Голубев, О. Л. Высокотемпературное полевое испарение рения [Текст] / О. Л. Голубев, В. Н. Шредник // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N8. - Библиогр.: с.114-115 (25 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): высокотемпературное полевое испарение -- полевые эмиссионные методы -- рений Аннотация: С помощью полевых эмиссионных методов изучалось высокотемпературное полевое испарение Re, а также Pt, Ta и W. Ионы металлов испарялись в основном с вершин термополевых микровыступов, возникающих на поверхности эмиттера под воздействием высоких электрических полей и температур. В полях напряженностью до F=1-2 V/Angstrem и температурах T до 1500-2000 K регистрировались ионные токи i со всей поверхности эмиттера от долей nA до нескольких nA. С использованием графиков Аррениуса lg i=f(1/T) были определены энергии активации процесса полевого испарения, которые оказались заметно меньше полученных расчетным путем на основе модели обмена зарядом при известных параметрах процесса испарения и испаряемого металла. Обсуждаются причины подобного различия энергий активации и механизм явления испарения ионов при высоких F иT Доп.точки доступа: Шредник, В.Н. |
539.2 Г 621 Голубев, О. Л. Термополевые формоизменения сплава вольфрам-гафний [Текст] / О. Л. Голубев, В. Н. Шредник // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N6. - Библиогр.: 17 назв. . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): вольфрам -- германий -- полевые эмиттеры -- сплавы -- термополевое воздействие -- термополевое формоизменение Аннотация: С помощью полевых эмиссионных методов изучалось одновременное воздействие сильных электрических полей и высоких температур на острийные полевые эмиттеры из сплава W-Hf. Для подобных сплавов выявлены в принципе те же стадии термополевого формоизменения, что и для чистых металлов, хотя и с рядом характерных особенностей, обусловленных поверхностной сегрегацией Hf. Термополевая обработка эмиттеров из таких сплавов приводила к существенному увеличению степени локализации эмиссии в узком телесном угле и к улучшению эмиссионных параметров эмиттеров. Термополевая обработка сопровождалась высокотемпературным полевым испарением с эмиссией преимущественно ионов Hf Доп.точки доступа: Шредник, В.Н. |
539.2 Г 621 Голубев, О. Л. Термополевые формоизменения сплава молибден-гафний [Текст] / О. Л. Голубев, В. Н. Шредник // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 8. - Библиогр.: c. 94 (15 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): гафний -- интерметаллиды -- молибден -- полевые эмиттеры -- термополевое формоизменение Аннотация: С помощью полевых эмиссионных методов изучалось одновременное воздействие сильных электрических полей и высоких температур на острийные полевые эмиттеры из сплава Mo-15% Hf. Для подобных обогащенных эмиссионно-активным компонентом сплавов, состоящих из интерметаллида Mo[2]Hf, наблюдаются в принципе те же стадии термополевого формоизменения, что и для чистых металлов, хотя и с рядом характерных особенностей, обусловленных поверхностной сегрегацией Hf. Термополевая обработка эмиттеров сопровождалась высокотемпературным полевым испарением с эмиссией преимущественно ионов Hf, как атомарных, так и кластерных. Термополевая обработка приводит так же и к увеличению локализации эмиссии, однако в меньшей степени по сравнению со сплавами с малым содержанием Hf. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/08/page-90.html.ru Доп.точки доступа: Шредник, В. Н. |
537 Г 62 Голубев, О. Л. Приравновесные термополевые микровыступы как эффективные полевые точечные источники электронов и ионов [] / О. Л. Голубев, В. Н. Шредник // Журнал технической физики. - 2005. - Т. 75, N 9. - С. 111-116. - Библиогр.: c. 116 (12 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): полевая эмиссионная микроскопия; приравновесные термополевые микровыступы; эмиссия ионов; эмиттеры Аннотация: С помощью полевых эмиссионных методов изучались условия образования, кристаллографическая локализация и эмиссионные свойства приравновесных термополевых микровыступов ряда тугоплавких металлов. Единичные приравновесные микровыступы относительно легко получаются на W эмиттере обычной ориентации <110>, однако с течением времени в процессе ионной эмиссии меняется их число на поверхности, могут меняться также и их эмиссионные параметры; при эмиссии электронов параметры и число микровыступов не меняются. Большей стабильностью при эмиссии ионов обладают трехгранные углы перестроенного острия, образующиеся в областях {111}. Единственный и стабильно эмиттирующий ионы трехгранный угол, расположенный на геометрической оси эмиттера, легко получить, используя W эмиттер с ориентацией <111>. На Ta эмиттере обычной ориентации <110> можно получить два стабильных приравновесных микровыступа, симметрично расположенных относительно оси эмиттера в областях {111}, такие микровыступы практически не меняют эмиссионные параметры в течение длительного отбора ионного тока. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2005/09/page-111.html.ru Доп.точки доступа: Шредник, В. Н. |
539.2 Г 62 Голубев, О. Л. Влияние температуры эмиттера и потенциалов ионизации атомов эмиттера на процесс полевого испарения [Текст] / О. Л. Голубев, авт. М. В. Логинов // Журнал технической физики. - 2006. - Т. 76, N 9. - С. 107-114. - Библиогр.: c. 113-114 (18 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): времяпролетные атомные зонды; полевая эмиссионная микроскопия; полевое испарение; температура эмиттера; эмиттеры Аннотация: С помощью времяпролетного атомного зонда и полевого эмиссионного микроскопа изучалось полевое испарение Ni, нихрома и карбида W при различных температурах T эмиттера. Рост T эмиттера не влияет на заряд испаряемых ионов, понижение заряда происходит вследствие соответствующего снижения величины напряженности испаряющего поля Fev. Если при изменении T величина Fev не меняется, остается неизменным и заряд ионов. При полевом испарении неоднокомпонентных эмиттеров, содержащих элементы с различными потенциалами ионизации, все элементы испаряются при одной и той же величине Fev как в виде атомарных, так и в виде кластерных ионов. Механизм такого испарения состоит в том, что первичное испарение более легко ионизуемого элемента приводит к понижению энергии связи более трудно ионизуемого до такой величины, когда и его испарение становится возможным при той же величине поля. Перейти: http://www.ioffe.rssi.ru/journals/jtf/2006/09/p107-114.pdf Доп.точки доступа: Логинов, М. В. |
539.2 Г 621 Голубев, О. Л. Однозарядные ионы вольфрама и тантала в процессе высокотемпературного полевого испарения [Текст] / О. Л. Голубев, Н. М. Блашенков, Г. Я. Лаврентьев // Журнал технической физики. - 2007. - Т. 77, N 10. - С. 11-15. - Библиогр.: c. 15 (13 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): вольфрам; высокотемпературное испарение; ионы; масс-спектры; однозарядные ионы; полевое испарение; тантал; эмиттеры Аннотация: С помощью магнитного статического масс-спектрометра с полевым источником ионов излучалось высокотемпературное полевое испарение эмиттеров W и Ta в интервале температур от комнатной до T=2500 K. Если при комнатной T на масс-спектрах наблюдались только трехзарядные ионы W{+3} и Ta{+3}, то повышение T эмиттера приводило к снижению зарядности испаряемых ионов. В случае T~1000 K в спектрах превалировали уже двузарядные ионы W{+3} и Ta+2, а в интервале температур 1900 K наблюдалось испарение и однозарядных ионов W{+} и Ta{+}. При этом скорость испарения однозарядных ионов была на один-два порядка ниже скорости испарения двузарядных. Определены энергетические параметры процесса полевого испарения для ионов W разной зарядности. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2007/10/p11-15.pdf Доп.точки доступа: Блашенков, Н. М.; Лаврентьев, Г. Я. |
Голубев, О. Л. Единичный наноразмерный эмитирующий выступ на поверхности полевого эмиттера из карбида вольфрама [Текст] / О. Л. Голубев // Письма в "Журнал технической физики". - 2009. - Т. 35, вып: вып. 12. - С. 18-24 : ил. - Библиогр.: с. 24 (15 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электронные и ионные явления. Физика плазмы Кл.слова (ненормированные): метод полевой эмиссионной микроскопии -- полевая эмиссия -- карбид вольфрама -- WC -- эмиттеры -- полевые эмиттеры -- электрические поля -- высокие температуры -- наноразмерные эмитирующие выступы -- заряженные частицы -- углеродные материалы -- эмиссионный ток -- углеродные нанотрубки -- электроны -- ионы Аннотация: С помощью метода полевой эмиссионной микроскопии изучены формоизменения эмиттера из карбида вольфрама при одновременном воздействии сильных электрических полей и высоких температур. Показано, что с использованием контролируемого снижения величины напряженности приложенного электрического поля при определенной температуре эмиттера можно вырастить на поверхности эмиттера единичный наноразмерный выступ, который может эмитировать заряженные частицы с такой же стабильностью, как и эмиттеры из углеродных материалов. При этом величины эмиссионных токов, плотностей токов, углов эмиссии и приведенных яркостей сопоставимы с таковыми для эмиттеров из углеродных нанотрубок, а преимуществами такого единичного наноразмерного выступа являются его полная воспроизводимость и способность эмитировать не только электроны, но и ионы. |
Лаврентьев, Г. Я. Особенности полевой поверхностной ионизации наноразмерных молекулярных комплексов [Текст] / Г. Я. Лаврентьев, Н. М. Блашенков, О. Л. Голубев // Журнал технической физики. - 2010. - Т. 80, N 7. - С. 137-140. - Библиогр.: c. 140 (13 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): ионные токи -- полевая поверхностная ионизация -- молекулярные комплексы -- многомолекулярные комплексы -- наноразмерные молекулярные комплексы -- эмиттеры -- термодинамическая устойчивость Аннотация: Проведены оценки изменения параметров температурных зависимостей ионных токов полевой поверхностной ионизации при увеличении напряженности электрического поля у поверхности эмиттера в системах, когда исследуемые ионы являются конечным продуктом распада многомолекулярных комплексов с большим числом степеней свободы. Получены выражения для максимумов температурной зависимости ионных токов полевой поверхностной ионизации. Оценены размеры молекулярных наноразмерных комплексов, формирующихся на поверхности эмиттера и рассмотрены вопросы их термодинамической устойчивости. Доп.точки доступа: Блашенков, Н. М.; Голубев, О. Л. |
Голубев, О. Л. Источники ионов полевого испарения на основе сплавов и соединений [Текст] / О. Л. Голубев, Н. М. Блашенков, М. В. Логинов // Письма в "Журнал технической физики". - 2010. - Т. 36, вып: вып. 20. - С. 43-49 : ил. - Библиогр.: с. 49 (10 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): эксперименты -- ионы -- ионные источники -- полевые ионные источники -- сплавы -- полевое испарение -- материалы (физика) -- эмиттеры -- полевые эмиттеры -- сложные соединения -- компоненты сплава Аннотация: Описываются эксперименты по созданию полевых ионных источников с использованием сплавов в качестве материалов для полевых эмиттеров. Использование подобных сплавов или сложных соединений позволяет создавать источники ионов таких элементов, изготовление полевых эмиттеров из которых может быть технологически весьма затруднительным либо вообще практически невозможным. При этом возможно обеспечить обогащение поверхности эмиттера одним из компонентов сплава и создавать источники ионов элемента, содержащегося в сплаве в количестве даже долей процента. Доп.точки доступа: Блашенков, Н. М.; Логинов, М. В. |
533.9 Г 621 Голубев, О. Л. Состав ионного тока в процессе полевого испарения некоторых бинарных и тройных соединений при различных температурах [Текст] / О. Л. Голубев, Н. М. Блашенков, М. В. Логинов // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 3. - С. 111-116. - Библиогр.: c. 115-116 (17 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Электронные и ионные явления. Физика плазмы Кл.слова (ненормированные): ионный ток -- полевое испарение эмиттеров -- бинарные соединения -- молибден-рений -- иридий-церий -- вольфрам-рений -- тройные соединения -- гафний-молибден-рений -- ионная эмиссия -- полевые эмиттеры -- источники ионов -- ионные пучки -- термополевая обработка Аннотация: Описаны эксперименты по полевому испарению эмиттеров из бинарных сплавов Mo-Re, Ir-Ce, W-Re и тройного соединения Hf-Mo-Re. Показано, что в зависимости от предварительной обработки таких эмиттеров с помощью их прогрева при высоких температурах в присутствии сильных электрических полей возможно получение эмиссии ионов разного атомного состава и зарядности практически всех компонентов сплава или соединения одновременно, но возможно также и получение эмиссии ионов только отдельных компонентов соединения. Применение сплавов или сложных соединений в качестве полевых эмиттеров позволяет создавать источники различных по составу и массе ионов при использовании одного и того же по составу эмиттера, а также создавать источники ионов таких элементов, изготовление полевых эмиттеров из которых может быть технологически весьма затруднительным либо вообще практически невозможным. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/03/p111-116.pdf Доп.точки доступа: Блашенков, Н. М.; Логинов, М. В. |
533.9 Г 621 Голубев, О. Л. Модификация поверхностей полевых эмиттеров из карбида вольфрама для локализации эмиссии электронов и ионов [Текст] / О. Л. Голубев // Журнал технической физики. - 2011. - Т. 81, N 6. - С. 113-119. - Библиогр.: c. 118-119 (17 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Электронные и ионные явления. Физика плазмы Кл.слова (ненормированные): полевые эмиттеры -- карбид вольфрама -- эмиссия электронов -- эмиссия ионов -- электронная эмиссия -- ионная эмиссия -- полевая эмиссионная микроскопия -- форма эмиттеров -- эмиссионные токи -- наноразмерные выступы Аннотация: С помощью метода полевой эмиссионной микроскопии изучены изменения формы эмиттера из карбида вольфрама при одновременном воздействии сильных электрических полей и высоких температур. Показано, что при этом на поверхности эмиттера наблюдаются те же стадии изменения формы эмиттера, что и для эмиттеров из чистых металлов. Продемонстрирована возможность выращивания на поверхности эмиттера единичного наноразмерного выступа, который может эмитировать заряженные частицы с такой же стабильностью, как и эмиттеры из углеродных материалов. При этом величины эмиссионных токов, плотности токов, углов эмиссии и приведенных яркостей сопоставимы с таковыми для эмиттеров из углеродных нанотрубок, а преимуществами такого единичного наноразмерного выступа являются его полная воспроизводимость и способность эмитировать не только электроны, но и ионы. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2011/06/p113-119.pdf |
539.21:537 Г 621 Голубев, О. Л. Регулирование количества локальных эмитирующих нановыступов на поверхности полевого эмиттера [Текст] / О. Л. Голубев, авт. В. А. Ивченко // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 20. - С. 63-68 : ил. - Библиогр.: с. 68 (9 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): нановыступы -- наноразмерные выступы -- эмитирующие нановыступы -- локальные нановыступы -- эмиттеры -- полевые эмиттеры -- вольфрамовые эмиттеры -- эмитирующие поверхности -- термополевое воздействие -- электрические поля -- температура -- количество выступов -- напряженность поля Аннотация: Описывается процедура направленного изменения количества эмитирующих наноразмерных выступов на поверхности полевого вольфрамового эмиттера. Суть процедуры состоит в том, что сначала посредством термополевого воздействия на эмиттер на его поверхности выращивается некое достаточно большое количество выступов, что не представляет, как правило, больших сложностей. Затем посредством процедуры контролируемого снижения величины напряженности приложенного электрического поля при определенной постоянной температуре эмиттера можно уменьшать количество выступов вплоть до единичного выступа на поверхности. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/20/p63-68.pdf Доп.точки доступа: Ивченко, В. А. |
536.42 Г 621 Голубев, О. Л. Высокотемпературное полевое испарение и его связь с поверхностной ионизацией / О. Л. Голубев // Журнал технической физики. - 2013. - Т. 83, № 6. - С. 11-16. - Библиогр.: c. 16 (12 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Термодинамика твердых тел Кл.слова (ненормированные): поверхностная ионизация -- ионизация -- полевое испарение -- высокотемпературное полевое испарение -- полевое испарение металлов -- полевые эмиттеры Аннотация: Рассматривается явление высокотемпературного полевого испарения металлов сплавов и его связь с явлением поверхностной ионизации. Проанализированы основные параметры процесса испарения - зависимость скорости испарения от температуры эмиттера и электрического поля у поверхности эмиттера, зарядность испаряемых ионов и ее зависимость от температуры, кинетические характеристики процесса испарения, а также и состояние поверхности эмиттера при одновременном воздействии высоких полей и температур. Установлено, в чем состоит сходство и отличие явлений полевого испарения при высоких температурах и поверхностной ионизации в сильном электрическом поле. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2013/06/p11-16.pdf |
539.21:537 Г 621 Голубев, О. Л. Экспериментальное определение напряженностей испаряющих электрических полей для наноразмерных полевых эмиттеров ионов / О. Л. Голубев // Письма в "Журнал технической физики". - 2014. - Т. 40, вып. 24. - С. 7-13 : ил. - Библиогр.: с. 12-13 (8 назв.) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электрические и магнитные свойства твердых тел Кл.слова (ненормированные): электрические поля -- напряженность поля -- эмиттеры -- заряженные частицы -- электронно-лучевые приборы -- углеродные нанотрубки -- точечные источники Аннотация: Описывается оригинальная методика определения величин напряженностей испаряющих полей F[ev] для полевых эмиттеров. Методика является универсальной и пригодна для любых эмиттеров, в том числе и для наноразмерных выступов, выращенных на поверхности таких эмиттеров для усиления локализации эмиссии. Приведены примеры определения величин F[ev] для эмиттеров из некоторых металлов и проанализированы ограничения методики. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2014/24/p7-13.pdf Доп.точки доступа: Физико-технический институт им. А. Ф. Иоффе РАН (Санкт-Петербург) |