678.01:537.311 Х 172 Халина, Т. М. Анализ структуры электропроводящего композиционного материала на основе бутилкаучука для низкотемпературных композиционных электрообогревателей [Текст] / Т. М. Халина // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 10. - Библиогр.: с. 47 (11 назв. ) . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Производства легкой промышленности--Общие вопросы производства легкой промышленности--Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): композиционные материалы -- бутилкаучуки -- композиционные электрообогреватели -- электропроводность -- электрическая проводимость -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия Аннотация: Проведен анализ структуры электропроводящей фазы композиционного материала на основе бутилкаучука с наполнителем в виде дисперсного технического углерода методами оптической микроскопии, растровой и просвечивающей электронной микроскопии. Установлено, что используемая технология производства позволяет обеспечить однородное распределение частиц технического углерода различных структурных уровней в каучуковой матрице. Определены морфология, фазовый состав, субструктура ингредиентов электропроводной резины в различных состояниях, микроструктура композиционного материала, позволяющая сделать вывод о механизмах электрической проводимости. |
Зуев, В. В. Природа жидкокристаллической фазы в супрамолекулярных линейных полимерах [Текст] / В. В. Зуев, С. В. Костромин, С. В. Бронников // Высокомолекулярные соединения. Серия А и Серия Б. - 2008. - Т. 50, N 7. - С. 1284-1289. - Библиогр.: с. 1289 (25 назв. ) . - ISSN 0507-5475
Рубрики: Химия Химия высокомолекулярных соединений Кл.слова (ненормированные): жидкокристаллическая фаза -- линейные полимеры -- ИК-спектроскопия -- оптическая микроскопия -- ЖК-состояния -- бипиридиновые основания -- дикислота Аннотация: Методами ИК-спектроскопии и поляризационной оптической микроскопии изучено формирование ЖК-состояния в расплаве супрамолекулярного линейного ЖК-полимера на основе дикислоты и бипиридинового основания. Доп.точки доступа: Костромин, С. В.; Бронников, С. В. |
Изучение полимерных смесей и композитов методом ИК-спектроскопии. Новый подход [Текст] / С. Д. Хижняк [и др. ] // Высокомолекулярные соединения. Серия А и Серия Б. - 2008. - Т. 50, N 6. - С. 1116-1123. - Библиогр.: с. 1123 (10 назв. ) . - ISSN 0507-5475
Рубрики: Химия Химия высокомолекулярных соединений Кл.слова (ненормированные): полимерные смеси -- композиты -- ИК-спектроскопия -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия Аннотация: Методами ИК-спектроскопии, оптической и электронной микроскопии исследованы распределения по размерам частиц наполнителей в пленках полимерных композитов и смесей. Доп.точки доступа: Хижняк, С. Д.; Маланин, М. Н.; Пахомов, П. М.; Eichhorn, K.-J. |
Использование оптической микроскопии для трехмерной реконструкции ранних эмбрионов млекопитающих [Текст] / А. Г. Погорелов [и др. ] // Доклады Академии наук. - 2004. - Т. 395, N 4. - С. 566-568. - Библиогр.: с. 568 (15 назв. ) . - ISSN 0869-5652
Рубрики: Биология Общая гистология Кл.слова (ненормированные): микроскопия -- оптическая микроскопия -- эмбрионы млекопитающих -- эмбриональные клетки -- бластомеры -- развитие эмбрионов -- зародыши -- реконструкция эмбрионов -- трехмерная реконструкция Аннотация: С использованием стандартных компьютерных приложений, адаптирована технология полутонких срезов для трехмерной реконструкции эмбрионов мыши на ранних стадиях предымплантационного развития. Доп.точки доступа: Погорелов, А. Г.; Кантор, Г. М.; Карнаухов, А. В.; Сахарова, Н. Ю.; Чайлахян, Л. М. |
Огородник, И. В. Особенности фазообразования сложного фосфата K[4]Ti[3]Ni (PO[4]) [6] в раствор-расплавах системы K[2]O-P[2]O[5]-TiO[2]-NiO [Текст] / И. В. Огородник, И. В. Затовский, Н. С. Слободяник // Журнал неорганической химии. - 2007. - Т. 52, N 1. - С. 127-132 : табл. - Библиогр.: с. 131-132 (22 назв. ) . - ISSN 0044-457X
Рубрики: Химия Неорганическая химия Кл.слова (ненормированные): растворы -- расплавы -- растворимость -- оптическая микроскопия -- кристаллические структуры -- кристаллизация -- фосфаты -- фазообразование -- рентгенофазовый анализ Аннотация: Исследованы закономерности кристаллизации сложных фосфатов из растворов в расплавах системы оксид калия-оксид фосфата (V) -оксид титана (IV) -оксид никеля (II). Найдена область и установлены условия фазообразования изоструктурного лангбейниту нового сложного фосфата. Доп.точки доступа: Затовский, И. В.; Слободяник, Н. С. |
Карпенко, М. А. In situ исследование электросополимеризации акриламида, формальдегида и N, N"-метиленбисакриламида [Текст] / М. А. Карпенко, А. А. Карпенко, Л. Г. Колзунова // Электрохимия. - 2007. - Т. 43, N 10. - С. 1206-1213 : 9 рис. - Библиогр.: с. 1213 (7 назв. ) . - ISSN 0424-8570
Рубрики: Химия Органическая химия Кл.слова (ненормированные): электросополимеризация -- формальдегид -- акриламид -- постполимеризация -- оптическая микроскопия -- in situ полимеризация -- кинетика пленкообразования Аннотация: Впервые обнаружен и исследован характер возникновения анизотропных механических напряжений в полимерной пленке в ходе электрополимеризации. Доп.точки доступа: Карпенко, А. А.; Колзунова, Л. Г. |
Столина, А. Е. Гранулометрический анализ порошка кремния [Текст] / А. Е. Столина, Н. В. Пименова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 2. - С. 31-34. - Библиогр.: с. 5 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Экспериментальные методы и аппаратура оптики Химия Грубодисперсные системы Кл.слова (ненормированные): гранулометрический анализ -- порошок кремния -- оптическая микроскопия -- микроскопия -- диспергирование порошка -- метод лазерной дифракции -- лазерная дифракция -- дифракция -- порошковые материалы -- металлографический метод -- фотоседиментационный анализ Аннотация: Представлены результаты определения гранулометрического состава порошка кремния методом оптической микроскопии. Доп.точки доступа: Пименова, Н. В. |
Ежов, А. Как рассмотреть нанообъект в оптический микроскоп [Текст] / А. Ежов // Квант. - 2010. - N 2. - С. 22-25, 35 : 6 рис. . - ISSN 0130-2221
Рубрики: Физика Оптика в целом Кл.слова (ненормированные): оптические приборы -- оптические микроскопы -- нанообъекты -- методы различия частей нанообъектов -- сканирующая оптическая микроскопия ближнего поля -- электромагнитные поля -- концентрация полей -- оптическая микроскопия Аннотация: О принципах действия оптических микроскопов, о методах получения информации о различных частях нанообъекта. |
Жаропрочность и поля внутренних напряжений в теплоустойчивых сталях [Текст] / А. Н. Смирнов [и др. ] // Контроль. Диагностика. - 2009. - N 2. - С. 45-51. - Библиогр.: с. 51 (16 назв. ) . - ISSN 0201-7032
Рубрики: Техника Материаловедение Технология металлов Металловедение в целом Кл.слова (ненормированные): жаропрочность сталей -- внутренние напряжения -- теплоустойчивые стали -- неразрушающий контроль -- предельное состояние сталей -- оптическая микроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопия -- растровая микроскопия -- рентгеноструктурный анализ -- испытания на ползучесть -- испытания на прочность -- длительная прочность -- отводы -- сварные соединения -- аварийные разрушения Аннотация: Разработан неразрушающий метод оценки предельного состояния жаропрочных сталей, эксплуатирующихся длительное время в сложных, напряженных условиях. Доп.точки доступа: Смирнов, А. Н.; Муравьев, В. В.; Фольмер, С. В.; Кононов, П. В.; Медведев, С. Н. |
Стабилизация водной эмульсии жидкого кристалла методом последовательной адсорбции полиэлектролитов и наночастиц магнетита [Текст] / А. В. Садовой [и др. ] // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 2. - С. 87-94 : ил. - Библиогр.: с. 94 (17 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Оптические свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): стабилизация водной эмульсии -- водная эмульсия -- жидкие кристаллы -- последовательная адсорбция -- полиэлектролиты магнетита -- наночастицы магнетита -- магнетиты -- дисперсные фазы -- нанокомпозитные микрокапсулы -- оптическая микроскопия -- оптическая спектроскопия -- комбинационное рассеяние -- постоянное магнитное поле -- модификация дисперсной фазы Аннотация: Представлена методика модификации дисперсной фазы эмульсии жидкий кристалл/вода посредством последовательной адсорбции полиэлектролитов и наночастиц магнетита, таким образом, созданы заполненные жидким кристаллом нанокомпозитные микрокапсулы. Полученные объекты исследованы методами оптической микроскопии и спектроскопии комбинационного рассеяния. Продемонстрирована возможность перемещения заполненных ЖК нанокомпозитных микрокапсул под действием постоянного магнитного поля. Доп.точки доступа: Садовой, А. В.; Браташов, Д. Н.; Ященок, А. М.; Свенская, Ю. И.; Сухоруков, Г. Б.; Горин, Д. А. |
Интерферометрический зонд для систем ближнепольной оптической микроскопии [Текст] / Ю. Н. Кульчин [и др. ] // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 13. - С. 31-37 : ил. - Библиогр.: с. 37 (9 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Геометрическая оптика. Оптические приборы Кл.слова (ненормированные): интерферометрические зонды -- микроскопия -- оптическая микроскопия -- ближнепольная оптическая микроскопия -- системы ближнепольной оптической микроскопии -- апертурные зонды -- ближнепольные апертурные зонды -- интерферометрические ближнепольные апертурные зонды -- микрорезонаторы -- волоконные микрорезонаторы -- интерферометры -- интерферометр Фабри - Перо -- Фабри - Перо интерферометр -- наноразмерные диафрагмы -- метод конечных разностей -- временные области -- длины волн -- нанодиафрагмы -- исследуемые объекты Аннотация: Исследована возможность создания нового вида интерферометрического ближнепольного апертурного зонда для систем ближнепольной оптической микроскопии с применением волоконного микрорезонатора Фабри-Перо с наноразмерной диафрагмой, сформированной в одном из его выходных зеркал. На основе метода конечных разностей во временной области исследована зависимость величины сдвига резонансных длин волн в интерферометре Фабри-Перо от расстояния между выходной нанодиафрагмой и исследуемым объектом. Показано, что метод обеспечивает пространственное разрешение не хуже чем lambda/15. Доп.точки доступа: Кульчин, Ю. Н.; Витрик, О. Б.; Безвербный, А. В.; Дышлюк, А. В.; Кучмижак, А. А. |
Демьянец, Л. Н. Берилл: регенерационный рост кристаллов и морфология поверхностей регенерации [Текст] / Л. Н. Демьянец, А. К. Иванов-Шиц // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 11. - С. 50-56
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): берилл -- регенерация монокристаллов -- рентгенография -- оптическая микроскопия -- гониометрия -- атомно-силовая микроскопия -- фрактальный анализ Аннотация: Исследованы особенности регенерационного роста монокристаллов окрашенных разновидностей берилла - изумруда и биксбита, выращенных в гидротермальных условиях. Проанализированы габитус и кристаллографические особенности огранения кристаллов на затравках разных ориентаций. Исследована микроморфология ростовых поверхностей кристаллов изумруда и биксбита методами оптической и атомно-силовой микроскопии. Оценена фрактальная размерность поверхностей регенерации монокристаллов берилла. Доп.точки доступа: Иванов-Шиц, А. К. |
Особенности структуры диффузионных слоев, образующихся при растекании расплавов AI-Si по стали Ст3 [Текст] / И. Г. Бродова [и др. ] // Физика металлов и металловедение. - 2010. - Т. 109, N 6. - С. 665-670. - Библиогр.: с. 670 (10 назв. ) . - ISSN 0015-3230
Рубрики: Технология металлов Металловедение в целом Кл.слова (ненормированные): силумин -- стали -- алюминий -- кремний -- растекание -- расплавы -- диффузионные слои -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия Аннотация: Средствами оптической и электронной микроскопии изучена микроструктура диффузионных слоев, образующихся при растекании расплавов Al-12% Si и Al-20% Si по стали Ст3. Доп.точки доступа: Бродова, И. Г.; Чикова, О. А.; Витюнин, М. А.; Ширинкина, И. Г.; Яблонских, Т. И.; Елохина, Л. В. |
Фазовые превращения 2, 4, 6, 8, 10, 12-гексанитрогексаазаизовюрцитана: роль воды, дислокаций и плотности [Текст] / Н. В. Чуканов [и др. ] // Химическая физика. - 2009. - Т. 28, N 5. - С. 99-107 : ил. - Библиогр.: с. 106-107 (14 назв. ) . - ISSN 0207-401X
Рубрики: Химия Органические соединения Кл.слова (ненормированные): фазовые превращения -- кинетика полиморфных переходов -- полиморфные переходы -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- калориметрия -- ИК-спектроскопия -- морфология кристаллов -- дислокации -- плотность -- рентгенофазовый анализ -- гексанитрогексаазаизовюрцитан -- вода Аннотация: Проведено сравнительное исследование кинетики и механизмов полиморфных переходов альфа -> гамма в эпсилон -> гамма в поликристаллическом гексанитрогексаазаизовюрцитане с использованием методов электронной и оптической микроскопии, калориметрии, ИК-спектроскопии и количественного рентгенофазового анализа. Кинетика обоих процессов носит сложный характер, обусловленный характером морфологии кристаллов, их дефектности и примесей. В отличие от процесса эпсилон -> гамма, всегда протекающего по типу монокристалл – поликристалл (через зарождение по дислокационному механизму и последующее продвижение фронта раздела фаз), процесс альфа -> гамма может происходить также по квазигомогенному механизму, с переходом монокристалла в монокристалл. Доп.точки доступа: Чуканов, Н. В.; Дубовицкий, В. А.; Захаров, В. В.; Головина, Н. И.; Корсунский, Б. Л.; Возчикова, С. А.; Неделько, В. В.; Ларикова, Т. С.; Раевский, А. В.; Алдошин, С. М. |
Наблюдение фотоакустической микроскопией влияния механической обработки на мартенситную структуру приповерхностного слоя монокристаллов сплава Cu-Al-Ni [Текст] / А. Л. Глазов [и др. ] // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 15. - С. 32-37 : ил. - Библиогр.: с. 37 (13 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Экспериментальные методы и аппаратура акустики Кл.слова (ненормированные): фотоакустическая микроскопия -- методы фотоакустической микроскопии -- кристаллы -- монокристаллы -- приповерхностные слои -- механическая обработка -- медные сплавы -- мартенситные структуры -- эффекты памяти формы -- сверхупругость сплавов -- исследование мартенситной структуры -- оптическая микроскопия -- технологическая обработка -- напряжения -- структурные преобразования -- стадии образования -- мартенситные фазы -- Cu-Al-Ni Аннотация: Методами фотоакустической микроскопии исследованы приповерхностные слои монокристаллов на основе медных сплавов с эффектами памяти формы и сверхупругости. Показано, что фотоакустическая микроскопия в исследовании мартенситной структуры имеет ряд преимуществ по сравнению с оптической, поскольку выявление структуры возможно и без предварительной полировки поверхности образцов. Этот факт позволил установить влияние технологической обработки и связанных с ней напряжений на двойниковую структуру в этих кристаллах. Установлено, что чувствительность метода фотоакустической микроскопии позволяет наблюдать структурные преобразования уже на ранних стадиях образования мартенситной фазы. Доп.точки доступа: Глазов, А. Л.; Муратиков, К. Л.; Николаев, В. И.; Пульнев, С. А. |
Туннельно-инжекционные структуры InGaAs с наномостиками: перенос возбуждения и кинетика люминесценции [Текст] / В. Г. Талалаев [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2010. - Т. 44, вып: вып. 8. - С. 1084-1092 : ил. - Библиогр.: с. 1091 (12 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): туннельно-инжекционные наноструктуры -- ТИНС -- квантовые ямы -- КЯ -- квантовые точки -- КТ -- оптическая микроскопия -- метод оптической микроскопии -- электронная микроскопия -- метод электронной микроскопии -- эмиттеры -- модель Вентцеля - Крамерса - Бриллюэна -- Вентцеля - Крамерса - Бриллюэна модель -- наномостики -- люминесценция -- кинетика люминесценции -- фотолюминесценция -- ФЛ -- туннелирование электрического тока -- просвечивающая электронная микроскопия -- ПЭМ -- метод просвечивающей электронной микроскопии Аннотация: Методами оптической спектроскопии и электронной микроскопии исследованы туннельно-инжекционные наноструктуры, активная область которых состояла из верхнего слоя квантовой ямы In[0. 15]Ga[0. 85]As в качестве инжектора носителей и нижнего слоя квантовых точек In[0. 6]Ga[0. 4]As в качестве эмиттера света, разделенных слоем барьера GaAs. В зависимости времени туннелирования от толщины барьера обнаружены отклонения от полуклассической модели Вентцеля-Крамерса-Бриллюэна. Сокращение времени переноса до единиц пикосекунд при толщине барьера менее 6 нм объясняется формированием между вершинами квантовых точек и слоем квантовой ямы наномостиков InGaAs, в том числе с собственным дырочным состоянием. Учтено влияние наведенного туннелированием электрического поля на время переноса носителей в туннельно-инжекционной наноструктуре. Доп.точки доступа: Талалаев, В. Г.; Сеничев, А. В.; Новиков, Б. В.; Tomm, J. W.; Elsaesser, T.; Захаров, Н. Д.; Werner, P.; Gosele, U.; Самсоненко, Ю. Б.; Цырлин, Г. Э. |
544.3 К 725 Костромин, С. В. Гетерогенные равновесия и кинетика фазового перехода изотропная жидкость-нематик в многокомпонентной смеси 4-алкил-4`-цианобифенилов [Текст] / С. В. Костромин, С. В. Бронников, В. В. Зуев // Журнал физической химии. - 2009. - Т. 83, N 10. - С. 1872-1876. - Библиогр.: c. 1876 (14 назв. ) . - ISSN 0044-4537
Рубрики: Химия Химическая термодинамика Кл.слова (ненормированные): гетерогенные равновесия -- изотропная жидкость-нематик -- кинетика роста -- кинетика фазового перехода -- метод поляризации -- многокомпонентная смесь -- оптическая микроскопия -- равновесная термодинамика -- размер капель -- рост кластеров Аннотация: Методами поляризации оптической микроскопии и ИК-спектроскопии исследованы переход изотропная жидкость-нематик и кинетика роста размера капель нематической фазы в процессе этого фазового перехода для четырехкомпонентной смеси при охлаждении. Доп.точки доступа: Бронников, С. В.; Зуев, В. В. |
537.6 З-976 Зырянов, В. В. Морфология и структура магнитосфер на основе гематита или шпинели и стекла [Текст] / В. В. Зырянов, С. А. Петров, А. А. Матвиенко // Неорганические материалы. - 2010. - Т. 46, N 6. - С. 729-737 : Рис. 8, табл. 2. - Библиогр.: с. 737 (12 назв. ) . - ISSN 0002-337Х
Рубрики: Физика Магнетизм Кл.слова (ненормированные): магнитосферы -- гематит -- стекло -- электронная микроскопия -- оптическая микроскопия -- рентгенографический анализ -- гамма-резонансная спектроскопия -- кристаллиты гематита -- кристаллиты шпинели -- композиционные материалы -- морфология магнитосферы -- структура магнитосферы Аннотация: С помощью электронной и оптической микроскопии, методами рентгенографического анализа и гамма-резонансной спектроскопии изучены образцы магнитосфер различного происхождения, выделенные из зол уноса основных энергетических углей России. Магнитосферы с различной морфологией представляют собой многоуровневые нанокомпозиты типа ядро-оболочка, где роль ядра выполняют кристаллиты гематита или шпинели с высоким содержанием железа, а роль оболочки - силикатные железосодержащие стекла. Доп.точки доступа: Петров, С. А.; Матвиенко, А. А. |
544.22 Н 312 Насиров, Э. В. Кинетика полиморфного II - III-превращения в твердых растворах системы KNO[3]-RbNO[3] [Текст] / Э. В. Насиров, авт. Ю. Г. Асадов // Неорганические материалы. - 2010. - Т. 46, N 8. - С. 986-989 : 5 рис., 2 табл. - Библиогр.: с. 989 (15 назв. ) . - ISSN 0002-337Х
Рубрики: Химия Химия твердого тела Кл.слова (ненормированные): твердые растворы -- кинетика -- KNO[3]-RbNO[3] -- микроскопия -- оптическая микроскопия -- монокристаллы -- полиморфное превращение Аннотация: Методом оптической микроскопии определена температурная зависимость скорости образования модификации III при превращении II -> III в монокристаллах твердых растворов системы KNO[3]RbNO[3], содержащих 2. 5, 5, 10 мас. % RbNO[3]. Доп.точки доступа: Асадов, Ю. Г. |
536.42 М 861 Мохов, Е. Н. Структурное совершенство кристаллов SiC, выращенных на профилированных затравках методом сублимации [Текст] / Е. Н. Мохов, авт. С. С. Нагалюк // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 21. - С. 25-32 : ил. - Библиогр.: с. 32 (10 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Термодинамика твердых тел Кл.слова (ненормированные): кристаллы -- SiC -- структурное совершенство -- профилированные затравки -- методы сублимации -- микроскопия -- оптическая микроскопия -- методы оптической микроскопии -- химическое травление -- протяженные дефекты -- распределение дефектов -- элементы рельефа -- мезы (геология) -- разращивание мез -- латеральное разращивание -- микропоры -- прорастающие дислокации -- плотность дислокаций Аннотация: Методами оптической микроскопии в сочетании с химическим травлением исследовано распределение протяженных дефектов в кристаллах, выращенных путем сублимации на профилированных затравках. Показано, что при свободном латеральном разращивании приподнятых элементов рельефа (мез) наблюдается резкое снижение плотности прорастающих дислокаций и микропор. Пониженная плотность дислокаций сохраняется после наращивания толстого слоя, при котором происходит заращивание канавок, разделяющих отдельные мезы. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/21/p25-32.pdf Доп.точки доступа: Нагалюк, С. С. |