539.2 К 729 Косьянов, П. М. Учет матричного эффекта при количественном рентгенофазовом анализе [Текст] / П. М. Косьянов> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 9. - Библиогр.: с. 32 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): анализ (химия) -- дифрактомеры -- количественный анализ -- матричные эффекты -- рентгенофазовый анализ -- энергодисперсионный анализ Аннотация: Описан способ учета матричного эффекта, при котором в качестве аналитического параметра берется отношение интенсивности фазы определяемого компонента пробы к интенсивности некогерентно рассеянного пробой первичного излучения. |
543.422.8 С 134 Савичев, А. Т. Учет наложения линий и аппроксимация фонового излучения в рентгенофлуоресцентном и микрозондовом энергодисперсионном анализах [Текст] / А. Т. Савичев, авт. С. С. Степанов> // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 2. - С. 85-89 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Химия--Аналитическая химия Кл.слова (ненормированные): спектроскопия -- энергодисперсионный анализ -- рентгенофлуоресцентный энергодисперсионный анализ -- микрозондовый энергодисперсионный анализ -- спектральные линии -- наложение спектральных линий -- аппроксимация фонового излучения Аннотация: Рассмотрено решение задачи отделения фонового излучения от спектральных линий и учета перекрытия спектральных линий (деконволюции) в рентгенофлуоресцентном и микрозондовом энергодисперсионном анализах. Проанализированы модели "элементарных" контуров: экспериментальная, экспериментальная с коррекцией, аналитическая. Предлагаемая аналитическая модель элементарных контуров включает удлинение низкоэнергетического крыла, скачок фона на К-крае поглощения, пики вылета. Эта модель позволяет проводить полиномиальную аппроксимацию фонового излучения. Опробование предлагаемой модели показало ее надежность в широком диапазоне изменения концентраций анализируемых элементов. Доп.точки доступа: Степанов, С. С. |
Роль распределения напряжений на границе раздела пленка- (барьерный подслой) в формировании силицидов меди [Текст] / А. В. Панин [и др. ]> // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып: вып. 1. - С. 118-125 : ил. - Библиогр.: с. 124 (17 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Проводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): медь -- силициды меди -- тонкие пленки -- Cu -- отжиг -- термический отжиг -- термоотжиг -- напряжения -- распределение напряжений -- температура -- границы раздела пленок -- барьерный подслой -- кристаллографическая ориентация -- подложки -- кристаллиты -- Cu[3]Si -- атомно-силовая микроскопия -- АСМ -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ -- рентгеновская дифракция -- энергодисперсионный анализ -- коэффициент термического расширения -- КТР -- дефекты упаковки -- экспериментальные исследования Аннотация: Методами атомно-силовой и растровой электронной микроскопии, рентгеновской дифракции, а также энергодисперсионного микроанализа исследован процесс образования силицидов в тонких пленках Cu при термическом отжиге. Показано, что периодическое распределение напряжений, возникающее при повышенных температурах на границе раздела пленка- (барьерный подслой), может определять характер формирования силицидов меди. Исследовано влияние материала барьерного подслоя и кристаллографической ориентации подложки на плотность распределения и форму кристаллитов Cu[3]Si. Доп.точки доступа: Панин, А. В.; Шугуров, А. Р.; Ивонин, И. В.; Шестериков, Е. В. |
Хуанбай, Е. К. Энергодисперсионные спектры и кристаллические структуры фаз LaSrBiO, GdSrBiO [Текст] / Е. К. Хуанбай> // Известия вузов. Физика. - 2010. - Т. 53, N 3. - С. 92-93. - Библиогр.: с. 93 (6 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): кристаллографические характеристики -- твердофазный синтез -- элементный состав -- энергодисперсионный анализ Аннотация: В статье рассмотрены энергодисперсионные спектры и кристаллические структуры фаз LaSrBiO, GdSrBiO. |
677.5 К 637 Композиты на основе углеродного волокна, модифицированного хитозаном и золотом [Текст] / Л. А. Земскова [и др.]> // Неорганические материалы. - 2010. - Т. 46, N 2. - С. 177-183 : Рис. 2, табл. 1. - Библиогр.: с. 181-182 (20 назв. ) . - ISSN 0002-337Х
Рубрики: Химическая технология Химические волокна специального назначения Химия Органические соединения Химические элементы и их соединения Кл.слова (ненормированные): золото -- композитные материалы -- наночастицы -- рентгенофазный анализ -- углеродное волокно -- хитозан -- хитозан-Au/углеродное волокно -- электрохимический метод -- энергодисперсионный анализ Аннотация: Получены композитные материалы, содержащие частицы золота, осажденные на поверхность углеродного волокна, в том числе иммобилизованные в пленку природного биополимера хитозана. Доп.точки доступа: Земскова, Л. А.; Войт, А. В.; Кайдалова, Т. А.; Баринов, Н. П. |
621.38 О-754 Особенности формирования CoSi[2] при двухстадийном быстром термическом отжиге структур Ti/Co/Ti/Si (100) [Текст] / В. И. Рудаков [и др.]> // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 3. - С. 36-44 : ил. - Библиогр.: с. 44 (10 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Радиоэлектроника Электроника в целом Кл.слова (ненормированные): структуры -- термический отжиг -- быстрый термический отжиг -- БТО -- Ti/Co/Ti/Si (100) -- магнетронное распыление -- двухстадийный термический отжиг -- азот -- масс-спектрометрия -- вторично-ионная масс-спектрометрия -- ВИМС -- электронная спектроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- ОЭС -- электронная микроскопия -- сканирующая электронная микроскопия -- СЭМ -- рентгеновский анализ -- энергодисперсионный анализ -- рентгеновский энергодисперсионный анализ -- поверхностные слои -- остаточные примеси -- химическое удаление -- низкорезистивные фазы Аннотация: Для формирования CoSi[2] в качестве исходной была выбрана структура Ti (8 nm) /Co (10 nm) /Ti (5 nm) /Si (100) -подложка, полученная магнетронным распылением. После двухстадийного быстрого термического отжига (БТО) в азоте образцы структур на каждой стадии исследовались с помощью времяпролетной ВИМС, ОЭС, СЭМ и рентгеновского энергодисперсионного анализа. В результате БТО-1 (550{o}C, 45 s) образуется поверхностный "жертвенный" слой TiN[x]O[y] с захватом остаточной примеси (O, C и N) из внутренних границ раздела исходной структуры. После химического удаления слоев TiN[x]O[y] и обогащения кобальтом в результате БТО-2 (830{o}C, 25 s) формировалась низкорезистивная фаза CoSi[2]. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/03/p36-44.pdf Доп.точки доступа: Рудаков, В. И.; Денисенко, Ю. И.; Наумов, В. В.; Симакин, С. Г. |
546 Г 671 Горбатенко, А. А. Инструментальные методы определения редкоземельных элементов (обзор) / рец. А. А. Горбатенко, рец. Е. И. Ревина> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 4. - С. 7-19. - Библиогр.: с. 16-19 (115 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Химические элементы и их соединения Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): инструментальные методы анализа -- редкоземельные элементы -- обзоры -- масс-спектрометрия -- атомно-эмиссионная спектрометрия -- индуктивно-связанная плазма -- атомно-абсорбционная спектрометрия -- электротермическая атомизация -- нейтронно-активационный анализ -- рентгенофлуоресцентный анализ -- энергодисперсионный анализ -- атомизация в пламени -- люминесценция -- спектрофотометрия Аннотация: Рассмотрены современные инструментальные методы определения редкоземельных элементов, наиболее успешно используемые в аналитической практике. Проведено сравнение аналитических и метрологических характеристик различных методов анализа. Предпринята попытка оценки перспектив различных инструментальных методов в данной области аналитической химии. Доп.точки доступа: Ревина, Е. И.; Химический факультет МГУ им. М. В. Ломоносова (Москва)Химический факультет МГУ им. М. В. Ломоносова (Москва) |
539.2 К 820 Кривенков, М. С. Исследование структурного состояния полититаната калия, замещенного железом / М. С. Кривенков, А. И. Комяк, А. А. Новакова> // Вестник Московского университета. Серия 3, Физика. Астрономия. - 2014. - № 1. - С. 75-78 . - ISSN 0201-7385
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): внедрение ионов железа -- железо -- лепидокрокит -- мёссбауэровская спектроскопия -- мессбауэровская спектроскопия -- полититанаты калия -- рентгеновская дифракция -- сканирующая электронная микроскопия -- энергодисперсионный анализ Аннотация: Исследованы полититанаты калия (ПТК), замещенные ионами железа. Изучен механизм встраивания железа в межслоевое пространство ПТК, химическая чистота порошков полититаната и морфология их частиц. Экспериментально наблюдалось замещение ионов калия ионами железа в структуре полититаната, а также были получены численные оценки степени этого замещения на разных стадиях процесса приготовления. Показано, что внедрение железа в межслоевое пространство полититаната сопровождается образованием лепидокрокита на поверхности частиц, что следует из данных мессбауэровской спектроскопии. Обнаружено, что при использованном в эксперименте процессе внедрения ионов железа частицы полититаната агломерируют. Это может быть связано с образованием лепидокрокита. Доп.точки доступа: Комяк, А. И.; Новакова, А. А. |