Влияние контактов металл-сегнетоэлектрик на формирование объемного заряда в сегнетоэлектрических тонкопленочных конденсаторах [Текст] / А. Б. Козырев [и др. ] // Письма в "Журнал технической физики". - 2009. - Т. 35, вып: вып. 13. - С. 1-7 : ил. - Библиогр.: с. 7 (12 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Электростатика Энергетика Конденсаторы Кл.слова (ненормированные): сегнетоэлектрики -- металл-сегнетоэлектрики -- конденсаторные структуры -- конденсаторы -- тонкопленочные конденсаторы -- сегнетоэлектрические тонкопленочные конденсаторы -- объемные заряды -- формирование зарядов -- пленки -- Ba[0. 3]Sr[0. 7]TiO[3] (BSTO) -- пороговые напряжения -- технологические особенности -- формирование контактов -- экспериментальные данные -- инжекция носителей заряда -- сегнетоэлектрические пленки -- Pt-BSTO -- кислородная атмосфера Аннотация: Проведены исследования быстродействия конденсаторных структур на основе пленки Ba[0. 3]Sr[0. 7]TiO[3] (BSTO) с различными условиями изготовления контакта металл-сегнетоэлектрик. Обнаружены пороговые напряжения возникновения остаточного объемного заряда. На основе сопоставления технологических особенностей формирования контактов и экспериментальных данных сделан вывод о возможности подавления инжекции носителей заряда в сегнетоэлектрическую пленку путем формирования контактов конденсатора Pt-BSTO в кислородной атмосфере. Доп.точки доступа: Козырев, А. Б.; Гайдуков, М. М.; Гагарин, А. Г.; Алтынников, А. Г.; Разумов, С. В.; Тумаркин, А. В. |
621.382 Г 524 Глазов, А. Л. Анализ процессов теплопередачи в контактах многоэлементных полупроводниковых ключей-размыкателей лазерным термоволновым методом [Текст] / А. Л. Глазов, В. А. Козлов, К. Л. Муратиков // Письма в "Журнал технической физики". - 2011. - Т. 37, вып. 24. - С. 16-25 : ил. - Библиогр.: с. 25 (10 назв. ) . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Радиоэлектроника Полупроводниковые приборы Кл.слова (ненормированные): полупроводниковые структуры -- диодные структуры -- полупроводниковые диодные структуры -- ключи-размыкатели -- импульсные ключи-размыкатели -- полупроводниковые ключи-размыкатели -- высоковольтные ключи-размыкатели -- теплопередача -- процессы теплопередачи -- анализ процессов -- теплоперенос -- процессы теплопереноса -- лазерная диагностика -- термоволновая диагностика -- методы лазерной термоволновой диагностики -- теоретические модели -- тепловые волны -- распространение волн -- технологические особенности -- полупроводниковые элементы -- сварка -- спайка -- теплофизические контакты -- термоволновые методы -- лазерные методы -- лазерные термоволновые методы -- исследования Аннотация: Методами лазерной термоволновой диагностики исследованы процессы теплопереноса в межсоединениях полупроводниковых диодных структур высоковольтных импульсных ключей-размыкателей, собранных по технологии "столбов". Предложена теоретическая модель процессов распространения тепловых волн в подобных структурах с учетом технологических особенностей подготовки поверхностей полупроводниковых элементов, слоев спайки или сварки. Показано, что лазерные термоволновые методы позволяют диагностировать качество теплофизических контактов между элементами ключей-размыкателей при различных технологиях их соединений. Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2011/24/p16-25.pdf Доп.точки доступа: Козлов, В. А.; Муратиков, К. Л. |