537.533 Б 912 Бурачевский, Ю. А. Генерация электронных пучков в форвакуумной области давлений [Текст] / Ю. А. Бурачевский, В. А. Бурдовицин [и др.] // Известия вузов. Физика. - 2001. - Т.44,N9. - Библиогр.: с.89 (10 назв.). - Плазменная эмиссионная электроника (тематический выпуск) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): электронные пучки -- разряды -- плазма -- пробой Аннотация: В настоящей статье излагаются результаты исследований по получению электронных пучков в области давлений газа 0,01-0,1 Торр. Этот диапазон давлений достижим применением только механических средств откачки, что и обусловило интерес к проблеме. Для генерации пучка использовался плазменный источник на основе разряда с полым катодом в сочетании с плоскопараллельным ускоряющим промежутком. Особенности эмиссии и ускорения электронов в указанной области давлений связаны с высокой вероятностью ионизации газа в ускоряющем промежутке и формированием потока ионов навстречу электронному пучку. Это вызывает снижение напряжения горения разряда, а также рост концентрации плазмы в области эмиссии. Установлены два типа пробоя ускоряющего промежутка: межэлектродный и в системе плазма - электрод. разработанная конструкция электронного источника позволила получать пучки цилиндрического сечения с токами до 1 а и энергией до 10 кэВ Доп.точки доступа: Бурдовицин, В.А.; Куземченко, М.Н.; Мытников, А.В.; Окс, Е.М. |
537.533 Б 912 Бурдовицин, В. А. Параметры "Плазменного листка", генерируемого ленточным электронным пучком в форвакуумной области давлений [Текст] / В. А. Бурдовицин, Е. М. Окс, М. В. Федоров // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 3. - Библиогр.: С. 77 ( 10 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): параметры плазменного листка -- плазменный листок -- ионизированные процессы Аннотация: Показано, что характер распеределения параметров образуемой плазмы обусловлен соответсвующим распределением плотности электронного тока по сечению пучка, а сами параметры существенно зависят также от давления газа и величины электромагнитного поля. Доп.точки доступа: Окс, Е. М.; Федоров, М. В. |
537.533 А 500 Алиев, А. А. Исследования состава и профиля распределения неконтролируемых примесей молибдена, получаемого различными технологиями, методами электронной оже-спектроскопии и вторичной ионной масс- спектрометрии [Текст] / А. А. Алиев, Т. Кодиров // Радиотехника и электроника. - 2002. - Т.47,N4 . - ISSN 0033-8494
Кл.слова (ненормированные): газовые пузырьки -- масс-спектрометрия -- оже-спектроскопия -- порошек молибдена Аннотация: Исследованы состав элементов, их профиль распределения и химические состояния образцов из порошка молибдена, полученных различными технологическими способами, методом электронной оже- спектроскопии и вторичной ионной масс-спектрометрии. Проведено сопоставление оже-спектров образцов из порошка молибдена, полученных двумя методами: гидрометаллургическим и плазменным. Перейти: http//www/malk.ru Доп.точки доступа: Кодиров, Т. |
537.533 С 953 Сыровой, В. А. Оптимизация параметров элекронного потока на коллекторе на основе геометризованной теории плотных пучков [Текст] / В. А. Сыровой // Радиотехника и электроника. - 2002. - N1 . - ISSN 0033-8494
Кл.слова (ненормированные): геометрия коллектора -- моделирование -- плотность тока -- элекронный поток Аннотация: На основе геометризованной теории высших приближений показано, что требования минимизации отклонений от равномерной плотности тока, эквипотенциальности собирающей поверхности и ее цилиндричности при нормальном падении электронов приводят к трем различным функционалам, на совместном исследовании которых должна базироваться оптимизация геометрии коллектора и параметров электронного потока на нем. Перейти: http://www.maik.ru |
537.533 К 22 Карелин, А. В. Результаты численного моделирования динамики развития открытого разряда [] / А. В. Карелин, А. Р. Сорокин // Физика плазмы. - 2005. - Т. 31, N 6. - С. 567-571. - Библиогр.: с. 571 (21 назв. ). - ил.: 2 рис. . - ISSN 0367-2921
Рубрики: Физика--Ядерная физика Кл.слова (ненормированные): плазма -- открытый разряд -- фотоэмиссия -- численное моделирование разрядов -- эмиссия электронов Аннотация: Основной вклад в эмиссию электронов с катода дает его бомбардировка быстрыми тяжелыми частицами, а вклад фотоэмиссии оказывается пренебрежимо малым. В типичных условиях открытого разряда (давление гелия 4 кПА, амплитудное значение напряжения 7, 4 кВ) получены следующие парциальные вклады основных процессов, участвующих в развитии разряда: атом-электронная эмиссия- 96 %; размножение электронов в разрядном промежутке - 2, 3 %; ион-электронная эмиссия - 1, 7 . Доп.точки доступа: Сорокин, А. Р. |
539.2 А 46 Александров, Н. Л. Экспериментальное и теоретическое исследование свойств квазистационарной электронно-пучковой плазмы в нагретом аргоне [] / Н. Л. Александров, М. Н. Васильев, С. Л. Лысенко, А. Х. Махир // Физика плазмы. - 2005. - Т. 31, N 5. - С. 466-477. - Библиогр.: с. 477 (31 назв. ). - ил.: 10 рис. . - ISSN 0367-2921
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): плазма -- электронно-пучковая плазма -- плотность плазмы -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод Аннотация: С помощью открытого бочкообразного СВЧ-резонатора измерена плотность плазмы. В рассматриваемых условиях газовая температура в несколько раз превышает комнатную. Для условий эксперимента самосогласованным образом осуществлено моделирование распределения электронного пучка (методом Монте-Карло) , теплопереноса и кинетических процессов в плазме. Доп.точки доступа: Васильев, М. Н.; Лысенко, С. Л.; Махир, А. Х. |
537.533 К 492 Климов, А. С. Локализация плазмы в протяженном полом катоде плазменного источника ленточного электронного пучка в форвакуумной области давлений [Текст] / А. С. Климов, В. А. Бурдовицин, Е. М. Окс // Известия вузов. Физика. - 2007. - Т. 50, N 6. - С. 3-9. - Библиогр.: c. 9 (13 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): ленточный электронный пучок -- локализация плазмы -- модель образования неоднородности в полом катоде -- плазма -- плазменный источник ленточного электронного пучка -- полый катод -- протяженный полый катод -- форвакуумная область давлений -- щелевидная апертура -- электронный пучок Аннотация: Представлены результаты исследования распределения плотности плазмы в щелевидной апертуре протяженного полого катода прямоугольной формы, применяемого в плазменном источнике ленточного электронного пучка, функционирующего в форвакуумной области давлений (1-10 Па). Показано, что при уменьшении ширины щели в некоторой области щелевидной апертуры возникает локальный максимум плотности плазмы. При формировании ленточного пучка это становится причиной появления участка с повышенной плотностью тока. Неоднородность плотности тока пучка усиливается за счет обратного ионного потока, степень влияния которого на эмиссионные свойства плазмы оказывается существенной в области повышенных давлений. Предложена модель образования неоднородности в полом катоде, основанная на представлении о преимущественном протекании электронного тока на участках щелевидной апертуры, определяемых локальным раскрытием ионных оболочек катодного слоя. Доп.точки доступа: Бурдовицин, В. А.; Окс, Е. М. |
537.533 А 391 Акимов, А. Н. Чувствительность пленок PbSnTe: In к субмиллиметровому излучению в условиях полевой инжекции электронов [Текст] / А. Н. Акимов, А. В. Беленчук [и др.] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 12. - С. 18-24 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): PbSnTe: ln -- пленки -- чувствительность пленок -- субмиллиметровое излучение -- полевая инжекция электронов -- излучение электронов Аннотация: На основе представлений об инжекционном характере токов в твердом растворе PbSnTe: In рассмотрены механизмы возникновения фотосигнала в пленках PbSnTe: ln в субмиллиметровой области спектра при гелиевых температурах. Показано, что наличие распределенных по энергии уровней захвата для электронов, определяющих особенности вольт-амперных характеристик, может привести к примесной фотопроводимости. При такой чувствительности к субмиллиметровому излучению ее спектральная зависимость должна быть связана с уровнем инжекции, который определяет заполнение ловушек с разной энергией. Рассмотрен механизм возникновения чувствительности, обусловленный взаимодействием субмиллиметрового излучения с фононной подсистемой PbSnTe: In, что может привести к увеличению статической диэлектрической проницаемости и, как следствие, к увеличению инжекционного тока. Доп.точки доступа: Беленчук, А. В.; Ерков, В. Г.; Климов, А. Э.; Неизвестный, И. Г.; Шаповал, О. М.; Шумский, В. Н. |
537.533 Б 570 Бешенков, В. Г. Методы обработки оже-сигналов при количественной диагностике состава наноструктур [Текст] / В. Г. Бешенков // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 12. - С. 52-56
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): обработка оже-сигналов -- оже-спектры -- количественная диагностика -- наноструктуры Аннотация: Рассмотрены методы обработки последовательности зашумленных оже-спектров, регистрируемых при диагностике состава объектов малого размера (наноструктур) в условиях их выхода из поля анализа в процессе ионного распыления или вследствие дрейфа столика образца. Показано, что предварительное задание направлений проецирования исходных многомерных данных позволяет преодолевать неустойчивость численных алгоритмов математико-статистических методов к экспериментальной погрешности, разделять серии оже-спектров, соответствующих различным составам. |
537.533 Б 683 Блажевич, С. В. Увеличение спектрально-угловой плотности ПРИ в геометрии Лауэ за счет изменения угла между поверхностью мишени и отражающими атомными плоскостями [Текст] / С. В. Блажевич, авт. А. В. Носков // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 3. - С. 62-70 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): параметрическое рентгеновское излучение -- дифрагированное переходное излучение -- спектрально-угловая плотность -- геометрия Лауэ -- Лауэ геометрия -- релятивистские электроны -- монокристаллические пластинки Аннотация: На основе двухволнового приближения динамической теории дифракции рассматривается когерентное рентгеновское излучение релятивистского электрона, пересекающего с постоянной скоростью монокристаллическую пластинку в геометрии рассеяния Лауэ. Получены аналитические выражения, описывающие спектрально-угловое распределение параметрического рентгеновского излучения (ПРИ) и дифрагированного переходного излучения (ДПИ). Рассматривается случай, когда система дифрагирующих атомных плоскостей кристалла расположена под произвольным углом дельта к поверхности кристаллической пластинки (асимметричное отражение). Симметричному отражению в данной геометрии рассеяния соответствует значение дельта = пи/2. Исследована зависимость спектрально-угловой плотности ПРИ, ДПИ от угла дельта. Показано, что ширина спектра ПРИ существенно зависит от данного угла, что позволяет, в частности, значительно повысить угловую плотность ПРИ путем уменьшения угла дельта. Доп.точки доступа: Носков, А. В. |
537.533 З-389 Зацепин, А. Ф. Фотоэмиссионные и люминесцентные свойства кварцевого стекла, имплантированного Cu\{+\}-ионами [Текст] / А. Ф. Зацепин, В. С. Кортов, Н. В. Гаврилов, Д. Ю. Бирюков // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2008. - N 6. - С. 31-34 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): фотостимулированная электронная эмиссия -- люминесценция -- кварцевое стекло -- ионы Cu\{+\} -- Cu\{+\} -- импульсная имплантация ионов -- наночастицы Аннотация: Исследованы особенности фотостимулированной электронной эмиссии и люминесценции кварцевого стекла марки KB после импульсной имплантации ионов Cu\{+\}. Показано, что ионно-лучевая модификация фотоэмиссионных и люминесцентных свойств образцов вызвана формированием радиационных дефектов и размерными факторами, связанными с появлением наночастиц Cu. Доп.точки доступа: Кортов, В. С.; Гаврилов, Н. В.; Бирюков, Д. Ю. |
Балашов, Е. М. Особенности электронного строения несовершенных и взаимодействующих низкоразмерных наночастиц [Текст] / Е. М. Балашов, Г. К. Иванов, Н. Н. Колченко // Химическая физика. - 2008. - Т. 27, N 2. - С. 75-81. - Библиогр.: c. 81 (15 назв. ) . - ISSN 0207-401Х
Рубрики: Естественные науки Общие вопросы естественных наук Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): наноматериалы -- наносистемы -- нанотехнологии -- низкоразмерные наночастицы -- уравнения теории многократного рассеяния -- электронная плотность -- электронные спектры -- энергетические уровни -- энергия Аннотация: Предложен новый метод построения аналитических точно решаемых моделий электронного строения несовершенных и взаимодействующих низкоразмерных наночастиц (НЧ). Доп.точки доступа: Иванов, Г. К.; Колченко, Н. Н. |
Матюхин, С. И. Эффективность отклонения ионов изогнутыми нанотрубками [Текст] / С. И. Матюхин // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 7. - С. 53-61
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): углеродные нанотрубки -- каналирование ионов -- изогнутые нанотрубки -- ионные пучки Аннотация: Представлены результаты исследования каналирования ионов в изогнутых углеродных нанотрубках. Получены простые аналитические выражения для критических параметров каналирования, длины деканалирования и эффективности отклонения ионных пучков изогнутыми нанотрубками. Показано, что эти образования могут с успехом использоваться для управления хорошо сфокусированными ионными пучками нанометровых сечений. |
Ivanov, D. A. Frequency multi-mode lens for atoms and molecules: Application to nanofabrication [Text] / D. A. Ivanov, T. Yu. Ivanova // Письма в журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2009. - Т. 90, вып: вып. 1. - С. 80-84
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): фокусировка атомов -- фокусировка молекул -- многомодовая линза -- стоячие световые волны -- нанолитография -- депонированные структуры Доп.точки доступа: Ivanova, T. Yu. |
Никифоров, К. А. Реконструкция поверхности полевого электронного эмиттера [Текст] / К. А. Никифоров, Н. В. Егоров, Чэ-Чоу Шен // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 10. - С. 100-106. - Материалы XXII Российской конференции по электронной микроскопии
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): методы реконструкции поверхности -- полевые электронные эмиттеры -- модель структуры поверхности -- эмиссионные изображения -- теоретический анализ -- математическое моделирование -- вольт-амперные характеристики Аннотация: Моделируются поверхность и эмиссионные изображения полевого электронного металлического катода в форме острия. Структура поверхности рассчитывается в рамках модели "тонкой оболочки" и "модели оборванных связей" - "локального атомного окружения" для идеальной кристаллической решетки. Форма катода и макроскопическое электрическое поле представляются моделью "сфера на конусе". Коэффициент усиления локального электрического поля является подгоночным параметром модели. Предложен метод определения кристаллографических граней вершины эмиттера, основанный на анализе геометрического окружения атомов поверхности. Показано, что для эмиттера радиусом 100-1000 параметров решетки (31. 6-316 нм для вольфрама) достаточно ограничиться пятым порядком ближайших соседей в рассмотрении геометрического окружения. Используется кристаллографическая модель анизотропии работы выхода в подходе оборванных связей: участку поверхности приписывается значение работы выхода в соответствии с индексами Миллера грани, содержащей данный участок. Адекватность модели подтверждается сравнением вольт-амперных характеристик и эмиссионных изображений с данными натурного эксперимента. Доп.точки доступа: Егоров, Н. В.; Чэ-Чоу Шен; Тайваньский национальный технический университет |
537.533 Л 887 Лысова, Г. В. Анализ влияния энергии межатомного взаимодействия в сплавах V-Fe с разным содержанием железа на процессы сегрегации и распухания после ионного облучения [Текст] / Г. В. Лысова, Г. А. Биржевой, М. И. Захарова // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 5. - С. 619-621. - Библиогр.: c. 621 (4 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): энергия межатомного взаимодействия -- межатомное взаимодействие -- сегрегация -- железо -- сплавы -- распухание -- ионное облучение -- сравнительный анализ -- взаимодействие ионов Аннотация: Представлены результаты сравнительного анализа профилей сегрегации железа вблизи свободной поверхности сплавов V- (2, 5, 7) ат. % Fe после облучения ионами V{+} с энергией 50 кэВ при температуре 30-40 град. С дозами в интервале от 1. 10{19} до 1. 10{21} ион/м[2] и данные об изменении модулей нормальной упругости и величины распухания этих сплавов в зависимости от концентрации в них Fe. Доп.точки доступа: Биржевой, Г. А.; Захарова, М. И. |
537.533 П 640 Потапкин, О. Д. Вытягивание электронов через объективную линзу [Текст] / О. Д. Потапкин, авт. А. А. Мельников // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1554-1557. - Библиогр.: c. 1557 (14 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): комбинированные линзы -- движение электронов -- обобщенный момент импульса электрона -- электростатические линзы -- объективные линзы -- непараксиальные электроны -- оже-электроны Аннотация: Рассматриваются закономерности движения электронов в поле комбинированной линзы, то есть состоящей из электростатической линзы и магнитной, как в случае низковольтного РЭМ. Доп.точки доступа: Мельников, А. А. |
537.533 П 640 Потапкин, О. Д. О работе электронной пушки в режиме освещения по Кёлеру [Текст] / О. Д. Потапкин // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 11. - С. 1562-1566. - Библиогр.: c. 1566 (10 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): электронные пушки -- электронно-оптические модели -- трехэлектродные пушки -- режим освещения Кёлера -- Кёлера режим освещения -- заглубление катода -- параксиальные свойства -- напряжение смещения -- кроссовер Аннотация: Представлены свойства электронно-оптической модели "эквивалентный цилиндр" для описания поведения трехэлектродной пушки в зависимости от напряжения смещения и величины заглубления катода. |
537.533 П 640 Потапкин, О. Д. Модель "эквивалентный цилиндр" для описания поля низковольтной электронной пушки [Текст] / О. Д. Потапкин // Известия РАН. Серия физическая. - 2009. - Т. 73, N 4. - С. 503-507. - Библиогр.: c. 507 (9 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): электронные пушки -- электронно-оптические модели -- кроссовер -- электрод Венельта -- Венельта электрод -- напряжение запирания -- катодные линзы -- напряжение смещения -- эквивалентный цилиндр Аннотация: Рассматриваются вопросы работы пушки в низковольтном режиме. |
537.533 Л 887 Лысова, Г. В. Кинетика радиационно-индуцированной сегрегации в стали после облучения ионами Ni{++} и He{+} [Текст] / Г. В. Лысова, авт. Г. А. Биржевой // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 2. - С. 135-138. - Библиогр.: c. 138 (8 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): взаимодействие ионов -- ионное облучение -- кинетика сегрегации -- радиационно-индуцированная сегрегация -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- сегрегация -- сплавы -- сравнительный анализ -- ферритно-мартенситная сталь Аннотация: Ферритно-мартенситная сталь ЭП-823 (16Х12МВСФБР) облучалась ионами Ni{++} с энергией 7 МэВ в интервале доз от 5x10{18} до 5. 4x10{19} ион/м{2} и ионами He{+} с энергией 30 и 70 кэВ дозами в интервале от 10{20} до 10{21} ион/м{2} при температуре 500 град. С. В результате сравнительного анализа профилей радиационно-индуцированной сегрегации хрома и кремния вблизи поверхности установлена зависимость степени поверхностной сегрегации от повреждающей дозы, скорости создания смещений и концентрации радиационно-индуцированных точечных дефектов. Доп.точки доступа: Биржевой, Г. А. |