16:316 К 682 Королев, С. А. Трудкоммуна. Фабрика автоматической дисциплины [Текст] / С. А. Королев // Философские науки. - 2003. - N1 . - ISSN XXXX-XXXX
Рубрики: Философия--Социальная философия Кл.слова (ненормированные): властное пространство -- власть -- воспитание -- воспитание дисциплины -- генетика власти -- дисциплина -- дисциплинарное пространство -- механизмы власти -- пространство власти -- российское властное пространство -- трудкоммуны -- трудовые коммуны -- формирование дисциплины Аннотация: Подняты вопросы генетики механизмов власти и особенностей российского властного пространства. В качестве идеальной модели властного механизма и наиболее значимого эксперимента в области формирования дисциплины как типа власти и создания дисциплинарного пространства рассмотрена Харьковская детская трудовая коммуна им. Ф.Э. Дзержинского, руководимая А.С. Макаренко. Доп.точки доступа: Макаренко, А.С. |
Королев, С. А. Истоки дедовщины: двухмассовая система как технологическая модель [Текст] / С. А. Королев // Философские науки. - 2003. - N6. - Окончание следует . -
Рубрики: Философия--Социальная философия Кл.слова (ненормированные): армия -- властные микросоциумы -- властные отношения -- власть -- военные учебные заведения (микросоциум) -- дедовщина -- дисциплинарное пространство -- микрокосмы -- микрокосмы власти -- микросоциумы -- милитарные микросоциумы -- неуставные отношения -- политическая философия -- российская армия -- российские микросоциумы -- социальные проблемы -- типология власти -- философия власти Аннотация: Рассмотрено военное учебное заведение (кадетский корпус и т.п.) в качестве микрокосма власти как перспективная исследовательская модель в осмыслении дедовщины в российской армии. |
Королев, С. А. Истоки дедовщины: двухмассовая система как технологическая модель [Текст] / С. А. Королев // Философские науки. - 2003. - N7. - Продолж. Начало: N6 . -
Рубрики: Философия--Социальная философия Кл.слова (ненормированные): армия -- властная нормализация -- властное пространство -- властные микросоциумы -- властные отношения -- власть -- военные учебные заведения (микросоциум) -- двухмассовая система -- дедовщина -- дисциплина -- дисциплинарное пространство -- исследования -- исследовательские модели -- истоки дедовщины -- микрокосмы -- микрокосмы власти -- микросоциумы -- наказания -- неуставные отношения -- нормализация Аннотация: Рассмотрено военное учебное заведение (кадетский корпус и т.п.) в качестве микрокосма власти как перспективная исследовательская модель в осмыслении дедовщины в российской армии. |
Королев, С. А. Истоки дедовщины: двухмассовая система как технологическая модель [Текст] / С. А. Королев // Философские науки. - 2003. - N8. - Окончание. Начало: N6 . -
Рубрики: Философия--Социальная философия Кл.слова (ненормированные): микросоциумы -- военные учебные заведения -- армия -- российская армия -- дедовщина -- неуставные отношения -- дознание -- практика дознания -- дисциплина -- власть -- технология власти -- пространство власти -- властное пространство -- властные отношения -- микрокосмы власти -- дисциплинарное пространство -- наказания -- телесные наказания -- насилие -- выплески насилия Аннотация: Рассмотрено военное учебное заведение (кадетский корпус и пр.) в качестве микрокосма власти как перспективная исследовательская модель в осмыслении дедовщины в российской армии. |
(2010) [Материалы "круглого стола"] [Текст] / : В. А. Луков, С. А. Королев, П. С. Гуревич // Вестник аналитики. - 2010. - N 2. - С. 89-111
Рубрики: Политика. Политология Философия и общая теория политики Кл.слова (ненормированные): власть -- властные структуры -- политическая философия -- коррупция -- политики -- круглые столы Аннотация: На заседании "круглого стола" обсуждались вопросы: что такое "власть и реальность" как философская проблема; почему властители нередко оказываются в иллюзорной реальности; как можно устранить дистанцию между властью и реальностью? Доп.точки доступа: Луков, В. А. (доктор философских наук, профессор) \.\; Королев, С. А. (доктор философских наук) \.\; Гуревич, П. С. (доктор философских наук, профессор) \.\ |
321.01 М 517 Меняющаяся социальность: контуры будущего [Текст] : круглый стол журнала "Полис" и Института философии РАН // Полис: Политические исследования. - 2011. - N 1. - С. 97-121 . - ISSN 0321-2017
Рубрики: Политика. Политология Философия и общая теория политики Кл.слова (ненормированные): глобальный капитализм -- социализм -- социальность -- социал-демократия -- модернизация -- неокапитализм -- антропология человека -- политические прогнозы -- круглые столы Аннотация: Прогнозирование альтернативных вариантов, которые могут придти на смену капитализму и социализму в меняющейся реальности. Доп.точки доступа: Федотова, В. Г. \.\; Колпаков, В. А. \.\; Федотова, Н. Н. \.\; Любимцев, К. В. \.\; Королев, С. А. \.\; Петренко, Н. С. \.\; Веряскина, В. П. \.\; Сиземская, И. Н. \.\; Власова, В. Б. \.\; Канарш, Г. А. \.\; Крылова, Г. А. \.\; Пантин, И. К. \.\ |
1:316 К 682 Королев, С. А. Коммунальные структуры переходного времени [Текст] : власть вне контроля? / С. А. Королев // Россия и современный мир. - 2003. - N 2. - С. 123-132. - Библиогр.: с. 131-132 (8 назв. )
Рубрики: Социальная философия Общество как социальная реальность Кл.слова (ненормированные): коммунальные квартиры -- коммуналки -- повседневность -- жилищно-бытовое пространство -- социальная трансформация -- универсальные формы телесности -- микрокосмы Аннотация: Советская коммунальная квартира как социальный институт. |
338.24 К 682 Королев, С. А. Постсоветская фирма как микросоциум власти [Текст] / С. А. Королев // Россия и современный мир. - 2011. - N 3. - С. 69-84. - Библиогр.: с. 84 . - ISSN 1726-5223
Рубрики: Экономика Внутрифирменное управление. Менеджмент Кл.слова (ненормированные): коммерческая фирма -- производственные отношения -- управление предприятиями -- производственная дисциплина -- субординация -- организация труда -- офисный планктон -- корпоративная культура -- дисциплинарные технологии -- менеджмент -- дисциплинарные структуры -- санкции -- штрафы -- дисциплинарные механизмы -- дисциплина Аннотация: Постсоветская фирма рассматривается как специфическая дисциплинарная структура. |
1:316 К 682 Королев, С. А. Власть и повседневность [Текст] : социально-философский взгляд / С. А. Королев // Россия и современный мир. - 2008. - N 3. - С. 49-73. - Библиогр. в сносках . - ISSN 1726-5223
Рубрики: Социальная философия Общественные отношения Кл.слова (ненормированные): социальная философия -- власть -- общество -- макротехнологии -- социум -- повседневность -- бюрократия -- социокультурное сопротивление -- диссидентство -- социальная эпистемология -- социокультурное регулирование -- социальные отношения -- гиперномия Аннотация: Стремясь найти подходы к анализу общественной жизни в СССР и России с позиции социального философа, автор обращает внимание на проблематику влияния власти на советскую и российсую повседневность. |
323(470+571) Т 150 Такие разные России : круглый стол журнала "Полис" и сектора социальной философии ИФ РАН / Н. Н. Федотова [и др.]. Ч. 2 // Полис: Политические исследования. - 2013. - № 3. - С. 87-112. - Библиогр. в конце ст. . - ISSN 0321-2017
Рубрики: Политика. Политология Внутреннее положение. Внутренняя политика России в целом Кл.слова (ненормированные): модернизация -- капитализация -- модернизационная политика -- российская модернизация -- российское общество -- регионы -- китайская модернизация -- выборы -- круглые столы Аннотация: Круглый стол посвящен проблемам российской модернизации на современном этапе. Обсуждались такие вопросы, как региональные различия в развитии и модернизационном потенциале России, культурные предпосылки и препятствия инновационному прорыву, опыт других стран и возможность его применения в отечественной практике. Доп.точки доступа: Федотова, Н. Н.; Сиземская, И. Н.; Дмитриев, А. В.; Королев, С. А.; Колпаков, В. А.; Канарш, Г. Ю.; Петренко, Н. С.; Шабанов, Д. С.; Олейников, Ю. В.; Кузнецов, Д. А.; Ламажаа, Ч. К.; Чугров, С. В.; Федотова, В. Г. |
539.26 И 889 Исследование многослойных полупроводниковых SiGe-структур методами рентгеновской дифрактометрии, малоугловой рефлектометрии и масс-спектрометрии вторичных ионов / П. А. Юнин [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 12. - С. 1580-1585 : ил. - Библиогр.: с. 1584-1585 (14 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): многослойные полупроводниковые структуры -- SiGe/Si -- рентгеновская дифрактометрия -- метод рентгеновской дифрактометрии -- РД -- малоугловая рефлектометрия -- метод малоугловой рефлектометрии -- МУР -- вторично-ионная масс-спектрометрия -- ВИМС -- метод вторично-ионной масс-спектрометрии -- масс-спектроскопия вторичных ионов -- вторичные ионы -- матричные эффекты -- рентгеновское излучение -- артефакты ионного распыления -- ионное распыление -- травление -- результаты анализа -- гетероэпитаксиальные структуры Аннотация: В рамках данной работы проведено исследование многослойной непериодической структуры SiGe/Si методами рентгеновской дифрактометрии, малоугловой рефлектометрии и вторично-ионной масс-спектрометрии. Особое внимание уделяется обработке измеренного профиля распределения состава в методе вторично-ионной масс-спектрометрии и учету наиболее существенных экспериментальных искажений, создаваемых методом. Предложена методика обработки измеряемого профиля распределения состава с последовательным учетом влияния матричных эффектов, вариации скорости травления и артефактов ионного распыления. Результаты такой обработки сравниваются с моделью структуры, полученной при совместном анализе данных рентгеновской дифрактометрии и малоугловой рефлектометрии. Установлено хорошее соответствие между результатами. Показано, что совместное использование независимых методов позволяет усовершенствовать методики вторично-ионной масс-спектрометрии и малоугловой рефлектометрии применительно к анализу многослойных гетероэпитаксиальных структур, повысить их точность и информативность. Multilayered nonperiodic SiGe/Si structure is studied by X-ray diffractometry (XRD), grazing incidence X-ray reflectometry (XRR) and secondary ions mass spectrometry (SIMS). Special attention is given to the processing of measured SIMS depth profile and allowance for the most significant experimental distortions of the actual profile. The special method of SIMS profile processing is proposed. It takes into account matrix effects, sputtering rate compositional dependence, and profile broadening induced by ion sputtering. The result of such processing procedure is compared with the model, obtained by joint analysis of the XRD and XRR data. Good correspondence of the SIMS and X-ray analysis data is demonstrated. It is shown that joint use of the independent techniques can improve the relevancy and the accuracy of the multilayered structures analysis. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/12/p1580-1585.pdf Доп.точки доступа: Юнин, П. А.; Дроздов, Ю. Н.; Дроздов, М. Н.; Королев, С. А.; Лобанов, Д. Н.; Институт физики микроструктур Российской академии наук (Нижний Новгород); Институт физики микроструктур Российской академии наук (Нижний Новгород); Институт физики микроструктур Российской академии наук (Нижний Новгород); Институт физики микроструктур Российской академии наук (Нижний Новгород); Институт физики микроструктур Российской академии наук (Нижний Новгород)Нанофизика и Наноэлектроника, симпозиум (2013 ; Нижний Новгород) |
550.34 С 862 Строение литосферы в зоне сочленения мегаблоков Восточно-Европейской платформы по данным функции приемника / И. А. Санина [и др.] // Доклады Академии наук. - 2014. - Т. 456, № 3, май. - С. 338-341 : 4 рис. - Библиогр. : с. 341 (13 назв.) . - ISSN 0869-5652
Рубрики: Геофизика Сейсмология Кл.слова (ненормированные): методы функции приемника -- сейсмические методы -- глубинные разрезы -- строение земной коры -- строение верхней мантии Аннотация: Приведены первые результаты определения скоростного разреза литосферы 250-300 км. Доп.точки доступа: Санина, И. А.; Королев, С. А.; Косарев, Г. Л.; Ризниченко, О. Ю. |
539.2 И 883 Использование связанных параметров в рентгенодифракционном анализе многослойных структур с учетом времени роста слоев / П. А. Юнин [и др.]. // Журнал технической физики. - 2014. - Т. 84, № 3. - С. 94-98. - Библиогр.: c. 98 (6 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): рентгенодифракционный анализ -- анализ рентгенодифракционных спектров -- многослойные структуры -- рентгенодифракционные спектры -- время роста слоев -- программы обработки спектров -- Bruker DIFFRAC -- вторично-ионная масс-спектрометрия -- просвечивающая электронная микроскопия -- дифрактометры Аннотация: Обсужден новый подход к анализу рентгенодифракционных спектров многослойных структур. Особенностью подхода является использование информации о временах роста отдельных слоев. При этом по сравнению с обычной процедурой анализа уменьшается число варьируемых параметров. Повышаются стабильность и скорость сходимости процедуры подгонки вычисленного спектра к экспериментальному даже в случае большого числа слоев и малоинформативного эксперимента. Подход реализован за счет наложения связей на параметры модели при расчете спектра в программе Bruker DIFFRAC. На примере многослойной SiGe/Si-структуры проведено сравнение нового подхода с обычной процедурой. Корректность нового подхода подтверждена сравнением с данными вторично-ионной масс-спектрометрии и просвечивающей электронной микроскопии. Обсуждены преимущества и ограничения предлагаемого метода. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2014/03/p94-98.pdf Доп.точки доступа: Юнин, П. А.; Дроздов, Ю. Н.; Дроздов, М. Н.; Новиков, А. В.; Юрасов, Д. В.; Захаров, Н. Д.; Королев, С. А.; Институт физики микроструктур РАН; Институт физики микроструктур РАН; Институт физики микроструктур РАН; Институт физики микроструктур РАН; Институт физики микроструктур РАН; Институт физики микроструктур общества Макса Планка; Институт физики микроструктур РАН |
621.382 В 780 Востоков, Н. В. Применение низкобарьерных структур металл-полупроводник-металл для детектирования микроволновых сигналов / Н. В. Востоков, С. А. Королев, В. И. Шашкин // Журнал технической физики. - 2014. - Т. 84, № 7. - С. 91-95. - Библиогр.: c. 95 (20 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): низкобарьерные структуры -- металл-полупроводник-металл -- микроволновые сигналы -- детектирование микроволновых сигналов -- сверхвысокочастотные сигналы -- терагерцовые диапазоны -- вертикальные структуры -- планарные структуры -- диоды Мотта -- Мотта диоды -- MIM-структуры -- MSM-структуры Аннотация: Предложены новые конструкции чувствительных элементов на основе несимметричных низкобарьерных структур металл-полупроводник-металл, предназначенные для регистрации сигналов сверхвысокочастотного или терагерцового частотных диапазонов. Рассмотрена вертикальная структура с отличающимися высотами барьеров двух переходов металл-полупроводник и планарная структура с отличающимися площадями переходов. Показано, что характеристики чувствительного элемента на основе вертикальной структуры превосходят аналогичные характеристики детекторного низкобарьерного диода Мотта. Планарный чувствительный элемент имеет сравнимые с диодом характеристики по чувствительности, но проще в изготовлении. Рассчитаны характеристики детектора на основе планарной низкобарьерной структуры, включенной в широкополосную антенну. Определены достижимые значения чувствительности в полосе 1 THz. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2014/07/p91-95.pdf Доп.точки доступа: Королев, С. А.; Шашкин, В. И.; Институт физики микроструктур РАН; Институт физики микроструктур РАННижегородский государственный университет им. Н. И. Лобачевского |