Вейвлет-обработка изображений нанокомпозитов, полученных сканирующим туннельным и электронным микроскопами [Текст] / В. А. Ткаль [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 6. - С. 37-39. - Библиогр.: с. 39 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): вейвлет-обработка изображений -- изображения нанокомпозитов -- сканирующие туннельные микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- микроскопы -- цифровая обработка изображений -- нанотехнологические комплексы -- элайзинг -- вейвлет-анализ Аннотация: Описана методика цифровой обработки изображений, полученных на нанотехнологическом комплексе, позволяющая эффективно устранять затрудняющие анализ факторы - слабую контрастность и фоновую неоднородность изображений. Доп.точки доступа: Ткаль, В. А.; Воронин, Н. А.; Соловьев, В. Г.; Алексеева, Н. О.; Панькова, С. В.; Яников, М. В. |
681.2 П 304 Петрина, Алла Макаровна (канд. техн. наук). Информационно-измерительные системы в нанотехнологиях [Текст] / А. М. Петрина, авт. Г. М. Майнашева // Научно-техническая информация. Сер. 2, Информационные процессы и системы. - 2010. - N 7. - С. 13-23 : Ил.: 8 рис. - Библиогр.: с. 22-23 (31 назв. ) . - ISSN 0548-0027
Рубрики: Приборостроение Приборостроение в целом Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): атомные туннельные микроскопы -- информационно-измерительные системы -- микроскопы -- наноробототехника -- нанотехнологии -- приборы -- сканирующая микроскопия -- сканирующие атомные микроскопы -- сканирующие микроскопы -- сканирующие приборы -- сканирующие туннельные силовые микроскопы -- сканирующие электронные микроскопы -- туннельные микроскопы -- туннельные силовые микроскопы -- локальные свойства поверхности -- структура вещества Аннотация: Приводится обзор по информационно-измерительным системам, используемым в нанотехнологии, в состав которых включены такие устройства, как сканирующие электронные микроскопы, сканирующие атомные микроскопы, сканирующие атомно-силовые микроскопы и манипулирующие инструменты. Описываются их физические характеристики и приводятся примеры использования в роботизированной наносборке. Доп.точки доступа: Майнашева, Галина Макаровна (канд. биол. наук, доцент) |
621.315.592 Р 258 Рау, Э. И. Функция отклика и оптимальная конфигурация полупроводниковых детекторов отраженных электронов для сканирующих электронных микроскопов [Текст] / Э. И. Рау, Н. А. Орликовский, Е. С. Иванова // Физика и техника полупроводников. - 2012. - Т. 46, вып. 6. - С. 829-832 : ил. - Библиогр.: с. 832 (14 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые детекторы -- отраженные электроны -- ОЭ -- растровые электронные микроскопы -- РЭМ -- сканирующие электронные микроскопы -- электроны -- отклики детекторов Аннотация: Предлагается новая высокоэффективная конструкция полупроводниковых детекторов электронов средних энергий (1-50 кэВ) для применения в сканирующих электронных микроскопах. Расчеты функции отклика усовершенствованных детекторов и контрольные эксперименты показывают, что эффективность разработанных устройств повышается в среднем в 2 раза, что является существенным положительным фактором при работе современных электронных микроскопов в режиме малых токов и при низких энергиях первичных электронов. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2012/06/p829-832.pdf Доп.точки доступа: Орликовский, Н. А.; Иванова, Е. С. |
621.382 К 149 Казьмирук, В. В. Сканирующие электронные микроскопы МикроСкан серии МС20 [Текст] / В. В. Казьмирук // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1550-1553 : рис. - Библиогр.: c. 1553 (2 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): сканирующие электронные микроскопы -- микролитографы -- системные модули -- видеоконтрольные устройства -- электронно-лучевая литография -- принцип модульности -- ионно-оптические системы Аннотация: В ИПТМ РАН разработана новая серия сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) МикроСкан-МС20. Основная их отличительная особенность - модульность конструкции абсолютно всех узлов и систем, что позволило достичь высокого уровня унификации. |
620.186:547.447 К 824 Криостат РУПИК к сканирующему электронному микроскопу для послойного исследования структуры различных объектов [Текст] / А. И. Чемерис [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 489-491 : рис. - Библиогр.: c. 491 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): криотехника -- электронная микроскопия -- сканирующие электронные микроскопы -- фотопленки -- суспензии древесины -- криостаты -- криостат РУПИК Аннотация: Описаны конструктивные особенности криостата РУПИК к сканирующему электронному микроскопу РЭМ-100У. Доп.точки доступа: Чемерис, А. И.; Жовклый, В. Ю.; Чемерис, И. И.; Филатова, А. Г.; Белавцева, Е. М. |
666.3/.7 Т 654 Трансформация гипса в фосфаты кальция / М. А. Гольдберг [и др.] // Доклады Академии наук. - 2012. - Т. 444, № 3, май. - С. 275-278 : 2 рис. - Библиогр.: с. 278 . - ISSN 0869-5652
Рубрики: Химическая технология Стекло и стеклоизделия Кл.слова (ненормированные): химические трансформации гипса -- фосфаты кальция -- сканирующие электронные микроскопы Аннотация: Представлены результаты исследования химической трансформации гипса в фосфаты кальция. Доп.точки доступа: Гольдберг, М. А.; Фомин, А. С.; Петракова, Н. В.; Федотов, А. Ю.; Шворнева, Л. И.; Смирнов, В. В.; Попова, А. В.; Баринов, С. М. |
537.533/.534 У 761 Усовершенствование электронного тороидального спектрометра для растрового электронного микроскопа и его новые применения в диагностике структур микро- и наноэлектроники / А. В. Гостев [и др.] // Журнал технической физики. - 2013. - Т. 83, № 3. - С. 140-147. - Библиогр.: c. 147 (31 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): электронные тороидальные спектрометры -- тороидальные спектрометры -- спектрометры -- растровые электронные микроскопы -- электронные микроскопы -- электростатические тороидальные спектрометры -- сканирующие электронные микроскопы -- неразрушающая диагностика -- топологический контроль -- томография в обратно рассеянных электронах -- энергетическая фильтрация вторичных электронов -- мониторинг легированных кристаллов -- спектры электронов -- медленные вторичные электроны -- упругоотраженные электроны Аннотация: Описана новая версия электростатического тороидального спектрометра электронов, инсталлированного в сканирующий электронный микроскоп. Прибор позволил провести научно-исследовательские и прикладные работы в области высоколокальной неразрушающей диагностики материалов и приборных структур микро- и наноэлектроники. Приведены примеры по топологическому контролю трехмерных микроструктур методом томографии в обратнорассеянных электронах. Показана высокая эффективность приема энергетической фильтрации вторичных электронов при мониторинге локально легированных участков примесями p- и n-типа в полупроводниковых кристаллах. Дано физическое обоснование высокого контраста изображений легированных областей. Продемонстрирована возможность измерения в сканирующем электронном микроскопе спектров электронов во всем энергетическом диапазоне от медленных вторичных до упругоотраженных. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2013/03/p140-147.pdf Доп.точки доступа: Гостев, А. В.; Орликовский, Н. А.; Рау, Э. И.; Трубицын, А. А. |
66 К 637 Композиционный проницаемый материал на основе углеродного волокна / Е. Е. Петюшик [и др.] // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2013. - Т. 56, вып. 5. - С. 99-104 : 7 рис., 1 табл. - Библиогр.: с. 103-104 (10 назв.) . - ISSN 0579-2991
Рубрики: Химическая технология Общие вопросы химической технологии Кл.слова (ненормированные): объемные проницаемые адсорбенты -- углеродные волокнистые материалы -- порошки алюминия -- гидратационное твердение -- сканирующие электронные микроскопы -- низкотемпературная адсорбция азота -- механическая прочность -- рентгенофазовый анализ Аннотация: Приведены результаты исследований структуры и свойств проницаемого материала, полученного методом гидратационного твердения промышленного дисперсного алюминия с углеродным волокном в качестве инертного наполнителя. Доп.точки доступа: Петюшик, Е. Е.; Евтухова, Т. Е.; Клевченя, Д. И.; Романенков, В. Е.; Афанасьева, Н. А.; Пинчук, Т. И. |
546 Д 534 Дмитриев, А. В. Поверхность разрушения графитовой руды / А. В. Дмитриев, авт. И. А. Башарин // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2013. - Т. 56, вып. 7. - С. 26-30 : 4 рис. - Библиогр.: с. 30 (9 назв.) . - ISSN 0579-2991
Рубрики: Химия Общая и неорганическая химия в целом Физическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): графиты -- скрытокристаллические графиты -- графитовые руды -- поверхности разрушения -- слоистость -- листочки графита -- агрегация -- минеральные прослойки -- сканирующие электронные микроскопы Аннотация: Выполнен СЭМ анализ поверхности пластинчатых частиц порошка, полученного разрушением разрывом при нагреве увлажненных кусков руды скрытокристаллического графита. Плоские поверхности частиц образованы расщеплением вдоль слоев сланцеватости толщиной 2-4 мкм. Торцевые поверхности образованы сколами поперек слоев. В поверхностном слое выявлены кристаллы явно кристаллического графита и внутрислоевые расслоения на отдельные листочки нанометровой толщины. Доп.точки доступа: Башарин, И. А. |
543.4/.5 А 674 Анисимов, А. А. Повышение пространственной разрешающей способности для рентгеновского микроанализа в сканирующем электронном микроскопе / А. А. Анисимов, А. С. Аронин, Е. А. Першина // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 6. - С. 34-36. - Библиогр.: с. 36 (3 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): пространственная разрешающая способность -- рентгеновский микроанализ -- сканирующие электронные микроскопы -- микроскопы -- тонкие образцы -- приставки -- элементный анализ -- геометрия на отражение Аннотация: Экспериментально изучены возможности использования приставки для рентгеновского микроанализа в традиционном сканирующем микроскопе при анализе элементного состава тонких сечений образцов в геометрии "на отражение". Доп.точки доступа: Аронин, А. С.; Першина, Е. А.; Институт физики твердого тела РАН (Черноголовка); Национальный исследовательский технологический университет "МИСиС" (Москва)Институт физики твердого тела РАН (Черноголовка); Институт физики твердого тела РАН (Черноголовка) |