621.38 Ш 978 Шутов, С. В. Определение толщины базы вертикальных n-p-n-транзисторов И{2}Л элементов по напряжению "gрокола" базы [Текст] / С. В. Шутов, А. Н. Фролов, В. Н. Литвиненко, А. А. Фролов // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 2. - Библиогр.: c. 132 (6 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): транзисторы -- база -- толщина базы -- напряжение прокола -- интегральня инжекционная логика Аннотация: Предложен и экспериментально проверен метод определения толщины базовых областей n-p-n-транзисторов И2Л элементов по заданному напряжению "прокола" базы. Изготовлены и исследованы И2Л элементы. Перейти: http: //www. ioffe. ru/journals/jtf/2004/02/ Доп.точки доступа: Фролов, А. Н.; Литвиненко, В. Н.; Фролов, А. А. |