530.145 М 652 Мискинова, Н. А. Проверка эмпирической формулы постоянной тонкой структуры [Текст] / Н. А. Мискинова, Б. Н. Швилкин // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 11. - Библиогр.: с. 97-98 . - ISSN 0021-3411
Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): тонкие структуры -- теоретическая физика -- эксперимент Аннотация: О результатах проверки эмпирической формулы постоянной тонкой структуры. Доп.точки доступа: Швилкин, Б. Н. |
530.1 Г 77 Грановский, Я. И. Формула Зоммерфельда и теория Дирака [Текст] / Я. И. Грановский // Успехи физических наук. - 2004. - Т. 174, N 5. - С. 577-578. - Библиогр.: с. 578 (16 назв. ) . - ISSN 0042-1294
Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): формула Зоммерфельда -- Зоммерфельда формула -- теории Дирака -- Дирака теории -- тонкие структуры Аннотация: Удивительное совпадение тонкой структуры А. Зоммерфельда и П. Дирака оказывается результатом ошибки первого автора. Перейти: http://www.ufn.ru |
535.37 К 60 Колачевский, Н. Н. Лабораторные методы поиска дрейфа постоянной тонкой структуры [Текст] / Н. Н. Колачевский // Успехи физических наук. - 2004. - Т. 174, N 11. - С. 1171-1190. - Библиогр.: с. 1189-1190 (74 назв. ). - ил.: 12 рис., 7 табл. . - ISSN 0042-1294
Рубрики: Физика--Теоретическая физика--Оптика Кл.слова (ненормированные): обзоры -- тонкие структуры -- спектроскопические измерения -- электромагнитные взаимодействия -- оптические переходы Аннотация: Представлены результаты современных прецизионных спектроскопических экспериментов, базирующихся на измерениях частот атомных переходов в различных атомных системах. Комбинируя результаты лабораторных спектроскопических измерений, можно разделить вклады электромагнитного и сильного взаимодействия. Перейти: http://data.ufn.ru//ufn04/ufn04_11/Russian/r0411b.pdf |
539.2 Г 140 Гай, Д. Е. Использование EELFS-спектроскопии для анализа локальной атомной структуры тонких поверхностных слоев систем 3d-металл-кислород [Текст] / Д. Е. Гай, О. Р. Желтышева, А. Н. Деев // Физика металлов и металловедение. - 2008. - Т. 105, N 3. - С. 271-280. - Библиогр.: с. 280 (20 назв. ) . - ISSN 0015-3230
Рубрики: Физика Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): EELFS-спектроскопия -- атомная структура -- электроны -- спектры -- тонкие структуры -- поверхностные слои -- 3d-металл-кислород Аннотация: Получены простые формулы для описания протяженных тонких структур спектров энергетических потерь электронов (EELFS) с учетом мультипольности возбуждения внутреннего уровня атома вещества электронным ударом. Доп.точки доступа: Желтышева, О. Р.; Деев, А. Н. |
669.017 С 892 Сударева, С. В. Тонкая структура и механизм низкотемпературного распада нестехиометрических соединений YBa[2]Cu[3]O[6, 8] и YBa[2]Cu[3]O[6, 8], легированного Ce [Текст] / С. В. Сударева, Е. П. Романов [и др.] // Физика металлов и металловедение. - 2008. - Т. 106, N 4. - С. 378-387. - Библиогр.: с. 387 (27 назв. ) . - ISSN 0015-3230
Рубрики: Технология металлов Металловедение в целом Кл.слова (ненормированные): тонкие структуры -- низкотемпературный распад -- нестехиометрические соединения -- YBa[2]Cu[3]O[6, 8] -- монокристаллы -- аргон -- воздух -- легирование Аннотация: Рентгенографически и электронно-микроскопически исследована нестабильность нестехиометрических соединений YBa[2]Cu[3]O[6, 8] и YBa[2]Cu[3]O[6, 8], (Ce) (монокристалл) по отношению к низкотемпературному распаду на воздухе и в аргоне. Доп.точки доступа: Романов, Е. П.; Криницина, Т. П.; Кузнецова, Е. И.; Блинова, Ю. В.; Бобылев, И. Б.; Зюзева, Н. А.; Бурханов, А. М. |
Пучков, А. М. Эффекты несохранения четности в атоме водорода на запрещенных магнитодипольных переходах [Текст] / А. М. Пучков, Л. Н. Лабзовский // Оптика и спектроскопия. - 2010. - Т. 108, N 5. - С. 713-718. - Библиогр.: с. 718 (17 назв. ) . - ISSN 0030-4034
Рубрики: Физика Оптика в целом Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): атомы водорода -- магнитодипольные переходы -- электроны -- водородоподобные ионы -- заряды ядра -- константы -- тонкие структуры -- релятивистские единицы -- масса электрона Аннотация: Получены общие выражения для вероятности всех сильно запрещенных магнитодипольных переходов между состояниями njl и n'jl в атоме водорода и легких водородоподобных ионах в старшем порядке по параметру (Z) в виде W = Dme (Z) 10 (в релятивистских единицах), где me -масса электрона, - постоянная тонкой структуры, Z - заряд ядра, константы D приведены в аналитическом виде. На основе этих выражений проведен систематический анализ зависимости степени несохранения четности от главных квантовых чисел нижнего и верхнего состояний n и n' в запрещенных M1-переходах ns1/2 - n’s1/2 и np1/2 - n’p1/2. Доп.точки доступа: Лабзовский, Л. Н. |
539.21:534 П 828 Пространственное распределение динамических механических напряжений в ионных кристаллах при воздействии импульсного электронного пучка [Текст] / В. Ф. Штанько [и др.] // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 2. - С. 68-72. - Библиогр.: c. 72 (16 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Механические и акустические свойства монокристаллов Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): ионные кристаллы -- динамические механические напряжения -- механические напряжения -- электронное облучение -- электронные пучки -- акустические импульсы -- акустическое излучение -- щелочно-галлоидные кристаллы -- высокоомные материалы -- тонкие структуры -- электрический пробой -- многоканальный электрический пробой Аннотация: Представлены результаты экспериментального и теоретического изучений формы акустического импульса в щелочно-галоидных кристаллах, генерируемого воздействием импульсного электронного пучка с максимальной энергией электронов 0. 28 MeV и плотностью энергии 0. 1-0. 65 J/cm{2}. Установлено, что форма акустического импульса при использованных параметрах пучка существенно отличается от профиля плотности поглощенной энергии. Возникновение тонкой структуры акустического импульса связано с локальным выделением энергии вследствие развития многоканального электрического пробоя. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/02/p68-72.pdf Доп.точки доступа: Штанько, В. Ф.; Толмачев, В. М.; Чинков, Е. П.; Степанов, С. А. |
535-31 И 889 Исследование структуры и параметров луча KrF-эксимерного лазера [Текст] / Ю. М. Задиранов [и др.] // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 12. - С. 72-78. - Библиогр.: c. 78 (4 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Ультрафиолетовые лучи Радиоэлектроника Квантовая электроника Кл.слова (ненормированные): лазеры -- эксимерные лазеры -- KrF-эксимерные лазеры -- ультрафиолетовые лазеры -- лазерные лучи -- ультрафиолетовое излучение -- тонкие структуры -- абляционные кратеры -- почернение термобумаги -- каустические поверхности -- распределение энергии по сечению -- люминесценция -- безаберрационные объективы -- фокальные пятна Аннотация: Распределение энергии по сечению луча ультрафиолетового KrF-эксимерного лазера с конфокальным неустойчивым резонатором измерено по люминесценции ультрафиолетового излучения на стекле. Обнаружена сложная тонкая структура луча. Двумя разными методами - по почернению термобумаги и по абляционным кратерам на поверхности стекла - выполнены измерения вблизи фокуса; показано, что упомянутая сложная структура сохраняется также и в районе перетяжки каустической поверхности. Оценки размеров поперечного сечения в этом месте заметно зависят от примененных методов измерения значения угла расходимости исходного луча, определенные разными способами, варьируют от 0. 3 до 0. 6-1. 3 mrad. При фокусировке с помощью специально сконструированного безаберрационного объектива удается получить фокальное пятно с линейными размерами в несколько десятков микрон. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/12/p72-78.pdf Доп.точки доступа: Задиранов, Ю. М.; Калмыков, С. Г.; Сасин, М. Э.; Сердобинцев, П. Ю. |
535.33 Ш 260 Шарков, М. Д. Новый метод обработки данных спектроскопии EXAFS и его применение [Текст] / М. Д. Шарков, К. Ю. Погребицкий, М. Е. Бойко // Журнал технической физики. - 2011. - Т. 81, N 9. - С. 134-139. - Библиогр.: c. 139 (16 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Спектроскопия Кл.слова (ненормированные): спектры рентгеновского поглощения -- рентгеновское поглощение -- тонкие структуры -- дальняя тонкая структура -- вариационный принцип -- фурье-преобразование -- фурье-окно -- фурье-анализ -- анализ спектров -- белок церулоплазмина -- церулоплазмин -- титанат лития -- EXAFS-спектроскопия Аннотация: Разработана новая методика анализа дальней тонкой структуры спектров рентгеновского поглощения. Предложен метод выделения осциллирующей части спектров на основе вариационного принципа. На основе анализа зависимости результатов обработки спектров от окна их фурье-преобразования установлены диапазоны границ фурье-окна, в пределах которых фурье-анализ спектров приводит к наиболее корректным результатам. С помощью разработанной методики проведен анализ спектров человеческого белка церулоплазмина вблизи K-края Cu и образца соединения Li[4]Ti[5]O[12] вблизи K-края Ti. Сформулирована гипотеза об окружении атомов Cu в молекуле церулоплазмина. Произведена оценка компонентного состава образца Li[4]Ti[5]O[12]. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2011/09/p134-139.pdf Доп.точки доступа: Погребицкий, К. Ю.; Бойко, М. Е. |
539.21:537 К 893 Кузьменко, А. П. Раман-визуализация доменов и тонкой структуры доменной границы в YFeO[3] [Текст] / А. П. Кузьменко, авт. П. В. Абакумов // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 22. - С. 34-42 : ил. - Библиогр.: с. 42 (6 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): домены -- доменные структуры -- доменные границы -- тонкие структуры -- раман-визуализация доменов -- методы визуализации -- магнитоупорядоченные среды -- пластинчатые образцы -- ферромагнетики -- слабые ферромагнетики -- свет -- рассеяние света -- комбинационное рассеяние Аннотация: Предложен метод визуализации доменной структуры и тонкой структуры доменной границы в магнитоупорядоченных средах. Возможности метода продемонстрированы на примере визуализации структуры доменов и доменной границы в пластинчатом образце слабого ферромагнетика YFeO[3] по гиперспектральным распределениям изменений интенсивности комбинационного рассеяния света по линии 221 cm{-1}. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/22/p34-42.pdf Доп.точки доступа: Абакумов, П. В. |
539.2 И 889 Исследование электронного строения и химического состава пористого кремния, полученного на подложках n- и p-типа, методами XANES и ИК спектроскопии [Текст] / А. С. Леньшин [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2011. - Т. 45, вып. 9. - С. 1229-1234 : ил. - Библиогр.: с. 1233-1234 (21 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): пористый кремний -- химический состав -- подложки -- инфракрасная спектроскопия -- ИК спектроскопия -- рентгеновское поглощение -- XANES -- электронное строение -- методы XANES -- преобразование Фурье -- Фурье преобразование -- электрохимическое травление -- пористые слои -- тонкие структуры -- окисление Аннотация: Методами спектроскопии ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения и инфракрасной спектроскопии с преобразованием Фурье показаны различия в электронном строении и в составе образцов пористого кремния, полученных при одинаковом режиме электрохимического травления на наиболее распространенных подложках n- и p-типа различной проводимости. Показано, что значительно большее окисление и насыщение водородом наблюдается для пористого слоя, полученного на подложках n-типа. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2011/09/p1229-1234.pdf Доп.точки доступа: Леньшин, А. С.; Кашкаров, В. М.; Середин, П. В.; Спивак, Ю. М.; Мошников, В. А. |
539.2 Т 572 Тонкая структура и магнетизм кубического оксидного соединения Ni[0. 3]Zn[0. 7]O [Текст] / С. Ф. Дубинин [и др.] // Физика твердого тела. - 2011. - Т. 53, вып. 7. - С. 1292-1296. - Библиогр.: с. 1296 (7 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): кубические оксидные соединения -- тонкие структуры -- магнетизм -- метод магнитных измерений -- метод синхротронной дифракции -- метод рентгеновской дифракции -- спин-системы Аннотация: Методами магнитных измерений, синхротронной и рентгеновской дифракции исследовались тонкая кристаллическая структура и спин-система кубического оксидного соединения Ni[0. 3]Zn[0. 7]O, полученного из исходной гексагональной фазы посредством закалки образца с высокой температурой и при наложении на него внешнего гидростатического давления. Обнаружено, что дифракционные картины этого соединения наряду с сильными брэгговскими пиками кубической фазы включают в себя систему слабых диффузных максимумов с волновыми векторами. Показано, что происхождение диффузных пиков обусловлено продольными и поперечными смещениями ионов относительно симметричных кристаллографических направлений типа {111}. Кратко обсуждаются причины смещения ионов и особенности устройства спин-системы сильно коррелированного оксидного соединения Ni[0. 3]Zn[0. 7]O. Доп.точки доступа: Дубинин, С. Ф.; Максимов, В. И.; Пархоменко, В. Д.; Соколов, В. И.; Баранов, А. Н.; Соколов, П. С.; Дорофеев, Ю. А. |
539.2 Т 572 Тонкая структура термодеструкционной кинетики полиметилметакрилата, наполненного детонационными наноалмазами [Текст] / А. О. Поздняков [и др.] // Физика твердого тела. - 2011. - Т. 53, вып. 11. - С. 2246-2255. - Библиогр.: с. 2254-2255 (17 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): тонкие структуры -- термодесорбционные спектры -- полиметилметакрилат -- наноуглеродные наполнители -- детонационные наноалмазы -- наноалмазы Аннотация: Сопоставляются особенности тонкой структуры термодесорбционных спектров, полиметилметакрилата и его композитов с наноуглеродными наполнителями: детонационными наноалмазами, фуллереном C[60] и многослойными углеродными нанотрубками. Влияние нанонаполнителей на форму термодесорбционных спектров интерпретируется как результат химического взаимодействия функциональных групп макромолекул полимерной матрицы с активными центрами поверхности наночастиц наполнителя. Доп.точки доступа: Поздняков, А. О.; Возняковский, А. П.; Попов, Е. О.; Поздняков, О. Ф. |
539.1/.18 С 170 Самарин, В. В. Выявление тонкой структуры в энергетических зависимостях сечений слияния тяжелых атомных ядер и механизмы ее образования [Текст] / В. В. Самарин, авт. // Известия РАН. Серия физическая. - 2005. - Т. 69, N 1. - С. 162-168. - Библиогр.: с. 168 (11 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Ядерная физика Кл.слова (ненормированные): ядра -- структуры ядер -- методики обработки данных -- экспериментальные данные -- слияния ядер -- слияния тяжелых ядер -- образования тонких структур -- тонкие структуры Аннотация: Сглаживание экспериментальных сечений слияния атомных ядер кубичными сплайнами использовано для определения свойств кулоновского барьера и так называемой функции распределения по барьерам. |
537.6 М 775 Моноизотопный кремний {28}Si в спектроскопии спинового резонанса электронов, локализованных на донорах / А. А. Ежевский [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 2. - С. 168-173 : ил. - Библиогр.: с. 172-173 (19 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Магнетизм Кл.слова (ненормированные): кремний -- моноизотопный кремний -- электронный парамагнитный резонанс -- ЭПР -- спектры электронного парамагнитного резонанса -- тонкие структуры -- сверхтонкое взаимодействие -- СТВ -- экспериментальные данные -- решетки кремния -- внутренние деформации -- Si -- спектроскопия спинового резонанса -- спиновый резонанс электронов -- электроны -- анизотропия -- локализованные доноры -- доноры -- угловые зависимости Аннотация: В моноизотопном кремнии {28}Si, благодаря значительному сужению линий спектров ЭПР, исследована тонкая структура спектров мелкого донорного центра лития и глубокого донора Fe{0} (S=1), занимающих тетраэдрические междоузлия в решетке кремния. В случае донорного центра лития получены экспериментальные данные, подтверждающие роль внутренних деформаций в кристалле, при наблюдении спектров ЭПР основного 1s T[2] и E состояний при T=3. 8-10 K с G меньше 2. 000. По угловым зависимостям ширины линии парамагнитного резонанса, соответствующей триплетному состоянию лития T[2z], исследована анизотропия распределения деформаций, имеющая, как оказалось, тетрагональный характер. Такая же анизотропия обнаружена и в случае введения в исходный кристалл ионов Fe{0} на основе исследования угловых зависимостей ширины линий ЭПР, обусловленных переходами от -1 к 0 и от 0 к +1 (Delta M[s]=1), в сравнении с переходом от -1 к +1 (Delta M[s]=2). Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/02/p168-173.pdf Доп.точки доступа: Ежевский, А. А.; Попков, С. А.; Сухоруков, А. В.; Гуссейнов, Д. В.; Гавва, В. А.; Гусев, А. В.; Abrosimov, N. V.; Riemann, H.; "Кремний-2012", международная конференция (9 ; 2012 ; Санкт-Петербург) |
539.2 Р 397 Рентгеновские и синхротронные исследования пористого кремния / В. Н. Сивков [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 8. - С. 1048-1054 : ил. - Библиогр.: с. 1053-1054 (20 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): комплексные исследования -- слои кремния -- пористый кремний -- ПК -- проводимость -- анодирование подложек -- стандартные подложки -- подложки -- электролиты -- плавиковая кислота -- этанол -- йод -- растровая электронная микроскопия -- метод растровой электронной микроскопии -- РЭМ -- высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия -- метод высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии -- ультрамягкая рентгеновская дифрактометрия -- метод ультрамягкой рентгеновской дифрактометрии -- синхротронное излучение -- структурные параметры -- деформация -- пористость -- атомный состав -- химический состав -- поверхность кремния -- спектры поглощения -- тонкие структуры -- кристаллический кремний -- рентгеновские исследования Аннотация: Обсуждаются результаты комплексных исследований слоев пористого кремния разного типа проводимости, сформированных анодированием стандартных подложек Si (111) в электролите на основе плавиковой кислоты и этанола с добавлением 5% йода и выдержанных длительное время на атмосфере. Измерения проводились методами растровой электронной микроскопии, высокоразрешающей рентгеновской дифрактометрии и ультрамягкой рентгеновской спектроскопии с использованием синхротронного излучения. Определены структурные параметры слоев (толщина, деформация и пористость), а также атомный и химический состав поверхности пористого кремния. Установлено, что на поверхности кремниевого скелетона формируется слой оксида толщиной 1. 5-2. 3 нм. Ближняя тонкая структура Si 2p-спектра поглощения этого слоя соответствует тонкой структуре 2p-спектра хорошо координированного SiO[2]. При этом тонкая структура в области Si 2p-края поглощения кремниевого скелетона идентична структуре 2p-спектра поглощения кристаллического кремния. The comprehensive studies results of different conductivity type porous silicon layers, formed by standard substrate Si (111) anodizing in the electrolyte based on hydrofluoric acid, ethanol and 5% iodine and after holding in air for a long time are discussed. The measurements were performed by raster electron microscopy, X-ray high-resolution diffraction and ultrasoft X-ray spectroscopy using synchrotron radiation. The layers structural parameters (thickness, strain and porosity) and porous silicon surface atomic and chemical composition were determined. It was established that on the silicon skeleton surface a silicon oxide layer with effective thickness 1. 5-2. 3 nm is formed. Near edge X-ray absorption fine structure of the oxide layer Si 2p-spectrum corresponds to the well-coordinated SiO[2] 2p-spectrum fine structure. And the Si 2p-absorption edge fine structure of the silicon skeleton is identical to the 2p-absorption spectrum structure of crystalline silicon. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/08/p1048-1054.pdf Доп.точки доступа: Сивков, В. Н.; Ломов, А. А.; Васильев, А. Л.; Накипелов, С. В.; Петрова, О. В.; Коми научный центр Уральского отделения Российской академии наук (Сыктывкар); Физико-технологический институт Российской академии наук (Москва); Институт кристаллографии им. А. В. Шубникова Российской академии наук (Москва); Коми педагогический институт (Сыктывкар); Коми научный центр Уральского отделения Российской академии наук (Сыктывкар) |
539.2 Ф 796 Формирование экситонной структуры в спектрах фотопроводимости кристаллов CdS при модулированном возбуждении / А. С. Батырев [и др.]. // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 9. - С. 1165-1168 : ил. - Библиогр.: с. 1168 (14 назв.) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): низкотемпературные спектры -- спектры фотопроводимости -- фотопроводимость кристаллов -- ФП кристаллов -- кристаллы -- тонкие структуры -- фотовозбуждение -- модулированное возбуждение -- сульфид кадмия -- CdS Аннотация: Исследованы низкотемпературные (77 K) спектры фотопроводимости кристаллов CdS на различных частотах модуляции фотовозбуждения. Получен эффект трансформации спектральной кривой фотопроводимости типа 1 в кривую типа 2 при переходе от немодулированного к модулированному возбуждению фотопроводимости. Предложена модель формирования тонкой (экситонной) структуры в спектрах модулированного возбуждения фотопроводимости полупроводника. The low temperature (77K) photoconductivity spectra of CdS crystals have been investigated at various photoexcitation modulation frequencies. Effect of transformation of the photoconductivity spectral curve from type 1 to type 2 has been obtained due to transition from nonmodulated to modulated photoexcitation of semiconductor. The model of fine structure formation in the spectra of modulated photoconductivity excitation is proposed. Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/09/p1165-1168.pdf Доп.точки доступа: Батырев, А. С.; Бисенгалиев, Р. А.; Новиков, Б. В.; Тагиров, И. О.; Калмыцкий государственный университет (Элиста); Калмыцкий государственный университет (Элиста); Санкт-Петербургский государственный университет; Калмыцкий государственный университет (Элиста) |
616-07 З-179 Зайченко, Кирилл Вадимович (доктор технических наук; профессор). Методы поиска признаков кардиопатологий при исследовании тонкой структуры электрокардиосигнала / К. В. Зайченко // Биомедицинская радиоэлектроника. - 2013. - № 1. - С. 73-74. - Реф. на англ. яз.
Рубрики: Здравоохранение. Медицинские науки Общая диагностика Кардиология и ангиология Биология Зоология в целом Кл.слова (ненормированные): кардиопатологии -- тонкие структуры -- электрокардиосигналы -- сердечно-сосудистые заболевания -- биоэлектрические сигналы -- амплитудно-частотные диапазоны -- подопытные животные -- магнитокардиография -- МКГ -- квантовые интерференционные датчики Аннотация: Приведены подходы к разработке новых методов поиска не известных ранее признаков заболеваний с помощью исследования биоэлектрических сигналов, зарегистрированных в новых амплитудно-частотных диапазонах у подопытных животных на всех этапах развития у них искусственно вызванных патологий. |