621.317.341 К 900 Кулаев, С. П. Сравнение схем рефлектометров сверхвысоких частот [Текст] / С. П. Кулаев // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 3. - Библиогр.: С. 94 ( 3 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Энергетика--Электрические и магнитные измерения Кл.слова (ненормированные): сверхвысокие частоты -- частоты -- рефлектометры сверхвысоких частот Аннотация: Проанализированны влияние условий в процессе измерения, изменяя тем самым параметры нелинейного элемента. |
669 Б 146 Багрец, Н. В. Влияние температуры роста на структуру межслойных границ сверхрешеток Fe/Cr [Текст] / Н. В. Багрец, Е. А. Крацов [и др.] // Физика металлов и металловедение. - 2003. - Т.96,N1. - Библиогр.:с.93 (11 назв.) . - ISSN 0015-3230
Рубрики: Машиностроение--Металлургия. Металлы и сплавы Кл.слова (ненормированные): алюминий -- железо -- сверхрешетки -- хром -- исследования -- микроструктура -- монокристаллы -- рентгеноструктурный анализ -- рефлектометры -- магнитные свойства -- микроструктура Аннотация: Методами рентгеновской рефлектометрии исследовано влияние температуры роста на структуру межслойных границ в сверхрешетках (100)Fe/Cr, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках из монокристаллического Al[2]O[3]. Перейти: http://www.maik.ru Доп.точки доступа: Крацов, Е.А.; Миляев, М.А.; Ромашев, Л.Н.; Семериков, А.В.; Устинов, В.В. |
621.039.62 А 35 Азизов, Э. А. Первые результаты, полученные с помощью сканирующего импульсного радара-рефлектометра на токамаке Глобус-М [Текст] / Э. А. Азизов, А. В. Бабарыкин [и др.] // Физика плазмы. - 2004. - Т. 30, N 5. - С. 459-468. - Библиогр.: с. 468 (11 назв. ). - ил.: 6 рис. . - ISSN 0367-2921
Рубрики: Физика--Ядерная физика Кл.слова (ненормированные): рефлектометры -- токамаки -- импульсные радары -- Глобус-М -- плазма Аннотация: Описывается сканирующий импульсный радар-рефлектометр, разработанный для измерения пространственного распределения конструкции электронов на сферическом токамаке Глобус-М. Данный прибор позволяет проводить детальные измерения профиля плотности плазмы с временным разрушение - десятки микросекунд, что может оказаться полезным, в частности, для изучения процессов, связанных с формированием внутреннего транспортного барьера в плазме. Приводятся и обсуждаются первые результаты, полученные с помощью разработанного прибора в различных режимах работы установки Глобус-М. Доп.точки доступа: Бабарыкин, А. В.; Воронин, А. В.; Гусев, В. К.; Малышев, А. Ю.; Марков, В. К.; Петров, А. А.; Петров, Ю. В.; Рождественский, В. В.; Сахаров, Н. В.; Петров, В. Г. |
001 Z99 [Научно-технические новинки] [Текст] // Наука и жизнь. - 2006. - N 9. - С. 28-29. - Не подходи - убьетНа картинке - и форма и содержаниеЛазерные лаги и спидометрыНержавеющие трубопроводыЭлектрическое эхо. - Ил.: 6 фот., 1 рис. . - ISSN 0028-1263
Рубрики: Техника--Общие вопросы техники--РФ--Российская Федерация--Россия Наука. Науковедение--Общие вопросы науки Кл.слова (ненормированные): сигнализаторы напряжения; нанобиотехнологии; лазеры; измерители скорости; трубопроводы; рефлектометры Аннотация: Российскими учеными разработаны такие научно-технические новинки, как: сигнализатор напряжения, бесконтактный измеритель скорости, рефлектометр и другие. |
543 Ж 73 Жиромский, В. В. Измерение количества вещества, адсорбированного нитроцеллюлозной пленкой [Текст] / В. В. Жиромский // Приборы и техника эксперимента. - 2006. - N 6. - С. 110-114. - Библиогр.: с. 114 (10 назв. ) . - ISSN 0032-8162
Рубрики: Химия--Аналитическая химия Кл.слова (ненормированные): нитроцеллюлоза; нитроцеллюлозные пленки; адсорбция; сканирующие рефлектометры Аннотация: Проведено исследование оптических параметров нитроцеллюлозной пленки, разработан способ измерения коэффициента поглощения вещества, адсорбированного пленкой, и создан экспериментальный образец сканирующего рефлектометра. |
Котенев, В. А. Видеомикрозондовая спектротомография гетерофазных слоев металл-оксидных сенсоров [Текст] / В. А. Котенев, А. Ю. Цивадзе // Журнал неорганической химии. - 2007. - Т. 52, N 4. - С. 625-635 : рис. - Библиогр.: с. 634-635 (43 назв. ) . - ISSN 0044-457X
Рубрики: Машиностроение Металловедение Общая технология металлов Химия Физическая химия. Химическая физика Кл.слова (ненормированные): контроль -- металлы -- микросенсоры -- микроскопы -- наноструктуры -- оксиды -- рефлектометры -- стали -- томография -- физические методы -- цифровые изображения Аннотация: Рассмотрены методические основы комбинированного использования цифровых микроскопических систем и спектротомографических принципов для контроля металл-оксидных гетерофазных наноструктур, неоднородных как вдоль поверхности, так и по толщине неоднородного слоя. Доп.точки доступа: Цивадзе, А. Ю. |
543.422 Х 469 Химченко, С. В. Сравнение аналитических возможностей вариантов детектирования в цветометрическом экспресс-анализе с помощью портативных инструментов [Текст] / С. В. Химченко, авт. Л. П. Экспериандова // Журнал аналитической химии. - 2012. - Т. 67, № 8. - С. 777-781 : 1 табл. - Библиогр.: с. 780-781 (18 назв.) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): Co -- Fe -- железо -- кобальт -- нитриты -- определение железа -- определение кобальта -- определение нитритов -- пенополиуретан -- планшетные сканеры -- портативные инструменты -- портативные приборы -- рефлектометры -- сканеры -- сорбированные комплексы -- тест-системы -- тиоцианат -- фотоколориметры -- цветометрический экспресс-анализ -- экспресс-анализ Аннотация: Сравнены аналитические возможности портативного фотоколориметра, рефлектометра и планшетного сканера на примере различных тест-систем, включающих сорбированные на пенополиуретане комплексы Co (II) и Fe (II) с тиоцианатом и нитрит-ионы. Установлены метрологические характеристики определения кобальта, железа и нитритов в воде с помощью портативных инструментов. Доп.точки доступа: Экспериандова, Л. П. |
681.7 М 545 Метод увеличения дальности работы когерентного оптического рефлектометра [Текст] / Е. Т. Нестеров [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 9. - С. 55-63 : ил. - Библиогр.: с. 62-63 (9 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура оптики Геометрическая оптика. Оптические приборы Кл.слова (ненормированные): рефлектометры -- оптические рефлектометры -- когерентные оптические рефлектометры -- когерентные рефлектометры -- метод увеличения работы -- экспериментальные исследования -- теоретические исследования -- волокна (физика) -- типы волокон -- обратное рассеяние -- коэффициенты рассеяния -- коэффициенты поглощения -- длины волн -- чувствительность Аннотация: Предложен, теоретически обоснован и экспериментально продемонстрирован новый метод увеличения работы когерентного оптического рефлектометра. Метод основан на использовании нескольких типов волокон с разной величиной коэффициента обратного рассеяния, причем волокно с более высоким коэффициентом обратного рассеяния подключается к концу участка волокна с наименьшим коэффициентом поглощения на рабочей длине волны, длина которого - максимально возможная для обеспечения заданного уровня чувствительности. Показана возможность увеличения дальности работы когерентного рефлектометра до 50 km. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/09/p55-63.pdf Доп.точки доступа: Нестеров, Е. Т.; Трещиков, В. Н.; Озеров, А. Ж.; Слепцов, М. А.; Камынин, В. А.; Наний, О. Е.; Сусьян, А. А. |
535.31 К 571 Когерентный волоконно-оптический рефлектометр с полупроводниковым лазером на длину волны lambda=810 nm [Текст] / В. Т. Потапов [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 12. - С. 88-94 : ил. - Библиогр.: с. 94 (6 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Геометрическая оптика. Оптические приборы Радиоэлектроника Квантовая электроника Кл.слова (ненормированные): рефлектометры -- волоконно-оптические рефлектометры -- когерентные рефлектометры -- когерентные волоконно-оптические рефлектометры -- лазеры -- полупроводниковые лазеры -- длины волн -- экспериментальные исследования -- результаты исследований -- излучения -- источники излучений -- одномодовые полупроводниковые лазеры -- динамические воздействия -- датчики динамических воздействий -- волоконно-оптические датчики -- волоконные контуры датчиков Аннотация: Приводятся результаты экспериментальных исследований когерентного волоконно-оптического рефлектометра, в котором в качестве источника излучения использован одномодовый полупроводниковый лазер, излучающий на длине волны lambda=810 nm. Показана возможность создания распределенных волоконно-оптических датчиков динамических воздействий на основе этого рефлектометра с длиной волоконного контура до 3 km. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/12/p88-94.pdf Доп.точки доступа: Потапов, В. Т.; Мамедов, А. М.; Игнатов, Б. Г.; Потапов, Т. В. |
621.382 А 471 Алексеев, А. Э. Статистика интенсивности обратно-рассеянного излучения полупроводникового лазера в одномодовом оптическом волокне [Текст] / А. Э. Алексеев, Я. А. Тезадов, В. Т. Потапов // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 2. - С. 74-81 : ил. - Библиогр.: с. 81 (12 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Квантовые приборы Кл.слова (ненормированные): лазеры -- полупроводниковые лазеры -- обратно-рассеянное излучение -- оптические волокна -- одномодовые волокна -- одномодовые оптические волокна -- интенсивность излучения -- статистическая зависимость -- результаты исследований -- зондирующие импульсы -- время когерентности -- функция распределения -- экспоненциальная статистика -- рефлектометры -- когерентные рефлектометры -- метод прямого детектирования -- внешние воздействия -- источники излучения Аннотация: Приведены результаты исследования статистической зависимости интенсивности обратно-рассеянного излучения полупроводникового лазера в одномодовом волокне от длительности зондирующего импульса и времени когерентности источника. Показано, что при заданном времени когерентности излучения источника функция распределения интенсивности изменяется с ростом длительности импульса, переходя от функции, близкой к экспоненциальной, к функции, близкой к гауссовской. Экспоненциальная статистика позволяет получить лучшую чувствительность для когерентного рефлектометра при использовании метода прямого детектирования. Рассчитанная функция распределения позволяет количественно определить степень ухудшения чувствительности рефлектометра к внешним воздействиям при увеличении длительности зондирующего импульса или уменьшении времени когерентности лазера, что дает критерий для оптимального выбора источника излучения для когерентного рефлектометра. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/02/p74-81.pdf Доп.точки доступа: Тезадов, Я. А.; Потапов, В. Т. |
539.19 Т 898 Турьянский, А. Г. Анизотропия дифракционных характеристик тонких пленок пиролитического графита / А. Г. Турьянский, С. С. Гижа, В. М. Сенков // Письма в "Журнал технической физики". - 2013. - Т. 39, вып. 12. - С. 71-78 : ил. - Библиогр.: с. 78 (6 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Молекулярная физика в целом Кл.слова (ненормированные): тонкие пленки -- дифракционный анализ -- пиролитический графит -- полярные диаграммы -- монохроматизация излучений -- рентгеновская спектроскопия -- рефлектометры -- азимутальное сканирование -- рентгеновские лазеры Аннотация: Исследованы полярные диаграммы и локальные дифракционные характеристики тонких пленок из высокоориентированного пиролитического графита (ВПГ), используемого для монохроматизации излучения и рентгеновской спектрометрии. Измерения проводились с помощью двухволнового рентгеновского рефлектометра. При угловом азимутальном сканировании исходных пленок ВПГ рентгеновским зондом с площадью сечения меньше 0. 1 mm{2} наблюдалась резкая анизотропия коэффициента дифракционного отражения. Показана возможность подавления влияния анизотропии, и обоснованы условия применения пленок ВПГ в качестве дисперсионного элемента для схем рентгеновской томографии и мэппирования, а также для исследования спектров по единичному импульсу рентгеновского лазера. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2013/12/p71-78.pdf Доп.точки доступа: Гижа, С. С.; Сенков, В. М. |
535-34/-36 П 764 Применение мягкого рентгеновского излучения для исследования сверхгладких оптических поверхностей и многослойных элементов / М. М. Барышева [и др.] // Журнал технической физики. - 2013. - Т. 83, № 9. - С. 134-142. - Библиогр.: c. 142 (27 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Рентгеновские лучи. Гамма-лучи Экспериментальные методы и аппаратура оптики Кл.слова (ненормированные): рентгеновское излучение -- мягкое рентгеновское излучение -- сверхгладкие оптические поверхности -- оптические поверхности -- диффузное рассеяние рентгеновского излучения -- аттестация оптических элементов -- рефлектометры -- многослойные зеркала -- отражение рентгеновского излучения -- рассеяние рентгеновского излучения Аннотация: Работа посвящена развитию метода диффузного рассеяния мягкого рентгеновского излучения для аттестации оптических элементов дифракционного качества и их подложек на рабочей длине волны. Предложен прибор, позволяющий производить процедуру аттестации в лабораторных условиях за счет динамического диапазона, приближающегося к синхротронным источникам. Приводятся результаты экспериментов, сопоставленные с данными альтернативных методов исследования. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2013/09/p134-142.pdf Доп.точки доступа: Барышева, М. М.; Вайнер, Ю. А.; Грибков, Б. А.; Зорина, М. В.; Пестов, А. Е.; Салащенко, Н. Н.; Чхало, Н. И.; Щербаков, А. В. |