548/549 В 317 Верещагин, М. Н. Изучение закономерностей развития полос сдвига при наноиндентировании аморфного сплвава Fe-Cr-Mo-V-B-Si [Текст] / М. Н. Верещагин, С. Н. Дуб, В. Г. Шепелевич, О. М. Остриков // Прикладная механика и техническая физика. - 2004. - Т. 45, N 3. - Библиогр.: с. 175 (9 назв. ) . - ISSN 0869-5032
Рубрики: Геология--Минералогия Кл.слова (ненормированные): наноинденторы -- аморфные сплавы -- сдвиги -- полосы сдвига -- железо -- хром -- молибден -- ванадий -- бор -- кремний Аннотация: Изучены закономерности развития полос сдвига в аморфном сплаве Fe-Cr-Mo-V-B-Si при наноиндентировании его поверхности. Доп.точки доступа: Дуб, С. Н.; Шепелевич, В. Г.; Остриков, О. М. |
539.2 А 640 Анализ свойств и структура оксидированых покрытий, полученных на Al-Cu- и Al-Mg-сплавах [Текст] / А. Д. Погребняк [и др.] // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 6. - С. 106-114. - Библиогр.: c. 114 (21 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): оксидированные покрытия -- оксидные покрытия -- защитные покрытия -- оксиды алюминия -- окислы алюминия -- сплавы алюминия -- электролитно-плазменное оксидирование -- микродуговое оксидирование -- растровая электронная микроскопия -- рентгенофазовый анализ -- резерфордовское обратное рассеяние -- обратное рассеяние ионов -- наноинденторы -- тесты на износ -- коэффициент трения -- акустическая эмиссия -- твердость -- износостойкость -- температуропроводность -- стехиометрия Аннотация: Представлены результаты новых исследований по созданию защитных оксидных покрытий на основе Al[2]O[3] (Si, Mn) на сплавах алюминия с помощью электролитно-плазменного оксидирования. Анализ проводился с помощью растровой электронной микроскопии (энергодисперсным микроанализом), а также рентгенофазового анализа (XRD), резерфордовского обратного рассеяния ионов (RBS) {4}He{+}, применения наноиндентора и тестов на износ, определения коэффициента трения и акустической эмиссии. Результаты показали, что формируются покрытия хорошего качества с высокой твердостью и стойкостью к износу, а также малой температуропроводностью. Обнаружено, что наряду с Al[2]O[3] в покрытии находятся Si, Mn, C и Ca. Определена стехиометрия данного покрытия. Плотность и твердость покрытия близка по значениям к таковым у alpha-фазы Al[2]O[3] в покрытии на подложке Al-Cu (D-16), а на покрытии, осажденном на подложке Al-Mg (S006), эти величины в 1. 5 раза меньше. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/06/p106-114.pdf Доп.точки доступа: Погребняк, А. Д.; Кылышканов, М. К.; Тюрин, Ю. Н.; Каверина, А. Ш.; Якущенко, И. В.; Борисенко, А. А.; Постольный, Б. А.; Кулик, И. А. |