Меньшикова, Т. Г. Флуктуационная модель вольт-фарадной характеристики МДП-структуры [Текст] / Т. Г. Меньшикова, А. Е. Бормонтов // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 9. - С. 65-72 : ил. - Библиогр.: с. 72 (10 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Кл.слова (ненормированные): МДП-структуры -- металл-диэлектрик-полупроводник -- металлы -- диэлектрики -- полупроводники -- флуктуационные модели -- вольт-фарадные характеристики -- статистические флуктуации -- зарядовые флуктуации -- энергетические спектры -- поверхностные состояния -- плотность поверхностных состояний -- встроенные заряды -- параметры МДП-структуры Аннотация: Исследована форма вольт-фарадной характеристики МДП-структуры при наличии статистических флуктуаций встроенного в диэлектрик заряда. Рассмотрено влияние зарядовых флуктуаций на энергетический спектр плотности поверхностных состояний (ПС) и другие параметры МДП-структуры. Показано, что при использовании обычных емкостных методик определения плотности ПС наличие флуктуаций может привести как к завышенной оценке ее величины (в режимах обогащения и инверсии), так и к заниженной оценке (в режиме обеднения), проявляясь в последнем случае в форме "отрицательной" плотности. Учет флуктуаций встроенного заряда необходим также для повышения точности контроля других параметров МДП-структуры емкостными методами. Доп.точки доступа: Бормонтов, А. Е. |
Статистические особенности зарождения процесса лавинного умножения в полупроводниках с различающимися коэффициентами ударной ионизации [Текст] / А. В. Верховцева [и др. ] // Радиотехника и электроника. - 2009. - Т. 54, N 11. - С. 1403-1408. - Библиогр.: с. 1408 ( 6 назв. ) . - ISSN 0033-8494
Рубрики: Физика Физика полупроводников и диэлектриков Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): ударная ионизация -- полупроводники -- статистические флуктуации -- лавинные фотодиоды -- коэффициент регенерации -- коэффициент ударной ионизации -- лавинный процесс Аннотация: Исследованы статистические флуктуации эффективности лавинного умножения применительно к реализации гейгеровского режима работы лавинных фотодиодов. Получена функция распределения парциальных коэффициентов умножения, которую отличает аномально широкая (порядка среднего) дисперсия. Получены также выражения для парциальных коэффициентов обратной связи через величину среднего коэффициента усиления и рассчитаны соответствующие зависимости от перенапряжения на диоде. Представлен алгоритм моделирования развития лавинного процесса методом Монте-Карло и результаты соответствующих статистических испытаний в сравнении с полученной теоретической зависимостью. Доп.точки доступа: Верховцева, А. В.; Ванюшин, И. В.; Гергель, В. А.; Зеленый, А. П.; Зимогляд, В. А.; Тишин, Ю. И. |