535 П 471 Поздеев, С. В. Эллипсометрический контроль качества поверхности оптического стекла после финишной электронно-лучевой обработки [Текст] / С. В. Поздеев, Г. Н. Дубровская // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 9. - Библиогр.: с. 38 (3 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): качество поверхности -- контроль качества -- неразрушающий контроль -- обработка поверхностей -- оптические стекла -- оптоэлектронные элементы -- стекло (материал) -- шероховатость поверхностей -- электронно-лучевая обработка -- эллипсометрический контроль -- эллипсометрия (метод) Аннотация: Описан способ эллипсометрического экспресс-контроля качества поверхностей оптоэлектронных элементов, полученных в результате электронно-лучевой обработки. Доп.точки доступа: Дубровская, Г. Н. |
52:53 К 170 Калаев, М. П. Экспериментальное моделирование воздействия частиц космического мусора и микрометеороидов на элементы конструкции космических аппаратов [Текст] / М. П. Калаев, Н. Д. Семкин, Л. С. Новиков // Физика и химия обработки материалов. - 2012. - № 3. - С. 30-36 . - ISSN 0015-3214
Рубрики: Астрономия Астрофизика Кл.слова (ненормированные): ускорители частиц -- электродинамические ускорители частиц -- микрометеороиды -- деградация поверхностей -- ударные вспышки -- спектральные коэффициенты пропускания -- индикатрисы рассеяния -- космические аппараты -- бомбардировка высокоскоростными частицами -- оптические стекла -- солнечные батареи -- космический мусор Аннотация: Экспериментально с использованием электродинамического ускорителя частиц изучено изменение оптических и электрофизических свойств поверхностных элементов конструкции космических аппаратов (оптических стекол, структур металл-диэлектрик-металл и солнечных батарей) при бомбардировке высокоскоростными частицами субмикронных и микронных размеров. Доп.точки доступа: Семкин, Н. Д.; Новиков, Л. С. |