Пленки Ленгмюра-Блоджетт как эффективные модификаторы пьезокварцевых сенсоров [Текст] / С. Н. Штыков и [др. ] // Доклады Академии наук. - 2004. - Т. 396, N 4. - С. 511-514 . - ISSN 0869-5652
Рубрики: Химия Аналитическая химия Кл.слова (ненормированные): пленки Ленгмюр-Блоджетт -- пьезокварцевые сенсоры -- пьезокварцевые резонаторы -- сенсорные слои -- монослои -- молекулярные слои -- толщина пленок -- нитроалканы -- нитропропаны -- пьезосенсоры Аннотация: Предложенный способ модификации поверхности пьезокварцевых резонаторов позволяет добиться более высокой чувствительности определения, снизить продолжительность анализа, выявить число монослоев, обеспечивающих наибольшую интенсивность аналитического сигнала. Доп.точки доступа: Штыков, С. Н.; Коренман, Я. И.; Русанова, Т. Ю.; Горин, Д. А.; Калач, А. В.; Панкин, К. Е. |
Головин, Ю. И. Наноиндентирование и механические свойства твердых тел в субмикрообъектах, тонких приповерхностных слоях и пленках [Текст] / Ю. И. Головин // Физика твердого тела. - 2008. - Т. 50, вып: вып. 12. - С. 2113-2142. - Библиогр.: с. 2139-2142 (238 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): наноиндентирование -- тонкие приповерхностные слои -- пленки -- упругопластическая деформация -- микротрещины -- наносканирование -- толщина пленок -- твердость пленок -- адгезия пленок -- Юнга модуль -- модуль Юнга Аннотация: Обзор посвящен специфическому механическому поведению тонких приповерхностных слоев различных твердых тел и материалов, пленок и многослойных покрытий при локальном нагружении. Описаны принципы, методы и средства для реализации испытаний и определения механических свойств материалов в наношкале, которые получили в последние годы большое распространение под общим названием "наноиндентирование". Обсуждаются информационные возможности этого большого и многофункционального семейства методов механических испытаний. Рассмотрены различные аспекты и особенности поведения твердых тел в условиях сильно стесненной деформации, возникающей при локальном приложении к поверхности микронагрузки. Особое внимание уделено физическим механизмам деформации и разрушения в этих условиях. |
Тихомолов, Д. В. Изменение толщины смачивающих водных пленок в неоднородном электрическом поле [Текст] / Д. В. Тихомолов, Д. А. Богачев, В. А. Лучкан // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 4. - С. 25-30. - Библиогр.: c. 30 (16 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Газы и жидкости Кл.слова (ненормированные): водные пленки -- толщина пленок -- капилляры Аннотация: Исследовано явление увеличения толщины водной пленки, находящейся у внутренней поверхности стеклянного капилляра, заполненного раствором NaCl и одной дисперсной частицей октана в форме столбика, ограниченного на торцах округлыми менисками, происходящее под действием внешнего электрического поля постоянного тока. Получены экспериментальные данные по определению толщины пленки в зависимости от характеристик поля. Проведен анализ и показано соответствие данных эксперимента ранним модельным представлениям авторов. Произведена оценка значения проекции постоянного дипольного момента молекулы воды на направление поля, следующая из этих представлений. Доп.точки доступа: Богачев, Д. А.; Лучкан, В. А. |
Подвижность носителей заряда в молекулярно допированных полимерных пленках различной толщины [Текст] / А. П. Тютнев [и др. ] // Химическая физика. - 2010. - Т. 29, N 4. - С. 90-93 : ил. - Библиогр.: с. 93 (12 назв. ) . - ISSN 0207-401X
Рубрики: Химия Химия высокомолекулярных соединений Кл.слова (ненормированные): подвижность зарядов -- молекулярно полимерные пленки -- допированные пленки -- полимерные пленки -- носители заряда -- допированный поликарбонат -- толщина пленок -- поликарбонат -- ДЭШ -- слабонеравновесный транспорт -- допант Аннотация: Исследована зависимость подвижности носителей заряда в молекулярно допированном поликарбонате от толщины полимера при двух концентрациях допанта ДЭШ (50 и 30 мас. %). Показано, что подвижность дырок в более концентрированном полимере действительно снижается с ростом толщины пленки в хорошем согласии с предсказаниями теории слабонеравновесного транспорта с дисперсионным параметром, равным 0. 75. Для пленок с более низкой концентрацией добавки мы уже не можем сделать столь категорического вывода, потому что в зависимости от способа обработки данных подвижность может как падать с ростом толщины пленки, так и оставаться практически неизменной. По этой причине не рекомендуется использовать зависимость времени пролета от толщины полимера в качестве критерия отбора при рассмотрении различных механизмов транспорта носителей заряда в молекулярно допированных полимерах. Доп.точки доступа: Тютнев, А. П.; Саенко, В. С.; Грач, Е. П.; Пожидаев, Е. Д. |
Власов, С. Н. Методы исследования тонких диэлектрических пленок в миллиметровом диапазоне [Текст] / С. Н. Власов, В. В. Паршин, Е. А. Серов // Журнал технической физики. - 2010. - Т. 80, N 12. - С. 73-79. - Библиогр.: c. 79 (7 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): тонкие пленки -- диэлектрические пленки -- диэлектрические пластинки -- моды открытого резонатора Фабри-Перо -- Фабри-Перо резонаторы -- резонаторы Фабри-Перо -- показатель преломления -- толщина пленок -- тензор диэлектрической проницаемости -- диэлектрическая проницаемость -- тефлон -- политетрафторэтилен -- PTFE -- лавсан -- майлар -- полиэтилентерефталат -- PETP -- полиамид -- пленочные материалы -- анизотропные материалы Аннотация: Для миллиметрового и субмиллиметрового диапазонов длин волн предлагается оригинальный метод измерения параметров диэлектрических пластинок и пленок толщиной меньше lambda/2, основанный на определении характеристик мод открытого резонатора Фабри-Перо, имеющих различную поляризацию. Этим методом для изотропных материалов находятся как величина показателя преломления и tg delta, так и толщина пленок. Для анизотропных пленок с известной толщиной метод позволяет измерять компоненты тензора диэлектрической проницаемости. Исследованы популярные пленочные материалы - тефлон (политетрафторэтилен, PTFE), лавсан (майлар, полиэтилентерефталат, PETP), полиамид с минимальной толщиной ~5 mum. Выявлена заметная анизотропия рулонных пленочных материалов, а также зависимость диэлектрических свойств от толщины, обусловленная технологией производства. Проведены исследования зависимости показателя преломления и tg delta пленок от влажности воздуха. Доп.точки доступа: Паршин, В. В.; Серов, Е. А. |
543.42 Р 397 Рентгенофлуоресцентный анализ систем Fe-Ni-Mo/Cr [Текст] / Н. И. Машин [и др.] // Журнал аналитической химии. - 2011. - Т. 66, N 2. - С. 182-186 : 3 табл., 1 рис. - Библиогр.: с. 185-186 (15 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): рентгенофлуоресцентный анализ -- РФА -- тонкопленочные проводящие материалы -- проводящие материалы -- образцы сравнения -- поликолор -- подложки из поликолора -- подложки -- состав пленок -- толщина пленок -- плотность пленок -- пленки -- тонкие пленки -- тонкие однокомпонентные пленки -- тонкие пленки Fe-Ni-Mo/Cr -- двухслойные пленки Fe-Ni-Mo/Cr -- Fe-Ni-Mo/Cr пленки -- двухслойные пленки -- пленочные системы -- Fe-Ni-Mo/Cr система -- система Fe-Ni-Mo/Cr Аннотация: Разработана методика рентгенофлуоресцентного определения толщины двухслойных пленок Fe-Ni-Mo/Cr, нанесенных на поликолор. Определена плотность материалов в составе пленок. Доп.точки доступа: Машин, Н. И.; Леонтьева, А. А.; Туманова, А. Н.; Лебедева, Р. В.; Ершов, А. А. |
539.21:535 Б 892 Брус, В. В. Оптические свойства тонких пленок TiO[2]-MnO[2], изготовленных по методу электронно-лучевого испарения [Текст] / В. В. Брус, З. Д. Ковалюк, П. Д. Марьянчук // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 8. - С. 110-113. - Библиогр.: c. 113 (14 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): тонкие пленки -- электронно-лучевое испарение -- непрямозонные полупроводники -- толщина пленок -- диоксид титана -- диоксид марганца -- легирование -- показатель преломления -- коэффициенты поглощения -- коэффициенты экстинкции -- спектры пропускания Аннотация: Определены оптические постоянные и толщина пленок TiО[2]-MnO[2] (содержание MnO[2]: 0, 1, 5%), изготовленных методом электронно-лучевого испарения. Наблюдалась существенная зависимость оптических свойств тонких пленок TiО[2] от содержания марганца. Установлено, что тонкие пленки TiО[2]-MnO[2] являются непрямозонными полупроводниками с шириной запрещенной зоны Eg: 3. 43 eV (TiО2), 2. 89 eV (TiO[2]-MnO[2] (1%) ) и 2. 73 eV (TiO[2]-MnO[2] (5%) ). Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/08/p110-113.pdf Доп.точки доступа: Ковалюк, З. Д.; Марьянчук, П. Д. |
536.42 И 889 Исследование влияния толщины медного катализатора и пленочного подслоя на морфологию наностержней ZnO [Текст] / Н. В. Лянгузов [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 5. - С. 1-8 : ил. - Библиогр.: с. 8 (5 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Термодинамика твердых тел Оптические свойства твердых тел Люминесценция Кл.слова (ненормированные): медные катализаторы -- пленочные подслои -- наностержни -- морфология наностержней -- пленки меди -- медь -- Cu -- толщина пленок -- цинк -- Zn -- оксид цинка -- ZnO -- подложки (физика) -- a-Al2O3 -- карботермические методы -- поверхностная плотность наностержней -- исследования -- температура -- процесс термического развала -- сверхтонкие пленки -- массивы наностержней -- фотолюминесцентные свойства -- оптическая накачка -- уровни оптической накачки Аннотация: Исследовано влияние толщины пленочного подслоя ZnO, а также толщины пленок катализатора роста (Cu) на морфологию наностержней ZnO, выращенных на подложках a-Al[2]O[3] (11-20) карботермическим методом. Увеличение толщины пленки Cu приводит к увеличению диаметров, высоты и поверхностной плотности наностержней. Увеличение толщины пленочного подслоя ZnO приводит к возрастанию среднего диаметра и уменьшению длины и поверхностной плотности наностержней. Проведены исследования по влиянию температуры на процесс термического развала сверхтонких пленок меди, нанесенных на подложки a-Al[2]O[3]. Исследованы фотолюминесцентные свойства массивов наностержней при высоких уровнях оптической накачки. Повышение плотности мощности накачки до 250-280 kW/cm{2} приводит к сверхлюминесценции наностержней. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/05/p1-8.pdf Доп.точки доступа: Лянгузов, Н. В.; Кайдашев, В. Е.; Кайдашев, Е. М.; Абдулвахидов, К. Г. |
539.2 В 586 Влияние кластеризации потока на толщину пленок, осажденных при магнетронном и импульсном лазерном распылении металлооксидов [Текст] / В. Д. Окунев [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 5. - С. 63-70 : ил. - Библиогр.: с. 70 (14 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): мишени (физика) -- распыление мишеней -- магнетронное распыление -- лазерное распыление -- импульсное лазерное распыление -- металлооксиды -- плазма -- лазерная плазма -- пленки (физика) -- толщина пленок -- потоки плазмы -- кластеризация потока -- атомы -- ионы -- концентрация атомов -- эксперименты Аннотация: Изучена связь между кластеризацией потока вещества и толщиной пленок при магнетронном и импульсном лазерном распылении мишеней La[0. 7]Sr[0. 3]MnO[3] и YBa[2]Cu[3]O[7-delta]. Установлено, что для магнетронного распыления из-за низкой концентрации атомов (ионов) распыленного материала кластеризация потока в эксперименте не выявляется. В соответствии с расчетом для случая невзаимодействующих атомов наблюдается экспоненциальное уменьшение толщины пленок (h) с увеличением расстояния от мишени (L). Для импульсного лазерного распыления, при котором концентрация распыленного вещества в плазме на 4 порядка выше, наблюдается резкое отклонение зависимости h (L) от расчетной при расстояниях от мишени, больших 6. 2 cm, что обусловлено началом интенсивной кластеризации потока лазерной плазмы. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/05/p63-70.pdf Доп.точки доступа: Окунев, В. Д.; Lewandowski, S. J.; Szymczak, R.; Szymczak, H.; Дьяченко, Т. А.; Исаев, В. А.; Николаенко, Ю. М.; Abal'oshev, A.; Gierlowski, P.; Bielska-Lewandowska, H. |
539.2 И 395 Изучение влияния пористой подложки SiO[2] на свойства пленок Al[2]O[3] с помощью рентгеновской рефлектометрии [Текст] / А. С. Конашук [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 12. - С. 24-29 : ил. - Библиогр.: с. 29 (16 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): пористые подложки -- синтезированные пленки -- свойства пленок -- аморфные пленки -- спектроскопия -- рентгеновская спектроскопия -- рефлектометрия -- рентгеновская рефлектометрия -- молекулярное наслаивание -- техника наслаивания -- алюминий -- атомы алюминия -- тетраэдрическая координация -- октаэдрическая координация -- толщина пленок -- подложки Аннотация: Методом рентгеновской спектроскопии отражения изучено строение пленок Al[2]O[3] различной толщины, синтезированных техникой молекулярного наслаивания на пористом SiO[2]. Установлено, что синтезированные пленки являются аморфными, причем соотношение количества тетраэдрических и октаэдрических координаций атомов алюминия в пленке зависит от ее толщины. Предположительно более толстые пленки оксида алюминия содержат больше тетраэдрических координаций. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/12/p24-29.pdf Доп.точки доступа: Конашук, А. С.; Соколов, А. А.; Дрозд, В. Е.; Романов, А. А.; Филатова, Е. О. |
544 С 902 Суровой, Э. П. Закономерности формирования наноразмерных пленок системы In-In[2]O[3] / Э. П. Суровой, авт. Г. О. Еремеева // Неорганические материалы. - 2012. - Т. 48, № 7. - С. 819-824 : 5 рис. - Библиогр.: с. 823-824 (21 назв. ) . - ISSN 0002-337Х
Рубрики: Химия Физическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): наноразмерные пленки -- метод оптической спектроскопии -- термообработка -- индий -- гравиметрия -- толщина пленок -- термическое превращение пленок Аннотация: Методами оптической спектроскопии, микроскопии, гравиметрии, исследованы превращения в наноразмерных слоях In в зависимости от толщины (2–147 нм), температуры (473–873 K) и времени (0–120 мин) термообработки. В зависимости от толщины пленок индия и температуры термообработки кинетические кривые степени превращения удовлетворительно описываются в рамках линейного, обратного логарифмического, параболического и логарифмического законов. Доп.точки доступа: Еремеева, Г. О. |