537
А 985


    Ашмарин, Г. М.
    Влияние магнитного поля на затухание ультразвука в магнитомягком сплаве Fe-Si-Al [Текст] / Г. М. Ашмарин, Е. К. Наими, Д. Е. Капуткин // Физика металлов и металловедение. - 2004. - Т. 97, N 3. - Библиогр.: с. 38 (7 назв. ) . - ISSN 0015-3230
УДК
ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
магнитные поля -- ультразвук -- затухание ультразвука -- сплавы -- железо -- кремний -- алюминий -- вибрации -- механические колебания -- вакуумный отжиг
Аннотация: Разработана методика измерения затухания ультразвука в ферромагнитных материалах при одновременном наложении как постоянного, так и переменного магнитных полей.


Доп.точки доступа:
Наими, Е. К.; Капуткин, Д. Е.


669
М 912


    Мурзинова, М. А.
    Влияние водорода на изменение микроструктуры титанового сплава ВТ9 при горячей деформации и вакуумном отжиге [Текст] / М. А. Мурзинова, Г. А. Салищев, Д. Д. Афоничев // Физика металлов и металловедение. - 2004. - Т. 98, N 6. - Библиогр.: с. 80-81 (23 назв. ) . - ISSN 0015-3230
УДК
ББК 34.3
Рубрики: Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы
Кл.слова (ненормированные):
микроструктура -- водород -- титановые сплавы -- горячая деформация -- вакуумный отжиг
Аннотация: Получены концентрационные зависимости параметров микроструктуры после каждого этапа обработки, а также напряжения течения от содержания водорода.


Доп.точки доступа:
Салищев, Г. А.; Афоничев, Д. Д.


539.2
Ш 956


    Шулов, В. А.
    Усталостная прочность металлов и сплавов, подвергнутых ионно-лучевой обработке [Текст] / В. А. Шулов, Н. А. Ночовная, А. И. Рябчиков, А. Г. Пайкин // Физика и химия обработки материалов. - 2004. - N 4 . - ISSN 0015-3214
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
усталостная прочность -- металлы -- прочность металлов -- сплавы -- ионно-лучевая обработка -- лучевая обработка -- вакуумный отжиг -- отжиг -- электронная фрактография -- фрактография -- трещины -- пределы выносливости металлов -- выносливость металлов -- титановые сплавы
Аннотация: Предел выносливости образцов и лопаток, подвергнутых ионно-лучевой обработке и последующему вакуумному отжигу, может быть увеличен на 30-180%, в зависимости от марки сплава.


Доп.точки доступа:
Ночовная, Н. А.; Рябчиков, А. И.; Пайкин, А. Г.


537.226.8
Б 287


    Батурин, А. С.
    Исследование механизма деградации сверхтонких слоев HfO[2] на кремнии при вакуумном отжиге методами атомно-силовой микроскопии [Текст] / А. С. Батурин, А. В. Зенкевич [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 2. - С. 33-39 . - ISSN 0207-3528
УДК
ББК 22.33
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм
Кл.слова (ненормированные):
диэлектрические пленки -- оксид гафния -- сверхтонокие слои -- отжиг -- вакуумный отжиг -- транзисторы -- микроэлектронные технологии -- атомно-силовая микроскопия
Аннотация: В работе предложен комплексный подход в исследовании начальной стадии разрушения диэлектрических пленок оксида гафния при термическом отжиге до Т = 900шС в вакууме. Дополнительно к измерению рельефа поверхности использовались метод сопротивления растекания, метод зонда Кельвина и метод модуляции силы. Была установлена сильная пространственная неоднородность процессов деградации сверхтонких слоев оксида гафния в контакте с кремнием при вакуумном отжиге и показана возможность локализации областей в различных стадиях этого процесса.


Доп.точки доступа:
Зенкевич, А. В.; Лебединский, Ю. Ю.; Любовин, Н. Ю.; Неволин, В. Н.; Шешин, Е. П.


621.77.016
У 254


    Углов, В. В.
    Влияние температуры отжига на элементный и фазовый состав углеродистой стали, легированной под действием компрессионных плазменных потоков [Текст] / В. В. Углов, В. М. Анищик [и др.] // Физика и химия обработки материалов. - 2007. - N 6. - С. 57-61 . - ISSN 0015-3214
УДК
ББК 34.51/59
Рубрики: Машиностроение
   Обработка металлов

Кл.слова (ненормированные):
плазменные потоки -- компрессионные плазменные потоки -- вакуумный отжиг -- легированные стали -- углеродистые стали -- сканирующая электронная микроскопия -- оже-электронная спектроскопия -- детали машин
Аннотация: Методами рентгеноструктурного анализа, сканирующей электронной микроскопии, оже-электронной спектроскопии и измерения твердости исследовано влияние вакуумного отжига при температурах 200-1000 градусов Цельсия на структуру и свойства поверхностного слоя углеродистой стали, покрытого цирконием и легированного азотом под воздействием компрессионных плазменных потоков.


Доп.точки доступа:
Анищик, В. М.; Черенда, Н. Н.; Стальмошенок, Е. К.; Асташинский, В. М.; Кузьмицкий, А. М.; Шедко, Ю. Г.


539.107
А 659


    Андрианова, Н. Н.
    Высокодозовое распыление стеклоуглерода ионами аргона [Текст] / Н. Н. Андрианова, А. М. Борисов [и др.] // Физика и химия обработки материалов. - 2008. - N 1. - С. 24-27 . - ISSN 0015-3214
УДК
ББК 22.381
Рубрики: Физика
   Экспериментальные методы и аппаратура ядерной физики

Кл.слова (ненормированные):
распыление стеклоуглеродов -- высокодозовое распыление -- высокодозовое распыление стеклоуглеродов -- распыление стеклоуглеродов ионами аргона -- стеклоуглероды -- вакуумный отжиг -- сетчатые полимеры -- мишени -- высокотемпературные стеклоуглероды
Аннотация: Экспериментально исследовано обезгаживание стеклоуглеродов различных марок при вакуумном отжиге и измерена угловая зависимость коэффициента распыления высокотемпературного стеклоуглерода.


Доп.точки доступа:
Борисов, А. М.; Виргильев, Ю. С.; Машкова, Е. С.; Немов, А. С.; Сорокин, А. И.




   
    Особенности формирования сплавов и их гидридов в системе Ti-Zr-H [Текст] / С. К. Долуханян [и др. ] // Химическая физика. - 2007. - Т. 26, N 11. - С. 36-43. - Библиогр.: c. 43 (16 назв. ) . - ISSN 0207-401Х
УДК
ББК 22.32
Рубрики: Физика
   Акустика

Кл.слова (ненормированные):
вакуумный отжиг -- водород -- гидриды -- гидриды титана -- дегидрирование -- порошки -- процессы горения -- сплавы -- титан -- тугоплавкие металлы -- цирконий -- шихта
Аннотация: В ходе исследования процессов горения в системах Ti-H, Zr-H и Ti-Zr-H разработан принципиально новый метод получения сплавов тугоплавких металлов путем компактирования смеси порошков гидридов титана и циркония с последующим дегидрированием.


Доп.точки доступа:
Долуханян, С. К.; Алексанян, А. Г.; Тер-Галстян, О. П.; Шехтман, В. Ш.; Сахаров, М. К.; Абросимова, Г. Е.




   
    Влияние структурного состояния поверхности на формирование рельефа и морфологию слоев GaAs (001) при молекулярно-лучевой эпитаксии и вакуумном отжиге [Текст] / А. В. Васев [и др. ] // Известия вузов. Физика. - 2008. - Т. 51, N 9. - С. 5-13. - Библиогр.: с. 13 (34 назв. ) . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 24.58 + 22.338 + 22.37
Рубрики: Физика
   Химия

   Физическая химия поверхностных явлений

   Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях

   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
адсорбция -- вакуумный отжиг -- выглаживание поверхностей GaAs (001) -- дифракция -- молекулярно-лучевая эпитаксия -- морфологические изменения поверхностей -- физика конденсированного состояния -- эпитаксия
Аннотация: Методами дифракции быстрых электронов на отражение (ДБЭО) и атомно-силовой микроскопии (АСМ) изучены особенности морфологических изменений, происходящих на поверхности GaAs (001) в процессе роста молекулярно-лучевой эпитаксии (МЛЭ) и вакуумного отжига. Выявлена связь сверхструктурного состояния поверхности с характером этих изменений. Установлены термодинамические условия эпитаксиального роста GaAs (001) с наиболее структурно-совершенной поверхностью. Определены характеристики процессов, вызывающих развитие рельефа при росте МЛЭ в условиях существования реконструкции (2х4). Предложена и апробирована новая методика, позволяющая значительно повысить эффективность процедуры выглаживания поверхности GaAs (001) отжигом в потоке мышьяка.


Доп.точки доступа:
Васев, А. В.; Путято, М. А.; Семягин, Б. Р.; Селезнев, В. А.; Преображенский, В. В.




   
    Пространственные структуры, образующиеся при высокотемпературном вакуумном отжиге алмазоподобной пленки, нанесенной на кремниевую подложку [Текст] / М. Б. Цетлин [и др. ] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 10. - С. 5-9. - Материалы XXII Российской конференции по электронной микроскопии
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
вакуумный отжиг -- алмазоподобные пленки -- фотоэмиссионные микроскопы -- атомно-силовые микроскопы
Аннотация: Процесс сверхвысоковакуумного отжига алмазоподобной пленки, напыленной на кремниевую подложку, изучался in situ с помощью фотоэмиссионного микроскопа, установленного на источнике синхротронного излучения MAX-lab. После отжига пленка исследовалась ex situ с помощью атомно-силового микроскопа. Обнаружено, что при температуре, превышающей 1000°С, происходит графитизация пленки и, кроме того, на ее поверхности появляются округлые образования размером несколько микрон с сердцевиной размером 0. 2 мкм. Фотоэмиссионные изображения этих образований показали, что на их поверхности присутствует кремний. По-видимому, взаимодействие углеродной пленки с кремниевой подложкой начинается с середины образования, а на следующей стадии распространяется на прилегающую область.


Доп.точки доступа:
Цетлин, М. Б.; Захаров, А. А.; Маслаков, К. И.; Михеева, М. Н.; Линдау, И.


543
В 586


   
    Влияние вакуумного отжига на концентрацию радикалов в фуллерите С[60] [Текст] / Ю. М. Шульга [и др.] // Журнал физической химии. - 2008. - Т. 82, N 8. - С. 1479-1482. - Библиогр.: c. 1482 (6 назв. ) . - ISSN 0044-4537
УДК
ББК 24.4
Рубрики: Химия
   Аналитическая химия в целом

Кл.слова (ненормированные):
фуллериты -- радикалы -- вакуумный отжиг -- отжиг -- катионы -- ЭПР -- кислород -- нагрев -- фуллерены
Аннотация: Сделан вывод, что не концентрация кислорода в образце, а продукты его взаимодействия с фуллереном определяют интенсивность сигнала ЭПР.


Доп.точки доступа:
Шульга, Ю. М.; Куликов, А. В.; Мартыненко, В. М.; Опенько, В. В.; Каратевский, В. Г.; Морозов, Ю. Г.


621.315.592
А 946


    Афонин, Н. Н.
    Перераспределение компонентов в системе ниобий-кремний при высокотемпературном протонном облучении [Текст] / Н. Н. Афонин, В. А. Логачева, А. М. Ховив // Физика и техника полупроводников. - 2011. - Т. 45, вып. 12. - С. 1678-1680 : ил. - Библиогр.: с. 1680 (13 назв. ) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 31.233 + 22.37
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия

   Физика

   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
магнетронное распыление -- ниобий-кремний -- вакуумный отжиг -- высокотемпературное протонное облучение -- протонное облучение -- облучение протонами -- межфазная граница -- МФГ
Аннотация: Исследовано перераспределение компонентов в системе ниобий-кремний в процессе магнетронного распыления ниобия, вакуумного отжига и высокотемпературного протонного облучения. Установлено, что в ходе магнетронного распыления и последующего вакуумного отжига кремний проникает через пленку металла на ее внешнюю границу. При высокотемпературном протонном облучении наблюдается подавление диффузии ниобия в кремний, что объясняется наличием высокой концентрации радиационных вакансий в области межфазной границы Nb/Si.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2011/12/p1678-1680.pdf

Доп.точки доступа:
Логачева, В. А.; Ховив, А. М.


546
К 933


    Курлов, А. С.
    Вакуумный отжиг нанокристаллических порошков WC / А. С. Курлов, авт. А. И. Гусев // Неорганические материалы. - 2012. - Т. 48, № 7. - С. 781-791 : 7 рис. - Библиогр.: с. 791 (24 назв. ) . - ISSN 0002-337Х
УДК
ББК 24.12 + 34.2
Рубрики: Химия
   Химические элементы и их соединения

   Технология металлов

   Металловедение в целом

Кл.слова (ненормированные):
вакуумный отжиг -- отжиг -- нанокристаллические порошки -- метод рентгеновской дифракции -- электронная микроскопия -- карбид вольфрама -- твердые сплавы
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии изучено влияние температуры вакуумного отжига на фазовый и химический состав, размер частиц и величину микронапряжений нанокристаллических порошков карбида вольфрама WC с частицами размером от 20 до 60 нм. Установлено, что вакуумный отжиг нанопорошков WC при tотж < 1400°C сопровождается их заметным обезуглероживанием и изменением фазового состава вследствие десорбции углерода с поверхности порошков в результате взаимодействия углерода с примесным кислородом. Отжиг приводит также к укрупнению частиц порошка за счет срастания агрегированных наночастиц и уменьшению микронапряжений.


Доп.точки доступа:
Гусев, А. И.


539.2
И 889


   
    Исследование вольт-амперных характеристик наноструктурированных пленок Pd на Si-подложке после вакуумного отжига / С. В. Томилин [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 6. - С. 772-776 : ил. - Библиогр.: с. 776 (8 назв.) . - ISSN 0015-3222
УДК
ББК 22.37
Рубрики: Физика
   Физика твердого тела. Кристаллография в целом

Кл.слова (ненормированные):
вольт-амперные характеристики -- ВАХ -- наноструктурированные пленки -- Pd -- палладий -- Si-подложки -- наноструктуры -- вакуумный отжиг -- метод вакуумного отжига -- сверхтонкие пленки -- поверхностная морфология -- растровая электронная микроскопия -- РЭМ
Аннотация: Представлены результаты исследований вольт-амперных характеристик наноструктурированных пленок Pd на Si-подложке. Формирование наноструктур (наноостровки) производилось методом вакуумного отжига сплошных сверхтонких пленок Pd напыленных на подложку. Показано, что форма вольт-амперных характеристик исследуемой системы "Si-подложка-Pd-пленка" существенно зависит от степени наноструктурированности пленки. Исследование поверхностной морфологии пленок производилось с использованием растровой электронной микроскопии.
The paper presents the results of current-voltage (I-V) characteristics study of nanostructured Pd films on Si substrate. Formation of nanostructure (nanoislands) was carried out by vacuum annealing of ultrathin solid Pd films deposited on the substrate. It is shown that the form of I-V characteristics of the "Si substrate-Pd film" system depends on the degree of the films nanostructuring. The study of the films surface morphology was carried out by scanning electron microscopy.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/06/p772-776.pdf

Доп.точки доступа:
Томилин, С. В.; Яновский, А. С.; Томилина, О. А.; Микаелян, Г. Р.


535.2/.3
К 124


    Кабышев, А. В.
    Электрические и фотоэлектрические свойства поликристаллического кремния после высокоинтенсивной короткоимпульсной имплантации ионов / А. В. Кабышев, Ф. В. Конусов, Г. Е. Ремнев // Известия вузов. Физика. - 2013. - Т. 56, № 6. - С. 3-7. - Библиогр.: c. 6-7 (24 назв. ) . - ISSN 0021-3411
УДК
ББК 22.343 + 30.3 + 22.331
Рубрики: Физика
   Физическая оптика

   Материаловедение

   Техника

   Электростатика

Кл.слова (ненормированные):
вакуумный отжиг -- высокоимпульсная имплантация ионов -- имплантация ионов -- кремний -- поликристаллический кремний -- фотопроводимость -- фоточувствительность -- фотоэлектрические свойства -- электрические свойства
Аннотация: Исследованы электрические и фотоэлектрические свойства поликристаллического кремния после высокоинтенсивной короткоимпульсной имплантации ионов углерода. Установлено влияние отжига в вакууме (10


Доп.точки доступа:
Конусов, Ф. В.; Ремнев, Г. Е.


669.01
К 933


    Курлов, А. С.
    Влияние вакуумного отжига на размер частиц и фазовый состав нанокристаллических порошков WC / А. С. Курлов // Журнал физической химии. - 2013. - Т. 87, № 4. - С. 664-671. - Библиогр.: c. 671 (17 назв. ) . - ISSN 0044-4537
УДК
ББК 34.3
Рубрики: Технология металлов
   Металлургия в целом

Кл.слова (ненормированные):
вакуумный отжиг -- карбид вольфрама -- нанокристаллические порошки WC -- рентгеновская дифракция -- фазовый состав -- электронная микроскопия
Аннотация: Методами рентгеновской дифракции и электронной микроскопии изучено влияние температуры вакуумного отжига 400-1400°C на фазовый и химический состав, размер частиц и величину микронапряжений нанокристаллических порошков карбида вольфрама WC с частицами размером от 20 до 60 нм. Установлено, что вакуумный отжиг нанопорошков WC при T[отж]<или равно 1400°C сопровождается их обезуглероживанием в результате взаимодействия углерода с примесным кислородом. Показано, что изменение химического состава нанокристаллического порошка карбида вольфрама приводит к изменению его фазового состава; отжиг сопровождается ростом частиц порошка за счет срастания наночастиц и уменьшением микронапряжений.



669.7/.8
И 889


   
    Исследование механических характеристик сплавов системы Ti - Ni - Nb с памятью формы и влияние на них термической обработки / Н. Н. Попов [и др.]. // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2014. - Т. 80, № 8. - С. 22-30. - Библиогр.: с. 29-30 (12 назв. ) . - ISSN 1028-6861
УДК
ББК 34.23/25 + 30.121 + 34.65
Рубрики: Технология металлов
   Металловедение цветных металлов и сплавов

   Техника

   Сопротивление материалов

   Машиностроение

   Упрочнение металлов

Кл.слова (ненормированные):
механические характеристики сплавов -- сплавы с памятью формы -- Ti - Ni - Nb -- термическая обработка -- никелид титана -- легирование ниобием -- элементный состав -- фазовый состав -- фазовые превращения -- вакуумный отжиг -- рентгеноструктурные исследования -- микроструктурные исследования
Аннотация: Представлены результаты исследований механических характеристик сплавов системы Ti - Ni - Nb с памятью формы в литом и прессованном состояниях, а также влияние на них различных видов и режимов термической обработки.


Доп.точки доступа:
Попов, Н. Н.; Ларькин, В. Ф.; Пресняков, Д. В.; Костылева, А. А.; Аушев, А. А.; Сысоева, Т. И.; Суворова, Е. Б.; ФГУП "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (Саров (Нижегородская область); ФГУП "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (Саров (Нижегородская область); ФГУП "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (Саров (Нижегородская область); ФГУП "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (Саров (Нижегородская область); ФГУП "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (Саров (Нижегородская область); ФГУП "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (Саров (Нижегородская область); ФГУП "Российский Федеральный Ядерный Центр - Всероссийский научно-исследовательский институт экспериментальной физики" (ФГУП "РФЯЦ-ВНИИЭФ") (Саров (Нижегородская область)


544
К 440


    Киселев, А. Е.
    Исследование железооксидного катализатора K[2]O-nFe[2]O[3] / А. Е. Киселев, Л. С. Кудин, А. П. Ильин. III. Высокотемпературное восстановление катализатора // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2014. - Т. 57, вып. 9. - С. 40-45 : 4 рис. - Библиогр.: с. 44-45 (26 назв.) . - ISSN 0579-2991
УДК
ББК 24.5
Рубрики: Химия
   Физическая химия в целом

Кл.слова (ненормированные):
высокотемпературное восстановление -- вакуумный отжиг -- составы паровой фазы -- масс-спектрометрия -- механохимия
Аннотация: Статья посвящена изучению кинетики восстановления катализаторов типа K[2]O-nF[2]O[3] по принципиально новой методике вакуумного отжига с анализом продуктов испарения методом высокотемпературной масс-спектрометрии.


Доп.точки доступа:
Кудин, Л. С.; Ильин, А. П.