53 С 173 Самойленко, З. А. Локальная аморфизация атомной структуры в ферритах Mg[0. 54]Zn[0. 46]Fe[2]O[4] [Текст] / З. А. Самойленко, авт. Н. Н. Ивахненко // Письма в журнал технической физики. - 2007. - Т. 33, N 7. - С. 8-15 . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика--Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): ферриты -- атомная структура -- кристаллическая структура -- рентгеновский дифракционный анализ -- локальная аморфизация структуры Аннотация: Методом рентгеновского дифракционного анализа проведены исследования структуры в ферритах Mg[0. 54]Zn[0. 46]Fe[2]O[4]. Обнаружена перестройка кристаллической структуры образцов в процессе высокотемпературного отжига (1280 C, тау = 0. 5-8. 0 h) . Показано, что структурная перестройка сопровождается локальной аморфизацией кристаллической структуры. Доп.точки доступа: Ивахненко, Н. Н. |
Структура тонких пленок Ba[0, 7]Sr[0, 3]TiO[3], нанесенных на кремниевые подложки методом импульсного лазерного напыления [Текст] / В. Л. Романюк [ и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - 2009. - N 5. - С. 37-40 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): рентгеновский дифракционный анализ -- электронография -- атомносиловая микроскопия -- кремниевые подложки -- метод импульсного лазерного напыления Аннотация: Методом импульсного лазерного испарения с использованием Nd: YAG лазера, работающего в режиме свободной генерации, получены сегнетоэлектрические тонкие пленки Ba[0, 7]Sr[0, 3]TiO[3] на кремниевых подложках при температурах 200 и 450 градусов Цельсия. Доп.точки доступа: Романюк, В. Л.; Гременок, В. Ф.; Меркулов, В. С.; Соболь, В. Р.; Ташлыков, И. С. |
Микроструктура и оптические свойства тонких пленок оксида цинка, полученных методом магнетронного распыления цинковой мишени [Текст] / О. В. Гончарова [и др. ] // Физика и химия обработки материалов. - 2009. - N 6. - С. 20-25 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура ядерной физики Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): мишени -- цинковые мишени -- тонкие пленки -- магнетронное распыление -- оксид цинка -- высокопрозрачные пленки -- атомно-силовая микроскопия -- рентгеновский дифракционный анализ -- полупроводниковые микрокристаллы -- тонкопленочные матрицы -- реактивное магнетронное распыление -- кристаллические структуры -- аморфные подложки -- высокоупорядоченные кристаллические структуры -- солнечные элементы -- текстурированные лицевые поверхности Аннотация: С целью разработки методов изготовления высокопрозрачных пленок оксида цинка с контролируемой величиной удельного сопротивления изучены их микроструктурные и спектральные свойства. Доп.точки доступа: Гончарова, О. В.; Леонова, Т. Р.; Гременок, В. Ф.; Болодон, В. Н.; Дымонт, В. П.; Ташлыков, И. С. |
621.38 А 640 Анализ фазового состава почечных камней человека в модельных объектах с использованием дифракции синхротронного излучения [Текст] / А. И. Анчаров [и др.] // Известия РАН. Серия физическая. - 2007. - Т. 71, N 5. - С. 677-680 : Рис. - Библиогр.: c. 680 (5 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Здравоохранение. Медицинские науки Урология Кл.слова (ненормированные): почечные камни человека -- синхротронное излучение -- дифракционный анализ -- экспериментальные данные -- мочекаменная болезнь -- дистанционная ударно-волновая литотрипсия (ДЛТ) -- рентгеновский дифракционный анализ -- мочевые камни -- литотрипсия Аннотация: Исследована возможность использования синхротронного излучения для рентгеновского дифракционного анализа почечных камней непосредственно в организме пациента. Доп.точки доступа: Анчаров, А. И.; Низовский, А. И.; Потапов, С. С.; Моисеенко, Т. Н.; Феофилов, И. В. |