530.1 К 731 Котенев, В. А. Комбинирование спектрохимического и спектроэллипсометрического зондов для контроля процессов растворения металлов [Текст] / В. А. Котенев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 11. - Библиогр.: с. 36 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Теоретическая физика--Оптика Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): адсорбция -- зонды -- кинетическая эллипсометрия -- контроль процессов растворения -- коррозия -- лазерная эллипсометрия -- растворение металлов -- спектрофотометрия -- спектрохимические зонды -- спектроэллипсометрические зонды -- спектроэллипсометрия -- фотометрия -- эллипсометрия Аннотация: Приведены основные методические аспекты комбинирования спектроэллипсометрического и спектрохимического зондов для контроля нестационарных адсорбционных и коррозионных процессов. |
620.1/.2 К 731 Котенев, В. А. Эллипсометрия многократного отражения с обратным ходом луча [Текст] / В. А. Котенев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 12. - Библиогр.: с. 38 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника--Материаловедение Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): in situ (измерения) -- контроль толщины -- неразрушающий контроль -- обратнопроходная эллипсометрия -- эллипсометрия -- эллипсометры Аннотация: Описан метод обратнопроходной эллипсометрии многократного отражения для неразрушающего контроля толщины тонкого слоя на поверхности металлов и сплавов. Разработана оптико-электрохимическая жидкостная ячейка многократного отражения, обеспечивающая высокую чувствительность рефлектометрических и эллипсометрических измерений in situ. |
620.1/.2 К 73 Котенев, В. А. Сканерная рефлектометрия в in situ контроле коррозионно-электрохимических систем [Текст] / В. А. Котенев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2005. - Т. 71, N 12. - С. 26-31. - Библиогр.: с. 31 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника--Материаловедение Кл.слова (ненормированные): in situ контроль; диагностика; компьютерные сканеры; контроль in situ; коррозионно-электрохимические системы; коррозионные системы; коррозионный контроль; коррозия металлов; оптические сканеры; планшетные сканеры; рефлектометрическая диагностика; рефлектометрия; сканерная рефлектометрия; сканерные методы контроля; сканеры; тестовые измерения; электролиты; электрохимический контроль; электрохимия Аннотация: Рассмотрены методические основы использования компьютерных оптических сканеров в комбинации с методами электрохимии для высокопроизводительного коррозионного контроля непосредственно в растворе электролита. |
Котенев, В. А. Видеомикрозондовая спектротомография гетерофазных слоев металл-оксидных сенсоров [Текст] / В. А. Котенев, А. Ю. Цивадзе // Журнал неорганической химии. - 2007. - Т. 52, N 4. - С. 625-635 : рис. - Библиогр.: с. 634-635 (43 назв. ) . - ISSN 0044-457X
Рубрики: Машиностроение Металловедение Общая технология металлов Химия Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): контроль -- металлы -- микросенсоры -- микроскопы -- наноструктуры -- оксиды -- рефлектометры -- стали -- томография -- физические методы -- цифровые изображения Аннотация: Рассмотрены методические основы комбинированного использования цифровых микроскопических систем и спектротомографических принципов для контроля металл-оксидных гетерофазных наноструктур, неоднородных как вдоль поверхности, так и по толщине неоднородного слоя. Доп.точки доступа: Цивадзе, А. Ю. |
Котенев, В. А. Сканерная спектротомография неоднородных поверхностных слоев [Текст] / В. А. Котенев, Д. Н. Тюрин, А. Ю. Цивадзе // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 12. - С. 26-29. - Библиогр.: с. 29 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Геометрическая оптика. Оптические приборы Кл.слова (ненормированные): сканерная спектротомография -- спектротомография -- неоднородные поверхностные слои -- поверхностные слои -- зеркальное отражение -- диагностика поверхностных слоев -- фазово-неоднородные поверхностные слои -- цифровые оптические изображения -- оптические изображения -- компьютерные оптические сканеры -- оптические сканеры -- спектротомография неоднородных слоев -- термооксидные слои Аннотация: Представлены методические основы сканерной спектротомографии зеркального отражения для диагностики фазово-неоднородных поверхностных слоев. Доп.точки доступа: Тюрин, Д. Н.; Цивадзе, А. Ю. |