22.37 С 891     Суворов, А. Л.     Автоионно-микроскопические анализы роли различных компонентов слаборазбавленных сплавов вольфрама в формировании дефектной структуры областей развития каскадов атомных смещений [Текст] / А. Л. Суворов, А. Г. Залужный [и др.] // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N1. - Библиогр.: с.121-122 (16 назв.) . - ISSN 0044-4642ББК 22.37 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): автоинно-микроскопические исследования -- атомные смещения -- вакансии -- вольфрам -- вольфрамовые сплавы -- ионное облучение -- радиационные дефекты Аннотация: Приведены некоторые новые результаты комплексных автоионно-микроскопических исследований радиационных эффектов в сверхчистом вольфраме ВЧВ, технически чистом вольфраме ВА-3 и четырех слаборазбавленных сплавах вольфрама: П39А (W-Hf-C), ВТ-15 (W-1.5% ThO[2]), ВР-5 (W-5% Re), ВЖ-2 (W-2% Fe). Облучение образцов осуществлялось во внешнем устройстве ионами Ar{+} и Ni{+} с энергией 35 keV. Плотность ионного тока во всех случаях поддерживалась равной j=2.0 muA, флюенс облучения составлял Phi {t}=5*10{14} ion/cm{2}. Изучены особенности кластеризации единичных вакансий в облученных образцах во взаимосвязи с уровнем и типом содержащихся в них примесей. Получены и проанализированы распределения комплексов вакансий в облученных образцах по числу объединенных в них единичных вакансий. Обнаружено заметное различие таких распределений для объемов обедненных зон и объемов материала вне их. Косвенно измерены средние значения длин цепочек фокусированных замещающих столкновений атомов в образцах с различным уровнем и разным типом примесей. По этим результатам оценена эффективность захвата собственных междоузельных атомов различными примесями в вольфраме Доп.точки доступа: Залужный, А.Г.; Бобков, А.Ф.; Зайцев, С.В.; Бабаев, В.П.; Гусева, М.И.; Коршунов, С.Н.; Николаева, И.Н.; Залужный, А.А.