539.1/18
П 300


    Петраков, А. П.
    Метод рентгеновской рефлектометрии и его применение для исследования лазерного испарения окисной пленки с поверхности кремния [Текст] / А. П. Петраков // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N4. - Библиогр.: 30 назв. . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
лазерное испарение -- оксид кремния -- рентгеновская рефлектометрия
Аннотация: Приведен анализ литературы по рентгеновской рефлектометрии. Возможности метода рентгеновской рефлектометрии продемонстрированы в процессе исследования лазерного испарения окисной пленки с поверхности кремния



621.039.6
Б 90


    Буланин, В. В.
    Пространственное и спектральное разрешение доплеровской рефлектометрии плазмы [Текст] / В. В. Буланин, авт. М. В. Ефанов // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 1. - С. 49-57. - Библиогр.: с. 57 (15 назв. ). - ил.: 6 рис. . - ISSN 0367-2921
УДК
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
   Энергетика--Термоядерная энергетика

Кл.слова (ненормированные):
плазма -- диагностика плазмы -- рефлектометрия плазмы -- спектральное разрешение
Аннотация: Развит подход к численному моделированию в борновском приближении микроволнового рассеяния в доплеровской рефлектометрии, основанный на вычислении двумерной пространственной весовой функции. Пространственная весовая, или аппаратная функция, содержащая полную информацию как о процессе рассеяния вперед, так и об обратном рассеянии, позволяет рассчитать сигнал на выходе квадратурного детектора диагностики для заданного распределения флуктуациий электронной плотности плазмы.


Доп.точки доступа:
Ефанов, М. В.


533.9.08
У 68


    Уразбаев, А. О.
    Исследование возможностей корреляционной рефлектометрии для определения параметров мелкомасштабной турбулентности в центральных областях токамака [Текст] / А. О. Уразбаев, В. А. Вершков, С. В. Солдатов, Д. А. Шелухин // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 6. - С. 483-501. - Библиогр.: с. 500-501 (21 назв. ). - ил.: 25 рис. . - ISSN 0367-2921
УДК
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
   Энергетика--Термоядерная энергетика

   Механика--Механика сплошных сред

Кл.слова (ненормированные):
физика плазмы -- плазма -- токамаки -- турбулентность -- рефлектометрия -- электромагнитные излучения
Аннотация: Произведена оценка локальности рефлектометрии. Приведены экспериментальные данные рефлектометрии в градиентной области, кросс-спектры, радиальные корреляционные функции. Построена модель турбулентности, имеющая спектральные, статистические и корреляционные свойства, близкие к экспериментальным. С использованием этой модели произведены расчеты распространения электромагнитного излучения в турбулентной плазме.


Доп.точки доступа:
Вершков, В. А.; Солдатов, С. В.; Шелухин, Д. А.


621.039.6
У 68


    Уразбаев, А. О.
    Прямое сравнение измерений турбулентности с помощью ленгмюровского зонда и рефлектометрии [Текст] / А. О. Уразбаев, В. А. Вершков, С. В. Солдатов, Д. А. Шелухин // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 8. - С. 675-698. - Библиогр.: с. 697-698 (17 назв. ). - ил.: 25 рис. . - ISSN 0367-2921
УДК
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
   Энергетика--Термоядерная энергетика

Кл.слова (ненормированные):
токамаки -- турбулентность -- ленгмюровские зонды -- рефлектометрия -- стохастические модели -- корреляционные свойства
Аннотация: Проведено сравнение спектральных характеристик. Подробно описаны проблемы рефлектометрии при интерпретации экспериментальных данных. Для решения этих вопросов была создана стохастическая модель турбулентности, которая имеет статистические, спектральные и корреляционные свойства, сходные с экспериментальными. Проведено моделирование распространения электромагнитной волны в турбулентной модельной плазме.


Доп.точки доступа:
Вершков, В. А.; Солдатов, С. В.; Шелухин, Д. А.


533.9.08
Ш 44


    Шелухин, Д. А.
    Применение рефлектометрии для оценки локальных параметров флуктуаций плотности плазмы [Текст] / Д. А. Шелухин, С. В. Солдатов, В. А. Вершков, А. О. Уразбаев // Физика плазмы. - 2006. - Т. 32, N 9. - С. 771-781. - Библиогр.: с. 781 (14 назв. ). - ил.: 10 рис., 1 табл. . - ISSN 0367-2921
УДК
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
плазма -- локальные параметры -- плотность плазмы -- рефлектометрия -- электромагнитные волны -- поляризация
Аннотация: Рассматривается вопрос о получении оценки величины локальных флуктуаций плотности с помощью рефлектометрии при зондировании плазмы электромагнитной волной с обыкновенной поляризацией. В рамках геометрической оптики получена формула, связывающая амплитуду флуктуаций фазы отраженного сигнала с амплитудой локальных флуктуаций плотности. Рассмотрен также вопрос о границах применимости полученного выражения.


Доп.точки доступа:
Солдатов, С. В.; Вершков, В. А.; Уразбаев, А. О.


53
Т 89


    Турьянский, А. Г.
    Относительная рентгеновская рефлектометрия дискретных слоистых структур [Текст] / А. Г. Турьянский, С. А. Апрелов [и др.] // Письма в журнал технической физики. - 2007. - Т. 33, N 5. - С. 87-94 . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 22.3
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская рефлектометрия -- слоистые структуры -- дискретные слоистые структуры -- наноструктуры
Аннотация: Методом относительной рентгеновской рефлектометрии впервые измерены параметры дискретной слоистой структуры. Описана рентгенооптическая схема измерения с использованием двух длин волн, обоснованы условия применения метода и алгоритм обработки данных. Приведены результаты измерения тест-объекта, полученного магнетронным напылением Ta на подложку Si через маску с периодически расположенными окнами. Разработанная схема может быть использована в полупроводниковой технологии для контроля параметров приборных структур наноразмерной толщины.


Доп.точки доступа:
Апрелов, С. А.; Герасименко, Н. Н.; Пиршин, И. В.; Сенков, В. М.


620.1/.2
К 73


    Котенев, В. А.
    Сканерная рефлектометрия в in situ контроле коррозионно-электрохимических систем [Текст] / В. А. Котенев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 12. - С. 26-31. - Библиогр.: с. 31 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 30.3
Рубрики: Техника--Материаловедение
Кл.слова (ненормированные):
in situ контроль; диагностика; компьютерные сканеры; контроль in situ; коррозионно-электрохимические системы; коррозионные системы; коррозионный контроль; коррозия металлов; оптические сканеры; планшетные сканеры; рефлектометрическая диагностика; рефлектометрия; сканерная рефлектометрия; сканерные методы контроля; сканеры; тестовые измерения; электролиты; электрохимический контроль; электрохимия
Аннотация: Рассмотрены методические основы использования компьютерных оптических сканеров в комбинации с методами электрохимии для высокопроизводительного коррозионного контроля непосредственно в растворе электролита.



002
Н 76


   
    Новости от "НОВО" [Текст] // Защита информации. Инсайд. - 2006. - N 1. - С. 76-77 . - ISSN XXXX-XXXX
УДК
ББК 73
Рубрики: Научно-информационная деятельность--Общие вопросы научно-информационной деятельности--Российская Федерация
Кл.слова (ненормированные):
поисковая техника; приборы поисковой техники; импульсная рефлектометрия; несанкционированные доступы
Аннотация: Компания "НОВО" выпустила серию новинок - приборов поисковой техники.


Доп.точки доступа:
НОВО - компания


539.1/.18
П 27


    Переседов, В. Ф.
    Сцинтилляционный стриповый детектор для регистрации тепловых нейтронов [Текст] / В. Ф. Переседов // Приборы и техника эксперимента. - 2006. - N 5. - С. 39-47. - Библиогр.: с. 47 (10 назв. ) . - ISSN 0032-8162
УДК
ББК 22.38
Рубрики: Физика--Ядерная физика
Кл.слова (ненормированные):
стриповые детекторы; тепловые нейтроны; сцинтилляционные детекторы; рефлектометрия
Аннотация: Описан сцинтилляционный стриповый детектор, предназначенный для прецизионных экспериментов по рефлектометрии тепловых нейтронов.



530.1
А 655


    Андреева, М. А.
    Магнитное упорядочение в ОЦК-пленке [Fe/Co][35], исследованное методом ядерно-резонансной рефлектометрии [Текст] / М. А. Андреева, Н. Г. Монина [и др.] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 131, N 4. - С. 652-661. - Библиогр.: с. 661 . - ISSN 0044-4510
УДК
ББК 22.31
Рубрики: Физика--Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
магнитное упорядочение; пленки; многослойные пленки; ядерно-резонансное отражение; спектры ядерно-резонансного отражения; ядерно-резонансная рефлектометрия
Аннотация: При анализе угловых зависимостей временных спектров ядерно-резонансного отражения для разных моделей магнитного упорядочения в пленках обнаружена неоднозначность в определении направления остаточной намагниченности по спектрам, измеренным при одной ориентации образца.


Доп.точки доступа:
Монина, Н. Г.; Линдгрен, Б.; Хаггстрем, Л.; Кальска, Б.


539.2
Ч-850


    Чуев, М. А.
    Фазовые соотношения в анализе кривых рентгеновской рефлектометрии от сверхрешеток [Текст] / М. А. Чуев, И. А. Субботин [и др.] // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 85, N 1. - С. 21-26 . - ISSN 0370-274Х
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская рефлектометрия -- фазовые соотношения -- сверхрешетки -- многослойные покрытия -- наноразмерные структуры -- магнитный дискретный сплав -- сплавы
Аннотация: Обнаружены и проанализированы нетривиальные особенности формирования кривых рентгеновской рефлектометрии от сверхрешеток на примере магнитного дискретного сплава GaSb/15 (Mn/GaSb) /GaAs. Качественный анализ формы экспериментальной кривой в рамках специфических фазовых соотношений в амплитуде отражения позволил не только описать эти особенности, в частности, двугорбый профиль первого брэгговского пика, а также восстановить реальную структуру исследованных сплавов, но и разработать общую схему анализа кривых рентгеновской рефлектометрии от несовершенных сверхрешеток.


Доп.точки доступа:
Субботин, И. А.; Пашаев, Э. М.; Квардаков, В. В.; Аронзон, Б. А.




    Андреева, М. А.
    Динамические эффекты в ядерно-резонансном брэгговском отражении, влияющие на точность определения коэффициента самодиффузии в периодических мультислоях 56Fe/57Fe [Текст] / М. А. Андреева, Н. Г. Монина, С. Станков // Вестник Московского университета. Сер. 3, Физика. Астрономия. - 2008. - N 2. - С. 49-53 : Рис. - Библиогр.: c. 53 (13 назв. ) . - ISSN 0201-7385
УДК
ББК 22.38 + 22.36
Рубрики: Физика
   Ядерная физика в целом

   Молекулярная физика в целом

Кл.слова (ненормированные):
speed-up -- брэгговские максимумы -- брэгговское отражение -- динамические эффекты -- железо -- коэффициенты самодиффузии -- периодические мультислои -- рентгеновская рефлектометрия -- ускорение распада -- ядерно-резонансное отражение
Аннотация: Угловые зависимости ядерно-резонансного отражения существенно отличаются от соответствующих кривых рентгеновской рефлектометрии, что обусловлено особенностями регистрации и эффектом ускорения распада (speed-up) ядерной подсистемы в условиях когерентного рассеяния. Модельными расчетами показано, что кинематическая формула, связывающая интенсивность брэгговских максимумов ядерно-резонансного отражения на разных стадиях отжига с коэффициентом диффузии, неприменима, когда брэгговский максимум находится вблизи критического угла.


Доп.точки доступа:
Монина, Н. Г.; Станков, С.




    Барышева, М. М.
    Латеральный сдвиг рентгеновских пучков и проблема определения фазы при рефлектометрии многослойных периодических структур [Текст] / М. М. Барышева, А. М. Сатанин // Журнал технической физики. - 2008. - Т. 78, N 9. - С. 77-83. - Библиогр.: c. 83 (18 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.374
Рубрики: Физика
   Оптические свойства твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновские пучки -- рефлектометрия -- многослойные структуры -- периодические структуры -- латеральное смещение рентгеновских пучков -- брэгговское отражение -- рентгеновская оптика
Аннотация: Аналитически и численно исследовано латеральное смещение рентгеновских пучков при брэгговском отражении от многослойной периодической структуры (МС). Найдено распределение полей внутри МС, а также смещение отраженного и прошедшего пучков. В приближении спектрально узких пучков получены аналитические выражения для величин сдвигов. Поскольку величина смещения определяется фазой коэффициента отражения (прохождения), существует принципиальная возможность извлечения информации о фазе отражения (прохождения) путем измерения пространственного сдвига.


Доп.точки доступа:
Сатанин, А. М.




   
    Рентгеновская рефлектометрия нанокомпозитных пленок металл - диэлектрик [Текст] / А. П. Петраков [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 10. - С. 25-28. - Библиогр.: с. 27-28 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 22.361
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики

Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская рефлектометрия -- рефлектометрия -- нанокомпозитные пленки -- металл-диэлектрик -- перколяционные переходы -- перколяционные пороги -- композитные пленки -- перколяция -- диэлектрики
Аннотация: Описано использование метода рентгеновской рефлектометрии для исследования металлических и диэлектрических включений в нанокомпозитных пленках в зависимости от их состава.


Доп.точки доступа:
Петраков, А. П.; Котов, Л. Н.; Калинин, Ю. Е.; Ситников, А. В.




   
    Нейтронная рефлектометрия с векторным анализом поляризации: первые шаги [Текст] / Н. К. Плешанов [и др. ] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 11. - С. 3-13 . - ISSN 0207-3528
УДК
ББК 22.334
Рубрики: Физика
   Магнетизм

Кл.слова (ненормированные):
нейтронная рефлектометрия -- поляризация -- рассеянные поля -- суперзеркала -- флипперы -- векторный анализ
Аннотация: Самая подробная и надежная информация о магнитном состоянии слоев (глубинном профиле намагниченности) может быть получена с помощью нейтронной рефлектометрии с векторным анализом поляризации. Рассмотрены две схемы реализации этой методики. В схеме I используются прецессионные катушки, предназначенные для манипуляций с вектором поляризации монохроматических пучков. Эта схема была тестирована на нейтронном рефлектометре НР-4М (ПИЯФ, Гатчина). Базовыми элементами схемы II являются реманентные суперзеркала; эта схема предназначена для использования с белым пучком нейтронов и имеет преимущества на импульсных источниках нейтронов. Было теоретически и экспериментально оценено влияние рассеянных полей от реманентных суперзеркал на нейтронную поляризацию, предложены эффективные способы компенсации рассеянных полей.


Доп.точки доступа:
Плешанов, Н. К.; Аксельрод, Л. А.; Забенкин, В. Н.; Сыромятников, В. Г.; Ульянов, В. А.




   
    Измерения полоидальной асимметрии перпендикулярного вращения плазмы и радиального электрического поля методом корреляционной рефлектометрии на токамаке TEXTOR [Текст] / С. Солдатов [и др. ] // Физика плазмы. - 2008. - Т. 34, N 9. - С. 798-802 : 8 рис. - Библиогр.: с. 802 (15 назв. ) . - ISSN 0367-2921
ГРНТИ
УДК
ББК 22.333 + 31.46
Рубрики: Физика
   Электронные и ионные явления. Физика плазмы

   Энергетика

   Ядерные реакторы

Кл.слова (ненормированные):
плазма -- вращения плазмы -- электрические поля -- токамаки -- TEXTOR -- корреляционная рефлектометрия
Аннотация: Измерения вращения плазмы и электрического поля важны для изучения удержания и переноса плазмы. Представленная работа посвящена экспериментальному исследованию полоидальной асимметрии перпендикулярного вращения плазмы с помощью корреляционной рефлектометрии на токамаке TEXTOR.


Доп.точки доступа:
Солдатов, С.; Кремер-Флекен, А.; Ван Вассенхове, Г.; де Бок, М.




    Горай, Л. И.
    Определение углов наклона и высот граней квантовых точек из анализа диффузного и зеркального рентгеновского рассеяния [Текст] / Л. И. Горай, Н. И. Чхало, Г. Э. Цырлин // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 4. - С. 117-124. - Библиогр.: c. 124 (19 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.374
Рубрики: Физика
   Оптические свойства твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
квантовые точки -- рентгеновское рассеяние -- рентгеновская рефлектометрия -- многослойные ансамбли квантовых точек
Аннотация: С помощью высокоразрешающей скользящей рентгеновской рефлектометрии (ВСРР) проведен анализ рентгеновского рассеяния на образцах с многослойными ансамблями квантовых точек (КТ), выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии в системе In (Ga) As/GaAs. Впервые экспериментально обнаружены пики интенсивности диффузного рассеяния для структур как с коррелированными по вертикали, так и некоррелированными КТ. Показано, что положение пика полностью определяется углом наклона alpha пирамидальных граней КТ (так называемое "условие блеска дифракционных решеток"), что ранее было предсказано теоретически. Сравнение с результатами моделирования рассеяния на основе метода граничных интегральных уравнений показывает, что простое геометрическое условие позволяет точно определять значение alpha по положению пика интенсивности, форма которого определяется многими параметрами. Как следует из теории и эксперимента, ширина и высота пиков, полученных для образца с коррелированными по вертикали КТ, больше, чем в противоположном случае. По положению и амплитуде брэгговских пиков определены величины шероховатости/взаимодиффузии интерфейсов и высота КТ. Таким образом, традиционное использование ВСРР для определения параметров сверхрешетки и несовершенства границ расширено в предложенном методе до определения геометрии КТ.


Доп.точки доступа:
Чхало, Н. И.; Цырлин, Г. Э.




    Зинченко, С. П.
    О возможности контроля роста тонких пленок методом угловой рефлектометрии в области угла Брюстера [Текст] / С. П. Зинченко, А. П. Ковтун, Г. Н. Толмачев // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 11. - С. 128-133. - Библиогр.: c. 133 (9 назв. ) . - ISSN 0044-4642
УДК
ББК 22.375
Рубрики: Физика
   Термодинамика твердых тел

Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- рост пленок -- угловая рефлектометрия -- угол Брюстера -- Брюстера угол -- мультиферроики
Аннотация: Для анализа динамики формирования слоевых структур на прозрачных подложках использовали метод угловой рефлектометрии, выгодно отличающийся высокой чувствительностью к изменению параметров пленочных структур начиная с первой стадии ее формирования. Метод основан на использовании угловой зависимости интенсивности отраженного сигнала в зоне угла Брюстера и практически не зависит от состояния технических средств измерений. Представлены результаты исследований тонких пленок мультиферроика на корундовой изотропной кристаллической подложке (скол 001). Пленки на подложке Al[2]O[3] (001) с различным временем напыления (5-600 s) были получены осаждением продуктов распыления мишени Bi[0. 95]Nd[0. 05]FeO[3] в высокочастотном тлеющем разряде в атмосфере кислорода.


Доп.точки доступа:
Ковтун, А. П.; Толмачев, Г. Н.




    Горай, Л. И.
    Обнаружение квазипериодических граней {11n}, n=7-11 в образцах с Ge/Si квантовыми точками с помощью рентгеновской рефлектометрии скользящего падения [Текст] / Л. И. Горай, Н. И. Чхало, Ю. А. Вайнер // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 3. - С. 31-38 : ил. - Библиогр.: с. 38 (11 назв. ) . - ISSN 0320-0116
УДК
ББК 32.86-5
Рубрики: Радиоэлектроника
   Квантовые приборы

Кл.слова (ненормированные):
квазипериодические грани -- квантовые точки -- рефлектометрия -- рентгеновские кванты -- рентгеновское излучение -- дифрактометрия -- зеркальное рассеяние -- диффузное рассеяние -- скользящее падение -- самоорганизующиеся структуры -- молекулярно-пучковая эпитаксия -- квантовые точки -- In (Ga) As/GaAs -- Ge/Si
Аннотация: С помощью высокоразрешающей рентгеновской рефлектометрии скользящего падения получены экспериментальные и теоретические данные интенсивности зеркального и диффузного отражения самоорганизующихся структур, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии с однослойными незарощенными и многослойными зарощенными Ge/Si квантовыми точками (КТ). Из положения пиков диффузного рассеяния в прямом пространстве с помощью методики, ранее примененной для исследования In (Ga) As/GaAs KT, были измерены с точностью ± 0, 1 градус углы наклона квазипериодических граней. Обнаруженные в образцах с неупорядоченными Ge/Si KT грани {11n}, n=7-11, характерные для ямок роста упорядоченных КТ, свидетельствуют об общности моделей образования КТ.


Доп.точки доступа:
Чхало, Н. И.; Вайнер, Ю. А.




    Ковалев, А. В.
    Малоугловое рассеяние с переворотами спина нейтрона в ферромагнитных пленках [Текст] / А. В. Ковалев // Физика твердого тела. - 2010. - Т. 52, вып: вып. 5. - С. 883-889. - Библиогр.: с. 888-889 (15 назв. ) . - ISSN 0367-3294
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
малоугловое рассеняие -- ферромагнитные пленки -- метод магнетронного распыления -- пленки Co-Fe -- намагниченность -- рефлектометрия поляризованных нейтронов -- поляризованные нейтроны
Аннотация: Приводятся результаты рефлектометрических измерений на анизотропных (Co[67]Fe[31]V[2]) и почти изотропных (Fe) пленках, изготовленных методом магнетронного распыления. На образцах указанного сплава незеркальные отражения и соответствующие пики интенсивностей преломленных нейтронов наблюдались при магнитных полях H=/<7 Oe, приложенных в плоскости пленки вдоль направления легкой оси намагничивания. Для пленок железа угловое расщепление отраженного нейтронного пучка становится заметным лишь при H>100 Oe и растет при увеличении магнитного поля. Предлагаемая общая схема такого малоуглового рассеяния, в которой учитываются разные варианты изменения зеемановской энергии нейтрона, позволила идентифицировать магнитные структуры Co-Fe-пленок. После намагничивания пленок толщиной 0. 15 мюm с одноосной и однонаправленной текстурами получились однонаправленные текстуры, но разные распределения интенсивностей, качественные различия которых сохранились при росте поля от 7 до 800 Oe. Для пленки толщиной 2. 5 мюm с исходной однонаправленной текстурой обнаружена неэквивалентность противоположно намагниченных состояний.