537.533.35 Г 127 Гагарин, Ю. Е. Использование конфлюентного анализа для оценки влияния электрофизических параметров прямозонных полупроводниковых материалов на результаты интервального оценивания зависимости интенсивности катодолюминесценции от энергии электронов пучка. Результаты математического моделирования [Текст] / Ю. Е. Гагарин, Е. Н. Лапшинова, В. И. Петров, М. А. Степанович // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 10. - С. 31-35 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): конфлюентный анализ -- электрофизические параметры -- полупроводниковые материалы -- прямозонные полупроводниковые материалы -- катодолюминесценция -- энергия электронов пучка -- математическое моделирование Аннотация: Рассмотрено использование конфлюентного анализа для нахождения интервальных оценок функциональных зависимостей в катодолюминесцентной микроскопии. Изучено влияние электрофизических параметров на интервальные оценки функциональной зависимости интенсивности катодолюминесценции от энергии электронов пучка. Доп.точки доступа: Лапшинова, Е. Н.; Петров, В. И.; Степанович, М. А. |
537.533.35 Е 302 Егоров, Н. В. Исследование эмиссионных свойств полевого катода W-Cs[3]Sb [Текст] / Н. В. Егоров, Л. И. Антонова, С. Р. Антонов // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 8. - С. 59-64 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): эмиссионные свойства -- полевой катод -- W-Cs[3]Sb -- система металл-полупроводник Аннотация: Получен новый полевой катод на основе системы металл-полупроводник W-Cs[3]Sb, имеющий эмиссионный ток на полтора порядка выше, чем ток с вольфрамового катода, и полуширину энергетического спектра около 0. 3 эВ. Предложена энергетическая модель данного эмиттера, позволяющая получить расчетные значения основных параметров катода, находящиеся в хорошем согласии с экспериментом. Доп.точки доступа: Антонова, Л. И.; Антонов, С. Р. |
537.533.35 Г 970 Гутаковский, А. К. Применение высокоразрешающей электронной микроскопии для визуализации и количественного анализа полей деформации в гетеросистемах [Текст] / А. К. Гутаковский, А. Л. Чувилин, Se Ahn Song // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1464-1470. - Библиогр.: c. 1470 (23 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): анализ геометрической фазы -- атомное строение -- визуализация -- высокоразрешающая электронная микроскопия -- гетеросистемы -- количественный анализ -- кристаллические решетки -- метод геометрической фазы -- поля деформации -- пространственные частоты -- рассеяние -- упругие деформации -- электронная микроскопия Аннотация: Рассмотрены общие принципы, возможности и ограничения классического метода геометрической фазы. Для расширения его возможностей разработан новый обобщающий подход, заключающийся в анализе всех доступных пространственных частот высокоразрешающего электронно-микроскопического изображения. Доп.точки доступа: Чувилин, А. Л.; Se Ahn Song |
537.533.35 К 630 Комбинированное ПЭМ-АСМ-исследование трансротационных сферолитов, растущих в тонких аморфных пленках [Текст] / В. Ю. Колосов [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 10. - С. 1481-1485. - Библиогр.: c. 1485 (10 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Физика твердого тела Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): аморфные пленки -- атомная силовая микроскопия -- кристаллизация -- кристаллические решетки -- кристаллы -- микроскопические методы -- просвечивающая электронная микроскопия -- сферолитные кристаллы -- тонкие пленки -- трансротационные сферолиты -- электронная микроскопия Аннотация: Совместно методами просвечивающей электронной микроскопии и атомной силовой микроскопии были исследованы "трансротационные" сферолиты Se и альфа-Fe[2]O[3]. Комбинация двух микроскопических методов позволила выявить особенности структуры и характер поверхности сферолитов, а также сопоставить эти данные. Доп.точки доступа: Колосов, В. Ю.; Швамм, К. Л.; Гайнутдинов, Р. В.; Толстихина, А. Л. |
537.533.35 М 340 Математическое моделирование зависимостей интенсивности монохроматической катодолюминесценции от энергии электронов пучка для трехслойной полупроводниковой структуры [Текст] / М. Г. Снопова [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1534-1538. - Библиогр.: c. 1538 (10 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Люминесценция Кл.слова (ненормированные): катодолюминесценция -- неосновные носители заряда -- трехслойная полупроводниковая структура -- электрофизические параметры -- математическое моделирование -- тонкие планарные источники -- неразрушающие методы оценки Аннотация: Рассмотрены некоторые возможности моделирования зависимости монохроматической катодолюминесценции от энергии электронов пучка для трехслойной полупроводниковой структуры, диффузия неосновных носителей заряда в которой может быть описана с использованием модели независимых источников. Доп.точки доступа: Снопова, М. Г.; Михеев, Н. Н.; Петров, В. И.; Степович, М. А. |
537.533.35 С 429 Скибицкая, Н. А. Методика исследования в растровом электронном микроскопе матричной нефти [Текст] / Н. А. Скибицкая, В. А. Кузьмин, А. В. Гаршев // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1567-1570 : рис. - Библиогр.: c. 1570 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): растровые электронные микроскопы -- карбонатные минерально-органические полимеры -- матричная нефть -- карбонатные породы -- локальные возмущения -- уравнения Ландау-Лифшица -- Ландау-Лифшица уравнения Аннотация: Предложены методы исследования сколов пород в РЭМ при различных ускоряющих напряжениях, позволяющие идентифицировать матричную нефть за счет выделения фазы с высоким содержанием легких элементов (углерода). Доп.точки доступа: Кузьмин, В. А.; Гаршев, А. В. |