Залужный, А. Г. Выделение водорода из образцов аустенитной стали, облученных потоками высокотемпературной импульсной плазмы [Текст] / А. Г. Залужный, Б. А. Калин [и др.] // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N1. - Библиогр.: с.35 (26 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): аустенитная сталь -- импульсная плазма -- дейтериевая плазма -- блистеры -- водород -- облучение Аннотация: Исследовано выделение водорода из образцов аустенитной стали 12Х18Н10Т, электролитически насыщенных водородом, при взаимодействии с дейтериевой плазмой (энергосодержание в импульсе 40-60 kJ) Доп.точки доступа: Калин, Б.А.; Копытин, В.П.; Козодаев, М.А.; Суворов, А.Л. |
Влияние плотности ионизационных потерь энергии высокоэнергетичных ионов висмута, криптона и ксенона на развитие водородных блистеров в кремнии [Текст] / В. Ф. Реутов [и др. ] // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 9. - С. 63-70. - Библиогр.: c. 70 (23 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Термодинамика твердых тел Кл.слова (ненормированные): ионизационные потери -- кремний -- водородные блистеры -- ионное облучение -- атермический выход водорода -- блистеры -- водородная пористость -- ионная имплантация Аннотация: Приведены экспериментальные результаты, свидетельствующие о радиационно-индуцированном атермическом выходе водорода из монокристаллического кремния при облучении высокоэнергетичными тяжелыми ионами Bi+ (E=710 MeV), Kr+ (E=85 и 250 MeV) и Xe+ (E=130 MeV). Уменьшение концентрации водорода зависит от величины удельных ионизационных потерь энергии высокоэнергетичными тяжелыми ионами. При высоких удельных ионизационных потерях ионами Bi+ с E=710 MeV (22. 5 keV/nm) концентрация водорода уменьшается до значения, не позволяющего визуализировать блистеры в оптическом и электронном микроскопах (по-видимому, до 1 at. % в пике расчетного концентрационного профиля водорода). При средних значениях удельных ионизационных потерь энергии (12. 5 keV/nm - облучение ионами Xe+ с E=130 MeV, 9. 5 keV/nm - облучение ионами Kr+ с E=250 MeV, 8. 5 keV/nm - облучение ионами Kr+ с E=85 MeV) концентрация водорода уменьшается лишь до уровня, не влияющего на формирование блистеров, однако определяющего условия их разрушения, т. е. формирование флэкингов. Доп.точки доступа: Реутов, В. Ф.; Залужный, А. Г.; Кобзев, А. П.; Сохацкий, А. С. |