539.31.6 М 801 Морозов, С. Б. Диагностика влияния пористости на фактическую площадь зоны контакта при пластической деформации шероховатостей [Текст] / С. Б. Морозов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 10 . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника--Сопротивление материалов Кл.слова (ненормированные): деформации -- диагностика -- пластические деформации -- пористость -- шероховатости поверхностей Аннотация: Выявлено, что пористость не влияет на фактическую площадь зоны контакта при пластической деформации шероховатостей. |
539.2 Г 38 Германенко, А. В. Влияние шероховатости гетероструктур на слабую локализацию [] / А. В. Германенко, Г. М. Миньков [и др.] // Физика твердого тела. - 2005. - Т. 47, N 1. - С. 128-135. - Библиогр.: с. 135 (13 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): гетероструктуры; двумерные гетероструктуры; интерференционная квантовая поправка; квантовая поправка; квантовые ямы; локализация; магнитосопротивление; нанофотоника; отрицательное магнитосопротивление; поперечное магнитосопротивление; поправка; сопротивление; структуры; шероховатость; ямы Аннотация: В структурах GaAs/In (x) Ga (1-x) As/GaAs с одиночной квантовой ямой исследовано влияние продольного магнитного поля на поперечное отрицательное магнитосопротивление, вызванное подавлением интерференционной квантовой поправки. Доп.точки доступа: Миньков, Г. М.; Рут, О. Э.; Ларионова, В. А.; Звонков, Б. Н.; Шашкин, В. И.; Хрыкин, О. И.; Филатов, Д. О. |
538.9 З-27 Занавескин, М. Л. Исследование шероховатости поверхности методами атомно-силовой микроскопии, рентгеновского рассеяния и дифференциального рассеяния света [Текст] / М. Л. Занавескин, И. С. Занавескина [и др.] // Вестник Московского университета. Сер. 3, Физика. Астрономия. - 2006. - N 3. - С. 80-82. - Библиогр.: c. 82 (4 назв. ) . - ISSN 0201-7385
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): шероховатость поверхности; рентгеновское рассеяние; метод атомно-силовой микроскопии; дифференциальное рассеяния света Аннотация: Проведено исследование шероховатости поверхности полированных ситаловых и кварцевых подложек с помощью методов атомно-силовой микроскопии, рентгеновского рассеяния и дифференциального рассеяния света. Для различных подложек показано хорошее совпадение функций спектральной плотности мощности рельефа поверхности и значений эффективной высоты шероховатости, рассчитанных по данным трех методов. Доп.точки доступа: Занавескина, И. С.; Рощин, Б. С.; Асадчиков, В. Е.; Азарова, В. В.; Грищенко, Ю. В.; Толстихина, А. Л. |
530.1 В 14 Вайнер, Ю. А. Исследование поперечной корреляции шероховатостей границ в многослойных структурах с ультракороткими периодами [Текст] / Ю. А. Вайнер, А. Е. Пестов [и др.] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2006. - Т. 130, N 3. - С. 401-408. - Библиогр.: с. 408 . - ISSN 0044-4510
Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): корреляции; поперечная корреляция; границы в структурах; шероховатости границ; многослойные структуры; ультракороткие периоды; переходные слои Аннотация: Исследование структуры переходных слоев W/B[4]C многослойных структур с ультракороткими (d = 0. 8-1. 5 нм) периодами. Доп.точки доступа: Пестов, А. Е.; Прохоров, К. А.; Салащенко, Н. Н.; Фраерман, А. А.; Чернов, В. В.; Чхало, Н. И. |
66 В 65 Войнов, Н. А. Теплообмен в пленке, стекающей по поверхности с винтовой шероховатостью [Текст] / Н. А. Войнов, Н. А. Еременко, К. В. Гурулев // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2006. - Т. 49, N 5. - С. 84-89. - Библиогр.: с. 89 (5 назв. ). - Ил.: 4 рис. . - ISSN 0579-2991
Рубрики: Химическая технология--Общие вопросы химической технологии Кл.слова (ненормированные): пленочные аппараты; теплопередающие поверхности; теплообмены в пленке; винтовые шероховатости; брызгоуносы Аннотация: Исследованы газосодержание, брызгоунос и теплоотдача в пленке воды, стекающей по теплопередающей поверхности трубы с винтовой крупномасштабной шероховатостью. Выявлено существенное влияние газосодержания и брызгоуноса на теплопередачу. Получены зависимости для расчета коэффициента теплоотдачи в пленке. Доп.точки доступа: Еременко, Н. А.; Гурулев, К. В. |
66 Е 70 Еренков, О. Ю. Повышение эффективности обрабатываемости резанием заготовок из пластмасс [Текст] / О. Ю. Еренков // Пластические массы. - 2006. - N 6. - С. 52-55. - Библиогр.: с. 55 (6 назв. ) . - ISSN 0554-2901
Рубрики: Химическая технология--Общие вопросы химической технологии Кл.слова (ненормированные): полимеры; пластмассы; обработка платсмасс; снижение шероховатости поверхности; обработка материалов резанием; резание материалов Аннотация: В работе представлены результаты экспериментальных исследований, целью которых являлось определение зависимости шероховатости обработанной поверхности детали из полимерного материала от параметров предварительно нанесенных микроповреждений. В качестве исследуемого материала выбран фторопласт-4. Разработаны рекомендации по снижению шероховатости обработанной поверхности полимерных материалов. |
Осовицкий, А. Н. Характеристики волноводного метода измерения параметров шероховатости гладких поверхностей диэлектриков [Текст] / А. Н. Осовицкий, Л. В. Тупанов // Радиотехника и электроника. - 2008. - Т. 53, N 12. - С. 1516-1520. - Библиогр.: с. 1520 (10 назв. ) . - ISSN 0033-8494
Рубрики: Радиоэлектроника Квантовая электроника Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): волноводный метод -- шероховатость поверхностей -- диэлектрики -- поверхности диэлектриков Аннотация: Проанализированы основные характеристики нового метода определения параметров шероховатости поверхности, основанного на рассеянии света в волноводах интегральной оптики. Показано, что при использовании стандартных приборов волноводный метод обеспечивает рекордные для оптических методов чувствительность и разрешение. Доп.точки доступа: Тупанов, Л. В. |
Моделирование шероховатости тонких пленок, полученных методом атомного осаждения слоев [Текст] / И. М. Искандарова [и др. ] // Химическая физика. - 2007. - Т. 26, N 3. - С. 79-89. - Библиогр.: c. 88-89 (41 назв. ) . - ISSN 0207-401Х
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): тонкие пленки -- метод атомного осаждения пленок -- химическое осаждение -- шероховатость пленок -- уравнение Лагранжа -- Лагранжа уравнение -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод Аннотация: О способах осаждения тонких пленок. Доп.точки доступа: Искандарова, И. М.; Книжник, А. А.; Белов, И. В.; Рыкова, Е. А.; Багатурьянц, А. А.; Уманский, С. Я.; Потапкин, Б. В.; Stoker, M. W. |
Петрешин, Д. И. Применение лазерного оптического датчика для измерения высотных параметров шероховатости поверхности деталей машин в самообучающейся адаптивной технологической системе [Текст] / Д. И. Петрешин // Контроль. Диагностика. - 2009. - N 11. - С. 53-57. - Библиогр.: с. 57 (5 назв. ) . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Техника Материаловедение Радиоэлектроника Искусственный интеллект. Экспертные системы Кл.слова (ненормированные): лазерные оптические датчики -- оптические датчики -- измерение шероховатости поверхности -- высотные параметры -- шероховатость поверхности -- поверхности деталей -- самообучающиеся системы -- адаптивные системы -- технологические системы -- системы -- бесконтактное измерение размеров -- optoNCDT 1700-2 Аннотация: Исследуется вопрос применения лазерного оптического датчика для измерения высотных параметров шероховатости поверхности деталей машин в самообучающейся адаптивной технологической системе. |
Долгунин, В. Н. Кинетика сегрегации частиц различной шероховатости и упругости при быстром гравитационном течении зернистой среды [Текст] / В. Н. Долгунин, О. О. Иванов, А. А. Уколов // Теоретические основы химической технологии. - 2009. - Т. 43, N 2. - С. 199-207. - Библиогр.: с. 207 (9 назв. ) . - ISSN 0040-3571
Рубрики: Химия Химическая кинетика Кл.слова (ненормированные): кинетика сегрегации -- сегрегация -- гравитационные течения -- зернистые среды Аннотация: Проведено экспериментальное и аналитическое исследование эффектов разделения частиц различной шероховатости и упругости в быстром гравитационном потоке зернистой среды. Доп.точки доступа: Иванов, О. О.; Уколов, А. А. |
Использование кластерных вторичных ионов Ge[2-], Ge[3-] для повышения разрешения по глубине при послойном элементном анализе полупроводниковых гетероструктур GeSi/Si методом ВИМС [Текст] / М. Н. Дроздов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып: вып. 3. - С. 418-421 : ил. - Библиогр.: с. 421 (12 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): ионы -- кластерные вторичные ионы -- Ge[2-] -- Ge[3-] -- послойный элементный анализ -- полупроводниковые гетероструктуры -- гетероструктуры -- GeSi/Si -- вторично-ионная масс-спектрометрия -- ВИМС -- метод вторично-ионной масс-спектрометрии -- оптические профилометры -- Talysurf CCI-2000 -- TOF. SIMS-5 -- шероховатости -- ионное распыление -- аппаратурные эффекты -- установки ВИМС Аннотация: Обсуждаются новые возможности повышения разрешения по глубине при послойном элементном анализе полупроводниковых гетероструктур GeSi/Si методом вторично-ионной масс-спектрометрии на установке TOF. SIMS-5. С использованием оптического профилометра Talysurf CCI-2000 для контроля формы и шероховатости дна кратера распыления проведен детальный анализ вкладов артефактов ионного распыления и аппаратурных эффектов в разрешение по глубине. Установлено, что использование ионов Cs{+} для распыления позволяет минимизировать развитие шероховатости при послойном анализе структур GeSi/Si вплоть до глубины 1-1. 5 мкм. Показано, что использование вторичных кластерных ионов Ge[2-] и Ge[3-] вместо Ge[1-] и Ge{+} позволяет снизить величину переходных областей в регистрируемых профилях. Доп.точки доступа: Дроздов, М. Н.; Дроздов, Ю. Н.; Лобанов, Д. Н.; Новиков, А. В.; Юрасов, Д. В. |
Лысенко, С. И. Рассеяние поверхностных плазмонов и объемных волн тонкими пленками золота [Текст] / С. И. Лысенко, Б. А. Снопок, В. А. Стерлигов // Оптика и спектроскопия. - 2010. - Т. 108, N 4. - С. 618-628. - Библиогр.: с. 628 (24 назв. ) . - ISSN 0030-4034
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): золото -- поверхностные плазмоны -- поликристаллические пленки -- шероховатости -- спектральные плотности -- рассеяние волн -- безызлучательное рассеяние -- поверхностные волны -- мультифрактальные размерности Аннотация: Исследованы особенности упругого рассеяния объемных волн и поверхностных плазмон-поляритонов поликристаллическими пленками золота. Доп.точки доступа: Снопок, Б. А.; Стерлигов, В. А. |
Астрова, Е. В. Формирование полосок двумерного фотонного кристалла путем одновременного фотоэлектрохимического травления щелей и макропор в кремнии [Текст] / Е. В. Астрова, Г. В. Федулова, Е. В. Гущина // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып: вып. 12. - С. 1666-1672 : ил. - Библиогр.: с. 1672 (18 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): формирование полосок -- двумерные кристаллы -- фотонные кристаллы -- фотоэлектрохимическое травление -- травление щелей -- макропоры в кремнии -- кремний -- глубокие макропоры -- глубокие щели -- n-Si -- сквозные щели -- квадратные решетки -- режимы травления -- шероховатости стенок -- боковые стенки Аннотация: Исследован процесс совместного электрохимического травления глубоких макропор и щелей в n-Si ориентации (100). После удаления подложки области образца, ограниченные со всех сторон замкнутым контуром сквозных щелей, извлекали из образца, оставляя узкие полоски двумерного фотонного кристалла. На примере фотонного кристалла с квадратной решеткой макропор анализируется влияние расстояния между порами и щелью, режимов травления и последующего окисления на шероховатость боковых стенок таких структур, а также на изменение размера и формы пор вблизи щели. Найдены условия, обеспечивающие наименьшее искажение решетки фотонного кристалла и получение наиболее гладких боковых стенок структуры (среднеквадратичная высота неровности ~60 нм). Доп.точки доступа: Федулова, Г. В.; Гущина, Е. В. |
539.2 Л 641 Литвак, М. Я. Полигауссовские модели негауссовской случайно-шероховатой поверхности [Текст] / М. Я. Литвак, авт. В. И. Малюгин // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 4. - С. 99-107. - Библиогр.: c. 107 (36 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Математика Теория вероятностей Кл.слова (ненормированные): полигауссовские модели -- интегральные полигауссовские модели -- негауссовские случайные процессы -- случайные процессы -- негауссовские случайно-шероховатые поверхности -- шероховатые поверхности -- случайно-шероховатые поверхности -- шероховатости -- негауссовские рельефы -- статистические характеристики Аннотация: Разработаны полигауссовские модели негауссовских случайных процессов, позволяющие описать и имитировать шероховатые поверхности с разнообразными плотностями распределения высот шероховатости и корреляционными свойствами, а также алгоритмы для численного и аналитического расчетов статистических характеристик негауссовских рельефов. Приведены примеры применения интегральной полигауссовской модели. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/04/p99-107.pdf Доп.точки доступа: Малюгин, В. И. |
535.33 К 903 Куликов, К. Г. Исследование влияния мелкомасштабных неоднородностей на электрофизические характеристики тонкого слоя методом внутрирезонаторной лазерной спектроскопии [Текст] / К. Г. Куликов // Журнал технической физики. - 2011. - Т. 81, N 9. - С. 82-88. - Библиогр.: c. 88 (6 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): внутрирезонаторная лазерная спектроскопия -- лазерная спектроскопия -- мелкомасштабные неоднородности -- математическое моделирование -- биологические образцы -- биоткани -- спектры поглощения -- тонкие слои -- оптически тонкие слои -- оптические резонаторы -- шероховатости Аннотация: Построена математическая модель, которая позволяет варьировать характерные размеры шероховатости, электрофизические параметры исследуемого биологического образца, геометрические характеристики и устанавливать зависимости между ними и биологическими свойствами моделируемой биоткани, а также делает возможным теоретически рассчитывать спектры поглощения оптически тонких биологических образцов, помещенных в полость оптического резонатора. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2011/09/p82-88.pdf |
539.2 М 494 Мемнонов, В. П. Экспериментальная оценка параметров распределений для шероховатости поверхности в каналах наноразмеров [Текст] / В. П. Мемнонов, авт. П. Г. Ульянов // Журнал технической физики. - 2011. - Т. 81, N 12. - С. 104-109. - Библиогр.: c. 109 ( назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): наносистемы -- наноканалы -- молекулярные течения -- шероховатость поверхности -- статистические модели -- атомно-силовые микроскопы -- жесткие диски -- винчестеры -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- тангенс угла наклона -- высота неровностей -- плотность функций распределения Аннотация: Для расчета молекулярных течений в наносистемах создана статистическая модель шероховатости поверхности, основанная на представлении ее неровностей в виде набора плоских микроплощадок, соединяющихся краями между собой и имеющих нормали, отличные от нормали к среднему уровню. В качестве примера с помощью атомно-силового микроскопа выполнены измерения двух параметров микроскопической шероховатости жесткого диска винчестера: тангенса угла наклона вдоль линии скана и высоты неровности. По большой экспериментальной выборке из измеренных значений получены плотность функций распределения для угла наклона и условные распределения с параметрами, зависящими от этого угла, для высоты неровности, а также для площади треугольника, образуемого высотой вместе со сторонами угла. Это последнее условное экспоненциальное распределение оказалось более удобным для расчетов случайных величин. Полученные результаты могут использоваться для моделирования граничных условий при расчете молекулярных течений статистическими методами Монте-Карло, а также для оценки свойств новых материалов защитных покрытий поверхностей в наносистемах, содержащих течения газа. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2011/12/p104-109.pdf Доп.точки доступа: Ульянов, П. Г. |
535.2/.3 O-66 Optical constants detection in tin dioxide nano-size layers by surface plasmon resonance investigation [Текст] / B. K. Serdega [et al.] // Физика и техника полупроводников. - 2011. - Т. 45, вып. 3. - С. 326-329 : ил. - Библиогр.: с. 329 (23 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): оптические константы -- диоксид олова -- наноразмерные слои -- поверхностные плазмоны -- шероховатости поверхности -- резонансный метод исследования -- полимерные материалы -- плазменный резонанс -- плазмоны Аннотация: Optical constants of tin dioxide nano-size layers were detected using surface plasmons resonance research technique. Squared reflectance indexes difference as well as the ones with s- and p-polarized light are measured simultaneously. Obtained in the work the refraction coefficient of the tin dioxide film gives the possibility to judge about the structural perfection of the layer and confirms that the film has significant porosity, which is created during the decomposition of the polymer materials used as structuring additives. It is shown that the resonance condition for surface plasmons may be destroyed through the interaction of surface plasmons with surface roughness potential of the film (medium dielectric properties variation). Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2011/03/p326-329.pdf Доп.точки доступа: Serdega, B. K.; Matyash, I. E.; Maximenko, L. S.; Rudenko, S. P.; Smyntyna, V. A.; Grinevich, V. S.; Filevskaya, L. N.; Ulug, B.; Ulug, A.; Yucel, B. M. |
539.2 И 207 Иванов, А. А. Сравнительный анализ механизмов закрепления доменной стенки в нанопроволоке [Текст] / А. А. Иванов, авт. В. А. Орлов // Физика твердого тела. - 2011. - Т. 53, вып. 12. - С. 2318-2326. - Библиогр.: с. 2325-2326 (13 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): доменные стенки -- нанопроволоки -- модель поликристаллической нанопроволоки -- кристаллографическая анизотропия -- шероховатости поверхностей Аннотация: На основе модели поликристаллической нанопроволоки проводится сравнительный анализ влияния случайных флуктуаций кристаллографической анизотропии и шероховатостей поверхности на закрепление доменной стенки в нанопроволоке. Вычислены начальная кривая намагничивания и коэрцитивная сила для этих механизмов закрепления. Сформулирован критерий, при выполнении которого неоднородности поверхности нанопроволоки играют основную роль в процессе закрепления доменной стенки. Аналитические результаты проверены с помощью компьютерного моделирования. Доп.точки доступа: Орлов, В. А. |
535.2/.3 М 219 Маляр, И. В. Влияние освещения на параметры полимерного покрытия, осаждаемого из раствора на полупроводниковую подложку / И. В. Маляр, S. Santer, С. В. Стецюра // Письма в "Журнал технической физики". - 2013. - Т. 39, вып. 14. - С. 69-76 : ил. - Библиогр.: с. 75-76 (14 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): полимерные покрытия -- влияние освещения -- поликатионные молекулы -- полиэтилен -- полупроводниковые подложки -- полиэтиленимин -- шероховатости -- интегральная толщина -- органические покрытия -- электронная проводимость Аннотация: Обнаружено и исследовано влияние освещения на толщину и шероховатость монослоев из поликатионных молекул полиэтиленимина, осаждаемых из раствора на кремниевые подложки. Освещение с длиной волны из области собственного поглощения подложки во время адсорбции полиэтиленимина приводило одновременно к снижению шероховатости и интегральной толщины органического покрытия на кремниевых подложках с электронным и дырочным типами проводимости. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2013/14/p69-76.pdf Доп.точки доступа: Santer, S.; Стецюра, С. В. |
539.2 Н 723 Новак, А. В. Шероховатость пленок аморфного, поликристаллического кремния и поликристаллического кремния с полусферическими зернами / А. В. Новак, авт. В. Р. Новак // Письма в "Журнал технической физики". - 2013. - Т. 39, вып. 19. - С. 32-40 : ил. - Библиогр.: с. 39-40 (15 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): поликристаллический кремний -- пленки -- шероховатости -- шероховатые поверхности -- полусферические формы -- атомно-силовые микроскопы -- корреляционный анализ -- спектральные функции -- спектральная плотность -- морфология поверхностей -- поверхности Аннотация: Изучены шероховатость, пространственные и корреляционные свойства поверхности для трех характерных типов LPCVD пленок кремния: аморфных и поликристаллических, имеющих относительно "гладкую" поверхность, и поликристаллических пленок с полусферическими зернами (HSG-Si), имеющих значительную шероховатость поверхности, посредством атомно-силовой микроскопии. Из анализа корреляционной функции и функции спектральной плотности мощности найдено, что для описания морфологии пленок аморфного и поликристаллического кремния подходит модель самоаффинной поверхности, тогда как для HSG-Si пленок - модель "холмообразной" поверхности. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2013/19/p32-40.pdf Доп.точки доступа: Новак, В. Р. |