Чен, Т. Фокусировка сферической рентгеновской волны одноосно изогнутым кристаллом. Схема Иоганна и логарифмическая спираль [Текст] / Т. Чен // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N6. - Библиогр.: с. 10 (13 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): абберации -- изогнутые кристаллы -- рентгеновские волны -- схема Иоганна -- фокусировка Аннотация: Теоретически рассмотрена фокусировка сферической волны в известной схеме Иоганна. Получена аналитическая формула для размера поверхности изогнутого кристалла, дифракционно отражающей излучение в схеме Иоганна. Получена формула распределения интенсивности вблизи фокуса. Проанализирована сферическая аберрация дифрагировавшего пучка. Показано, что аберрация минимизирована при обратном рассеянии. Обсуждены спектральные характеристики спектрометра Иоганна. На основе геометрических представлений рассмотрена фокусировка сферической волны кристалом, изогнутым в форме логарифмической спирали. Показано, что схема Иоганна является частным случаем логарифмической спирали |
Кристалл-дифракционный спектрометр по Иоганну для измерения малых энергетических смещений рентгеновских линий в области "мягких" энергий [Текст] / А. А. Петрунин [и др. ] // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 2. - С. 42-48 . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физические приборы и методы физического эксперимента Кл.слова (ненормированные): кристалл-дифракционные спектрометры -- малые энергетические смещения -- рентгеновские линии -- спектрометры -- схема Иоганна -- Иоганна схема Аннотация: Описывается созданный в ПИЯФ спектрометр по схеме Иоганна. Прибор предназначен для изучения электронной структуры легких элементов, в частноcти 3d-металлов (начиная со Sc), в их соединениях. Область энергий, на которую он рассчитан, составляет от 4 до 15 keV. Его особенностью является то, что на нем, как и на имеющихся в лаборатории спектрометрах по схеме Кошуа, предусмотрена возможность одновременно измерять химические смещения и другие параметры рентгеновских линий одного и того же элемента в двух соединениях, обладающих особыми физическими свойствами (валентностью, магнитным сопротивлением и другими характеристиками). На этом приборе возможны исследования электронной структуры элементов от Sc до Br на K-серии и от Ba до Pb на L-серии. Исследования в этой области физики твердого тела актуальны и обширны как с экспериментальной, так и с теоретической точки зрения. Доп.точки доступа: Петрунин, А. А.; Совестнов, А. Е.; Тюнис, А. В.; Фомин, Э. В. |