539.26 П 580 Попов, А. А. Поведение политипных структур в слабоустойчивых системах при изменяющихся внешних воздействиях [Текст] / А. А. Попов, В. Н. Удодов, А. И. Потекаев // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N2. - Библиогр.: с.45 (11 назв.). - Эволюция дефектных структур в конденсированных средах (тематический выпуск) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): политипные структуры -- слабоустойчивые системы -- плотноупакованные кристаллы -- модель Изинга -- политипные превращения -- компьютерное моделирование Аннотация: В настоящей работе предложен подход к исследованию политипных превращений в плотноупакованных кристаллах на основе обобщенной аксиальной модели Изинга конечных размеров. В рамках этого подхода проведен анализ влияния размеров модели, дальнего и многочастичного взаимодействий на стабильность короткопериодных и многослойных структур и последовательность политипных превращений. Методами компьютерного моделирования исследовано возможное поведение систем с политипными переходами при изменении внешнего сдвигового напряжения и температуры в равновесных и наравновесных условиях. Полученные результаты согласуются с экспериментальными закономерностями. Подход позволяет предсказывать новые многослойные политипные структуры и определять их симметрию Доп.точки доступа: Удодов, В.Н.; Потекаев, А.И. |
539.26 Г 245 Гафнер, С. Л. Дефекты упаковки при неравновесном двойниковании в ГЦК-структурах [Текст] / С. Л. Гафнер, В. Н. Удодов, Ю. А. Гафнер // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N6. - Аннотация . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): дефекты упаковки -- двойникование -- ГЦК-структура -- неравновесные процессы Доп.точки доступа: Удодов, В.Н.; Гафнер, Ю.А. |
539.26 Г 245 Гафнер, С. Л. Дефекты упаковки при неравновесном превращении ГЦК-18R[1] [Текст] / С. Л. Гафнер, В. Н. Удодов, А. И. Потекаев // Известия вузов. Физика. - 2002. - Т.45,N12. - Библиогр.: с.30 (9 назв.) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): дефекты упаковки -- модель Изинга -- плотноупакованные кристаллы Аннотация: В рамках обобщенной модели Изинга установлены факторы, стабилизирующие структуру 18R[1] и реализующие переход ГЦК->18R[1]. Проведенное компьютерное моделирование показало, что такими факторами являются внешнее сдвиговое напряжение и многочастичное взаимодействие. Рассчитана плотность и энергия дефектов упаковки. Проанализирована их зависимость от температуры и внешнего напряжения. Показано, что энергетический параметр дальнего взаимодействия (в десяти координационных сферах) существенно влияет на ширину дефектной области при переходе ГЦК->18R[1]. Проведено сопоставление с экспериментальными данными Перейти: http://www.tsu.ru/ru/derision/physics.phtml Доп.точки доступа: Удодов, В.Н.; Потекаев, А.И. |
539.26 Б 189 Байдышев, В. С. Фазовые диаграммы политипных превращений в плотноупакованных кристаллах с учетом метастабильных состояний [Текст] / В. С. Байдышев, В. Н. Удодов, А. А. Попов, А. И. Потекаев // Известия вузов. Физика. - 2003. - N12. - Библиогр.: 10 назв. . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): политипные превращения -- плотноупакованные кристаллы -- модель Изинга -- алгоритм Метрополиса -- политипные структуры -- метастабильные состояния Аннотация: В настоящей работе предложен метод расчета фазовых политипных превращений в плотноупакованных кристаллах на основе обобщенной аксиальной модели Изинга конечных размеров при ненулевых температурах. С помощью алгоритма Метрополиса изучено поведение систем с политипными переходами при изменении внешнего сдвигового напряжения и температуры. Максимальный период рассмотренных политипов составляет 30 плотноупакованных плоскостей. Перейти: www.tsu.ru/ru/derision/physics.phtml Доп.точки доступа: Удодов, В.Н.; Попов, А.А.; Потекаев, А.И. |
539.26 М 761 Молчанова, Е. А. Влияние граничных условий на политипные превращения в плотноупакованных кристаллах [Текст] / Е. А. Молчанова, А. И. Потекаев, В. Н. Удодов // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 11. - Библиогр.: с. 66 (5 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): плотноупакованные кристаллы -- модель Изинга -- аксиальная модель Изинга -- модельные кристаллы -- политипные превращения Аннотация: В рамках модифицированной аксиальной модели Изинга исследовано влияние граничных условий ("оборванных концов" и периодических граничных условий) на стабильность политипных структур в плотноупакованных кристаллах. С помощью диаграмм основных состояний найдены возможные структуры и серии превращений, индуцированных внешним полем. Проведен анализ влияния размеров модельной системы, дальнего и многочастичного взаимодействий на вид диаграмм основных состояний при различных типах граничных условий. Проанализировано влияние температуры на характеристики политипных структур. Показано, что как при абсолютном нуле, так и при конечной температуре по некоторым свойствам влияние граничных условий может быть определяющим. Доп.точки доступа: Потекаев, А. И.; Удодов, В. Н. |
539.26 Г 97 Гутько, Е. С. Исследование быстрозатвердевших фольг бинарных и тройных сплавов на основе алюминия, содержащих цинк и магний [Текст] / Е. С. Гутько, авт. В. Г. Шепелевич // Физика и химия обработки материалов. - 2005. - N 4. - С. 81-85 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Техника--Материаловедение Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): быстрозатвердевшие фольги; рентгеноструктурный анализ; алюминий; сплавы алюминия; цинк; сплавы цинка; магний; сплавы магния; микротвердость сплавов; микротвердость фольг Аннотация: Проведено сравнительное исследование структуры и микротвердости быстрозатвердевших фольг различных сплавов на основе алюминия. Доп.точки доступа: Шепелевич, В. Г. |
539.26 К 70 Корчевский, В. В. Применение численных методов для определения параметров кристаллической структуры по профилю одной дифракционной линии [Текст] / В. В. Корчевский // Известия вузов. Физика. - 2005. - Т. 48, N 4. - С. 75-79. - Библиогр.: c. 79 (4 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): методы численного моделирования; параметры кристаллической структуры; дифракционная линия; области когерентного рассеяния; обработка дифрактограмм; физика конденсированного состояния; сталь 30ХГСНА Аннотация: Показано использование методов численного моделирования для нахождения размеров областей когерентного рассеяния и микроискажений по профилю одной дифракционной линии. Приведены результаты обработки дифрактограмм закаленной и отпущенной при разных температурах стали 30ХГСНА. |
539.26 С 18 Санников, Е. В. Фазовые переходы в одномерных магнетиках [Текст] / Е. В. Санников, Р. А. Козлитин, В. Н. Удодов, А. И. Потекаев // Известия вузов. Физика. - 2006. - Т. 49, N 3. - С. 54-58. - Библиогр.: c. 58 (13 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика--Молекулярная физика Кл.слова (ненормированные): одномерные магнетики; фазовые переходы; магнетики; ферромагнетик-антиферромагнетик; метод Монте-Карло; Монте-Карло метод; модель Изинга; Изинга модель Аннотация: Фазовые переходы ферромагнетик-антиферромагнетик для одномерных систем исследованы методом Монте-Карло. Построены диаграммы основных состояний в рамках модели Изинга. С помощью алгоритма Метрополиса изучено влияние на фазовые переходы изменения внешнего магнитного поля и температуры. Учитывались кинетические особенности данных превращений. Показано, что индекс корреляционной длины v для ферромагнетика убывает с увеличением напряженности внешнего магнитного поля, для антиферромагнетика поведение обратное. Поведение динамического критического индекса z при изменении поля для малого одномерного магнетика аналогично индексу v. Доп.точки доступа: Козлитин, Р. А.; Удодов, В. Н.; Потекаев, А. И. |
539.26 Р 39 Рентгеновская трубка с катодом из нановолокон [Текст] // Природа. - 2005. - N 7. - С. 83 . - ISSN 0032-874Х
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): ренгеновские трубки; нанотехнологии; углеродные нановолокна Аннотация: О новой конструкции, разработанной японскими специалистами - сверхминиатюрной ренгеновской трубке с катодом из углеродных нановолокон. |
539.26 В 14 Вайнер, Ю. А. Многослойные рентгеновские зеркала на основе W/B[4]C с ультракороткими (d = 0. 7-1. 5 нм) периодами [Текст] / Ю. А. Вайнер, Е. Б. Клюенков [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 1. - С. 10-16 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): рентгеновские зеркала -- многослойные рентгеновские зеркала -- тонкие пленки -- сверхтонкие пленки -- многослойные структуры -- диффузное рассеяние -- резонансное диффузное рассеяние Аннотация: Развита методика резонансного диффузного рассеяния рентгеновского излучения для исследования свойств многослойных структур из сверхтонких пленок. Методами зеркального и диффузного рассеяния рентгеновского излучения изучены многослойные структуры W/B[4]C с ультракороткими периодами, в которых удалось разделить вклады межплоскостной шероховатости и перемешивания материалов слоев в суммарную глубину переходной области между слоями. Доп.точки доступа: Клюенков, Е. Б.; Пестов, А. Е.; Прохоров, К. А.; Салащенко, Н. Н.; Фраерман, А. А.; Чернов, В. В.; Чхало, Н. И. |
539.26 Э 76 Эренбург, С. Б. Применение XAFS-спектроскопии для исследования микроструктуры и электронного строения квантовых точек [Текст] / С. Б. Эренбург, Н. В. Бауск [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 1. - С. 31-40 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): спектроскопия -- XAFS-спектроскопия -- EXAFS-спектроскопия -- XANES-спектроскопия -- нанокластеры -- полупроводниковые нанокластеры -- микроструктура -- квантовые точки -- электронное строение -- гетероструктуры Аннотация: С помощью спектроскопии EXAFS и XANES определены изменения микроскопических параметров структуры полупроводниковых нанокластеров - межатомных расстояний, координационных чисел и типов атомов окружения - при изменении условий приготовления гетероструктур Ge/Si, GaN/AlN и InAs/AlAs. Доп.точки доступа: Бауск, Н. В.; Двуреченский, А. В.; Смагина, Ж. В.; Ненашев, А. В.; Никифоров, А. И.; Мансуров, В. Г.; Журавлев, К. С.; Торопов, А. И. |
539.26 В 141 Вайнер, Ю. А. Многослойные рентгеновские зеркала на основе W/B[4]C с ультракороткими (d = 0. 7-1. 5 нм) периодами [Текст] / Ю. А. Вайнер, Е. Б. Клюенков [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 1. - С. 10-16 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): рентгеновские зеркала -- многослойные рентгеновские зеркала -- тонкие пленки -- сверхтонкие пленки -- многослойные структуры -- диффузное рассеяние -- резонансное диффузное рассеяние Аннотация: Развита методика резонансного диффузного рассеяния рентгеновского излучения для исследования свойств многослойных структур из сверхтонких пленок. Методами зеркального и диффузного рассеяния рентгеновского излучения изучены многослойные структуры W/B[4]C с ультракороткими периодами, в которых удалось разделить вклады межплоскостной шероховатости и перемешивания материалов слоев в суммарную глубину переходной области между слоями. Доп.точки доступа: Клюенков, Е. Б.; Пестов, А. Е.; Прохоров, К. А.; Салащенко, Н. Н.; Фраерман, А. А.; Чернов, В. В.; Чхало, Н. И. |
539.26 Э 763 Эренбург, С. Б. Применение XAFS-спектроскопии для исследования микроструктуры и электронного строения квантовых точек [Текст] / С. Б. Эренбург, Н. В. Бауск [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 1. - С. 31-40 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): спектроскопия -- XAFS-спектроскопия -- EXAFS-спектроскопия -- XANES-спектроскопия -- нанокластеры -- полупроводниковые нанокластеры -- микроструктура -- квантовые точки -- электронное строение -- гетероструктуры Аннотация: С помощью спектроскопии EXAFS и XANES определены изменения микроскопических параметров структуры полупроводниковых нанокластеров - межатомных расстояний, координационных чисел и типов атомов окружения - при изменении условий приготовления гетероструктур Ge/Si, GaN/AlN и InAs/AlAs. Доп.точки доступа: Бауск, Н. В.; Двуреченский, А. В.; Смагина, Ж. В.; Ненашев, А. В.; Никифоров, А. И.; Мансуров, В. Г.; Журавлев, К. С.; Торопов, А. И. |
539.26 Щ 631 Щербачев, К. Д. D8 DISCOVER - инструмент исследования перспективных материалов для микро- и наноэлектроники [Текст] / К. Д. Щербачев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 5. - C. 40-44 . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): D8 DISCOVER (наноэлектроника) -- микроэлектроника -- наноэлектроника -- дифрактометры -- рентгеновские дифрактометры -- многофункциональные рентгеновские дифрактометры -- материаловедение перспективных материалов -- оптические схемы -- неразрушающие методы исследования -- рентгенодифракционные методы -- программное обеспечение -- XRD Commander -- XRD Wizard -- виртуальные дифрактометры Аннотация: Представлен многофункциональный рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER, позволяющий решать как прикладные, так и фундаментальные задачи в области материаловедения перспективных материалов для микро- и наноэлектроники. |
539.26 Ш 904 Штерн, Ю. И. Методика исследования тепло- и электрофизических свойств материалов [Текст] / Ю. И. Штерн // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 6. - С. 32-35. - Библиогр.: с. 35 (3 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): электрофизические свойства материалов -- теплофизические свойства материалов -- автоматизированные измерительные комплексы -- теплопроводность -- термоЭДС -- абсолютный стационарный метод теплопроводности Аннотация: Описана методика измерений и конструкция автоматизированного измерительного комплекса для исследования абсолютным стационарным методом теплопроводности, а также электропроводности и термоЭДС материалов в интервале температур от -60 до +400{0}C. Доп.точки доступа: ГОСТ, 15130 - 86; ГОСТ, 19807 - 91 |
539.26 С 332 Серых, В. П. О программах определения пространственных групп методом рентгеновской дифрактометрии поликристаллов [Текст] / В. П. Серых, авт. Л. М. Серых // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 6. - С. 48. - Библиогр.: с. 48 (3 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): программы -- определение пространственных групп -- пространственные группы -- метод рентгеновской дифрактометрии -- рентгеновская дифрактометрия -- PROGETPO -- PRORMOPO -- поликристаллы Аннотация: Представлены программы определения пространственных групп методом рентгеновской дифрактометрии поликристаллов. Доп.точки доступа: Серых, Л. М. |
539.26 С 127 Савелова, Т. И. Методы восстановления функции распределения ориентаций по полюсным фигурам (обзор [Текст] / Т. И. Савелова, авт. Т. М. Иванова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 7. - С. 25-33. - Библиогр.: с. 32-33 (48 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Математика Теория вероятностей Кл.слова (ненормированные): функции распределения -- восстановление функции распределения -- методы восстановления функции распределения -- распределение ориентаций -- полюсные фигуры -- текстурные функции -- микротекстуры поликристаллов -- поликристаллы -- макротекстуры поликристаллов -- метод Роу-Бунге -- Роу-Бунге метод -- векторный метод -- метод компонент -- метод аппроксимации Аннотация: Описаны основные имеющиеся в наше время методы восстановления функции распределения ориентаций по нескольким полным или неполным полюсным фигурам. Доп.точки доступа: Иванова, Т. М. |
539.26 В 226 Вахтель, В. М. Применение метода резерфордовского обратного рассеяния к анализу тонкопленочной системы Sn - Nb на кремнии [Текст] / В. М. Вахтель, Н. Н. Афонин [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 7. - С. 33-36. - Библиогр.: с. 36 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Электростатика Кл.слова (ненормированные): Sn - Nb -- метод резерфордовского обратного рассеяния -- резерфордовское обратное рассеяние -- обратное рассеяние -- тонкопленочные системы -- кремний -- цинк -- ниобий -- монокристаллический кремний -- магнетронное осаждение -- фотонный отжиг -- рентгенофазовый анализ -- растровая электронная микроскопия -- металлические пленки -- неразрушающий анализ Аннотация: Экспериментально с помощью метода резерфордовского обратного рассеяния изучены процессы фазообразования и взаимной диффузии в послойно осажденной на подложки монокристаллического кремния тонкопленочной системе Sn - Nb. Доп.точки доступа: Афонин, Н. Н.; Логачева, В. А.; Прибытков, Д. М.; Шрамченко, Ю. С.; Ховив, А. М. |
539.26 Б 284 Батог, Г. С. Учет влияния окружающего покрытия прямоугольных кантилеверов [Текст] / Г. С. Батог, В. С. Бормашов [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 7. - С. 37-40. - Библиогр.: с. 40 (14 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): отражающие покрытия -- прямоугольные кантилеверы -- кантилеверы -- определение толщины покрытия Аннотация: Рассмотрено влияние отражающего покрытия на спектр колебаний и изгибную жесткость прямоугольного кантилевера постоянного сечения атомно-силового микроскопа. Доп.точки доступа: Бормашов, В. С.; Батурин, А. С.; Заболоцкий, А. В.; Коростылев, Е. В.; Деэсмент, С. И.; Шешин, Е. П. |
539.26 М 220 Мамаев, Ю. А. Исследование фотоэмиссии поляризованных электронов из напряженных сверхрешеток [Текст] / Ю. А. Мамаев, Л. Г. Герчиков [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2008. - Т. 51, N 3. - С. 37-44. - Библиогр.: c. 44 (9 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): генерация поляризованных электронов -- напряженные сверхрешетки -- поляризованные электроны -- фотоэмиссия поляризованных электронов Аннотация: Изучена фотоэмиссия поляризованных электронов из гетероструктур на основе сверхрешеток с минимальными разрывами края зоны проводимости и сверхрешеток с напряженными квантовыми ямами. Сравнение экспериментально полученных зависимостей поляризации фотоэмиссии от энергии возбуждения с расчетными позволило определить потери поляризации на различных этапах фотоэмиссии. Получены рекордные значения степени поляризации. Доп.точки доступа: Герчиков, Л. Г.; Яшин, Ю. П.; Васильев, Д. А.; Кузьмичев, В. В. |