620.1/.2 К 731 Котенев, В. А. Эллипсометрия многократного отражения с обратным ходом луча [Текст] / В. А. Котенев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 12. - Библиогр.: с. 38 (5 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника--Материаловедение Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): in situ (измерения) -- контроль толщины -- неразрушающий контроль -- обратнопроходная эллипсометрия -- эллипсометрия -- эллипсометры Аннотация: Описан метод обратнопроходной эллипсометрии многократного отражения для неразрушающего контроля толщины тонкого слоя на поверхности металлов и сплавов. Разработана оптико-электрохимическая жидкостная ячейка многократного отражения, обеспечивающая высокую чувствительность рефлектометрических и эллипсометрических измерений in situ. |
621.38 Ч-563 Чеховской, И. Контроль толщины эмали на кузове [Текст] / И. Чеховской // Радио. - 2004. - N1 . - ISSN XXXX-XXXX
Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): автомобили -- кузова -- лакокрасочные покрытия -- измерители толщины -- контроль толщины -- толщина эмали -- емкостные датчики -- конструкции Аннотация: В "Радио", 2002, N 2 в статье А.Бельского "Оценка толщины лакокрасочного покрытия" был описан простой прибор, способный выявить места с неравномерной толщиной защитного слоя эмали на кузове автомобиля. Дано описание еще одного измерителя толщины покрытия, который обладает более высокими эксплуатационными качествами. Перейти: www.radio.ru |