по прямому логарифмическому закону роста оксидной пленки в "лунках" локального абразивного разрушения, а при временах, больших 48 часов - по обратному логарифмическому закону роста оксидной пленки на межлуночных "гребешках". После 96 часов рост пленки прекращается. По данным адгезиометрии плазмонапыленных гидроксиапатитовых покрытий время межоперационного хранения опескоструенных заготовок титановых дентальных имплантатов в связи с их окислением не должно превышать 30 минут. Доп.точки доступа: Лясникова, А.В.; Большаков, Л.А.; Серянов, Ю.В. |
537 В 183 Варнаков, С. Н. Автоматизация технологического оборудования для получения многослойных структур в сверхвысоком вакууме [Текст] / С. Н. Варнаков, А. А. Лепешев [и др.] // Приборы и техника эксперимента. - 2004. - N 6. - Библиогр.: с. 129 (8 назв. ) . - ISSN 0032-8162
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): вакуум -- автоматизация -- технологическое оборудование -- многослойные структуры -- тонкие пленки -- полупроводники -- дифрактометрия -- эллипсометры Аннотация: Описана автоматизация комплекса для получения тонких пленок и многослойных структур полупроводниковых и магнитных материалов в сверхвысоком вакууме. Доп.точки доступа: Лепешев, А. А.; Овчинников, С. Г.; Паршин, А. С.; Коршунов, М. М.; Nevoral, P. |
539.2 С 58 Созин, Ю. И. Критерии аморфного и кристаллического состояний с позиций дифрактометрии координационных сфер (обобщающая статья [] / Ю. И. Созин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 1. - С. 29-37. - Библиогр.: с. 37 (43 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): аморфное состояние; дифрактометрия; координационные сферы; кристаллическое состояние; критерии состояний вещества; уравнение Эренфеста; Эренфеста уравнение Аннотация: С позиций дифрактометрии координационных сфер - нового научного направления, вводятся и обсуждаются критерии кристаллического и аморфного состояний. |
621.38 Е 63 Енишерлова, К. Л. Производственный контроль полупроводниковых пластин и эпитаксиальных структур [] / К. Л. Енишерлова, С. С. Сарманов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 6. - С. 30-37. - Библиогр.: с. 36-37 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): дифрактометрия; контроль производства; контрольно-измерительное оборудование; кремниевое производство; пластины; пластины-подложки; полупроводниковые пластины; производственный контроль; рентгеновская дифрактометрия; эпитаксиальные структуры Аннотация: Рассмотрены основные этапы контроля полупроводниковых пластин-подложек и эпитаксиальных структур в процессе их изготовления на примере кремниевого производства. Доп.точки доступа: Сарманов, С. С. |
669 З-81 Золоторевский, Н. Ю. Эволюция микро- и макротекстуры в процессе волочения стальной проволоки [] / Н. Ю. Золоторевский, Е. В. Нестерова, В. В. Рыбин, Ю. Ф. Титовец // Физика металлов и металловедение. - 2005. - Т. 99, N 1. - С. 80-87. - Библиогр.: с. 87 (15 назв. ) . - ISSN 0015-3230
Рубрики: Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы Кл.слова (ненормированные): стальные проволоки; волочение; перлиты; рентгеновская дифрактометрия; макроскопическая структура; микроструктура Аннотация: Развитие текстуры при волочении стали эвтектоидного состава со структурой тонкопластинчатого перлита исследовали методом рентгеновской дифрактометрии. Доп.точки доступа: Нестерова, Е. В.; Рыбин, В. В.; Титовец, Ю. Ф. |
624.131 С 13 Савчук, Г. К. Обучение студентов инженерно-строительного профиля основам рентгеновской дифрактомерии с использованием компьютерной структурной кристаллографии [] / Г. К. Савчук, Н. П. Юркевич // Физическое образование в вузах. - 2005. - Т. 11, N 2. - С. 56-65. - Библиогр.: с. 65 (4 назв. ). - Ил.: 3 рис. . - ISSN 1609-3143
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Строительство--Теоретические изыскания в строительстве Кл.слова (ненормированные): кристаллография; рентгеновская дифрактометрия; кристаллическое строение веществ; структура твердых тел; песок; строительные материалы; лабораторные работы; двуокись кремния; кремнезем; учебные компьютерные эксперименты; SiO[2] Аннотация: Изложены основы метода порошковой дифрактометрии. Представлены основные элементы теоретического расчета рентгеновских дифракционных картин для различных модификаций песка. Доп.точки доступа: Юркевич, Н. П. |
539.2 К 18 Каминский, В. В. Исследования температурной зависимости параметров кристаллической решетки SmS [] / В. В. Каминский, Н. В. Шаренкова, Л. Н. Васильев, С. М. Соловьев // Физика твердого тела. - 2005. - Т. 47, N 2. - С. 217-219. - Библиогр.: с. 219 (6 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дифрактометрия; диэлектрики; зависимости; кристаллические решетки; моносульфид самария; параметры; полупроводники; рентгеновская дифрактометрия; решетки; самарий; сульфид самария; температурные зависимости Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии исследовано поведение параметра решетки монокристаллов сульфида самария в температурном интервале 100-700 К. Доп.точки доступа: Шаренкова, Н. В.; Васильев, Л. Н.; Соловьев, С. М. |
539.2 Ш 25 Шаренкова, Н. В. Особенности структуры металлической фазы, возникающей под действием механической полировки поликристаллических образцов SmS [] / Н. В. Шаренкова, В. В. Каминский [и др.] // Физика твердого тела. - 2005. - Т. 47, N 4. - С. 598-602. - Библиогр.: с. 602 (12 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): гомогенность; дифрактометрия; диэлектрики; металлическая фаза; металлические слои; механическая полировка; пленки; поликристаллические образцы; полировка; полупроводники; полупроводниковые образцы; рентгеновская дифрактометрия; сульфид самария; фаза Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии исследованы структурные особенности пленки металлической фазы, возникающей при дозированной полировке полупроводниковых поликристаллических образцов SmS (1+x) S в области гомогенности. Исследованы структурные изменения, возникающие при этом в полупроводниковой фазе. Доп.точки доступа: Каминский, В. В.; Голубков, А. В.; Васильев, Л. Н.; Каменская, Г. А. |
539.2 Б 14 Багаев, В. С. Неравновесные акустические фононы в ZnTe при гелиевых температурах: влияние примесей и структурных дефектов на длины свободного пробега фононов [] / В. С. Багаев, Т. И. Галкина [и др.] // Физика твердого тела. - 2005. - Т. 47, N 6. - С. 1032-1038. - Библиогр.: с. 1038 (17 назв. ). - Влияние примесей и структурных дефектов на длины свободного пробега фононов . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): акустические фононы; гелиевые температуры; дефекты; дифрактометрия; кристаллит; люминесценция; метод химического синтеза паров; методика тепловых импульсов; неравновесные акустические фононы; примеси; пробег фононов; рентгеновская дифрактометрия; свободный пробег фононов; структурные дефекты; фононы; химический синтез паров Аннотация: С помощью рентгеновской дифрактометрии, люминесценции и методики тепловых импульсов исследован кристаллит ZnTe, отобранный из друзы крупнозернистого поликристаллического ZnTe, полученного методом химического синтеза паров компонентов при температуре 650 градусов Цельсия. Доп.точки доступа: Галкина, Т. И.; Клоков, А. Ю.; Клевков, Ю. В.; Кривобок, В. С.; Мартовицкий, В. П.; Сентюрина, Н. Н.; Шарков, А. И. |
539.2 М 15 Макара, В. А. Рентгенодифракционное исследование влияния нейтронного облучения на процессы дефектообразования в отожженных при высоких температурах кристаллах Cz-Si [] / В. А. Макара, Н. Н. Новиков, Б. Д. Пацай // Физика твердого тела. - 2005. - Т. 47, N 10. - С. 1791-1795. - Библиогр.: с. 1795 (19 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дифрактометрия; излучение; кластеры; кремний; кристаллы; метод Чохральского; монокристаллы кремния; нейтронное облучение; нейтронно-облученные кристаллы; облучение; отжиг; отожженные кристаллы; рентгеновское излучение; рентгенодифракционные исследования; трехкристальная дифрактометрия; Чохральского метод; эталонные кристаллы Аннотация: Методами трехкристальной дифрактометрии выполнено сравнительное исследование рассеяния рентгеновского излучения нетронно-облученными и эталонными, выращенными по методу Чохральского кристаллами кремния после их отжига при температурах 850 - 1050 градусов Цельсия. Доп.точки доступа: Новиков, Н. Н.; Пацай, Б. Д. |
620.193 Н 47 Неклюдов, И. М. Природа и механизм модификации материалов на большую глубину при обработке низкоэнергетической плазмой тлеющего разряда [Текст] / И. М. Неклюдов, Ю. В. Кунченко [и др.] // Физика и химия обработки материалов. - 2005. - N 4. - С. 17-27 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): низкоэнергетическая плазма; электронная микроскопия; рентгеновская дифрактометрия; микротвердость; плазма тлеющего разряда Аннотация: Рассмотрены механизмы поверхностной модификации металлов и сплавов на большую глубину при обработке низкоэнергетической плазмой тлеющего разряда при температуре 100 градусов С. Доп.точки доступа: Кунченко, Ю. В.; Картмазов, Г. Н.; Кунченко, В. В.; Ломино, Н. С.; Савченко, В. И. |
539.2 Г 93 Гудков, В. В. Особенности поглощения и фазовой скорости ультразвука вблизи низкотемпературного фазового перехода, индуцированного 3d-примесью в кристалле ZnSe [Текст] / В. В. Гудков, А. Т. Лончаков [и др.] // Физика твердого тела. - 2005. - Т. 47, N 8. - С. 1498-1500. - Библиогр.: с. 1500 (8 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дифрактометрия; кристаллы; низкотемпературные фазовые переходы; никель; поглощения; примеси; ультразвук; ультразвуковые методы; фазовые переходы; фазовые скорости ультразвука; частотная зависимость Аннотация: Приведены результаты температурных исследований поглощения и скорости ультразвука в диапазоне частот 33-268 MGHz в кристаллах ZnSe: Ni и ZnSe: Cr. Проанализирована частотная зависимость пика поглощения и получено значение энергии возбужденного состояния иона Ni (2+) . Доп.точки доступа: Лончаков, А. Т.; Соколов, В. И.; Жевстовских, И. В.; Груздев, Н. Б. |
539.2 С 33 Серых, В. П. К определению рентгеновских погасаний в полнопрофильной дифрактометрии поликристаллов [Текст] / В. П. Серых, авт. Л. М. Серых // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2006. - Т. 72, N 4. - С. 37-38. - Библиогр.: с. 38 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дифрактограммы; дифрактометрия; дифракционные спектры; метод Ритвельда; поликристаллы; полнопрофильная дифрактометрия; рентгеновские погасания; Ритвельда метод; спектры; структурный анализ Аннотация: Предлагается критерий отбора, который позволяет в ходе предварительного анализа полнопрофильной дифрактограммы порошка определить наиболее вероятную рентгеновскую группу погасаний. Доп.точки доступа: Серых, Л. М. |
539.37 С 77 Старенченко, С. В. Особенности деформационного фазового перехода порядок-беспорядок и его моделирование [Текст] / С. В. Старенченко, авт. В. А. Старенченко // Известия вузов. Физика. - 2006. - Т. 49, N 1. - С. 9-24. - Библиогр.: c. 23 (23-24 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): рентгеновская дифрактометрия; пластическая деформация; антифазные границы Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии исследовано воздействие пластической деформации на состояние дальнего атомного порядка в сплавах со сверхструктурами L1[2], L1[2] (M) , L1[2] (MM) . Показано, что в процессе пластической деформации осуществляется гетерогенный фазовый переход порядок-беспорядок, сопровождающийся интенсивным накоплением антифазных границ. Антифазные границы играют важную роль в разрушении дальнего атомного порядка. На основании экспериментальных результатов построена модель разрушения дальнего атомного порядка, учитывающая дислокационные механизмы накопления антифазных границ в процессе деформации. Доп.точки доступа: Старенченко, В. А. |
53.07 Ф 36 Феклистов, В. В. Камера для рентгеновской дифрактометрии образцов газовых гидратов в диапазоне давлений до 700 атм [Текст] / В. В. Феклистов, А. Х. Тимченко [и др.] // Приборы и техника эксперимента. - 2005. - N 6. - С. 134-136. - Библиогр.: с. 136 (4 назв. ) . - ISSN 0032-8162
Рубрики: Физика--Физические приборы Кл.слова (ненормированные): рентгеновская дифрактометрия; камеры (техника); газовые гидраты; диапазон давлений; низкие температуры Аннотация: Описана конструкция камеры для рентгеновской дифрактометрии образцов газовых гидратов, рассчитанная на применение в диапазоне давлений до 700 атм и при низких температурах. Доп.точки доступа: Тимченко, А. Х.; Анчаров, А. И.; Шеромов, М. А.; Манаков, А. Ю. |