620.1/.2 М 171 Максимов, С. К. Интегральный метод исследования текстур наноразмерных кристаллитов в колонне электронного микроскопа (обобщающая статья [Текст] / С. К. Максимов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 1. - C. 23-35. - Библиогр.: с. 34-35 (31 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): интегральный метод -- исследование текстур -- колонны электронных микроскопов -- косые текстуры -- кристаллиты -- методики исследования текстур -- микроскопы -- нанокристаллы -- наноразмерные кристаллиты -- текстурированность наноразмерных кристаллитов -- текстуры наноразмерных кристаллитов -- электронная микроскопия -- электронные микроскопы -- электронограммы Аннотация: Описаны закономерности косых текстур, на основе которых предложена и детализирована методика всестороннего изучения текстурированности наноразмерных кристаллитов. |
Максимов, С. К. Псевдодвойникование в La[2]CaF[8] и проблема структурной организации нестехиометрических фаз [Текст] / С. К. Максимов // Доклады Академии наук. - 2007. - Т. 416, N 1, сентябрь. - С. 43-46. - Библиогр.: с. 46 (8 назв. ) . - ISSN 0869-5652
Рубрики: Физика Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): нестехиометрические соединения -- точечные дефекты -- нестехиометрические фазы -- тонкие кристаллы -- упорядочивающиеся сплавы Аннотация: Цель настоящего сообщения обратить внимание на специфику упорядоченных структур и ее дифракционные проявления. |
Максимов, С. К. Принципы контроля наноматериалов для разработки стандартов безопасности на примере выявления закономерностей наноструктурирования в системах Ca[y]La[1-y]F[3-y] и La[x]Ca[1-x]F[2+x] [Текст] / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 5. - С. 58-65
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): экологический контроль наноматериалов -- закономерности наноструктурирования -- термодинамика нанокристаллов -- допуски на параметры продуктов -- адсорбированные слои Аннотация: Сформулированы общие принципы экологического контроля наноматериалов и на основе закономерностей наноструктурирования в Ca[y]La[1-y]F[3-y] и La[x]Ca[1-x]F[2+x] указана специфика этого контроля для материалов, являющихся растворами. Доп.точки доступа: Максимов, К. С. |
Максимов, С. К. Новый подход в метрологии в нанообласти [Текст] / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 20. - С. 21-28 : ил. - Библиогр.: с. 27-28 (15 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): нанообъекты -- микроскопия -- электронная микроскопия -- растровая микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ -- новые подходы -- нанообласти -- методы контроля -- формы нанообъектов -- размеры нанообъектов -- электронные зонды Аннотация: Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и размеров нанообъектов по РЭМ изображениям, полученным при разных сходимостях электронного зонда. Доп.точки доступа: Максимов, К. С. |