620.1/.2 Ш 701 Шлянников, В. Н. Метод определения скорости развития трещин в сплошном цилиндре с односторонним надрезом [Текст] / В. Н. Шлянников, Фенг Пенг Янг, Зенг Банг Куанг // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2008. - Т. 74, N 2. - С. 47-51. - Библиогр.: с. 51 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): геометрическое моделирование -- дефекты -- надрезы -- односторонние надрезы -- определение скорости развития трещин -- поверхностные дефекты -- развитие трещин -- растяжение -- скорость развития трещин -- сплошные цилиндры -- трещины -- цилиндры Аннотация: Описан метод экспериментального исследования и прогнозирования скорости развития поверхностных дефектов в сплошных цилиндрических образцах и деталях при растяжении. Доп.точки доступа: Фенг Пенг Янг; Зенг Банг Куанг |
Ланге, Ю. В. По страницам иностранных журналов [Текст] / Ю. В. Ланге // Контроль. Диагностика. - 2008. - N 2. - С. 22-24. - Продолж. Начало в N 3, 5-12, 2004; N 1, 4-11, 12, 2005; N 1-2, 4-6, 8, 11, 12, 2006; N 1-9, 11, 12, 2007; N 1, 2008 . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Физика Акустика в целом Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): автоматический контроль -- акустико-эмиссионный метод -- акустические методы -- акустографический способ -- аппаратура неразрушающего контроля -- Баркгаузена метод шумов -- бетонные полы -- вагоны-дефектоскопы -- вибрации -- вибродиагностика -- вихревые методы -- вихретоковые приборы -- вихретоковый метод -- волноводный контроль -- георадары -- голография -- дефекты -- диагностика машин -- дифракционно-временные методы -- дорожные покрытия -- журналы -- износостойкость -- импедансные методы -- импульсные методы -- индукционная томография -- иностранные журналы -- иностранные компании -- интегральный контроль -- инфракрасные методы -- калибровка приборов -- капиллярный метод -- керамические материалы -- клеевые соединения -- комплексный контроль -- композиционные материалы -- компьютерная радиография -- конденсаторы -- контроль -- контроль дорожных покрытий -- контроль железобетона -- контроль колес подвижного состава -- контроль композиционных материалов -- контроль коррозии -- контроль покрытий -- контроль прочности бетона -- контроль сварных швов -- контроль строительных конструкций -- контроль точечной сварки -- контроль шерсти -- коррозия -- магнитная томография -- магнитные методы -- магнитооптический эффект -- метод шумов Баркгаузена -- мониторинг дефектов -- мониторинг инструментов -- нанотехнологии -- нейронные цепи -- неразрушающий контроль -- обнаружение дефектов -- обнаружение мин -- оборонная промышленность -- обработка информации -- оптические методы -- оптический контроль -- отливки -- памятники архитектуры -- поверхностные дефекты -- подавление шумов -- покрытия -- преобразователи -- приборы неразрушающего контроля -- радиационные методы -- радиоволновые методы контроля -- радиографический контроль -- радиография -- рентгеновская толщинометрия -- сертификация персонала -- системы безопасности -- тепловой метод -- теплообменники -- термоакустический контроль -- техническая диагностика -- толщинометрия -- томография -- трещины -- трубопроводы -- ультразвуковая томография -- ультразвуковой контроль -- фазированные решетки -- Фарадея эффект -- фундаменты -- шумы -- электрический метод -- электромагнитный метод -- энергетическое оборудование -- эффект Фарадея Аннотация: Представлены аннотации к статьям из иностранных журналов, посвященным методам неразрушающего контроля. |
Ланге, Ю. В. По страницам иностранных журналов [Текст] / Ю. В. Ланге // Контроль. Диагностика. - 2008. - N 4. - С. 3-5. - Продолж. Начало в N 3, 5-12, 2004; N 1, 4-11, 12, 2005; N 1-2, 4-6, 8, 11, 12, 2006; N 1-9, 11, 12, 2007; N 1-3, 2008 . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Физика Акустика в целом Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): автоматический контроль -- акустико-эмиссионный метод -- акустические методы -- акустографический способ -- аппаратура неразрушающего контроля -- Баркгаузена метод шумов -- бетонные полы -- вагоны-дефектоскопы -- вибрации -- вибродиагностика -- вихревые методы -- вихретоковые приборы -- вихретоковый метод -- волноводный контроль -- георадары -- голография -- дефекты -- диагностика машин -- дифракционно-временные методы -- дорожные покрытия -- журналы -- износостойкость -- импедансные методы -- импульсные методы -- индукционная томография -- иностранные журналы -- иностранные компании -- интегральный контроль -- инфракрасные методы -- калибровка приборов -- капиллярный метод -- керамические материалы -- клеевые соединения -- комплексный контроль -- композиционные материалы -- компьютерная радиография -- конденсаторы -- контроль -- контроль дорожных покрытий -- контроль железобетона -- контроль колес подвижного состава -- контроль композиционных материалов -- контроль коррозии -- контроль покрытий -- контроль прочности бетона -- контроль сварных швов -- контроль строительных конструкций -- контроль точечной сварки -- контроль шерсти -- коррозия -- магнитная томография -- магнитные методы -- магнитооптический эффект -- метод шумов Баркгаузена -- мониторинг дефектов -- мониторинг инструментов -- нанотехнологии -- нейронные цепи -- неразрушающий контроль -- обнаружение дефектов -- обнаружение мин -- оборонная промышленность -- обработка информации -- оптические методы -- оптический контроль -- отливки -- памятники архитектуры -- поверхностные дефекты -- подавление шумов -- покрытия -- преобразователи -- приборы неразрушающего контроля -- радиационные методы -- радиоволновые методы контроля -- радиографический контроль -- радиография -- рентгеновская толщинометрия -- сертификация персонала -- системы безопасности -- тепловой метод -- теплообменники -- термоакустический контроль -- техническая диагностика -- толщинометрия -- томография -- трещины -- трубопроводы -- ультразвуковая томография -- ультразвуковой контроль -- фазированные решетки -- Фарадея эффект -- фундаменты -- шумы -- электрический метод -- электромагнитный метод -- энергетическое оборудование -- эффект Фарадея Аннотация: Представлены аннотации к статьям из иностранных журналов, посвященным методам неразрушающего контроля. |
Ланге, Ю. В. По страницам иностранных журналов [Текст] / Ю. В. Ланге // Контроль. Диагностика. - 2008. - N 5. - С. 3-5. - Продолж. Начало в N 3, 5-12, 2004; N 1, 4-11, 12, 2005; N 1-2, 4-6, 8, 11, 12, 2006; N 1-9, 11, 12, 2007; N 1-4, 2008 . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Физика Акустика в целом Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): автоматический контроль -- акустико-эмиссионный метод -- акустические методы -- акустографический способ -- аппаратура неразрушающего контроля -- Баркгаузена метод шумов -- бетонные полы -- вагоны-дефектоскопы -- вибрации -- вибродиагностика -- вихревые методы -- вихретоковые приборы -- вихретоковый метод -- волноводный контроль -- георадары -- голография -- дефекты -- диагностика машин -- дифракционно-временные методы -- дорожные покрытия -- журналы -- износостойкость -- импедансные методы -- импульсные методы -- индукционная томография -- иностранные журналы -- иностранные компании -- интегральный контроль -- инфракрасные методы -- калибровка приборов -- капиллярный метод -- керамические материалы -- клеевые соединения -- комплексный контроль -- композиционные материалы -- компьютерная радиография -- конденсаторы -- контроль -- контроль дорожных покрытий -- контроль железобетона -- контроль колес подвижного состава -- контроль композиционных материалов -- контроль коррозии -- контроль покрытий -- контроль прочности бетона -- контроль сварных швов -- контроль строительных конструкций -- контроль точечной сварки -- контроль шерсти -- коррозия -- магнитная томография -- магнитные методы -- магнитооптический эффект -- метод шумов Баркгаузена -- мониторинг дефектов -- мониторинг инструментов -- нанотехнологии -- нейронные цепи -- неразрушающий контроль -- обнаружение дефектов -- обнаружение мин -- оборонная промышленность -- обработка информации -- оптические методы -- оптический контроль -- отливки -- памятники архитектуры -- поверхностные дефекты -- подавление шумов -- покрытия -- преобразователи -- приборы неразрушающего контроля -- радиационные методы -- радиоволновые методы контроля -- радиографический контроль -- радиография -- рентгеновская толщинометрия -- сертификация персонала -- системы безопасности -- тепловой метод -- теплообменники -- термоакустический контроль -- техническая диагностика -- толщинометрия -- томография -- трещины -- трубопроводы -- ультразвуковая томография -- ультразвуковой контроль -- фазированные решетки -- Фарадея эффект -- фундаменты -- шумы -- электрический метод -- электромагнитный метод -- энергетическое оборудование -- эффект Фарадея Аннотация: Представлены аннотации к статьям из иностранных журналов, посвященным методам неразрушающего контроля. |
Уваров, Н. Ф. Поверхностное разупорядочение классических и суперионных кристаллов: описание в рамках модели Штерна [Текст] / Н. Ф. Уваров // Электрохимия. - 2007. - Т. 43, N 4. - С. 388-397 : 5 рис. - Библиогр.: с. 396-397 (29 назв. ) . - ISSN 0424-8570
Рубрики: Механика Кинематика Кл.слова (ненормированные): ионные кристаллы -- поверхностные дефекты -- двойной электрический слой -- модель Штерна -- Штерна модель -- поверхностный потенциал -- суперионные проводники -- сегрегация Аннотация: С помощью модели Штерна проведен расчет поверхностного потенциала в классических и суперионных кристаллах. Исследовано влияние энергии образования дефектов, концентрации доступных поверхностных мест и концентрации примесей на температурные зависимости поверхностного потенциала. |
Экспериментальное исследование влияния поверхностных дефектов на характеристики трубных сталей [Текст] / И. Н. Андронов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 3. - С. 57-60 . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Материаловедение Кл.слова (ненормированные): поверхностные дефекты -- трубные стали -- прочностные свойства сталей -- испытания на растяжение -- деформирование -- дефекты сталей -- линейные дефекты -- овальные дефекты -- кавернообразные дефекты Аннотация: Исследовано влияние поверхностных дефектов и их ориентации на механические характеристики трубных сталей. Доп.точки доступа: Андронов, И. Н.; Богданов, Н. П.; Пронин, А. И.; Теплинский, Ю. А. |
Ткач, Н. В. Спектр и свойства сечения рассеяния электронов в открытых сферических квантовых точках [Текст] / Н. В. Ткач, Ю. А. Сети // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып: вып. 3. - С. 357-363
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): сферические квантовые точки -- поверхностные дефекты -- диэлектрическая жидкая матрица -- кристаллические структуры -- электромагнитное поле Аннотация: В модели эффективной массы и прямоугольных потенциалов впервые выполнен расчет сечения рассеяния электронов в открытой сферической квантовой точке. Показано, что в такой наносистеме с барьером в несколько монослоев экспериментально измеряемое сечение рассеяния позволяет хорошо идентифицировать резонансные энергии и ширины низкоэнергетической части квазистационарного спектра электронов. Показано также, что в открытой сферической квантовой точке со слабым потенциальным барьером адекватными спектральными параметрами квазистационарного спектра являются обобщенные резонансные энергии и ширины, определенные через вероятность пребывания электрона внутри квантовой точки. Доп.точки доступа: Сети, Ю. А. |
621.315.592 E 94 Evidence of surface states for AlGaN/GaN/SiC HEMTs passivated Si[3]N[4] by CDLTS [Текст] / M. Gassoumi [et al.] // Физика и техника полупроводников. - 2012. - Т. 46, вып. 3. - С. 396-399 : ил. - Библиогр.: с. 399 (17 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): гетероструктуры -- транзисторы -- поверхностные дефекты -- ловушки -- пассивация поверхности -- электрон-ловушки -- энергия активации -- поверхностные состояния -- подложки -- глубокие уровни Аннотация: In AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors (HEMTs) structures, the surface defects and dislocations may serve as trapping centers and affect the device performance via leakage current and lowfrequency noise. This work demonstrates the effect of surface passivation on the current-voltage characteristics and we report results of our investigation of the trapping characteristics of Si[3]N[4]-passivated AlGaN/GaN HEMTs on SiC substrates using the conductance deep levels transient spectroscopy (CDLTS) technique. From the measured of CDLTS we identified one electron trap had an activation energy of 0. 31 eV it has been located in the AlGaN layer and two hole-likes traps H1, H2. It has been pointed out that the two hole-likes traps signals did not originate from changes in hole trap population in the channel, but reflected the changes in the electron population in the surface states of the HEMT access regions. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2012/03/p396-399.pdf Доп.точки доступа: Gassoumi, M.; Grimbert, B.; Gaquiere, G.; Maaref, H. |
539.2 Х 200 Характеризация пористого карбида кремния по спектрам поглощения и фотолюминесценции / Н. И. Березовская [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - 2014. - Т. 48, вып. 8. - С. 1055-1058 : ил. - Библиогр.: с. 1057 (18 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): поверхностные дефекты -- спектры поглощения -- фотолюминесценция -- атомно-силовая микроскопия -- оптическое поглощение -- спектроскопия -- анодное травление -- пористый карбид кремния -- SiC Аннотация: Представлены результаты исследований методами атомно-силовой микроскопии, спектроскопии оптического поглощения и фотолюминесценции пористого карбида кремния, созданного методом анодного травления. Анализ полученных данных указывает на отсутствие в пористом слое фазы кубического SiC, а появление фотолюминесценции por-SiC при энергии возбуждающего излучения hnu[ex] меньше или равно q E[g] обусловлено образованием центров излучения, связанных с атомами примеси и поверхностными дефектами, возникающими при анодном травлении образца и последующей обработке, вскрывающей поры. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2014/08/p1055-1058.pdf Доп.точки доступа: Березовская, Н. И.; Бачериков, Ю. Ю.; Конакова, Р. В.; Охрименко, О. Б.; Литвин, О. С.; Линец, Л. Г.; Светличный, А. М.; Киевский национальный университет им. Тараса Шевченко; Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины (Киев); Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины (Киев); Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины (Киев); Институт физики полупроводников им. В. Е. Лашкарева Национальной академии наук Украины (Киев); Таганрогский технологический институт Южного федерального университета (ТТИ ЮФУ); Таганрогский технологический институт Южного федерального университета (ТТИ ЮФУ) |
538.9 E 27 Effect of surface defects and few-atomic steps on the local density of states of the atomically-clean surface of topological insulator Bi[2]Se[3] / A. Yu. Dmitriev [et al.]. // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2014. - Т. 100, вып. 6. - С. 442-446
Рубрики: Физика Общие вопросы физики Кл.слова (ненормированные): топологические изоляторы -- поверхностные дефекты -- локальная плотность -- сканирующая туннельная микроскопия -- сканирующая туннельная спектроскопия Доп.точки доступа: Dmitriev, A. Yu.; Fedotov, N. I.; Nasretdinova, V. F.; Zaitsev-Zotov, S. V.; Kotel`nikov Institute of Radio-engineering and Electronics of the RAS; Moscow Institute of Physics and Technology; Kotel`nikov Institute of Radio-engineering and Electronics of the RAS; Moscow Institute of Physics and TechnologyKotel`nikov Institute of Radio-engineering and Electronics of the RAS; Kotel`nikov Institute of Radio-engineering and Electronics of the RAS; Moscow Institute of Physics and Technology |