Сырямкин, В. И. Метод измерения рельефа поверхности для исследования процессов деформации и оценки состояния нагруженных материалов [Текст] / В. И. Сырямкин, С. В. Панин, Н. А. Зуев, А. В. Чесноков // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N11. - Библиогр.: с.88 (4 назв.) . - ISSN 0021-3411 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): автоматизированные измерения -- нагруженные материалы -- пластическая деформация -- профилометры -- рельеф поверхности Аннотация: Представлены метод и устройство для измерения рельефа поверхности, предназначенные для изучения процессов пластической деформации на мезо- и макромасштабных уровнях и последующего приложения результатов исследований для неразрушающего контроля материалов. Описана структурная схемса автоматизированной системы для измерения рельефа поверхности нагруженных материалов, принцип действия которой основан на прямом методе измерения с помощью цехового профилометра. Даны основные технические характеристики работы автоматизированной системы; анализируются причины возникновения погрешностей измерений. Приведены типичные картины распределения рельефа поверхности образцов, полученные с помощью автоматизированной системы Доп.точки доступа: Панин, С.В.; Зуев, Н.А.; Чесноков, А.В. |
620.1/.2 Л 171 Лазарев, Г. Л. Оценка микрорельефа гладких объектов с помощью прецизионного интерференционного микроскопа-профилометра МИМ-2 [Текст] / Г. Л. Лазарев, Д. А. Орлов, И. Н. Мазалов, О. К. Иоселев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 4. - С. 39-44. - Библиогр.: с. 44 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника--Материаловедение Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): гладкие объекты; интерференционные микроскопы-профилометры; интерферометры; калибровочные кадры; лазерные излучатели; лазерные микроинтерферометры; микроинтерферометры; микрорельефы; микроскопы-профилометры; МИМ-2 (микроинтерферометры); прецизионные микроскопы-профилометры; спекл-структура Аннотация: Рассматривается применение лазерного микроинтерферометра для количественной оценки рельефа гладких объектов в диапазоне высот от 0, 1 до 266 нм. Доп.точки доступа: Орлов, Д. А.; Мазалов, И. Н.; Иоселев, О. К. |
Использование кластерных вторичных ионов Ge[2-], Ge[3-] для повышения разрешения по глубине при послойном элементном анализе полупроводниковых гетероструктур GeSi/Si методом ВИМС [Текст] / М. Н. Дроздов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып: вып. 3. - С. 418-421 : ил. - Библиогр.: с. 421 (12 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): ионы -- кластерные вторичные ионы -- Ge[2-] -- Ge[3-] -- послойный элементный анализ -- полупроводниковые гетероструктуры -- гетероструктуры -- GeSi/Si -- вторично-ионная масс-спектрометрия -- ВИМС -- метод вторично-ионной масс-спектрометрии -- оптические профилометры -- Talysurf CCI-2000 -- TOF. SIMS-5 -- шероховатости -- ионное распыление -- аппаратурные эффекты -- установки ВИМС Аннотация: Обсуждаются новые возможности повышения разрешения по глубине при послойном элементном анализе полупроводниковых гетероструктур GeSi/Si методом вторично-ионной масс-спектрометрии на установке TOF. SIMS-5. С использованием оптического профилометра Talysurf CCI-2000 для контроля формы и шероховатости дна кратера распыления проведен детальный анализ вкладов артефактов ионного распыления и аппаратурных эффектов в разрешение по глубине. Установлено, что использование ионов Cs{+} для распыления позволяет минимизировать развитие шероховатости при послойном анализе структур GeSi/Si вплоть до глубины 1-1. 5 мкм. Показано, что использование вторичных кластерных ионов Ge[2-] и Ge[3-] вместо Ge[1-] и Ge{+} позволяет снизить величину переходных областей в регистрируемых профилях. Доп.точки доступа: Дроздов, М. Н.; Дроздов, Ю. Н.; Лобанов, Д. Н.; Новиков, А. В.; Юрасов, Д. В. |
Масштабная инвариантность роста усталостной трещины при гигацикловом режиме нагружения [Текст] / В. Оборин [и др. ] // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 22. - С. 76-82 : ил. - Библиогр.: с. 82 (7 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): усталостные трещины -- рост трещин -- масштабная инвариантность -- дефекты (физика) -- ансамбли дефектов -- режимы нагружения -- распространение трещин -- закономерности распространения трещин -- усталостное нагружение -- гигацикловые диапазоны -- частоты нагружения -- высокопрочные стали -- R4 -- растяжение-сжатие -- боковые поверхности -- образцы (физика) -- 3D профилометрия рельефа -- интерферометры-профилометры New-View -- масштабно-инвариантные закономерности -- эволюция структуры Аннотация: Проведено изучение роли коллективного поведения ансамблей дефектов в вершине трещины с закономерностями распространения трещин при усталостном нагружении в гигацикловом диапазоне (частота 20 kHz) для образцов из высокопрочной стали R4 в условиях симметричного растяжения-сжатия. После каждого этапа прорастания трещины снимались реплики с боковой поверхности образцов с последующим анализом 3D профилометрии рельефа (данные интерферометра-профилометра New-View) с целью изучения масштабно-инвариантных закономерностей эволюции структуры, обусловленной дефектами. Доп.точки доступа: Оборин, В.; Банников, М.; Наймарк, О.; Palin-Luc, T. |
539.21:534 Д 513 Длиннокорреляционные многомасштабные взаимодействия в ансамблях дефектов и оценка надежности алюминиевых сплавов при последовательных динамических и усталостных нагружениях [Текст] / В. Оборин [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 5. - С. 105-110 : ил. - Библиогр.: с. 110 (4 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Механические и акустические свойства монокристаллов Кл.слова (ненормированные): алюминиевые сплавы -- дефекты (физика) -- ансамбли дефектов -- многомасштабные взаимодействия -- длиннокорреляционные многомасштабные взаимодействия -- оценка надежности -- усталостные нагружения -- динамические нагружения -- последовательные нагружения -- нагруженные образцы -- сроки службы -- рельеф поверхности -- интерферометры-профилометры -- эволюция структуры -- масштабно-инвариантные закономерности -- изучение закономерностей Аннотация: Проведено изучение роли коллективного поведения ансамблей дефектов в предварительно нагруженных образцах из сплава алюминия Al-Cu, подверженных усталостным испытаниям, соответствующим базовому сроку службы (приблизительно 2·10{5} циклов). После деформирования рельеф поверхности анализировался с помощью интерферометра-профилометра New-View с целью изучения масштабно-инвариантных закономерностей эволюции структуры, обусловленной дефектами. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/05/p105-110.pdf Доп.точки доступа: Оборин, В.; Банников, М.; Наймарк, О.; Froustey, C. |