537 С 285 Седьмов, Н. А. Магнитоминералогические особенности магнетита из различных осадочных пород и отложений [Текст] / Н. А. Седьмов, В. Ф. Бабанин [и др.] // Вестник Московского университета. Сер. 3, Физика. Астрономия. - 2004. - N 1. - Библиогр.: с. 65 (10 назв. ) . - ISSN 0201-7385
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): магнетит -- магнитная фракция -- почва -- мессбауэровская спектроскопия -- магнитные измерения -- рентгеновская дифрактометрия -- растровая электронная микроскопия -- элементарный анализ Аннотация: С помощью мессбауэровской спектроскопии, магнитных измерений, рентгеновской дифрактометрии, растровой электронной микроскопии и элементарного микроанализа исследованы магнитные фракции, выделенные из различных типов отложений и почв. В изученных магнитных фракциях основная составная часть представлена магнетиком. По форме мессбауэровского спектра, ширине и интенсивности линий установлены магнитные и минералогические особенности природного магнетика и расчитана степень вакансий в его структуре. Показано, что этот параметр магнетита определяется окислительно-восстановительной обстановкой в среде их образования. Доп.точки доступа: Бабанин, В. Ф.; Морозов, В. В.; Залуцкий, А. А.; Трухин, В. И.; Шоба, С. А. |
22.34 Б 437 Белотелов, В. И. Численное моделирование изображений наночастиц в ближнепольной сканирующей оптической микроскопии [Текст] / В. И. Белотелов, А. П. Пятаков [и др.] // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N1. - Библиогр.: с.8-9 (23 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): ближнепольная сканирующая оптическая микроскопия -- магнитные наноструктуры -- наночастицы -- численное моделирование Аннотация: Теоретически рассматривается наблюдение магнитных и немагнитных наночастиц в ближнепольной сканирующей микроскопии в режиме сбора фотонов. Приводится основанный на использовании метода тензорных электродинамических функций Грина теоретический подход к нахождению оптического ближнего поля при данной конфигурации наблюдения. При помощи численного моделирования получены характерные изображения наночастиц различной формы. Показано, что на топографических особенностях исследуемых объектов (края и углы частицы) вследствие граничных условий происходит изменение плоскости поляризации излучения, что осложняет наблюдение магнитной структуры наночастицы магнитооптическим методом. Вместе с тем ближнепольное исследование распределения намагниченности в однородных тонких пленках является более эффективным, поскольку в этом случае поворот плоскости поляризации в основном обусловлен магнитными особенностями образца Доп.точки доступа: Пятаков, А.П.; Звездин, А.К.; Котов, В.А.; Логгинов, А.С. |
534 М 910 Муратиков, К. Л. Влияния внешней механической нагрузки на упругие напряжения вблизи радиальных трещин в Al[2]O[3]-SiC-TiC керамике, регистрируемые фотоакустическим методом [Текст] / К. Л. Муратиков, А. Л. Глазов // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N8. - Библиогр.: 28 назв. . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Акустика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): керамика -- трещины -- упругие напряжения -- фотоакустическая микроскопия Аннотация: Исследован характер изменения фотоакустического сигнала вблизи концов радиальных трещин в Al[2]O[3]-SiC-TiC керамике, индентированной по Виккерсу, под действием внешних напряжений. Предложена теоретическая модель образования фотоакустического сигнала вблизи концов вертикальных трещин. Методом лазерной сканирующей фотоакустической микроскопии получены изображения зон индентации в Al[2]O[3]-SiC-TiC керамике. Продемонстрирована чувствительность фотоакустического метода с пьезоэлектрическим способом регистрации сигнала, как к нормальным, так и касательным напряжениям, действующим на трещину. Произведено сравнение теоретических и экспериментальных результатов по влиянию внешних напряжений на поведение фотоакустического сигнала вблизи концов радиальных трещин. Установлено их хорошее соответствие для исследованной керамики. Показана возможность оценки коэффициентов напряжений вблизи концов вертикальных трещин из данных фотоакустических экспериментов. Доп.точки доступа: Глазов, А.Л. |
539.2 С 302 Семенов, А. П. Тонкие пленки углерода. II. Строение и свойства [Текст] / А. П. Семенов, А. Ф. Белянин [и др.] // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 5. - Библиогр.: c. 104 (10 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): атомно-силовая микроскопия -- выращивание пленок -- ионные пучки -- распыление -- рентгенофазовый анализ -- спектроскопия комбинационного рассеяния света -- тонкие пленки -- углерод -- электронные пучки Аннотация: Исследованы процессы выращивания тонких пленок углерода различных структурных модификаций распылением графита ионным пучком и воздействием на структуру углеродного конденсата либо электронным, либо ионным пучками при низких температурах и давлениях. Изучены фазовый состав, строение, морфология поверхности и автоэмиссионные свойства полученных тонких пленок методами рентгенофазового анализа, спектроскопии комбинационного рассеяния света и атомно-силовой микроскопии. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/05/page-101.html.ru Доп.точки доступа: Белянин, А. Ф.; Семенова, И. А.; Пащенко, П. В.; Барнаков, Ю. А. |
539.2 Ш 187 Шалыгина, Е. Е. Исследование магнитных свойств и микромагнитной структуры многокомпонентных Fe[61. 4]Ni[3. 6]Cr[3. 2]Si[2. 4]Nb[7. 8]Mn[3. 6]B[18] аморфных лент [Текст] / Е. Е. Шалыгина, Н. М. Абросимова, М. А. Комарова, В. В. Молоканов // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 9. - Библиогр.: c. 130 (15 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): аморфные ленты -- доменные границы -- керр-микроскопия -- многокоспонентные ленты -- перемагничивание Аннотация: Магнитные свойства и микромагнитная структура (равновесное распределение намагниченности) многокомпонентных Fe[61. 4]Ni[3. 6]Cr[3. 2]Si[2. 4]Nb[7. 8]Mn[3. 6[B[18] аморфных лент были изучены с помощью сканирующей керр-микроскопии и вибрационного магнитометра. Изучаемые ленты шириной 5 mm и толщиной 35 mum были получены методом закалки расплава на быстровращающемся барабане. Установлено сильное различие приповерхностных и объемных магнитных характеристик лент. Обнаружены доменные границы (ДГ) , параллельные длине ленты. Доказано, что квазистатическое перемагничивание лент осуществляется в основном за счет смещения ДГ. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/09/page-127.html.ru Доп.точки доступа: Абросимова, Н. М.; Комарова, М. А.; Молоканов, В. В. |
535 С 569 Согр, А. А. Оценка разрешения РЭМ изображения доменной структуры сегнетоэлектриков в режиме теплового воздействия [Текст] / А. А. Согр, А. Г. Масловская // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 11. - Библиогр.: c. 114 (8 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): доменные структуры -- пироток -- разрешение изображения -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ изображение -- сегнетоэлектрики Аннотация: Рассматриваются особенности контраста растрового изображения доменной структуры сегнетоэлектрика в режиме пиротока. Приведены расчеты, основанные как на учете скорости нагрева отдельных частей домена, так и на расчете диффузии тепла через границы доменов и кристалла. Диффузия тепла приводит к размытию изображения небольших доменов. Показано, что наряду с диаметром зонда скорость сканирования является существенным фактором, определяющим характер контраста растрового изображения. Уменьшение скорости сканирования может существенно снизить разрешение изображения даже при малом диаметре зонда. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/11/page-111.html.ru Доп.точки доступа: Масловская, А. Г. |
Петраковская, Э. А. Исследования продуктов синтеза фуллеренов с никелем и кобальтом [Текст] / Э. А. Петраковская, Н. В. Булина, Г. Н. Чурилов, А. П. Пузырь // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N1. - Библиогр.: с.48 (15 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): фуллерены -- металлофуллерены -- плазмохимический синтез -- электронный парамагнитный резонанс -- электронная микроскопия Аннотация: Проведен качественный анализ продуктов плазмохимического синтеза фуллеренов с металлическим никелем и кобальтом, которые исследовались методами электронного парамагнитного резонанса (ЭПР) и электронной микроскопии. Исследования показали, что основными продуктами являются фуллерены, наночастицы металла, покрытые изолирующим слоем и отдельные атомные кластеры Доп.точки доступа: Булина, Н.В.; Чурилов, Г.Н.; Пузырь, А.П. |
Галиев, Г. Б. Исследование структурного совершенства, распределения и перерапределения кремния в эпитаксиальных пленках GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках с ориентациями (100), (111)А, (111)В [Текст] / Г. Б. Галиев, В. Г. Мокеров [и др.] // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N4. - Библиогр.: с. 52 (15 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): эпитаксиальные пленки -- арсенид галлия -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- рентгеновская дифрактометрия -- атомно-силовая микроскопия -- ВИМС -- термический отжиг -- легирование -- рельеф поверхности -- ионное травление Аннотация: Методами рентгеновской дифрактометрии и ВИМС исследованы распределение кремния до и после термического отжига в тонких легированных слоях GaAs, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках с ориентациями (100), (111)А, (111)В. С помощью атомно-силового микроскопа исследованы рельефы поверхности выращенных эпитаксиальных пленок вне и внутри кратера ионного травления, возникающего во время измерения методом ВИМС. Выявлены особенности рельефа поверхности внутри кратера для разных ориентаций. Обнаруженные изменения формы профилей легирования объяснены как особенностями развития рельефа поверхности во время ионного травления при измерении методом ВИМС, так и ускоренной диффузией Si по дефектам роста Доп.точки доступа: Мокеров, В.Г.; Сарайкин, В.В.; Слепнев, Ю.В; Шагимуратов, Г.И.; Имамов, Р.М.; Пашаев, Э.М. |
Вакар, З. Морфология поверхности пиролитического графита, облученного атомами водорода [Текст] / З. Вакар, Е. А. Денисов [и др.] // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N6. - Библиогр.: с. 138 (14 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): пиролитический графит -- облучение -- атомы водорода -- ямки травления -- термодесорбционная спектроскопия -- атомно-силовая микроскопия -- сканирующая туннельная микроскопия Аннотация: Взаимодействие атомарного водорода с пиролитическим графитом исследовано методами термодесорбционной спектроскопии, атомно-силовой и сканирующей туннельной микроскопии. Первоначально гладкая поверхность графита после экспозиции в атомарном водороде превращается в бугристую с перепадом высот до нескольких нанометров. После прогрева образцов, приводящего к удалению из них водорода, поверхность сглаживается и на ней выявляются ямки травления глубиной в монослой. При многократном повторении цикла сорбция-десорбция происходят рост линейных размеров и увеличение глубины ямок травления Доп.точки доступа: Денисов, Е.А.; Компаниец, Т.Н.; Макаренко, И.В.; Марущак, В.А.; Титков, А.Н. |
Овчинников, Д. В. Компьютерное моделирование магнитно-силовой микроскопии изображений в рамках статической модели распределения намагниченности и диполь-дипольного взаимодействия [Текст] / Д. В. Овчинников, А. А. Бухарев // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N8. - Библиогр.: с. 90-91 (26 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): магнитно-силовая микроскопия -- компьютерное моделирование -- формализм Брауна -- MFM-изображения Аннотация: Описан алгоритм компьютерного моделирования изображений магнитно-силовой микроскопии (MFM), основанный на формализме Брауна, учитывающий форму и магнитные свойства MFM-иглы и исследуемого образца. Проведен анализ устойчивости и работоспособности разработанного метода компьютерного анализа на примере моделирования MFM-изображения от точечного магнитного диполя в случае, когда MFM-игла аппроксимируется немагнитным усеченным конусом с тонким однородно намагниченным магнитным покрытием. На основании компьютерного моделирования MFM-изображений от точечного магнитного диполя получены оптимальные параметры для MFM-зонда Доп.точки доступа: Бухарев, А.А. |
Рехвиашвили, С. Ш. Некоторые вопросы термодинамики контактного взаимодействия в атомно-силовом микроскопе [Текст] / С. Ш. Рехвиашвили // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N10. - Библиогр.: с.134 (10 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): атомно-силовые микроскопы -- контактное взаимодействие -- термодинамика -- зондовая микроскопия Аннотация: В рамках термодинамического подхода рассмотрено контактное взаимодействие в атомно-силовом микроскопе (АСМ). Показано, что гистерезис, наблюдаемый при зондировании образца в вертикальном направлении, обусловлен термодинамическим циклом поверхностная энергия-работа. Проведен расчет силы взаимодействия между образцом и иглой АСМ, имеющей форму параболоида вращения. Найдену флуктуации основных термодинамических величин. Обсуждается роль электрокапиллярных сил. Предложен новый метод спектроскопии в режиме боковых сил |
539.2 Ш 958 Шульпина, И. Л. Применение комплекса дифракционных методов в исследовании реальной структуры материалов (обзор [Текст] / И. Л. Шульпина // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 1. - Библиогр.: с. 27 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Геология--Минералогия--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дефекты -- диагностика материалов -- дислокации -- дифрактометрия (метод) -- дифракция -- материаловедение -- микроскопия -- техника -- топография (метод) -- электронная микроскопия (метод) -- электронная техника Аннотация: Обсуждается целесообразность комплексного применения дифракционных методов - рентгеновской дифрактометрии, топографии и электронной микроскопии - для исследования реальной структуры новых материалов электронной техники. Показаны возможности такого применения с учетом современного состояния дифракционных методов. |
539.2 Д 957 Дюков, В. Г. Применение подложек с координатной сеткой при анализе отдельных аэрозольных микрочастиц на различных приборах [Текст] / В. Г. Дюков, О. Н. Колесников [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 6 . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): аэрозольные микрочастицы -- координатные сетки -- микроскопия -- микрочастицы -- подложки -- приборы Аннотация: Описано простое приспособление для локализации на подложке отдельных аэрозольных микрочастиц при изучении их на различных приборах. Доп.точки доступа: Колесников, О. Н.; Муленко, Д. В.; Соколов, А. И.; Стебельков, В. А. |
620.1/.2 С 439 Скляров, Н. М. К вопросу о стойкости тканевой брони к баллистическому удару [Текст] / Н. М. Скляров, Л. П. Кобец, И. С. Деев, Г. Е. Мостовой // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 9. - Библиогр.: с. 57 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника--Материаловедение Механика--Механика сплошных сред Кл.слова (ненормированные): баллистическая стойкость -- баллистические удары -- броня (техника) -- влажные пакеты -- деформации трения -- микроскопия -- мягкая броня -- пакеты (техника) -- пули (военная техника) -- разрушение брони -- растровая микроскопия -- стойкость брони -- тканевая броня -- тканевые пакеты -- удары пули -- электронная микроскопия Аннотация: Описана методика оценки баллистической стойкости тканевой брони, исследован механизм ее разрушения методом растровой электронной микроскопии. Рассмотрен фактор трения нитей в тканевых пакетах в зависимости от их влажности. Доп.точки доступа: Кобец, Л. П.; Деев, И. С.; Мостовой, Г. Е. |
539.2 Ш 875 Штанский, Д. В. Возможности просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения для изучения наноматериалов [Текст] / Д. В. Штанский // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 10. - Библиогр.: с. 38 (32 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- микроскопия высокого разрешения -- наноматериалы -- наночастицы -- просвечивающая микроскопия -- электронная микроскопия Аннотация: Рассматриваются современные возможности просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения для изучения наноматериалов. |
535 Е 302 Егорова, О. В. Новые возможности современных металлографических микроскопов и цифровой обработки изображений в области материаловедения [Текст] / О. В. Егорова, А. В. Зацепин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 11 . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Оптика Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): изображения -- инвертированные микроскопы -- материаловедение -- металлографические микроскопы -- металлография -- микроскопия -- микроскопы -- модули для материаловедения -- обработка изображений -- отраженный свет -- свет отраженный -- световая микроскопия -- цифровая обработка Аннотация: Представлены новые возможности современных металлографических микроскопов и цифровой обработки изображений в области материаловедения. Доп.точки доступа: Зацепин, А. В.; Carl Zeiss |
546 Н 858 Нохрин, А. В. Методика исследования зеренной структуры микрокристаллических сверхпластичных алюминиевых сплавов методом атомно-силовой микроскопии [Текст] / А. В. Нохрин, И. М. Макаров, Ю. Г. Лопатин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 12. - Библиогр.: с. 34 (17 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия--Неорганическая химия Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): алюминиевые сплавы -- атомно-силовая микроскопия -- зеренные структуры -- микрокристаллические сплавы -- микроскопия -- пластичность -- прессование -- равноканальное прессование -- сверхпластичные сплавы -- сплавы -- структуры сплавов -- угловое прессование Аннотация: Изложены основные подходы к применению методики атомно-силовой микроскопии для изучения эволюции зеренной структуры микрокристаллических алюминиевых сплавов системы Al - Mg - Sc - Zr и Al -Zn - Mg - Sc - Zr, полученных методом равноканального углового прессования и подвергнутых деформации в условиях высокоскоростной сверхпластичности. Доп.точки доступа: Макаров, И. М.; Лопатин, Ю. Г. |
537.533.2:538.915 М 902 Мулюков, Р. Р. Полевая электронная и рентгеновская эмиссионная спектроскопии субмикроскопического никеля [Текст] / Р. Р. Мулюков, Э. З. Курмаев, Л. Р. Зубаиров, В. Р. Галахов // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N2. - Библиогр.: с.67-68 (22 назв.). - Эволюция дефектных структур в конденсированных средах (тематический выпуск) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): субмикроскопический никель -- пластическаяд деформация -- полевая электронная спектроскопия -- рентгеновская эмиссионная спектроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- автоэлектроны Аннотация: Образцы субмикрокристаллического никеля (d=100 нм), полученного с помощью больших пластических деформаций, исследованы методами полевой электронной и рентгеновской эмиссионных спектроскопий, просвечивающей электронной микроскопии. Обнаружены качественные и количественные отличия распределений автоэлектронов по полным энергиям субмикрокристаллического металла от распределения крупнозернистого металла Доп.точки доступа: Курмаев, Э.З.; Зубаиров, Л.Р.; Галахов, В.Р. |
539.4.015 А 149 Абзаев, Ю. А. Анализ подобия междислокационных взаимодействий в монокристаллах Ni[3]Ge [Текст] / Ю. А. Абзаев // Известия вузов. Физика. - 2002. - Т.45,N8. - Библиогр.: с.52-53 (9 назв.) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): взаимодействие дислокаций -- деформация -- дислокации -- дислокационные субструктуры -- электронная микроскопия Аннотация: Методами дифракционной электронной микроскопии и механических испытаний проведено исследование эволюции дислокационной структуры с деформацией монокристаллов Ni[3]Ge различных ориентаций оси деформации при разных температурах испытания. Выявлено, что дислокационные субструктуры относятся к хаотическому типу. Установлена линейная зависимость между сдвиговым напряжением tau и плотностью дислокаций ro{0,5}. Проведен анализ подобия междислокационных взаимодействий в Ni[3]Ge в интервалах температур с развитым октаэдрическим скольжением, а также кубическим, т.е. до температуры пика аномалии и выше соответственно. Установлено, что в условиях октаэдрического скольжения междислокационные взаимодействия вплоть до деформаций разрушения подобны при разных исследуемых температурах. Подобие наблюдается также в температурном интервале с развитым кубическим скольжением Перейти: http://www.tsu.ru/ru/derision/physics |
669.539.382.2 И 208 Иванов, Ю. Ф. Эволюция пакета мартенсита в условиях многоцикловых усталостных нагружений [Текст] / Ю. Ф. Иванов, О. В. Соснин [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2003. - N12. - Библиогр.: 18 назв. . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы Кл.слова (ненормированные): пакетный мартенсит -- пакет мартенсита -- электронная микроскопия -- усталостное нагружение металлов -- сплавы -- динамическая рекристаллизация -- усталость металлов Аннотация: Методами дифракционной электронной микроскопии тонких фольг проведены исследования дефектной субструктуры и фазового состава предварительно закаленной стали 60ГС2, подвергнутой многоцикловым усталостным испытаниям. Показано, что нагружение стали сопровождается протеканием начальной стадии динамической рекристаллизации. Одним из механизмов формирования центров динамической рекристализации является парная коалесценция кристаллов пакетного мартенсита. Перейти: www.tsu.ru/ru/derision/physics.phtml Доп.точки доступа: Соснин, О.В.; Сучкова, Е.Ю.; Громов, В.Е.; Козлов, Э.В. |