Определение радиусов нанообъектов в пористых системах и некоторых дефектных материалах методом позитронной аннигиляционной спектроскопии [Текст] / В. И. Графутин [и др. ] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 12. - С. 24-32
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): нанообъекты -- вакансионные кластеры -- пористые системы -- дефектные материалы -- позитронная аннигиляционная спектроскопия -- размеры нанообъектов Аннотация: Показано, что одним из эффективных методов определения размера нанообъектов (вакансий, вакансионных кластеров), свободных объемов пор, полостей, пустот, их концентрации и химического состава в пористых системах и некоторых дефектных материалах (технически важных материалах и наноматериалах) является метод позитронной аннигиляционной спектроскопии. Дан краткий обзор экспериментальных исследований нанодефектов в пористом кремнии, монокристаллах кремния и кварца, облученных протонами, а также в порошках кварца. Доп.точки доступа: Графутин, В. И.; Прокопьев, Е. П.; Тимошенков, С. П.; Фунтиков, Ю. В. |
Максимов, С. К. Новый подход в метрологии в нанообласти [Текст] / С. К. Максимов, К. С. Максимов // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 20. - С. 21-28 : ил. - Библиогр.: с. 27-28 (15 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): нанообъекты -- микроскопия -- электронная микроскопия -- растровая микроскопия -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ -- новые подходы -- нанообласти -- методы контроля -- формы нанообъектов -- размеры нанообъектов -- электронные зонды Аннотация: Даны представления о пофракционном методе контроля в нанообласти и описана ключевая стадия метода, связанная с определением формы и размеров нанообъектов по РЭМ изображениям, полученным при разных сходимостях электронного зонда. Доп.точки доступа: Максимов, К. С. |