53 Г 144 Гайнутдинов, Р. В. Создание микродоменов в атомном силовом микроскопе в сегнетоэлектрических кристаллах ниобата бария-стронция [Текст] / Р. В. Гайнутдинов, Т. Р. Волк, А. Л. Толстихина, Л. И. Ивлева // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2007. - Т. 86, N 4. - С. 299-303 . - ISSN 0370-274X
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): кристаллы -- ниобат бария-стронция -- SBN-0. 61 -- сегнетоэлектрические кристаллы -- полидоменные кристаллы -- микродомены -- атомная силовая микроскопия Аннотация: Приведены результаты записей микродоменов в полидоменных кристаллах SBN-0. 61 методом атомной силовой микроскопии (АСМ) при приложении к зонду постоянных напряжений 1--10 В. Получены зависимости площади доменов от напряжения и времени экспозиции и кинетика их распада после выключения поля. Наблюдаемые неклассические характеристики динамики доменных стенок обусловлены неоднородным пространственным распределением АСМ поля. Кинетика распада микродоменов качественно согласуется с кинетикой деполяризации растворов SBN, наблюдаемой макроскопическими методами. Доп.точки доступа: Волк, Т. Р.; Толстихина, А. Л.; Ивлева, Л. И. |
621.3 Г 161 Галкин, Н. Г. Формирование, кристаллическая структура и свойства кремния со встроенными нанокристаллитами дисилицида железа на подложках Si (100 [Текст] / Н. Г. Галкин, Д. Л. Горошко [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2007. - Т. 41, вып. 9. - С. 1085-1092 . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Электротехника Кл.слова (ненормированные): кремний -- силициды железа -- нанокристаллиты -- поверхность Si (100) -- эффект Холла -- Холла эффект -- атомная силовая микроскопия -- просвечивающая электронная микроскопия -- дифракция медленных электронов Аннотация: Методами дифракции медленных электронов, измерений эффекта Холла in situ, атомной силовой микроскопией и просвечивающей электронной микроскопией с высоким разрешением изучены формирование островков силицидов железа на поверхности Si (100) - (2x1) и заращивание их кремнием; исследованы электрические свойства и структура кремния со встроенными нанокристаллитами силицидов железа. Наилучшее кристаллическое качество сплошного монокристаллического кремниевого слоя и минимальная шероховатость его поверхности наблюдались при температуре роста кремния 700. C и толщине 100 нм. Предложена модель роста кремния поверх нанокристаллов силицидов железа. Обнаружены два типа формирующихся нанокристаллитов: малые (5-6 нм) бета-FeSi[2] и большие (30-50 нм) гамма-FeSi[2]. Хорошее согласие электрических параметров кремния со встроенными нанокристаллитами дисилицидов железа и атомарно-чистого кремния подтвердило минимальное рассеяние носителей на нанокристаллитах в температурном диапазоне 300-540 K. Доп.точки доступа: Горошко, Д. Л.; Полярный, В. О.; Чусовитин, Е. А.; Гутаковский, А. К.; Латышев, А. В.; Khang, Y. |
621.3 Р 598 Рогозин, И. В. Приготовление пленок ZnO : N методом радикало-лучевой геттерирующей эпитаксии [Текст] / И. В. Рогозин // Физика и техника полупроводников. - 2007. - Т. 41, Вып. 8. - С. 924-928 . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика--Электротехника Кл.слова (ненормированные): эпитаксиальные пленки -- пленки ZnO : N -- ZnO : N -- радикало-лучевая геттерирующая эпитаксия -- рентгеновская дифракция -- атомная силовая микроскопия -- вторично-ионная масс-спектроскопия -- фотолюминесценция Аннотация: Эпитаксиальные пленки ZnO : N получены методом радикально-лучевой геттерирующей эпитаксии. Свойства пленок исследованы с помощью рентгеновской дифракции, атомной силовой микроскопии, вторично ионной масс-спектроскопии и фотолюминесценции. В рентгеновских дифракционных спектрах образцов наблюдается узкий пик (002), что указывает на ориентацию пленок ZnO : N вдоль c-оси. Вторично ионная масс-спектроскопия показывает наличие азота в пленках ZnO. В спектре низкотемпературной фотолюминесценции ZnO : N наблюдается пик 3. 31 эВ, предположительно экситона, связанного на нейтральном акцепторе - N[O]. Посттермический отжиг пленок ZnO : N осуществлялся в атомарном кислороде. Обсуждается природа донорно-акцепторной 3. 23 эВ и зеленой 2. 56 эВ полосы фотолюминесценции. |
Исследование сегнетоэлектрических пленок сополимера P (VDF-TrFE) и композитов на его основе методом атомной силовой микроскопии [Текст] / А. В. Солнышкин [и др. ] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 9. - С. 18-21
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрические пленки -- сополимеры -- атомная силовая микроскопия -- полярные материалы -- поливинилиденфторид Аннотация: Методами атомной и пьезоэлектрической силовой микроскопии исследованы структура поверхности и локальный пьезоэлектрический отклик пленочных образцов сополимера P (VDF-TrFE) и композитов на его основе. В номинально чистых образцах P (VDF-TrFE) выявлено существование ламеллярных кристаллов размером 2. 0 х 0. 6 мкм. При введении кристаллических сегнетоэлектриков наблюдаются увеличение доли кристаллической фазы в полимерной матрице и изменение формы и размеров ламеллярных кристаллитов. Получены петли гистерезиса локального пьезоэлектрического отклика для областей композита, соответствующих полимерной матрице и включениям кристаллических сегнетоэлектриков. Доп.точки доступа: Солнышкин, А. В.; Киселев, Д. А.; Богомолов, А. А.; Холкин, А. Л.; Kunstler, W.; Gerhard, R. |
Оценка качества однокомпонентных нанокомпозитных полупроводниковых пленок на примере Ge [Текст] / Д. В. Сурнин [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 27-30. - Библиогр.: с. 30 (8 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): однокомпонентные полупроводниковые пленки -- полупроводниковые пленки -- нанокомпозитные полупроводниковые пленки -- пленки -- гелий -- оценка качества полупроводниковых пленок -- рентгеноспектральный структурный анализ -- структурный анализ -- EXAFS-спектроскопия -- электронная спектроскопия -- спектроскопия -- рентгеновская дифрактометрия -- дифрактометрия -- атомная силовая микроскопия -- микроскопия -- нанокомпозиты -- комплексные методы оценки качества -- нанокомпозитные пленки германия -- пленки германия Аннотация: Предложен комплексный метод оценки качества однокомпонентных нанокомпозитных пленок. Доп.точки доступа: Сурнин, Д. В.; Валеев, Р. Г.; Ветошкин, В. М.; Карбань, О. В.; Гильмутдинов, Ф. З.; Деев, А. Н. |
544.77 П 592 Пористые ксерогели с бифункциональным поверхностным слоем состава =Si (CH[2]) [3]SH/=Si (CH[2]) [2]CH[3] [Текст] / Г. И. Добрянская [и др.] // Журнал физической химии. - 2007. - Т. 81, N 3. - С. 410-417. - Библиогр.: c. 417 (24 назв. ) . - ISSN 0044-4537
Рубрики: Химия Коллоидная химия в целом Общая и неорганическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): атомная силовая микроскопия -- золь-гель метод -- катализаторы -- ксерогели -- растворители -- синтез -- спектроскопия Аннотация: С использованием золь-гель метода получены полисилоксановые ксерогели. Доп.точки доступа: Добрянская, Г. И.; Мельник, И. В.; Зуб, Ю. Л.; Дабровский, А. |
621.315.592 У 677 Управляемый рост одномерных наноструктур оксида цинка в режиме импульсного электролиза [Текст] / Н. П. Клочко [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2012. - Т. 46, вып. 6. - С. 845-851 : ил. - Библиогр.: с. 851 (24 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): наноструктуры -- оксид цинка -- ZnO -- импульсное электроосаждение -- электроосаждение -- рентгеновская дифрактометрия -- оптическая спектрофотометрия -- атомная силовая микроскопия -- электролиз -- импульсный электролиз -- оптические свойства -- структурные характеристики -- субструктурные характеристики -- морфология поверхности Аннотация: Наноструктуры оксида цинка являются объектом исследований в области оптоэлектроники, гелиоэнергетики, наносенсорики и катализа. С целью осуществления управляемого роста одномерных субмикрометровых структур оксида цинка в режиме импульсного электроосаждения методами рентгеновской дифрактометрии, оптической спектрофотометрии и атомной силовой микроскопии определено влияние параметров импульсного электролиза на морфологию слоев ZnO, их оптические свойства, структурные и субструктурные характеристики. Выявлена возможность изготовления массивов нитевидных нанокристаллов ZnO различной геометрической формы, ориентированных перпендикулярно поверхности подложки, путем варьирования частоты импульсов потенциала катода-подложки. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2012/06/p845-851.pdf Доп.точки доступа: Клочко, Н. П.; Хрипунов, Г. С.; Мягченко, Ю. А.; Мельничук, Е. Е.; Копач, В. Р.; Клепикова, Е. С.; Лобов, В. Н.; Копач, А. В. |
541.1 Р 397 Рентгеноэлектронное исследование углеродных металлосодержащих наноструктур, полученных из полимеров в конденсированной среде [Текст] / Л. Г. Макарова [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2005. - Т. 69, N 4. - С. 573-575. - Библиогр.: с. 575 (5 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Химия Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): наноструктуры -- углеродные наноструктуры -- синтез металлических наночастиц -- рентгеноэлектронная спектроскопия -- РЭС -- электронная микроскопия -- ЭМ -- атомная силовая микроскопия -- АСМ Аннотация: Проведен контроль процесса синтеза металлических наночастиц в углеродной оболочке методом рентгеноэлектронной спектроскопии и изучены возможности внедрения разрабатываемых методов для развития нанометаллургии. Доп.точки доступа: Макарова, Л. Г.; Шабанова, И. Н.; Теребова, Н. С.; Кодомов, В. И.; Семакина, Н. В. |
537.533.35 К 630 Комбинированное ПЭМ-АСМ-исследование трансротационных сферолитов, растущих в тонких аморфных пленках [Текст] / В. Ю. Колосов [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1481-1485. - Библиогр.: c. 1485 (10 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Физика твердого тела Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): аморфные пленки -- атомная силовая микроскопия -- кристаллизация -- кристаллические решетки -- кристаллы -- микроскопические методы -- просвечивающая электронная микроскопия -- сферолитные кристаллы -- тонкие пленки -- трансротационные сферолиты -- электронная микроскопия Аннотация: Совместно методами просвечивающей электронной микроскопии и атомной силовой микроскопии были исследованы "трансротационные" сферолиты Se и альфа-Fe[2]O[3]. Комбинация двух микроскопических методов позволила выявить особенности структуры и характер поверхности сферолитов, а также сопоставить эти данные. Доп.точки доступа: Колосов, В. Ю.; Швамм, К. Л.; Гайнутдинов, Р. В.; Толстихина, А. Л. |
539.2 П 849 Проявление плоских и гофрированных рельефов поверхности платиновых фольг в картинах дифракции медленных электронов / В. Е. Корсуков [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2013. - Т. 39, вып. 8. - С. 55-61 : ил. - Библиогр.: с. 61 (6 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): гофрированные профили -- поверхности -- плоские поверхности -- платина -- фольги -- медленные электроны -- дифракция медленных электронов -- поликристаллические пленки -- рекристаллизация -- сверхвысокий вакуум -- атомная силовая микроскопия -- силовая микроскопия -- рельефы -- метод ДМЭ -- ДМЭ -- АСМ -- метод АСМ Аннотация: Атомная структура и рельеф поверхности платиновой поликристаллической фольги после ее прокатки и последующей рекристаллизации в сверхвысоком вакууме были исследованы методами дифракции медленных электронов (ДМЭ) и атомной силовой микроскопии (АСМ). Симметрия картин ДМЭ свидетельствует о том, что структура поверхности рекристаллизованной платины соответствует грани (111), однако различная форма дифракционных максимумов говорит о разнообразии геометрического рельефа ее поверхности. Методом АСМ были выявлены различные типы поверхностных рельефов - плоские, гофрированные в одном направлении, разнонаправленные рельефы, которые были сопоставлены с данными по ДМЭ. Установленные закономерности позволяют вести оперативное наблюдение за образованием различных типов рельефов методом дифракции, не прибегая к зондовым методам. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2013/08/p55-61.pdf Доп.точки доступа: Корсуков, В. Е.; Князев, С. А.; Буйнов, А. Л.; Корсукова, М. М.; Немов, С. А.; Обидов, Б. А. |
539.21:537 И 373 Изменение атомной структуры и рельефа поверхности рекристаллизованных фольг Mo при их растяжении в сверхвысоком вакууме / В. Е. Корсуков [и др.]. // Письма в "Журнал технической физики". - 2014. - Т. 40, вып. 6. - С. 35-41 : ил. - Библиогр.: с. 40-41 (11 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): атомные структуры -- сверхвысокий вакуум -- морфология поверхности -- медленные электроны -- деструкция -- топограммы -- рельеф поверхности -- дифракция медленных электронов -- атомная силовая микроскопия -- фольги -- молибден Аннотация: Исследовалось изменение морфологии поверхности рекристаллизованной фольги Mo под воздействием одноосного растяжения в сверхвысоком вакууме методами дифракции медленных электронов (ДМЭ) и атомной силовой микроскопии (АСМ). Установлено, что под влиянием одноосного растяжения поверхности фольги, которая состоит из отдельных блоков доминирующей грани (100) со структурой 1x1, происходит локальная деструкция этой грани и разворот блоков. Методом АСМ получены топограммы различных областей поверхности разорванного образца. Данные, полученные методом ДМЭ, сопоставлялись с эволюцией рельефа поверхности, измеренного методом АСМ, и получено хорошее совпадение. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2014/06/p35-41.pdf Доп.точки доступа: Корсуков, В. Е.; Князев, С. А.; Анкудинов, А. В.; Корсукова, М. М.; Обидов, Б. А.; Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (Санкт-Петербург); Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (Санкт-Петербург); Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (Санкт-Петербург); Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (Санкт-Петербург); Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (Санкт-Петербург) |
621.315.592 Э 455 Электроосажденные массивы оксида цинка с эффектом глаза ночной бабочки / Н. П. Клочко [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - 2014. - Т. 48, вып. 4. - С. 549-555 : ил. - Библиогр.: с. 555 (7 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): фотоэлектрические преобразователи -- оксид цинка -- антиотражающие покрытия -- метод импульсного электрохимического осаждения -- импульсное электрохимическое осаждение -- водные электролиты -- электролиты -- оптические свойства -- метод спектрофотометрии -- спектрофотометрия -- структурные характеристики -- рентген-дифрактометрические исследования -- метод атомной силовой микроскопии -- атомная силовая микроскопия -- АСМ -- эффект глаза ночной бабочки -- электрохимическое осаждение Аннотация: Материалам современных фотоэлектрических преобразователей свойственно значительное отражение света, для устранения которого прибегают к нанесению антиотражающих покрытий. Впервые показана возможность создания антиотражающих покрытий в виде наноразмерных массивов оксида цинка с параболическим профилем методом импульсного электрохимического осаждения из водных электролитов. Влияние режимов осаждения на оптические свойства массивов оксида исследовали методом спектрофотометрии. Структурные характеристики анализировались по данным рентген-дифрактометрических исследований. Морфологию выращиваемых массивов выявляли методом атомной силовой микроскопии. Оптимизация режимов импульсного электроосаждения позволила скорректировать размеры параболических нановыступов и таким образом обеспечить создание на основе электроосажденных массивов оксида цинка антиотражающего покрытия с эффектом глаза ночной бабочки, пригодного для использования в фотоэлектрических преобразователях. Materials of current photovoltaic devices tend to a significant light reflection. This explains the need for an antireflective coating (AR). For the first time we demonstrate the creating of AR in form of nano-scale zinc oxide array with a parabolic profile by pulse electrodeposition from aqueous electrolytes. The study of zinc oxide deposition mode influence on their optical properties performed using a spectrophotometry. Structural characteristics analysed by X-ray diffractometry. Morphology of the arrays investigated by an atomic force microscopy. Optimization of pulse electrodeposition mode allowed adjusting sizes of parabolic nipples for creating AR moth-eye structure suitable for use in photovoltaic devices. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2014/04/p549-555.pdf Доп.точки доступа: Клочко, Н. П.; Хрипунов, Г. С.; Мягченко, Ю. А.; Мельничук, Е. Е.; Копач, В. Р.; Клепикова, Е. С.; Лобов, В. Н.; Копач, А. В.; Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт"; Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт"; Киевский национальный университет им. Т. Г. Шевченко; Киевский национальный университет им. Т. Г. Шевченко; Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт"; Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт"; Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт"; Национальный технический университет "Харьковский политехнический институт" |