539.2 Д 754 Дроздов, Ю. А. Устранение фоновой неоднородности и влияния зернистости фотоматериалов на топографические и поляризационно-оптические изображения дефектов структуры монокристаллов [Текст] / Ю. А. Дроздов, В. А. Ткаль, А. О. Окунев, Л. Н. Данильчук // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 7. - Библиогр.: с. 34 (10 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела--Химия полимеров Кл.слова (ненормированные): дефекты монокристаллов -- зернистость -- монокристаллы -- поляризационно-оптические дефекты -- фотоматериалы -- фотоупругость Аннотация: Рассматриваются принципы работы и применение различных фильтров для цифровой обработки топографических и поляризационно-оптических дефектов структуры монокристаллов. Доп.точки доступа: Ткаль, В. А.; Окунев, А. О.; Данильчук, Л. Н. |
539.2 Т 480 Ткаль, В. А. Применение цифровой обработки для выявления топографических изображений микродефектов и дефектов фотоэмульсии [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев, Ю. А. Дроздов, Л. Н. Данильчук // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 11. - Библиогр.: с. 28 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Химия--Физическая химия. Химическая физика Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): дефекты фотоэмульсии -- зернистость -- идентификация дефектов -- микродефекты фотоэмульсии -- обработка материалов -- рентгеновская топография -- топография -- фотообработка -- фотоэмульсии -- цифровая обработка Аннотация: Рассматриваются результаты цифровой обработки контраста, создаваемого в монокристаллах кремния микродефектами, зернистостью и дефектами фотоэмульсий, применяемых в рентгеновской топографии. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Дроздов, Ю. А.; Данильчук, Л. Н. |
539.2 О-52 Окунев, А. О. Секционные изображения дислокаций, перпендикулярных поверхности монокристаллов 6H-SiC [Текст] / А. О. Окунев, Л. Н. Данильчук, В. А. Ткаль // Физика твердого тела. - 2006. - Т. 48, N 11. - С. 1962-1969. - Библиогр.: с. 1968-1969 (13 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): Бормана треугольник; Бюргерса вектор; вектор Бюргерса; винтовые дислокации; краевые дислокации; Ланга проекционная топография; монокристаллы; проекционная топография Ланга; секционные изображения дислокаций; секционные топограммы; треугольник Бормана Аннотация: Получены и интерпретированы секционные топограммы краевых и винтовых дислокаций с осью [0001] в 6H-SiC, дано объяснение формированию изображений в этом случае. Экспериментально исследованы особенности контраста при различном расположении дислокаций в пределах треугольника Бормана. Показано, что по изображению на секционной топограмме краевой и винтовой дислокаций, перпендикулярных поверхности кристалла, однозначно определяется знак вектора Бюргерса. Определение знака вектора Бюргерса винтовой дислокации возможно также по ее изображению, полученному методом проекционной топографии Ланга. Выявлен вклад дальнего поля деформаций в секционные изображения краевых и винтовых дислокаций, перпендикулярных поверхности кристалла. Проведено сопоставление экспериментального контраста, полученного методами секционной топографии и топографии на основе эффекта Бормана. Доп.точки доступа: Данильчук, Л. Н.; Ткаль, В. А. |
620.1/.2 Т 48 Ткаль, В. А. Применение вейвлет-анализа для устранения фоновой неоднородности поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллов [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2006. - Т. 72, N 7. - С. 22-29. - Библиогр.: с. 29 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): 6H-SiC (монокристалл); вейвлет Симлета; вейвлет-анализ; дефекты структуры монокристаллов; метод фотоупругости; монокристаллы; поляризационно-оптические изображения; поляризационно-оптический анализ; Симлета вейвлет; структура монокристаллов; фоновая неоднородность; фотоупругость; цифровая обработка данных Аннотация: На примере вейвлета Симлета рассматривается методика вейвлет-обработки поляризационно-оптических изображений дефектов структуры монокристаллов 6 H-SiC. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Белехов, Я. С.; Петров, М. Н.; Данильчук, Л. Н. |
620.1/.2 Т 48 Ткаль, В. А. Устранение зернистости топографических изображений дефектов структуры монокристаллов с помощью вейвлет-анализа [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2006. - Т. 72, N 8. - С. 27-32. - Библиогр.: с. 32 (13 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): 6H-SiC (монокристаллы); Бормана эффект; вейвлет-анализ; вейвлет-обработка; гранулярность топограмм; дефекты монокристаллов; зернистость изображений; монокристаллы; рентгеновские топограммы; структура монокристаллов; топограммы; топографические изображения; устранение зернистости изображений; эффект Бормана Аннотация: Рассматривается методика вейвлет-обработки топографических изображений дефектов структуры монокристаллов 6 H-SiC. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Белехов, Я. С.; Петров, М. Н.; Данильчук, Л. Н. |
620.1/.2 Т 48 Ткаль, В. А. Выявление особенностей экспериментального контраста при перемасштабировании изображений на основе вейвлет-анализа [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2006. - Т. 72, N 9. - С. 25-33. - Библиогр.: с. 33 (10 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): Бормана эффект; вейвлет-анализ; дефекты монокристаллов; зернистость изображений; искажение изображений; монокристаллы; перемасштабирование изображений; поляризационно-оптические изображения; рентгеновская топография; топографические изображения; топография; эффект Бормана Аннотация: Показано, что перемасштабирование сигнала наряду со значительным увеличением эффективности обработки может привносить дополнительные искажения, которые необходимо учитывать и не допускать. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Белехов, Я. С.; Петров, М. Н.; Данильчук, Л. Н. |
541.1 Т 48 Ткаль, В. А. Устранение зернистости топографических изображений дефектов структуры монокристаллов различными вейвлет-базисами [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2006. - Т. 72, N 10. - С. 23-30. - Библиогр.: с. 30 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Химия--Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): Бормана эффект; вейвлет-базисы; вейвлет-функции; вейвлеты Добеши; вейвлеты Коифлета; вейвлеты Мейера; вейвлеты Хаара; дефекты монокристаллов; Добеши вейвлеты; зернистость изображений; изображения дефектов; Коифлета вейвлеты; Мейера вейвлеты; монокристаллы; топографические изображения; Хаара вейвлеты; эффект Бормана Аннотация: Проводится сопоставление эффективности различных по своим характеристикам вейвлет-базисов для устранения зернистости топографических изображений дефектов структуры монокристалла и выявления тонких особенностей экспериментального контраста отдельного дефекта. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Белехов, Я. С.; Петров, М. Н.; Данильчук, Л. Н. |
53 Т 480 Ткаль, В. А. Вейвлет-обработка топографических изображений с расширенным динамическим диапазоном [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев, М. Н. Петров, Л. Н. Данильчук // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 5. - С. 64-73 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): топографические изображения -- монокристалл 6H-SiC -- вейвлет-анализ -- обработка изображений Аннотация: Приведены экспериментальные результаты цифровой обработки топографических изображений монокристалла 6H-SiC с различным динамическим диапазоном при использовании вейвлет-анализа. Изображения получены топографией на основе эффекта Бормана и представлены в 8-, 16- и 32-битном формате. Показано, что 32-битные изображения после устранения зернистости экспериментального контраста более удобны для расшифровки и по сравнению с 8- и 16-битными содержат больше полезной информации о дефектах структуры исследуемого монокристалла. Эффективность вейвлет-анализа существенно повышается при цифровой обработке отдельных фрагментов топограммы и зависит от выбора области и размера опорного изображения. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Петров, М. Н.; Данильчук, Л. Н. |
541.1 Т 480 Ткаль, В. А. Сопоставление результатов цифровой обработки топографического контраста на основе вейвлет-анализа и нелинейной фильтрации с рекурсивным накоплением [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 2. - С. 36-45. - Библиогр.: с. 44-45 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Химия--Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): Бормана эффект; вейвлет-анализ; дефекты структуры; Инденбома-Чамрова уравнения; компьютерное моделирование; контраст; метод РТБ; нелинейная фильтрация; рекурсивное накопление; РТБ метод; топографические изображения; топографический контраст; уравнения Инденбома-Чамрова; фильтрация; цифровая обработка; эффект Бормана Аннотация: Анализируются результаты цифровой обработки топографического контраста на основе вейвлет-анализа и нелинейной фильтрации с рекурсивным накоплением. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Белехов, Я. С.; Петров, М. Н.; Данильчук, Л. Н. |
539.2 Т 480 Ткаль, В. А. Устранение фоновой неоднородности изображений дефектов структуры монокристаллов различными вейвлетами [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 3. - С. 28-37. - Библиогр.: с. 37 (13 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): 6H-SiC (монокристаллы); вейвлет Добеши; вейвлет Коифлета; вейвлет Симлета; вейвлет-базисы; вейвлет-обработка; вейвлеты; дефекты структуры монокристаллов; Добеши вейвлет; Коифлета вейвлет; монокристаллы; монокристаллы; неоднородность изображений; Симлета вейвлет; структура монокристаллов; фоновая неоднородность; цифровая обработка изображений Аннотация: Проводится сравнение результатов цифровой обработки поляризационно-оптических изображений монокристалла 6 H-SiC при использовании вейвлет-базисов, различных по своим характеристикам. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Белехов, Я. С.; Петров, М. Н.; Данильчук, Л. Н. |
Ткаль, В. А. Экспресс-диагностика, основанная на регистрации цветовых характеристик исследуемого вещества [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев, А. В. Шараева // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 11. - С. 32-37. - Библиогр.: с. 37 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): экспресс-диагностика -- цветовые характеристики -- изменения цвета -- диагностика качества воды -- оцифровка изображений -- яркостные характеристики -- профили интенсивности -- разностный контраст Аннотация: Предлагается экспресс-методика регистрации невидимых глазом изменений цвета, происходящих в веществе, под действием различных факторов. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Шараева, А. В. |
Ткаль, В. А. Выявление полос роста монокристаллов цифровой обработкой топографических изображений [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев, М. Н. Петров // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 12. - С. 99-102
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): полосы роста монокристаллов -- топографические изображения -- вейвлет-обработка -- фурье-анализ Аннотация: На примере топографического контраста монокристалла GaSb (Si) показана возможность выявления полос роста цифровой обработкой на основе анализа яркостных и частотных характеристик изображений. Показано, что более высокая эффективность выявления полос роста на топограммах достигается при вейвлет-обработке анализируемого контраста. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Петров, М. Н. |
Вейвлет-обработка изображений нанокомпозитов, полученных сканирующим туннельным и электронным микроскопами [Текст] / В. А. Ткаль [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С. 37-39. - Библиогр.: с. 39 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): вейвлет-обработка изображений -- изображения нанокомпозитов -- сканирующие туннельные микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы -- цифровая обработка изображений -- нанотехнологические комплексы -- элайзинг -- вейвлет-анализ Аннотация: Описана методика цифровой обработки изображений, полученных на нанотехнологическом комплексе, позволяющая эффективно устранять затрудняющие анализ факторы - слабую контрастность и фоновую неоднородность изображений. Доп.точки доступа: Ткаль, В. А.; Воронин, Н. А.; Соловьев, В. Г.; Алексеева, Н. О.; Панькова, С. В.; Яников, М. В. |
Ткаль, В. А. Вейвлет-обработка и устранение фоновой неоднородности поляризационно-оптического контраста дефектов структуры монокристаллов [Текст] / В. А. Ткаль, М. Н. Петров, Н. А. Воронин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 12. - С. 24-32. - Библиогр.: с. 31-32 (14 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): вейвлет-обработка -- фоновая неоднородность -- поляризационно-оптические изображения -- дискретный анализ -- цифровая обработка -- дефекты структуры монокристаллов -- вейвлет-анализ -- вейвлет-фильтрация -- элайзинг -- контраст дефектов -- гаусс-размытие Аннотация: На примере поляризационно-оптического контраста монокристалла проведена оценка эффективности различных цифровых методик устранения фоновой неоднородности и явления элайзинга, основанных на дискретном вейвлет-анализе. Доп.точки доступа: Петров, М. Н.; Воронин, Н. А. |
Ткаль, В. А. Моделирование теоретического контраста дефектов структуры различного типа с "зашумляющими факторами" [Текст] / В. А. Ткаль, И. В. Дзюба, Л. Н. Данильчук // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 10. - С. 59-65. - Материалы XXII Российской конференции по электронной микроскопии
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): монокристаллы -- рентгеновская топография -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- поляризационно-оптический анализ -- дефекты структуры -- моделирование контраста Аннотация: Приводятся результаты моделирования изображений дефектов структуры различного типа в монокристаллах 6H-SiC и Si с зашумляющими факторами (фоновой неоднородностью и зернистостостью контраста). Зная параметры, заложенные при моделировании изображений дефектов, можно при сопоставлении экспериментального и зашумленного теоретического контраста повысить надежность идентификации и расположения дефектов в объеме монокристалла, определить их количественные и качественные характеристики. Доп.точки доступа: Дзюба, И. В.; Данильчук, Л. Н. |
539.2 Т 480 Ткаль, В. А. Цифровые методы повышения качества экспериментального контраста дефектов структуры монокристаллов (обобщающая статья) / В. А. Ткаль, авт. И. А. Жуковская // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 4. - С. 28-37. - Библиогр.: с. 36-37 ( назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Химия Химия твердого тела Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): цифровая обработка -- контраст дефектов -- дефекты структуры монокристаллов -- монокристаллы -- структура монокристаллов -- топографические методы -- поляризационно-оптический анализ -- дискретный анализ -- вейвлет-анализ -- HDR-изображения -- зашумляющие факторы -- моделирование зашумляющих факторов -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- метод РТБ -- РТБ метод -- яркостные характеристики -- анализ изображений Аннотация: Рассмотрены наиболее эффективные методы цифровой обработки, основанные на анализе яркостных и частотных характеристик топографического и поляризационно-оптического контрастов дефектов структуры. Доп.точки доступа: Жуковская, И. А. |
658.516 Э 416 Экспресс-диагностика оценки качества и выявления фальсифицированной продукции, основанная на регистрации цветовых характеристик / И. А. Жуковская [и др.]. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 12. - С. 60-66. - Библиогр.: с. 66 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Стандартизация. Контроль качества Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Пищевые производства Бродильные производства Кл.слова (ненормированные): экспресс-диагностика -- оценка качества -- выявление фальсифицированной продукции -- фальсифицированная продукция -- регистрация цветовых характеристик -- цветовые характеристики -- оцифровка изображений -- яркостные характеристики -- профили интенсивности -- разностный контраст -- обработка изображений -- алкогольные напитки -- пиво -- вино -- диагностика качества -- цифровая обработка -- процесс старения Аннотация: Описана простая экспресс-методика диагностики качества и выявления фальсифицированной продукции по цвету и его изменению при воздействии различных внешних факторов. В основе методики лежит оцифровка изображений исследуемого вещества. В качестве основных характеристик используются яркостные характеристики, профили интенсивности и разностный контраст, полученный вычитанием двух изображений друг из друга. Предлагаемая экспресс-методика проста в реализации, обладает экспрессностью, доступна для широкого круга исследователей и применима для диагностики веществ различной физико-химической природы, у которых с течением времени и под действием внешних факторов происходит невидимое визуально изменение цвета. Доп.точки доступа: Жуковская, И. А.; Шараева, А. В.; Иванова, Т. Д.; Мягкова, Ю. А.; Ткаль, В. А.; Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики (Великий Новгород); Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики (Великий Новгород); Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики (Великий Новгород); Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики (Великий Новгород); Новгородский филиал Санкт-Петербургского государственного университета сервиса и экономики (Великий Новгород) |