539.3/.6 Б 448 Беляков, А. Н. Анализ искажений кристаллической решетки сильнодеформированных металлических материалов с помощью просвечивающей электронной микроскопии [Текст] / А. Н. Беляков, М. С. Тихонова, Р. О. Кайбышев // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2012. - Т. 78, № 1, ч. 1. - С. 55-58. - Библиогр.: с. 58 (9 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Техника Сопротивление материалов Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): искажения кристаллической решетки -- кристаллические решетки -- сильнодеформированные металлические материалы -- металлические материалы -- просвечивающая электронная микроскопия -- электронная микроскопия -- микроскопия -- микронапряжения -- дифракция Кикучи -- Кикучи дифракция -- субмикрокристаллические материалы -- рентгеноструктурный анализ Аннотация: Описан способ определения локальных искажений кристаллической решетки с помощью дифракции Кикучи в сходящемся электронном пучке. Показана возможность определения искривлений решетки внутри отдельных кристаллитов в субмикрокристаллических материалах, полученных методами интенсивной пластической деформации. Доп.точки доступа: Тихонова, М. С.; Кайбышев, Р. О. |
539.26 Б 121 Бабанов, Ю. А. Высокоразрешающий метод EXAFS-диагностики локальных искажений кристаллической решетки в мультислойных металлических наноструктурах [Текст] / Ю. А. Бабанов, авт. Ю. А. Саламатов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2011. - Т. 77, N 1. - С. 35-41. - Библиогр.: с. 41 (11 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Экспериментальные методы и аппаратура молекулярной физики Кл.слова (ненормированные): высокоразрешающие методы -- спектроскопия -- EXAFS-диагностика -- искажения кристаллической решетки -- мультислойные металлические наноструктуры -- металлические наноструктуры -- наноструктуры -- многокомпонентные системы -- метод регуляризации Тихонова -- Тихонова метод регуляризации -- EXAFS-спектроскопия Аннотация: Описан метод EXAFS-спектроскопии, позволяющий получать величины парциальных межатомных расстояний в многокомпонентных системах с высокой точностью. Доп.точки доступа: Саламатов, Ю. А. |