Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

в найденном

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>K=дифракционные решетки<.>)

Общее количество найденных документов : 31
Показаны документы с 1 по 20

1-20 21-31

535
А 406

Акопян, Р. С.
Теоретическое моделирование мертвой зоны при записи голограмм в фотополимеризуемых материалах [Текст] / Р. С. Акопян, А. В. Галстян, Т. В. Галстян // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 6. - Библиогр.: c. 75-76 (22 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

535

ББК 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
голограммы -- дифракционные решетки -- мертвые зоны -- полимеризация -- фотополимеризуемые материалы
Аннотация: Решением уравнений диффузии с учетом полимеризации теоретически рассмотрена динамика записи дифракционной решетки в фотополимерной пленке в присутствии жидкого кристалла. Модель объясняет время запаздывания (мертвая зона) записи решетки присутствием в материале кислородных или других примесных молекул, которые препятствуют созданию свободных радикалов. Рассчитана зависимость длительности мертвой зоны от интенсивности записывающего излучения.

Перейти: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/jtf/2004/06/page-70.html.ru

Доп.точки доступа:
Галстян, А. В.; Галстян, Т. В.

Найти похожие

535
Л 972

Ляликов, А. М.
Дисперсионная двухдлинноволновая голографическая интерферометрия бокового сдвига [Текст] / А. М. Ляликов // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 11. - Библиогр.: c. 82 (19 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

535

ББК 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
голографическая интерферометрия -- дисперсия -- дифракционные решетки -- интерферометрия малого бокового сдвига -- прозрачные среды
Аннотация: Показано, что двухдлинноволновая регистрация голографических интерферограмм малого бокового сдвига в интерферометре с дифракционной решеткой позволяет исследовать дисперсионные свойства прозрачных объектов при использовании зондирующих излучений с произвольными длинами волн. Восстановленные интерференционные картины представляют собой линии на восстановленном изображении объекта, характеризующие величину производной по направлению сдвига от разности показателей преломления исследуемой среды на длинах волн зондирующих пучков. Приведены результаты экспериментальной апробации предложенной методики.

Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/11/page-79.html.ru

Найти похожие

Сопинский, Н. В.
Использование эффекта взаимодействия пленок серебра и триселенида мышьяка для профилирования голограммных дифракциооных решеток [Текст] / Н. В. Сопинский, П. Ф. Романенко, И. З. Индутный // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N2. - Библиогр.: с. 76 (13 назв.) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
дифракционные решетки -- голограммные дифракционные решетки -- профилированные дифракционные решетки -- дифракционная эффективность -- серебро -- триселенид мышьяка -- халькогенидные стеклообразные полупроводники
Аннотация: Приводятся результаты исследований процесса формирования профилированных голограмммных дифракционных решеток с использованием эффекта взаимодействия пленок халькогенидных стеклообразных полупроводников и серебра. С помощью атомно-силового микроскопа определена форма профиля штрихов получаемых таким образов профилированных решеток. Проведено измерение спектральных и угловых зависимостей их дифракционной эффективности, проанализирована связь этих зависимостей с формой рельефа поверхности решетки

Доп.точки доступа:
Романенко, П.Ф.; Индутный, И.З.

Найти похожие

336
Д 584

Довольнов, Е. А.
Формирование голографических дифракционных решеток пропускающего типа в поглощающих фотополимерных средах [Текст] / Е. А. Довольнов // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 7. - Библиогр.: с. 87 ( 19 назв. ) . - ISSN 0021-3411

УДК

336

ББК 65.26
Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
дифракционные решетки -- голографические решетки -- фотополимерные среды -- численное моделирование -- ФПМ (поглощающие фотополимерные материалы)
Аннотация: Проведено теоретическое изучение формирования пропускающих голографических решеток в поглощающих фотополимерных материалах. Получены аналитические модели, описывающие пространственно-временное преобразование поля голографической решетки в процессе записи с учетом оптического поглощения и диффузных процессов. Показано, что затухание оптических пучков в процессе записи приводит к пространственной неоднородности профиля решетки показателя преломления и кинетики ее роста. Проведено экспериментальное исследование кинетики записи высокоэффективных голограмм пропускающего типа ФПМ.

Найти похожие

535.421
С 404

Сироткин, Е. Е.
Расчет фазовых отражательных дифракционных решеток [Текст] / Е. Е. Сироткин, А. И. Хлебников, Н. Г. Домина // Известия вузов. Физика. - 2004. - N 11. - Библиогр.: с. 41 (4 назв. ) . - ISSN 0021-3411

УДК

535.421

ББК 22.34
Рубрики: Физика--Оптика
Кл.слова (ненормированные):
дифракционные решетки -- лазеры -- дифракционные максимумы -- волновая оптика -- метод Френеля -- дифрагированное излучение
Аннотация: На основании разработанного алгоритма методом Френеля проведены расчеты интенсивностей главных дифракционных максимумов для фазовой отражательной дифракционной решетки с прямоугольным профилем штриха. Предлагаемая методика позволяет проводить эффективный расчет характеристик дифрагированного излучения, что позволяет широко использовать ее для оптимизации параметров дифракционной решетки.

Доп.точки доступа:
Хлебников, А. И.; Домина, Н. Г.

Найти похожие

535
Б 240

Барабаненков, М. Ю.
Двумерные периодические структуры электрон-фотонных интегрированных систем: ионно-лучевой метод формирования, физика и инженерия фотонной запрещенной зоны [Текст] / М. Ю. Барабаненков, авт. А. Ф. Вяткин // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 9. - С. 70-88 . - ISSN 0207-3528

УДК

535

ББК 22.34
Рубрики: Физика
Оптика в целом
Кл.слова (ненормированные):
электрон-фотонные интегрированные системы -- фотонные структуры -- планарные двумерные фотонные структуры -- кремниевые многослойные системы -- дифракционные решетки -- уравнение Риккати -- Риккати уравнение
Аннотация: В работе рассмотрен ряд вопросов, составляющих основу двух направлений микрофотоники: оптические свойства фотонных структур и ионно-лучевой синтез планарных двумерных фотонных структур на основе кремниевых многослойных систем. Двумерные фотонные структуры рассмотрены как стопки одномерных дифракционных решеток. На основе метода уравнения Риккати исследованы резонансные свойства решеток и формирование спектров прозрачности фотонных структур, начиная с одной решетки. Показана устойчивость спектров к технологическим погрешностям, возможным при изготовлении фотонных структур. Изучен ряд вопросов, возникающих при ионно-лучевом структурировании волноводных слоев многослойных кремниевых планарных систем.

Доп.точки доступа:
Вяткин, А. Ф.

Найти похожие

Грушина, Н. В.
Особенности дифракции света на оптических решетках Фибоначчи [Текст] / Н. В. Грушина, П. В. Короленко, С. Н. Маркова // Вестник Московского университета. Сер. 3, Физика. Астрономия. - 2008. - N 2. - С. 40-43 : Рис. - Библиогр.: c. 43 (5 назв. ) . - ISSN 0201-7385

УДК

^a539.21:535

ББК 22.374
Рубрики: Физика
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
дифракционные пики -- дифракционные решетки -- дифракция света -- одномерные квазикристаллы -- оптические решетки -- решетки Фибоначчи -- свет -- Фибоначчи решетки -- фракталы
Аннотация: Рассмотрены характеристики дифракционных решеток, в основу построения которых положены геометрические свойства одномерных квазикристаллов. Установлено, что положение дифракционных пиков обладает высокой степенью устойчивости к разнообразным возмущениям структуры решетки при условии сохранения закономерности чередования ее отдельных элементов. При этом остается неизменным фрактальный характер дифракционной картины, геометрия которой отражает принцип золотого сечения.

Доп.точки доступа:
Короленко, П. В.; Маркова, С. Н.

Найти похожие

Прямая запись тонких динамических дифракционных решеток в оптически адресуемых пространственных модуляторах света с дифракционной эффективностью более 50% [Текст] / В. А. Беренберг [и др. ] // Журнал технической физики. - 2008. - Т. 78, N 4. - С. 99-103. - Библиогр.: c. 103 (15 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

^a539.21:535

ББК 22.374
Рубрики: Физика
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
дифракционные решетки -- модуляторы света -- жидкокристаллические модуляторы света -- пространственные модуляторы света -- тонкие дифракционные решетки -- голографические решетки -- сэндвич-структуры -- аморфный гидрогенизированный кремний -- карбид кремния
Аннотация: Исследованы условия, при которых в жидкокристаллических оптических адресуемых пространственных модуляторах света возможна запись тонких динамических дифракционных решеток с асимметричной формой штриха и дифракционной эффективностью более 50%.

Доп.точки доступа:
Беренберг, В. А.; Иванова, Н. Л.; Феоктистов, Н. А.; Чайка, А. Н.

Найти похожие

Влияние зарядки халькогенидных стеклообразных полупроводников в коронном разряде на процессы образования голографических дифракционных решеток [Текст] / А. М. Настас [и др. ] // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 2. - С. 139-142. - Библиогр.: c. 142 (13 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

^a539.21:535

ББК 22.374
Рубрики: Физика
Оптические свойства твердых тел
Кл.слова (ненормированные):
халькогенидные полупроводники -- стеклообразные полупроводники -- коронные разряды -- голографические дифракционные решетки -- дифракционные решетки -- тонкие пленки
Аннотация: Исследованы процессы регистрации оптических голографических интерференционных решеток на основе фотоструктурных превращений в тонкопленочных (~1 mum) полупроводниковых слоях As[2]S[3] и As[2]Se[3] как в поле коронного разряда, так и без него, а также процесс химического травления образованных голографических дифракционных решеток. Показано, что использование коронного разряда на стадии записи интерференционных решеток приводит к улучшению экспозиционно-контрастной характеристики тонкослойных структур металл-халькогенидный стеклообразный полупроводник. Голографическая чувствительность, дифракционная эффективность, динамический диапазон и контраст в несколько раз улучшаются. При селективном химическом травлении дифракционных решеток, сформированных в этих полупроводниковых слоях, в присутствии коронного разряда происходит увеличение степени регулярности протравленных рельефно-фазовых голографических дифракционных решеток, увеличение глубины их рельефа на 25-30% и дифракционной эффективности на 30-50%.

Доп.точки доступа:
Настас, А. М.; Андриеш, А. М.; Бивол, В. В.; Присакар, А. М.; Тридух, Г. М.

Найти похожие

10.

Кусайкин, А. П.
Эффект резонансного излучения электромагнитных волн дифракционной решеткой с метаматериалом [Текст] / А. П. Кусайкин, П. Н. Мележик, А. Е. Поединчук // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 1. - С. 26-34 . - ISSN 0320-0116

УДК

^a537.86

ББК 22.336
Рубрики: Физика
Электромагнитные колебания
Кл.слова (ненормированные):
электромагнитные волны -- дифракционные решетки -- метаматериалы -- резонансное излучение
Аннотация: Используя метод переразложения, решена задача дифракции плоской неоднородной H поляризованной волны, порожденной модулированным электронным потоком, на периодической отражательной решетке, канавки которой заполнены метаматериалом с эффективной диэлектрической проницаемостью, обладающей частотной дисперсией. Обнаружен эффект резонансного излучения электромагнитных волн такой структурой, определены условия его проявления.

Доп.точки доступа:
Мележик, П. Н.; Поединчук, А. Е.

Найти похожие

11.

Призменно-линзовая дисперсионная линия задержки [Текст] / М. А. Калашян [и др. ] // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 5. - С. 29-35

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
спектральныя фаза импульса -- дисперсионные линии -- дифракционные решетки -- призмы -- дисперсия кристаллов -- стретчеры -- компрессоры
Аннотация: Предложена и экспериментально продемонстрирована дисперсионная линия задержки, основанная на прямом управлении спектральной фазой импульса. Достоинствами устройства являются компактный дизайн и возможность управления не только величиной, но и знаком дисперсии.

Доп.точки доступа:
Калашян, М. А.; Паланджян, К. А.; Хачикян, Т. Дж.; Мансурян, Т. Г.; Есаян, Г. Л.; Мурадян, Л. Х.

Найти похожие

12.

Каманина, Н. В.
Исследование фоторефрактивных свойств наноструктурированных органических материалов, сенсибилизированных фуллеренами и нанотрубками [Текст] / Н. В. Каманина, С. В. Серов, В. П. Савинов // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 1. - С. 89-96 : ил. - Библиогр.: с. 95-96 (9 назв. ) . - ISSN 0320-0116

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
фоторефрактивные материалы -- наноструктурированные материалы -- органические материалы -- фуллерены -- нанотрубки -- показатели преломления -- нелинейные рефракции -- нелинейная восприимчивость -- полиимиды -- пиридины -- пролинолы -- кремниевые материалы -- нелинейные фильтры -- дифракционные решетки -- медицинская техника -- дисплейная техника
Аннотация: Кратко рассмотрен вопрос о существенном увеличении светоиндуцированного изменения показателя преломления, нелинейной рефракции и нелинейной восприимчивости третьего порядка в органических материалах на основе полиимидов, пиридинов и пролинолов при введении в данные органические матрицы фуллеренов и/или углеродных нанотрубок. Акцент сделан на доминирующее влияние углеродных нанотрубок. Установлено, что указанные фоторефрактивные параметры, исследованные по схеме четырехволнового смешения, близки по своим значениям к аналогичным параметрам объемных кремниевых материалов. Результаты работы могут быть востребованы при разработке тонкопленочных нелинейных фильтров, тонких дифракционных решеток с пассивной записью информации, для оптической адресации модуляторов света, в медицинской и дисплейной технике при создании прототипа 3D-среды.

Доп.точки доступа:
Серов, С. В.; Савинов, В. П.

Найти похожие

13.

Быков, Д. А.
Экстраординарный магнитооптический эффект изменения фазы прошедшей волны в периодических дифракционных структурах [Текст] / Д. А. Быков, Л. Л. Досколович // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 13. - С. 22-30 : ил. - Библиогр.: с. 29-30 (11 назв. ) . - ISSN 0320-0116

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
электромагнитное моделирование -- результаты моделирования -- диэлектрические структуры -- магнитооптический эффект -- экстраординарный магнитооптический эффект -- периодические структуры -- дифракционные структуры -- периодические дифракционные структуры -- дифракционные решетки -- намагниченные слои -- процессы возбуждения -- процессы дифракции -- резонансная дифракция -- нерезонансная дифракция -- решетки (физика)
Аннотация: По результатам электромагнитного моделирования в диэлектрической структуре, состоящей из дифракционной решетки и однородного слоя, предсказан магнитооптический эффект, заключающийся в резонансном изменении фазы нулевого прошедшего порядка дифракции при изменении намагниченности материала структуры. Структура намагничена в плоскости решетки, перпендикулярно ее штрихам. Величина эффекта на несколько порядков превышает аналогичный эффект для однородного намагниченного слоя, что позволяет назвать эффект экстраординарным. Приведено теоретическое объяснение эффекта, связанное с резонансным процессом возбуждения собственной моды структуры и зависимостью частоты моды от намагниченности. Показано, что большая величина изменения фазы порядка достигается при определенном соотношении величин резонансного и нерезонансного процессов дифракции.

Доп.точки доступа:
Досколович, Л. Л.

Найти похожие

14.

Резонансное детектирование терагерцового излучения в субмикронных полевых транзисторах GaAs/AlGaAs с двумерным электронным газом [Текст] / А. В. Антонов [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып: вып. 4. - С. 552-555

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
электромагнитые волны -- терагерцевое излучение -- приемники излучения -- диоды Шоттки -- Шоттки диоды -- спектральный анализ -- дифракционные решетки
Аннотация: Исследовано резонансное детектирование терагерцового излучения субмикронными полевыми транзисторами GaAs/AlGaAs (длина затвора L=250 нм) с двумерным электронным газом в канале при T=4. 2 K. Для таких транзисторов впервые продемонстрировано смещение максимума отклика (фотоэдс сток-исток) с ростом частоты в область больших напряжений на затворе в соответствии с моделью Дьяконова-Шура. Показано, что при повышении температуры до 77 K зависимость фотоэдс от напряжения на затворе становится нерезонансной, что связано с уменьшением подвижности.

Доп.точки доступа:
Антонов, А. В.; Гавриленко, В. И.; Маремьянин, К. В.; Морозов, С. В.; Teppe, F.; Knap, W.

Найти похожие

15.

Мачихин, А. С.
Аберрации изображения в акустооптическом перестраиваемом фильтре [Текст] / А. С. Мачихин, В. Э. Пожар // Журнал технической физики. - 2010. - Т. 80, N 10. - С. 101-107. - Библиогр.: c. 107 (16 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

^a535.2/.3

ББК 22.343
Рубрики: Физика
Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
акустооптические фильтры -- деформация изображений -- аберрации изображений -- дифракция -- дифракционные решетки -- акустические волны -- дифракция на акустических волнах
Аннотация: Рассмотрена проблема деформации изображений при дифракции на объемных дифракционных решетках, в частности на решетке, образованной акустической волной в акустооптическом фильтре. Впервые найдено точное решение без использования приближения малого двулучепреломления. Проанализирован и проиллюстрирован расчетами характер искажений, вызываемых основными типами акустооптических фильтров.

Доп.точки доступа:
Пожар, В. Э.

Найти похожие

16.

Экстраординарный магнитооптический эффект изменения фазы дифракционных порядков в диэлектрических дифракционных решетках [Текст] / Д. А. Быков [и др. ] // Журнал экспериментальной и теоретической физики. - 2010. - Т. 138, вып: вып. 6. - С. 1093-1102. - Библиогр.: с. 1101-1102 . - ISSN 0044-4510

УДК

^a530.1

ББК 22.31
Рубрики: Физика
Теоретическая физика
Кл.слова (ненормированные):
экстраординарный магнитооптический эффект -- магнитооптический эффект -- эффекты изменения фазы -- фаза дифракционных порядков -- дифракционные порядки -- диэлектрические дифракционные решетки -- дифракционные решетки -- решетки
Аннотация: Рассмотрен экстраординарный магнитооптический эффект изменения фазы дифракционных порядков в диэлектрических дифракционных решетках.

Доп.точки доступа:
Быков, Д. А.; Досколович, Л. Л.; Сойфер, В. А.; Казанский, Н. Л.

Найти похожие

17.

543.4/.5
А 224

Автоматическое профилирование многоканальных спектрометров с анализаторами МАЭС [Текст] / И. Г. Шаталов [и др.] // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1, ч. 2. - С. 74-77. - Библиогр.: с. 77 (2 назв. ) . - ISSN 1028-6861

УДК

543.4/.5

ББК 24.46/48
Рубрики: Химия
Физико-химические методы анализа
Кл.слова (ненормированные):
автоматическое профилирование -- профилирование спектрометров -- многоканальные спектрометры -- анализаторы МАЭС -- многокристальная сборка -- линейки фотодиодов -- атомно-эмиссионный спектральный анализ -- спектральный анализ -- многоканальные анализаторы эмиссионных спектров -- МАЭС -- дифракционные решетки -- призменные спектрографы -- ручное профилирование
Аннотация: Описан принцип работы алгоритма автоматического профилирования - установления соответствия длины волны регистрируемого излучения номеру фотодиода многокристальных сборок линеек фотодиодов анализаторов МАЭС, входящих в состав многоканальных спектрометров.

Доп.точки доступа:
Шаталов, И. Г.; Лабусов, В. А.; Неклюдов, О. А.; Панкратов, С. В.

Найти похожие

18.

530.1
Л 490

Лерер, А. М.
Теоретическое исследование резонансно поглощающих дифракционных решеток [Текст] / А. М. Лерер, авт. Е. А. Цветянский // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 21. - С. 77-86 : ил. - Библиогр.: с. 85-86 (26 назв.) . - ISSN 0320-0116

УДК

530.1

537.311.33

535.2/.3

ББК 22.31 + 22.379 + 22.343
Рубрики: Физика
   Теоретическая физика
   Физика полупроводников и диэлектриков
   Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
дифракционные решетки -- металлодиэлектрические решетки -- оптические решетки -- резонансно поглощающие решетки -- поверхностные волны -- теоретические исследования -- плазма твердого тела -- металлы -- диэлектрики -- металл-диэлектрик -- энергия
Аннотация: Теоретически исследована новая оптическая металлодиэлектрическая дифракционная решетка, которая при резонансе поверхностной волны, распространяющейся на границе "металл (плазма твердого тела) - диэлектрик", поглощает почти 100% падающей на нее энергии.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/21/p77-86.pdf

Доп.точки доступа:
Цветянский, Е. А.

Найти похожие

19.

621.315.592
Д 501

Дифракционные решетки с отражением в высоком порядке для мощных полупроводниковых лазеров [Текст] / В. В. Васильева [и др.] // Физика и техника полупроводников. - 2012. - Т. 46, вып. 2. - С. 252-257 : ил. - Библиогр.: с. 257 (8 назв.) . - ISSN 0015-3222

УДК

621.315.592^V3

535.2/.3^V3

ББК 31.233 + 22.343
Рубрики: Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия
   Физика
   Физическая оптика
Кл.слова (ненормированные):
дифракционные решетки -- ДР -- распределенная обратная связь -- РОС -- полупроводниковые лазеры -- лазеры -- эмиттеры -- коэффициент отражения -- волноводная мода -- фотолитографические методы -- реактивное ионное травление -- лазерные структуры
Аннотация: Для осуществления селективной обратной связи в полупроводниковом лазере предложено создавать в одном из эмиттеров глубокую дифракционную решетку с большим периодом (~2 мкм). Расчеты частотной зависимости коэффициента отражения в 12-м порядке дифракции для прямоугольных, треугольных и трапециевидных дифракционных решеток показали, что для получения максимального коэффициента отражения волноводной моды в лазерной структуре следует использовать дифракционную решетку глубиной ~2 мкм прямоугольной или трапециевидной формы. С использованием фотолитографических методов и реактивного ионного травления в эмиттере Al0. 3Ga0. 7As лазерной структуры GaAs/AlGaAs были созданы глубокие дифракционные решетки трапециевидной формы с большим периодом.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2012/02/p252-257.pdf

Доп.точки доступа:
Васильева, В. В.; Винокуров, Д. А.; Золотарев, В. В.; Лешко, А. Ю.; Петрунов, А. Н.; Пихтин, Н. А.; Растегаева, М. Г.; Соколова, З. Н.; Шашкин, И. С.; Тарасов, И. С.

Найти похожие

20.

548/549
П 887

Пунегов, В. И.
Статистическая динамическая теория рассеяния на многослойной дифракционной решетке [Текст] / В. И. Пунегов, авт. А. В. Карпов // Известия РАН. Серия физическая. - 2005. - Т. 69, N 2. - С. 216-219. - Библиогр.: с. 219 (13 назв. ) . - ISSN 0367-6765

УДК

548/549

ББК 26.31
Рубрики: Геология
Минералогия
Кл.слова (ненормированные):
рентгеновская оптика -- волны -- многослойные дифракционные решетки -- МДР -- дифракционные решетки -- теория рассеяния -- рассеяние лучей -- диффузное рассеяние -- рассеяние рентгеновских лучей -- численное моделирование
Аннотация: С использованием формализма статистической динамической теории дифракции получены уравнения, описывающие когерентное и диффузное рассеяние рентгеновских лучей на многослойной дифракционной решетке.

Доп.точки доступа:
Карпов, А. В.

Найти похожие

1-20 21-31

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)