22.31 Е 780 Ерофеенко, В. Т. Экранирование низкочастотных электрических полей системой экранов: тонкая незамкнутая сферическая оболочка-тонкостенная сферическая проницаемая оболочка [Текст] / В. Т. Ерофеенко, Г. Ч. Шушкевич // Журнал технической физики. - 2003. - Т.73,N3. - Библиогр.: с.14-15 (12 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): проникновение излучения -- тонкостенные экраны -- экранирование поля Аннотация: Решена задача о проникновении низкочастотных электрических полей через тонкостенную сферическую проводящую оболочку в присутствии тонкой незамкнутой сферической идеально проводящей оболочки методом парных уравнений с использованием усредненных граничных условий. Численно исследовано влияние угла раствора незамкнутой сферической оболочки и месторасположения источника поля на коэффициент ослабления поля внутри замкнутой тонкостенной оболочки для различной толщины и материала оболочки Доп.точки доступа: Шушкевич, Г.Ч. |
537.311.33 П 484 Поклонский, Н. А. Экранирование электрического поля и квазистатическая емкость индуцированного заряда в полупроводниках с прыжковой электропроводностью [Текст] / Н. А. Поклонский, С. А. Вырко // Известия вузов. Физика. - 2002. - Т.45,N10. - Библиогр.: с.75 (22 назв.) . - ISSN 0021-3411
Кл.слова (ненормированные): длина экранирования Дебая-Хюккеля -- квазистатическая емкость -- прыжковая электропроводность -- экранирование поля Аннотация: Получены выражения для длины экранирования внешнего электростатического поля в кристаллическом полупроводнике по Дебаю_хюккелю и Шоттки-Мотту при прыжковой миграции электронов (дырок) по водородоподобным донорам (акцепторам). Показана возможность определения длины экранирования дебая-Хюккеля, исходя из измерений квазистатической емкости для малых и больших степеней компенсации основной легирующей примеси даже в условиях сильного поля, т.е. в приближении Шоттки-Мотта. Частота электрического сигнала при измерении емкости должна быть много меньше средней частоты прыжков электрона по донорам Доп.точки доступа: Вырко, С.А. |