Ткаль, В. А. Моделирование теоретического контраста дефектов структуры различного типа с "зашумляющими факторами" [Текст] / В. А. Ткаль, И. В. Дзюба, Л. Н. Данильчук // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 10. - С. 59-65. - Материалы XXII Российской конференции по электронной микроскопии
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): монокристаллы -- рентгеновская топография -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- поляризационно-оптический анализ -- дефекты структуры -- моделирование контраста Аннотация: Приводятся результаты моделирования изображений дефектов структуры различного типа в монокристаллах 6H-SiC и Si с зашумляющими факторами (фоновой неоднородностью и зернистостостью контраста). Зная параметры, заложенные при моделировании изображений дефектов, можно при сопоставлении экспериментального и зашумленного теоретического контраста повысить надежность идентификации и расположения дефектов в объеме монокристалла, определить их количественные и качественные характеристики. Доп.точки доступа: Дзюба, И. В.; Данильчук, Л. Н. |
539.2 Т 480 Ткаль, В. А. Цифровые методы повышения качества экспериментального контраста дефектов структуры монокристаллов (обобщающая статья) / В. А. Ткаль, авт. И. А. Жуковская // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 4. - С. 28-37. - Библиогр.: с. 36-37 ( назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Химия Химия твердого тела Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): цифровая обработка -- контраст дефектов -- дефекты структуры монокристаллов -- монокристаллы -- структура монокристаллов -- топографические методы -- поляризационно-оптический анализ -- дискретный анализ -- вейвлет-анализ -- HDR-изображения -- зашумляющие факторы -- моделирование зашумляющих факторов -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- метод РТБ -- РТБ метод -- яркостные характеристики -- анализ изображений Аннотация: Рассмотрены наиболее эффективные методы цифровой обработки, основанные на анализе яркостных и частотных характеристик топографического и поляризационно-оптического контрастов дефектов структуры. Доп.точки доступа: Жуковская, И. А. |