Ткаль, В. А. Выявление полос роста монокристаллов цифровой обработкой топографических изображений [Текст] / В. А. Ткаль, А. О. Окунев, М. Н. Петров // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 12. - С. 99-102
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): полосы роста монокристаллов -- топографические изображения -- вейвлет-обработка -- фурье-анализ Аннотация: На примере топографического контраста монокристалла GaSb (Si) показана возможность выявления полос роста цифровой обработкой на основе анализа яркостных и частотных характеристик изображений. Показано, что более высокая эффективность выявления полос роста на топограммах достигается при вейвлет-обработке анализируемого контраста. Доп.точки доступа: Окунев, А. О.; Петров, М. Н. |