535
Е 302


    Егорова, О. В.
    Новые возможности современных металлографических микроскопов и цифровой обработки изображений в области материаловедения [Текст] / О. В. Егорова, А. В. Зацепин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 11 . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
   Техника--Материаловедение

Кл.слова (ненормированные):
изображения -- инвертированные микроскопы -- материаловедение -- металлографические микроскопы -- металлография -- микроскопия -- микроскопы -- модули для материаловедения -- обработка изображений -- отраженный свет -- свет отраженный -- световая микроскопия -- цифровая обработка
Аннотация: Представлены новые возможности современных металлографических микроскопов и цифровой обработки изображений в области материаловедения.


Доп.точки доступа:
Зацепин, А. В.; Carl Zeiss




    Томсон, О.
    "Волшебный кристалл" [Текст] : или медийное искусство в традиционном музее / Ольга Томсон // Мир музея. - 2010. - N 2. - С. 26-27
УДК
ББК 79.10
Рубрики: Музейное дело. Музееведение
   Теория и методика музейного дела

Кл.слова (ненормированные):
музеи -- медийное искусство -- медийные проекты -- свет -- излучающий свет -- отраженный свет -- произведения искусства -- экология музея
Аннотация: Проблемы совмещения в музейном пространстве объектов традиционного искусства и медийного, требующего от посетителей другого поведения и восприятия.





    Лапшинов, Б. А.
    Установка для измерения температурной зависимости показателя преломления твердых тел [Текст] / Б. А. Лапшинов, А. Н. Магунов // Приборы и техника эксперимента. - 2010. - N 1. - С. 159-164. - Библиогр.: с. 164 (22 назв. ) . - ISSN 0032-8162
УДК
ББК 22.343
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

Кл.слова (ненормированные):
температурная зависимость -- преломление -- твердые тела -- интерференционные осцилляции -- полупроводники -- диэлектрики -- отраженный свет -- интерферограммы -- эталоны Фабри-Перо -- Фабри-Перо эталоны
Аннотация: Описывается установка для измерения температурной зависимости показателя преломления n (T) полупроводников и диэлектриков в диапазоне температур 300-700 К на длинах волн He-Ne-лазера = 0. 633, 1. 15 и 3. 39 мкм. Образцы в виде плоскопараллельных пластинок выполняют роль эталонов Фабри-Перо, оптическая толщина которых изменяется с температурой. При нагревании и последующем остывании образца регистрируются интерференционные осцилляции интенсивности отраженного света, по которым определяется зависимость n (T). Значения показателя преломления при комнатной температуре и коэффициента термического расширения, используемые для вычислений, берутся из литературы. Сравнение интерферограмм, полученных при нагревании и остывании, позволяет оценить разность температур зондируемого участка образца и измерительной термопары. Относительная погрешность определения термооптического коэффициента dn/dT в диапазоне 300-700 К не превышает 1%.


Доп.точки доступа:
Магунов, А. Н.