621.38 К 903 Куликов, В. Д. Ток проводимости в структуре металл-диэлектрик-металл [Текст] / В. Д. Куликов // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 10. - Библиогр.: c. 127 (9 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника Кл.слова (ненормированные): металл-диэлектрик металл (структура) -- поверхностный заряд -- ток проводимости Аннотация: Рассмотрен процесс протекания тока проводимости в структуре металл-диэлектрик-металл при рентгено- и фотовозбуждении. Исследовано накопление положительного заряда у отрицательного электрода в кристаллах KBr, CsI. Для оценки величины приповерхностного заряда предложена методика рентгено- и фоторазрядного тока. Показано, что значения заряда, переносимого током проводимости и измеренного по сигналу разрядного тока, удовлетворительно совпадают. Сделаны оценки времени жизни приповерхностных зарядов дырок и анионных вакансий, значения напряженности электрического поля на переходе металл-диэлектрик. Предполагается, что электронейтральность образца устанавливается за счет движения электронов с поверхности в объем по дислокациям. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/10/page-122.html.ru |
535-31 В 586 Влияние ультрафиолетового излучения на процессы "медленной" релаксации в сегнетоэлектрических конденсаторах [Текст] / А. Б. Козырев [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 12. - С. 1-7 : ил. - Библиогр.: с. 6-7 (13 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Ультрафиолетовые лучи Энергетика Конденсаторы Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрические конденсаторы -- излучение -- ультрафиолетовое излучение -- коротковолновое излучение -- ультрафиолетовые диапазоны -- мощность -- медленная релаксация -- процессы релаксации -- остаточная поляризация -- сегнетоэлектрические пленки -- параэлектрическое состояние -- экспериментальные данные -- время релаксации -- ток проводимости -- УФ-излучение -- механизм релаксации -- УФ-облучение -- ультрафиолетовое облучение Аннотация: Исследовано влияние коротковолнового излучения ультрафиолетового диапазона (lambda=340 nm) различной мощности (0. 001-0. 15 mW) на подавление процессов медленной релаксации остаточной поляризации в сегнетоэлектрических пленках Ba[x]Sr[1-x]TiO[3] в параэлектрическом состоянии. Представлены экспериментальные данные о времени релаксации емкости и токе проводимости сегнетоэлектрических конденсаторов под действием УФ-излучения. Обнаружен механизм релаксации с временем порядка 1 s, на который УФ-облучение не влияет. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/12/p1-7.pdf Доп.точки доступа: Козырев, А. Б.; Алтынников, А. Г.; Гагарин, А. Г.; Гайдуков, М. М. |