Чен, Т. Фокусировка сферической рентгеновской волны одноосно изогнутым кристаллом. Схема Иоганна и логарифмическая спираль [Текст] / Т. Чен // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N6. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): абберации -- изогнутые кристаллы -- рентгеновские волны -- схема Иоганна -- фокусировка Аннотация: Теоретически рассмотрена фокусировка сферической волны в известной схеме Иоганна. Получена аналитическая формула для размера поверхности изогнутого кристалла, дифракционно отражающей излучение в схеме Иоганна. Получена формула распределения интенсивности вблизи фокуса. Проанализирована сферическая аберрация дифрагировавшего пучка. Показано, что аберрация минимизирована при обратном рассеянии. Обсуждены спектральные характеристики спектрометра Иоганна. На основе геометрических представлений рассмотрена фокусировка сферической волны кристалом, изогнутым в форме логарифмической спирали. Показано, что схема Иоганна является частным случаем логарифмической спирали |
Чен, Т. Двумерная лауэ-фокусировка рентгеновского излучения двухкристальной системой [Текст] / Т. Чен // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N6. - Библиогр.: с. 17-18 (27 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): дифракция -- изогнутые кристаллы -- рентгеновские волны -- фокусировка Аннотация: Дано теоретическое описание динамической двумерной фокусировки рентгеновской волны при ее лауэ-дифракции на двухкристальной системе изогнутых кристаллов, отражающие плоскости которых перпендикулярны к поверхности кристаллов. Показано, что двумерная фокусировка обладает высокой чувствительностью к радиусу изгиба кристаллов и к разнотолщинности кристаллов. Проанализировано влияние астигматизма на двумерную лауэ-фокусировку. Получено условие стигматической фокусировки. Обсуждены особенности одномерной фокусировки внутри кристаллов. Рассмотрены спектральные характеристики двухкристального двумерно фокусирующего спектрометра |
Зельцер, И. А. Новые возможности нанодиагностики структуры поверхности с помощью стоячих рентгеновских волн в условиях непрерывного резонансного комбинационного рассеяния рентгеновского излучения [Текст] / И. А. Зельцер, С. А. Кукушкин, Е. Н. Моос // Письма в журнал технической физики. - 2008. - Т. 34, вып: вып. 13. - С. 56-61
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): рентгеновские волны -- спектроскопия поверхности -- конденсированные среды Аннотация: Рассмотрены основные принципы, новые возможности и приборная реализация структурно-чувствительной спектроскопии поверхности конденсированных сред с помощью стоячих рентгеновских волн в случае регистрации эмиссии электронов под действием непрерывного резонансного комбинационного (рамановского) рассеяния рентгеновского излучения. Показано, что перспективы развития и применения новых возможностей метода стоячих рентгеновских волн для исследования поверхности связаны с созданием комплекса экспериментального оборудования и специализированных источников синхротронного излучения. Доп.точки доступа: Кукушкин, С. А.; Моос, Е. Н. |
539.26 Л 557 Лидер, В. В. Метод стоячих рентгеновских волн для диагностики поверхности и нанослоев конденсированных сред (обзор) / рец. В. В. Лидер // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2013. - Т. 79, № 9. - С. 26-35. - Библиогр.: с. 33-35 (81 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): метод стоячих рентгеновских волн -- стоячие волны -- рентгеновские волны -- диагностика поверхности -- диагностика нанослоев -- конденсированные среды -- обзоры -- структурно-чувствительная спектроскопия -- тонкие пленки -- наноструктуры -- вторичное излучение -- флуоресцентное излучение -- дифракция -- кривая дифракционного отражения -- полное внешнее отражение -- интерференция -- пленка Ленгмюра - Блождетт -- Ленгмюра - Блождетт пленка Аннотация: Описан метод стоячей рентгеновской волны - структурно-чувствительная спектроскопия поверхности конденсированных сред и тонких пленок. Рассмотрены основы теории метода и возможности его использования для исследования кристаллических и органических наноструктур. Доп.точки доступа: Учреждение Российской академии наук Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова РАН (Москва) |