Ткаль, В. А. Вейвлет-обработка и устранение фоновой неоднородности поляризационно-оптического контраста дефектов структуры монокристаллов [Текст] / В. А. Ткаль, М. Н. Петров, Н. А. Воронин // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 12. - С. 24-32. - Библиогр.: с. 31-32 (14 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): вейвлет-обработка -- фоновая неоднородность -- поляризационно-оптические изображения -- дискретный анализ -- цифровая обработка -- дефекты структуры монокристаллов -- вейвлет-анализ -- вейвлет-фильтрация -- элайзинг -- контраст дефектов -- гаусс-размытие Аннотация: На примере поляризационно-оптического контраста монокристалла проведена оценка эффективности различных цифровых методик устранения фоновой неоднородности и явления элайзинга, основанных на дискретном вейвлет-анализе. Доп.точки доступа: Петров, М. Н.; Воронин, Н. А. |
537.311.33 Р 248 Расчет контраста протяженных дефектов в методе индуцированного рентгеновским пучком тока [Текст] / Я. Л. Шабельникова [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 20. - С. 1-7 : ил. - Библиогр.: с. 7 (10 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Рентгеновские лучи. Гамма-лучи Кл.слова (ненормированные): протяженные дефекты -- контраст дефектов -- расчет контраста -- метод XBIC -- индуцированные токи -- рентгеновские пучки -- дислокации -- границы зерен -- носители заряда -- неравновесные носители -- рентгеновские зонды -- наведенные токи -- профили контраста Аннотация: Для метода наведенного рентгеновского пучком тока (XBIC) рассчитан контраст протяженных дефектов - дислокаций и границ зерен. Показано, что максимальный контраст растет при увеличении диффузионной длины неравновесных носителей заряда и уменьшается при увеличении ширины рентгеновского зонда. Приведено сравнение модельных и экспериментально измеренных профилей контраста наведенного тока от границ зерен. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/20/p1-7.pdf Доп.точки доступа: Шабельникова, Я. Л.; Якимов, Е. Б.; Григорьев, М. В.; Фахртдинов, Р. Р.; Бушуев, В. А. |
539.21:535 С 891 Суворов, Э. В. Новый подход в понимании механизмов дифракционного изображения дислокаций в рентгеновской топографии [Текст] / Э. В. Суворов, авт. И. А. Смирнова // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 21. - С. 70-76 : ил. - Библиогр.: с. 76 (12 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Рентгеновские лучи. Гамма-лучи Кл.слова (ненормированные): дислокации -- изображение дислокаций -- дифракционное изображение -- механизмы изображения -- дифракция -- топография -- рентгеновская топография -- секционная топография -- численное моделирование -- методы численного моделирования -- рентгеновские лучи -- рассеяние лучей -- неоднородности -- кристаллические решетки -- дефекты -- рентгеновское излучение -- кристаллы -- особенности дифракции -- контраст дефектов -- дифракционный контраст -- рентгеновский дифракционный контраст Аннотация: Методами численного моделирования и экспериментальной секционной рентгеновской топографии изучены закономерности образования дифракционного изображения дислокаций. Изучение рассеяния рентгеновских лучей на неоднородностях кристаллической решетки представляет интерес по нескольким причинам. Во-первых, контраст дефектов связан с фундаментальной проблемой - развитием динамической теории рассеяния рентгеновского излучения в реальных кристаллах. Во-вторых, знание особенностей дифракции позволяет качественно, а в ряде случаев и количественно, анализировать рентгеновский дифракционный контраст дефектов кристаллической решетки (измерять величины деформаций, определять знак и параметры вектора Бюргерса и пр. ). Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/21/p70-76.pdf Доп.точки доступа: Смирнова, И. А. |
539.2 Т 480 Ткаль, В. А. Цифровые методы повышения качества экспериментального контраста дефектов структуры монокристаллов (обобщающая статья) / В. А. Ткаль, авт. И. А. Жуковская // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 4. - С. 28-37. - Библиогр.: с. 36-37 ( назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Химия Химия твердого тела Вычислительная техника Распознавание и преобразование образов Кл.слова (ненормированные): цифровая обработка -- контраст дефектов -- дефекты структуры монокристаллов -- монокристаллы -- структура монокристаллов -- топографические методы -- поляризационно-оптический анализ -- дискретный анализ -- вейвлет-анализ -- HDR-изображения -- зашумляющие факторы -- моделирование зашумляющих факторов -- эффект Бормана -- Бормана эффект -- метод РТБ -- РТБ метод -- яркостные характеристики -- анализ изображений Аннотация: Рассмотрены наиболее эффективные методы цифровой обработки, основанные на анализе яркостных и частотных характеристик топографического и поляризационно-оптического контрастов дефектов структуры. Доп.точки доступа: Жуковская, И. А. |