543.422.8 Ч 169 Чалых, А. Е. Новое в рентгеноспектральном микроанализе полимеров [Текст] / А. Е. Чалых, М. В. Вокаль, А. Д. Алиев // Известия вузов. Химия и химическая технология. - 2003. - Т. 46, N 8. - Библиогр.: с. 129 (9 назв. ). - ил.: 2 табл., 7 рис. . - ISSN 0579-2991
Рубрики: Химия--Аналитическая химия--Химия полимеров Кл.слова (ненормированные): количественный анализ -- микроанализ -- микроанализаторы -- полимеры -- природные полимеры -- рентгеноспектральные микроанализаторы -- рентгеноспектральный микроанализ -- синтетические полимеры -- фазовый анализ -- электроннозондовые рентгеноспектральные микроанализаторы Аннотация: Прямыми экспериментальными исследованиями показано, что электроннозондовые микроанализаторы с детектором "EUMEX" позволяют проводить с высокой точностью количественный анализ полимерных систем по "легким" элементам, в том числе различать близкие по элементному составу карбо- и гетероцепные полимеры, проводить фазовый анализ смесей синтетических и природных полимеров. Доп.точки доступа: Вокаль, М. В.; Алиев, А. Д. |
621.315.592 П 580 Попова, Т. Б. Рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых эпитаксиальных гетероструктур на основе моделирования транспорта электронов методом Монте-Карло [Текст] / Т. Б. Попова, Л. А. Бакалейников, М. В. Заморянская, Е. Ю. Флегонтова // Физика и техника полупроводников. - 2008. - Т. 42, вып. 6. - С. 686-691 . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Полупроводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): рентгеноспектральный микроанализ -- моделирование транспорта электронов -- эпитаксиальные гетероструктуры -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод Аннотация: Рассмотрены особенности рентгеноспектрального микроанализа полупроводниковых гетероструктур на основе твердых растворов A\{III\}B\{V\} и A\{II\}B\{VI\} с тонкими эпитаксиальными слоями. На основе моделирования транспорта электронов методом Монте-Карло рассмотрено влияние слоя и подложки на распределение генерации рентгена по глубине. Продемонстрировано хорошее согласие расчетных и экспериментальных значений отношения интенсивностей излучения из слоя и массивного образца для модельных структур Al[0. 2]Ga[0. 8]As на подложке GaAs с разными толщинами слоя. Предложены методики, позволяющие проводить корректный микроанализ слоев с толщинами, большими 50 нм, а также одновременно определять состав и толщину эпитаксиальных слоев. Разработанные методики можно использовать при анализе тонких слоев и в других системах. Доп.точки доступа: Бакалейников, Л. А.; Заморянская, М. В.; Флегонтова, Е. Ю. |
Сорокина, Н. М. Рентгенофлуоресцентное определение мольного отношения металлов в гетеробиметаллических комплексах [Текст] / Н. М. Сорокина, П. Р. Абдюшев, Н. П. Кузьмина // Журнал аналитической химии. - 2007. - N 9. - С. 943-947. - Библиогр.: с. 947 (7 назв. ). - Ил.: 3 рис., 3 табл. . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Аналитическая химия Кл.слова (ненормированные): рентгенофлуоресцентный анализ -- мольные отношения -- металлы -- гетеробиметаллические комплексы -- оксидные подложки -- рентгеноспектральный микроанализ -- спектроскопия -- никель -- рентгеновские флуоресценции Аннотация: Разработана методика рентгенофлуоресцентного определения мольного отношения металлов в гетеробиметаллических комплексах. Методика включает простую зкспрессную пробоподготовку и оригинальный алгоритм выполнения измерений и обработки полученных данных. Доп.точки доступа: Абдюшев, П. Р.; Кузьмина, Н. П. |
Киселева, И. Н. Годичная сессия совета [Текст] / И. Н. Киселева // Журнал аналитической химии. - 2007. - N 9. - С. 1004-1006. - Ил.: 2 фото . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Аналитическая химия Кл.слова (ненормированные): сессии -- аналитическая химия -- химики -- хемометрика -- органические реагенты -- экстракции -- конгрессы -- конференции -- хроматография -- симпозиумы -- наноаналитика -- высокочистые вещества и материалы -- рентгеноспектральный микроанализ -- газовая хроматография -- неорганические ионы -- масс-спектрометрия Аннотация: О 31-ой Годичной сессии Научного совета по аналитической химии РАН, в работе которой приняли участие ученые и специалисты из 26 городов Российской Федерации. В каждом из минисимпозиумов были представлены обзорные доклады о современном состоянии проблемы, а также результаты исследований российских ученых. Доп.точки доступа: Москвин, Л. Н. (д-р хим. наук, проф.); Малахов, В. В. (д-р хим. наук, проф.); Годичная сессия НСАХ РАН; Сессия НСАХ РАН |
Павлова, Л. А. Качество определений методом РСМА при использовании стандартных образцов предприятий базальтовых стекол и медьсодержащих сплавов [Текст] = Quality of Determination by X-ray Microanalysis Using Standard Samples of Basalt Glass Enterprises and Copper-Containing Alloys / Л. А. Павлова // Журнал аналитической химии. - 2008. - Т. 63, N 7. - С. 717-725 : 4 табл. - Библиогр.: с. 724 (21 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Аналитическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): рентгеноспектральный микроанализ -- РСМА -- базальтовы стекла -- предприятия базальтовых стекол -- медьсодержащие сплавы -- государственные стандартные образцы -- стандартные образцы предприятий -- образцы сравнения Аннотация: Девять сплавов на основе меди и пять изготовленных базальтовых стекол оценены в качестве образцов сравнения при электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе (РСМА). Показано, что однородность образцов сравнения влияет на точность рентгеноспектрального микроанализа. |
Павлова, Л. А. Развитие рентгеноспектрального электронно-зондового микроанализа в Сибири [Текст] = Development of X-Ray Electron Probe Microanalysis in Siberia / Л. А. Павлова // Журнал аналитической химии. - 2008. - Т. 63, N 12. - С. 1311-1318. - Библиогр.: с. 1314 (151 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия--Россия--Сибирь, 1969-2007 гг. Аналитическая химия в целом История химии Кл.слова (ненормированные): рентгеноспектральный микроанализ -- электронно-зондовый микроанализ -- развитие рентгеноспектрального микроанализа -- микроанализаторы -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- программное обеспечение микроанализаторов -- компьютерные программы Аннотация: Рассмотрен вклад исследователей Сибири в развитие электронно-зондового рентгеноспектрального микроанализа за период с 1969 по 2007 годы. Статья посвящена семидесятилетию со дня рождения Валерия Петровича Афонина, первого аналитика-исследователя в области теории рентгеноспектрального микроанализа. Доп.точки доступа: Афонин, Валерий Петрович (аналит.-исследователь ; 24. 08. 38-15. 05. 95) \в. П.\ |
Влияние отходов переработки растительного сырья на коррозию стали в агрессивных средах [Текст] / У. В. Харченко [и др. ] // Журнал прикладной химии. - 2008. - Т. 81, вып: вып. 9. - С. 1484-1489. - Библиогр.: с. 1488-1489 (15 назв. ) . - ISSN 0044-4618
Рубрики: Химия Катализ Кл.слова (ненормированные): агрессивные среды -- гречиха -- ингибиторы коррозии -- коррозионно-электрохимические характеристики -- коррозия стали -- морфология поверности стали -- подсолнечник -- поляризационные кривые стали -- потенциометрические исследования -- растительное сырье -- рентгеноспектральный микроанализ -- экстракты шелухи риса Аннотация: Изучено влияние жидких и сухих экстрактов шелухи риса, гречихи и подсолнечника на коррозию стали в водно-солевой и кислой средах. Доп.точки доступа: Харченко, У. В.; Макаренко, Н. В.; Сафронов, П. П.; Карабцов, А. А.; Ковехова, А. В.; Земнухова, Л. А. |
Карманов, Н. С. Учет фона в электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе с волновой дисперсией на основе моделирования тормозного рентгеновского излучения [Текст] / Н. С. Карманов, С. В. Канакин, Н. Г. Карманова // Журнал аналитической химии. - 2009. - Т. 64, N 4. - С. 387-395 : 4 табл. - Библиогр.: с. 394 (33 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Аналитическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): рентгеновские излучения -- тормозные рентгеновские излучения -- моделирование рентгеновского излучения -- электронно-зондовый микроанализ -- рентгеноспектральный микроанализ -- волновая дисперсия -- волновые спектры -- фоновые спектры Аннотация: В рамках единого подхода проанализированы возможности шести описанных в литературе аппроксимирующих функций, применяемых для моделирования тормозного рентгеновского излучения в электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе. Для нахождения параметров функций разработан алгоритм, основанный на использовании волновых спектров. Доп.точки доступа: Канакин, С. В.; Карманова, Н. Г. |
Лаврентьев, Ю. Г. Рентгеноспектральный микроанализ в области M-краев поглощения [Текст] / Ю. Г. Лаврентьев, Л. В. Усова // Журнал аналитической химии. - 2009. - Т. 64, N 10. - С. 1063-1069 : 2 рис., 5 табл. - Библиогр.: с. 1069 (22 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): расчеты коэффициента -- рентгеноспектральный микроанализ -- методы коррекции -- коэффициенты поглощения -- нитроароматические соединения -- поглощения -- м-края поглощения Аннотация: Об оценке применимости различных методов коррекции и способов расчета коэффициентов поглощения при рентгеноспектральном микроанализе в области M-краев поглощения. Доп.точки доступа: Усова, Л. В. |
Стрекаловский, В. Н. От аналитической химии к аналитическому материаловедению. Об аналитической службе Института высокотемпературной электрохимии Уральского отделения РАН [Текст] / В. Н. Стрекаловский, Э. Г. Вовкотруб // Журнал аналитической химии. - 2009. - Т. 64, N 10. - С. 1103-1108 : 3 фото. - Библиогр.: с. 1108 (31 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Аналитическая химия в целом Кл.слова (ненормированные): аналитическое материаловедение -- высокомолекулярная электрохимия -- методы спектроскопии -- рентгеноспектральный микроанализ -- рентгеновская дифрактометрия -- романовская спектрометрия -- аналитические службы -- институты Аннотация: Рассмотрен путь развития аналитической лаборатории Института высокотемпературной электрохимии Уральского отделения РАН. Отмечена роль методов спектроскопии с индукционно связанной плазмой, рентгеновской дифрактометрии, рамановской спектроскопии, сканирующей электронной микроскопии и ренгентоспектрального микроанализа в определении состава и структуры веществ и материалов, исследуемых в институте. Доп.точки доступа: Вовкотруб, Э. Г.; Институт высокотемпературной электрохимии Уральского отделения РАНАналитическая служба Института высокотемпературной электрохимии Уральского отделения РАН |
Гулина, Л. Б. Слои нанокомпозита FeOOH-xH[3]PW[12]O[40], синтезируемые методом ионно-коллоидного наслаивания [Текст] / Л. Б. Гулина, В. П. Толстой, К. Б. Семищенко // Журнал прикладной химии. - 2010. - Т. 83, вып: вып. 1. - С. 154-156. - Библиогр.: c. 156 (7 назв. ) . - ISSN 0044-4618
Рубрики: Химия Физико-химическая механика коллоидных систем Кл.слова (ненормированные): глобулярное строение -- кремнеземы -- метод ионно-коллоидного наслаивания -- метод сканирующей электронной микроскопии -- нанокомпозиты -- плавленный кварц -- рентгеноспектральный микроанализ -- фосфорно-вольфрамовая кислота Аннотация: Впервые определены условия синтеза методом ионно-коллоидного наслаивания на поверхности кремнезема слоев нанокомпозита. Доп.точки доступа: Толстой, В. П.; Семищенко, К. Б. |
Павлова, Л. А. Проблема стандартных образцов в электронно-зондовом микроанализе [Текст] / Л. А. Павлова // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 4. - С. 58-63. - Библиогр.: с. 63 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Техника Метрология Кл.слова (ненормированные): стандартные образцы -- реперные образцы -- электронно-зондовый микроанализ -- рентгеноспектральный микроанализ -- аттестация образцов -- микрорентгеноспектральный анализ Аннотация: Рассмотрена специфика требований к стандартным и реперным образцам при электронно-зондовом рентгеноспектральном микроанализе, определяемая локальностью метода. |
Лаврентьев, Ю. Г. Новые тенденции в рентгеноспектральном микроанализе минералов (обзор) [Текст] / Ю. Г. Лаврентьев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 8. - С. 4-10. - Библиогр.: с. 10 (26 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Вычислительная техника Имитационное компьютерное моделирование Кл.слова (ненормированные): рентгеноспектральный микроанализ -- микроанализ -- минералы -- электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ -- методы коррекции -- электронно-зондовые приборы -- phi-rho-z-моделирование -- микроанализаторы -- метод ZAF -- ZAF метод -- сильноточный рентгеноспектральный микроанализ Аннотация: Рассмотрены основные тенденции развития рентгеноспектрального микроанализа минералов. |
Система СПЕКТРАН для интеллектуального анализа спектральных данных [Текст] / А. В. Богданов [и др. ] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2009. - Т. 75, N 11. - С. 65-70. - Библиогр.: с. 70 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Вычислительная техника Имитационное компьютерное моделирование Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): программные системы -- интеллектуальный анализ -- спектральные данные -- автоматизация процессов -- дисперсные вещества -- рентгеноспектральный микроанализ -- прикладная статистика -- функция конкурентного сходства -- решающие правила -- распознавание объектов -- информативность -- автоматическая классификация -- рабочее место эксперта Аннотация: Описана программная система СПЕКТРАН, предназначенная для автоматизации процессов анализа результатов исследования микрочастиц различной природы, образующих дисперсные вещества и их смеси. Доп.точки доступа: Богданов, А. В.; Борисова, И. А.; Дюбанов, В. В.; Загоруйко, Н. Г.; Кутненко, О. А.; Кучкин, А. В.; Мещеряков, М. А.; Миловзоров, Н. Г. |
Трофимов, А. Н. Характеризация излучающих центров в широкозонных материалах методом локальной катодолюминесценции на примере активированного европием иттрий-алюминиевого граната [Текст] / А. Н. Трофимов, М. В. Заморянская // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 1. - С. 18-24
Рубрики: Физика Спектроскопия Люминесценция Кл.слова (ненормированные): локальная катодолюминесценция -- европий -- редкоземельные ионы -- электронный пучок -- рентгеноспектральный микроанализ -- спектры катодолюминесценции Аннотация: Исследовались образцы легированного европием иттрий-алюминиевого граната (YAG) методом локальной катодолюминесценции. Европий в YAG принимает валентность 3+, добавление малого количества циркония перевело часть европия в двухвалентное состояние (2+). Метод локальной катодолюминесценции позволил определить наличие обоих валентных состояний европия. Были изучены концентрационные зависимости интенсивности катодолюминесценции и времени затухания для разных линий и полос спектра. Исследована зависимость интенсивности катодолюминесценции от плотности тока электронного пучка. Интерпретация полученных результатов производилась в рамках двухуровневой модели излучающего центра. Продемонстрированы возможности метода локальной катодолюминесценции и показана применимость двухуровневой модели. В результате анализа спектров была обнаружена и идентифицирована неконтролируемая примесь в одном из образцов. Доп.точки доступа: Заморянская, М. В. |
Исследование многослойных светодиодных гетероструктур на основе InGaN/GaN методами рентгеноспектрального микроанализа и катодолюминесценции [Текст] / Я. В. Домрачева [и др. ] // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2009. - N 8. - С. 10-15
Рубрики: Физика Спектроскопия Люминесценция Кл.слова (ненормированные): гетероструктуры -- светодиодные гетероструктуры -- многослойные гетероструктуры -- квантовые ямы -- барьерные слои -- рентгеноспектральный микроанализ -- катодолюминесценция Аннотация: В работе представлены результаты исследования многослойных светодиодных гетероструктур на основе InGaN/GaN, выращенных методом MOCVD. Разработана методика определения состава и глубины залегания квантовых ям InGaN и барьерных слоев AlGaN и исследованы особенности люминесценции с различной глубины многослойной светодиодной структуры. Доп.точки доступа: Домрачева, Я. В.; Заморянская, М. В.; Попова, Т. Б.; Флегонтова, Е. Ю. |
Послойный рентгеноспектральный микроанализ полупроводниковых структур методом вариации энергии электронного зонда [Текст] / Л. А. Бакалейников [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып: вып. 4. - С. 568-573
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): рентгеноспектральный микроанализ -- полупроводниковые структуры -- метод Монте-Карло -- Монте-Карло метод -- светодиодные структуры Аннотация: Описана методика послойного рентгеноспектрального микроанализа полупроводниковых структур методом вариации энергии электронного зонда с последующей математической обработкой результатов измерений. Экспериментальные зависимости относительной интенсивности рентгеновского излучения от энергии электронного зонда сравнивались с результатами расчетов методом Монте-Карло. При этом делались априорные предположения о характере распределения концентрации по глубине, а численные параметры распределения отыскивались из условия наилучшего совпадения экспериментальных и расчетных зависимостей. Описанная методика применена для анализа распределения концентрации Al по глубине в образцах SiC и GaN. Доп.точки доступа: Бакалейников, Л. А.; Домрачева, Я. В.; Заморянская, М. В.; Колесникова, Е. В.; Попова, Т. Б.; Флегонтова, Е. Ю. |
Комплексная диагностика гетероструктур с квантово-размерными слоями [Текст] / С. Г. Конников [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып: вып. 9. - С. 1280-1287 : ил. - Библиогр.: с. 1287 (9 назв. ) . - ISSN 0015-3222
Рубрики: Энергетика Проводниковые материалы и изделия Кл.слова (ненормированные): кванто-размерные слои -- гетероструктуры -- катодолюминесценция -- КЛ -- катодолюминесцентные исследования -- просвечивающая электронная микроскопия -- ПЭМ -- рентгеновская дифракция -- РД -- рентгеноспектральный микроанализ -- РСМА -- квантовые ямы -- КЯ -- рентгенодифракционные исследования -- комплексная диагностика Аннотация: Возможности комплексной диагностики сложных квантово-размерных гетероструктур на основе соединений A{III}B{V}, используемых для создания мощных лазеров, продемонстрированы на примере структур с квантовой ямой GalnP/GaAs/AlGaAs, выращенных эпитаксией из металлорганической газовой фазы. Исследования спектров катололюминесценции позволили оценить состав барьерных слоев, подтвердить существование квантовой ямы и обнаружить аномалии в их излучении, связанные с изменением состава. При изучении структур в просвечивающем электронном микроскопе были определены толщина барьерных слоев, ширина и состав квантовой ямы, а также обнаружены переходные слои вблизи интерфейсов. Точное определение состава барьерных слоев было выполнено методом рентгеноспектрального микроанализа. Полученные величины параметров использовались при интерпретации данных рентгеновской дифракции, которые подтвердили существование переходных областей и обнаружили градиенты состава и частичную релаксацию в основной части слоев. Результатом проведенных комплексных исследований явились взаимосогласованные и обоснованные данные о составе и толщине слоев, а также данные о качестве интерфейсов, частичной релаксации слоев, существовании переходных слоев и градиентов состава. Доп.точки доступа: Конников, С. Г.; Гуткин, А. А.; Заморянская, М. В.; Попова, Т. Б.; Ситникова, А. А.; Шахмин, А. А.; Яговкина, М. А. |
Оценка диффузионных, релаксационных свойств и структуры СВМПЭ-композитов, полученных твердофазной экструзией [Текст] / Г. С. Баронин [и др. ] // Химическая технология. - 2010. - N 11. - С. 665-671. - Библиогр.: с. 671 (9 назв. ) . - ISSN 1684-5811
Рубрики: Химическая технология Гетероцепные полимеры и пластмассы на их основе Кл.слова (ненормированные): твердофазная экструзия -- пластическое деформирование -- твердая фаза -- рентгеноструктурные исследования -- рентгеноспектральный микроанализ -- диффузионные свойства -- релаксационные свойства -- надмолекулярная структура Аннотация: На основе изучения диффузионных, релаксационных свойств и структуры СВМПЭ-композитов, полученных твердофазной экструзией, выявлены закономерности изменения влагосодержания, температуры теплостойкости и других свойств аморфно-кристаллического полимера. Доп.точки доступа: Баронин, Г. С.; Дмитриев, В. М.; Комбарова, П. В.; Пугачев, Д. В.; Кобзев, Д. Е.; Иванов, С. А.; Завражин, Д. О.; Разинин, А. К.; Козлукова, Ю. О. |
543.422.8 С 387 Синтетические кристаллы TRPO[4] - образцы сравнения при количественном рентгеноспектральном микроанализе редкоземельных минералов [Текст] / Ю. Г. Лаврентьев [и др.] // Журнал аналитической химии. - 2011. - Т. 66, N 9. - С. 947-953 : 3 табл., 1 рис. - Библиогр.: с. 953 (15 назв. ) . - ISSN 0044-4502
Рубрики: Химия Физико-химические методы анализа Кл.слова (ненормированные): электронно-зондовый рентгеноспектральный микроанализ -- электронно-зондовый микроанализ -- количественный рентгеноспектральный анализ -- рентгеноспектральный микроанализ -- количественный анализ -- стехиометрия -- образцы сравнения минералов -- синтетические кристаллы TRPO[4] -- кристаллы TRPO[4] -- TRPO[4] -- фосфаты -- редкоземельные элементы -- редкоземельные минералы -- минералы Аннотация: Синтезированы и испытаны на однородность и на стехиометрию состава кристаллы фосфатов редкоземельных элементов, составляющих комплект стандартных образцов сравнения при рентгеноспектральном микроанализе. Доп.точки доступа: Лаврентьев, Ю. Г.; Романенко, И. М.; Новиков, М. П.; Усова, Л. В.; Королюк, В. Н. |