539.2 А 674 Анисимов, В. Г. Определение природы дефекта упаковки тремя независимыми методами рентгеновской топографии [Текст] / В. Г. Анисимов, Л. Н. Данильчук, И. Л. Шульпина // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 9. - С. 44-46. - Библиогр.: с. 46 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела Химия Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): Бормана эффект -- двухкристальная топография -- дефекты упаковки -- кремний -- Ланга метод -- метод Ланга -- методы рентгеновской топографии -- монокристаллы кремния -- природа дефектов -- рентгеновская топография -- рентгенотопографические методы -- ростовые дефекты упаковки -- топография -- упаковка монокристаллов -- эффект Бормана Аннотация: Ростовые дефекты упаковки в монокристалле кремния изучались различными независимыми рентгенотопографическими методами: методом на основе эффекта Бормана, методом Ланга и методом двухкристальной топографии. Методика двухкристальной топографии в некоторых случаях дает большую информацию. Доп.точки доступа: Данильчук, Л. Н.; Шульпина, И. Л. |
539.2 Д 183 Данильчук, Л. Н. Исследование дефектов структуры полуметаллов и полупроводников на основе монокристаллических сплавов (Bi + Sb) методами рентгеновской топографии [Текст] / Л. Н. Данильчук, А. О. Окунев, К. Г. Иванов, Ю. В. Тимофеева // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 3. - С. 25-32. - Библиогр.: с. 31-32 (23 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела Химия Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): Bi + Sb (сплавы) -- дефекты структуры полуметаллов -- дефекты структуры полупроводников -- сплавы -- монокристаллические сплавы -- рентгеновская топография -- топография -- методы рентгеновской топографии -- розеточная методика -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- феноменологическая теория -- бормановский контраст -- монокристаллы -- рентгенотопографические методики -- полуметаллы -- полупроводники -- контраст интенсивности -- висмут -- сурьма Аннотация: Рассматриваются возможности методов рентгеновской топографии при исследовании монокристаллов (Bi + Sb), полученных при различных условиях роста. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Иванов, К. Г.; Тимофеева, Ю. В. |
Блажевич, С. В. Эффект аномального фотопоглощения в параметрическом рентгеновском излучении в условиях асимметричного отражения [Текст] / С. В. Блажевич, А. В. Носков // Журнал технической физики. - 2008. - Т. 78, N 9. - С. 84-90. - Библиогр.: c. 90 (13 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): аномальное фотопоглощение -- фотопоглощение -- рентгеновское излучение -- параметрическое рентгеновское излучение -- эффект Бормана -- Бормана эффект Аннотация: Рассматривается параметрическое рентгеновское излучение (ПРИ) релятивистского электрона, пересекающего монокристаллическую пластинку в геометрии рассеяния Лауэ. На основе двухволнового приближения динамической теории дифракции получены выражения, описывающие спектрально-угловое распределение ПРИ и дифрагированного переходного излучения (ДПИ), сформированные на атомных плоскостях, расположенных под произвольным углом delta к поверхности кристаллической пластинки (асимметричное отражение). Выявлены условия, при которых эффект аномально низкого фотопоглощения (эффект Бормана) проявляется наиболее ярко. Данный эффект может существенно повысить интенсивность источников перестраиваемого квазимонохроматического рентгеновского излучения, основанных на механизме ПРИ. Доп.точки доступа: Носков, А. В. |
Ткаль, В. А. Моделирование теоретического контраста дефектов структуры различного типа с "зашумляющими факторами" [Текст] / В. А. Ткаль, И. В. Дзюба, Л. Н. Данильчук // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 10. - С. 59-65. - Материалы XXII Российской конференции по электронной микроскопии
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): монокристаллы -- рентгеновская топография -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- поляризационно-оптический анализ -- дефекты структуры -- моделирование контраста Аннотация: Приводятся результаты моделирования изображений дефектов структуры различного типа в монокристаллах 6H-SiC и Si с зашумляющими факторами (фоновой неоднородностью и зернистостостью контраста). Зная параметры, заложенные при моделировании изображений дефектов, можно при сопоставлении экспериментального и зашумленного теоретического контраста повысить надежность идентификации и расположения дефектов в объеме монокристалла, определить их количественные и качественные характеристики. Доп.точки доступа: Дзюба, И. В.; Данильчук, Л. Н. |
Богданова, М. В. Оптический аналог эффекта Бормана в фотонных кристаллах [Текст] / М. В. Богданова, Ю. Е. Лозовик, С. Л. Эйдерман // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2010. - Т. 137, вып: вып. 4. - С. 685-694. - Библиогр.: с. 694 . - ISSN 0044-4510
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): оптический аналог эффекта Бормана -- фотонные кристаллы -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- аномальное пропускание -- трехмерный металло-диэлектрический фотонный кристалл -- металло-диэлектрический фотонный кристалл -- фотонный кристалл -- кристаллы Аннотация: Исследуется наиболее прямой аналог эффекта аномального пропускания для трехмерного металло-диэлектрического фотонного кристалла - резкое изменение поглощения при изменении угла наклона падающей волны и его связь с перераспределением плотности энергии электромагнитного поля внутри фотонного кристалла. Доп.точки доступа: Лозовик, Ю. Е.; Эйдерман, С. Л. |
539.2 Т 480 Ткаль, В. А. Цифровые методы повышения качества экспериментального контраста дефектов структуры монокристаллов (обобщающая статья) / В. А. Ткаль, авт. И. А. Жуковская // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 4. - С. 28-37. - Библиогр.: с. 36-37 ( назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Химия Химия твердого тела Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): цифровая обработка -- контраст дефектов -- дефекты структуры монокристаллов -- монокристаллы -- структура монокристаллов -- топографические методы -- поляризационно-оптический анализ -- дискретный анализ -- вейвлет-анализ -- HDR-изображения -- зашумляющие факторы -- моделирование зашумляющих факторов -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- метод РТБ -- РТБ метод -- яркостные характеристики -- анализ изображений Аннотация: Рассмотрены наиболее эффективные методы цифровой обработки, основанные на анализе яркостных и частотных характеристик топографического и поляризационно-оптического контрастов дефектов структуры. Доп.точки доступа: Жуковская, И. А. |