22.34 К 727 Костюкевич, С. А. Исследование процессов получения голограммных дифракционных решеток на основе слоев As[2]S[3] [Текст] / С. А. Костюкевич, П. Е. Шепелявый, П. Ф. Романенко, И. В. Твердохлеб> // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N1. - Библиогр.: с.126 (8 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): голограммные дифракционные решетки -- дифракционная эффективность -- сульфид мышьяка Аннотация: Приводятся результаты исследований процессов формирования голограммных дифракционных решеток на основе слоев As[2]S[3]. С помощью микроскопа атомных сил исследована форма профиля штрихов получаемых решеток в зависимости от величины экспозиции. Проведено измерение спектральных зависимостей их дифракционной эффективности и проанализирована их связь с формой рельефа поверхности решеток Доп.точки доступа: Шепелявый, П.Е.; Романенко, П.Ф.; Твердохлеб, И.В. |
Сопинский, Н. В. Использование эффекта взаимодействия пленок серебра и триселенида мышьяка для профилирования голограммных дифракциооных решеток [Текст] / Н. В. Сопинский, П. Ф. Романенко, И. З. Индутный> // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N2. - Библиогр.: с. 76 (13 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): дифракционные решетки -- голограммные дифракционные решетки -- профилированные дифракционные решетки -- дифракционная эффективность -- серебро -- триселенид мышьяка -- халькогенидные стеклообразные полупроводники Аннотация: Приводятся результаты исследований процесса формирования профилированных голограмммных дифракционных решеток с использованием эффекта взаимодействия пленок халькогенидных стеклообразных полупроводников и серебра. С помощью атомно-силового микроскопа определена форма профиля штрихов получаемых таким образов профилированных решеток. Проведено измерение спектральных и угловых зависимостей их дифракционной эффективности, проанализирована связь этих зависимостей с формой рельефа поверхности решетки Доп.точки доступа: Романенко, П.Ф.; Индутный, И.З. |
Чайка, А. Н. Оптически управляемый жидкокристаллический модулятор с дифракционной эффективноcтью 50% и высоким разрешением [Текст] / А. Н. Чайка, Л. П. Амосова, Е. А. Коншина> // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 9. - С. 25-30
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): голографическая методика -- модулятор света -- фоточувствительный слой -- дифракционная эффективность -- жидкокристаллический модулятор Аннотация: По голографической методике исследован оптически управляемый жидкокристаллический пространственный модулятор света с фоточувствительным слоем a-Si : C : H. Наибольшая величина дифракционной эффективности (ДЭ) составила 50. 5%. Спад ДЭ до уровня 0. 5 эта [max] наблюдался на пространственной частоте 75 mm\{-1\}. Высокое разрешение и ДЭ модулятора связаны с особенностями формирования несимметричного профиля штриха решетки в исследуемой структуре. Доп.точки доступа: Амосова, Л. П.; Коншина, Е. А. |
Агашков, А. В. Резонансная доменная фоторефрактивность в структуре жидкий кристалл-фотопроводящий ориентирующий слой [Текст] / А. В. Агашков> // Журнал технической физики. - 2010. - Т. 80, N 7. - С. 96-104. - Библиогр.: c. 104 (35 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физическая оптика Кл.слова (ненормированные): жидкие кристаллы -- фотопроводящие ориентирующие слои -- нематические жидкокристаллические ячейки -- доменные структуры -- квазистационарные доменные структуры -- переходные доменные структуры -- дифракционная эффективность -- фоторефрактивность -- резонансная доменная фоторефрактивность -- голографические решетки Аннотация: Исследованы фоторефрактивные свойства нематических жидкокристаллических ячеек с фотопроводящими ориентирующими слоями. Предложен новый механизм, основанный на резонансном взаимодействии переходных и квазистационарных доменных структур с оптическим интерференционным полем. При выполнении условий резонанса получено увеличение дифракционной эффективности решеток на два порядка. |
Амосова, Л. П. Влияние ориентирующей поверхности на характеристики оптически управляемых жидкокристаллических модуляторов [Текст] / Л. П. Амосова, А. Н. Чайка> // Журнал технической физики. - 2010. - Т. 80, N 10. - С. 129-135. - Библиогр.: c. 135 (14 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Геометрическая оптика. Оптические приборы Кл.слова (ненормированные): оптически управляемые модуляторы -- ориентирующая поверхность -- жидкокристаллические модуляторы -- модуляторы просветного типа -- нематические жидкие кристаллы -- жидкие кристаллы -- ЖК -- фотопроводники -- карбид кремния -- дифракционная эффективность -- ДЭ -- эффективное двулучепреломление Аннотация: Исследованы два оптически управляемых жидкокристаллических модулятора просветного типа на основе нематического жидкого кристалла и фотопроводника a-Si: C: H, отличающиеся начальным углом наклона директора ЖК и высотой барьера на границах раздела фаз. Показано влияние этих параметров на зависимость дифракционной эффективности (ДЭ) от режима питания, частоты записывающих импульсов и пространственной частоты записываемой решетки. Модуляторы обладали пространственным разрешением 75 mm{-1} по полураспаду ДЭ. Высокая максимальная ДЭ, равная 69%, была получена благодаря формированию асимметричного профиля решетки при большом начальном угле наклона директора ЖК. Доп.точки доступа: Чайка, А. Н. |
Алексеев, А. М. Об аппроксимации передаточной функции 4f-схемы голографии Фурье при реализации нечетко-значимых логик [Текст] / А. М. Алексеев, А. В. Павлов> // Оптика и спектроскопия. - 2010. - Т. 108, N 1. - С. 142-147. - Библиогр.: с. 147 (18 назв. ) . - ISSN 0030-4034
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): нечетко-значимые логики -- голография Фурье -- Фурье голография -- дифракционная эффективность -- функции Гаусса -- Гаусса функции -- пространственно-частотные спектры -- объектные изображения Аннотация: Показано, что если зависимость локальной дифракционной эффективности голограммы Фурье от пространственной частоты характеризуется наличием участка инверсной зависимости в области нулевых пространственных частот, то передаточная функция 4f-схемы голографии Фурье может быть аппроксимирована суммой двух симметрично смещенных функций Гаусса. Доп.точки доступа: Павлов, А. В. |
61 К 826 Критерий спектрального разрешения спектрофотометров, предназначенных для исследования биологических объектов [Текст] / В. В. Шаповалов [и др.]> // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2011. - N 5. - С. 4-7 : 2 рис. - Библиогр.: с. 7 (6 назв. ). - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки Прикладные отрасли медицины в целом Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): акустооптические перестраиваемые фильтры -- АОПФ -- спектральное разрешение -- информационные критерии -- спектрофотометры -- биологические объекты -- спектральное поглощение -- информационная емкость -- информационная пропускная способность -- дифракционная эффективность -- спектральные линии -- шумы -- критерий Рэлея -- Рэлея критерий Аннотация: Формулируется критерий спектрального разрешения устройства с позиций способности спектрофотометра передавать информацию. Предложен также метод измерения спектрального разрешения в соответствии с этим критерием. Доп.точки доступа: Шаповалов, Валентин Викторович (доктор технических наук; профессор); Гуревич, Борис Симхович (доктор технических наук); Андреев, Сергей Васильевич (техник); Беляев, Андрей Владимирович (ведущий инженер); Челак, Вячеслав Николаевич (научный сотрудник) |
535-34/-36 С 753 Срезанные линейные зонные пластинки для жесткого рентгеновского излучения [Текст] / И. А. Артюков [и др.]> // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 9. - С. 101-106. - Библиогр.: c. 106 (20 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Рентгеновские лучи. Гамма-лучи Кл.слова (ненормированные): линейные зонные пластинки -- дифракционная эффективность -- дифракция -- рентгеновское излучение -- жесткое рентгеновское излучение -- многослойные покрытия -- многослойные структуры -- магнетронное распыление -- ионное травление -- срезы многослойных покрытий Аннотация: Рассмотрены линейные зонные пластинки для жесткого (E>10 keV) рентгеновского излучения на основе срезов многослойных покрытий W[5]Si[3]/Si, изготовленных методом магнетронного распыления. Из численных расчетов следует, что эта пара материалов обеспечивает высокую эффективность в первом и втором порядках дифракции. Экспериментально установлено, что возможен синтез многослойных структур высокого качества, содержащих сотни слоев на кремниевых и стеклянных подложках. Показано, что их срезы могут быть получены путем ионного травления многослойного покрытия через маску. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/09/p101-106.pdf Доп.точки доступа: Артюков, И. А.; Бурцев, В. А.; Виноградов, А. В.; Девизенко, А. Ю.; Калинин, Н. В.; Копылец, И. А.; Кондратенко, В. В.; Пуха, В. Е.; Савицкий, Б. А.; Фещенко, Р. М. |
539.21:537 Н 320 Настас, А. М. Исследование влияния коронного разряда на запись голографических дифракционных решеток в структуре Cu-As[2]S[3] / А. М. Настас, М. С. Иову, А. М. Присакар> // Письма в "Журнал технической физики". - 2014. - Т. 40, вып. 9. - С. 80-85 : ил. - Библиогр.: с. 84-85 (10 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): коронные разряды -- дифракционные решетки -- голографические решетки -- структуры -- оптические записи -- электромагнитное излучение -- дифракционная эффективность -- фотоэлектрические модели Аннотация: Обнаружен эффект усиления процесса оптической записи во всем видимом диапазоне электромагнитного излучения в структуре Cu-As[2]S[3] с одновременным ее экспонированием и зарядкой в поле отрицательного коронного разряда по сравнению с обычной прямой записью в этой структуре. Показано, что использование отрицательного коронного разряда при записи в этих структурах позволяет увеличить в несколько раз как их голографическую чувствительность, так и дифракционную эффективность записанных голографических дифракционных решеток по сравнению с решетками, полученными при обычной записи. Результаты обсуждаются в рамках известной фотоэлектрической модели. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2014/09/p80-85.pdf Доп.точки доступа: Иову, М. С.; Присакар, А. М.; Институт прикладной физики Академии наук Молдовы (Кишинев); Институт прикладной физики Академии наук Молдовы (Кишинев)Институт прикладной физики Академии наук Молдовы (Кишинев) |
535 О-931 Оценка дифракционной эффективности и качества изображений при оптическом восстановлении цифровых голограмм Френеля / Н. Н. Евстигнеев [и др.].> // Известия вузов. Радиофизика. - 2014. - Т. 57, № 8/9. - С. 711-727 : 7 рис., табл. 2. - Библиогр.: с. 726-727 (33 назв. ) . - ISSN 0021-3462
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): голограммы Френеля -- Френеля голограммы -- дифракционная эффективность -- изображения -- оптическое восстановление -- цифровые голограммы Аннотация: Получены оценки дифракционной эффективности и качества изображений при оптическом восстановлении цифровых голограмм, выводимых на пространственно-временные модуляторы света с числом градаций яркости 2 и 256. Получены зависимости указанных параметров от отношения интенсивностей объектной и опорной волн при записи цифровых голограмм. Для моделирования оптического восстановления изображений использовались численно синтезированные цифровые голограммы Френеля. По результатам анализа определены отношения интенсивностей объектной и опорной волн, при которых получаются наилучшие соотношения дифракционной эффективности и качества оптически восстанавливаемых изображений при использовании для вывода голограмм как амплитудных, так и фазовых пространственно-временных модуляторов света. Доп.точки доступа: Евстигнеев, Н. Н.; Стариков, С. Н.; Черемхин, П. А.; Курбатова, Е. А.; МИФИ. Национальный исследовательский ядерный университет; МИФИ. Национальный исследовательский ядерный университет; МИФИ. Национальный исследовательский ядерный университет; МИФИ. Национальный исследовательский ядерный университет |
539.21:537 Ш 481 Шепелевич, В. В. Смешанные пропускающие голограммы в фоторефрактивном пьезокристалле Bi[12] Ti O[20] / В. В. Шепелевич, А. В. Макаревич, С. М. Шандаров> // Письма в "Журнал технической физики". - 2014. - Т. 40, вып. 22. - С. 83-89 : ил. - Библиогр.: с. 89 (12 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): голограммы -- фоторефрактивные пьезокристаллы -- экспериментальные исследования -- зависимости -- дифракционная эффективность -- кристаллы -- результаты экспериментов -- фазовые голографические решетки -- амплитудные решетки Аннотация: Проведено экспериментальное исследование зависимости дифракционной эффективности ненаклонных пропускающих голограмм, сформированных в фоторефрактивном пьезокристалле Bi[12]TiO[20] среза (110), от ориентационного угла кристалла. Показано, что для теоретического объяснения полученных экспериментальных результатов необходимо предположить наличие в кристалле наряду с фазовыми голографическими решетками амплитудных решеток. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2014/22/p83-89.pdf Доп.точки доступа: Макаревич, А. В.; Шандаров, С. М.; Мозырский государственный педагогический университет им. И. П. Шамякина (Беларусь); Мозырский государственный педагогический университет им. И. П. Шамякина (Беларусь)Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники |