539.2 К 705 Коршунов, А. Б. Аналитический метод определения параметров тонкой кристаллической структуры по улучшению рентгеновских линий [Текст] / А. Б. Коршунов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 2. - Библиогр.: с. 32 (7 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): деформации -- когерентное рассеяние -- кристаллическая структура -- микродеформации -- модуль Юнга -- погрешности -- рассеяние -- рентгеновские линии Аннотация: Предложен аналитический метод определения параметров тонкой кристаллической структуры и величин абсолютной и относительной погрешностей расчета значений областей когерентного рассеяния и микродеформации. |
539.2 К 705 Коршунов, А. Б. О расчете ошибок определения D и величины микродеформаций решетки в аналитическом методе определения параметров тонкой кристаллической структуры по уширению рентгеновских линий [Текст] / А. Б. Коршунов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 9 . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): аналитические методы -- диперсность -- кристаллические структуры -- микродеформации решетки -- рентгеновские линии -- решетки (физика) Аннотация: Представлены упрощенные способы расчета относительных ошибок определения дисперсности блоков D и величины микродеформаций решетки. |
539.2 И 204 Иванов, А. Н. Метод Фойгт-аппроксимации для определения параметров наноструктуры по профилю рентгеновских линий [Текст] / А. Н. Иванов, Е. В. Шелехов, Е. Н. Кузьмина // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2004. - Т. 70, N 11. - Библиогр.: с. 33 (10 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): аппроксимация -- Гаусса функции -- истирание -- Коши функции -- механическое истирание -- нанокристаллические материалы -- наноматериалы -- наноструктуры -- рентгеновские линии -- Фойгта функции -- Фойгт-аппроксимация -- функции Гаусса -- функции Коши -- функции Фойгта Аннотация: Разработан метод определения параметров наноструктуры с помощью аппроксимации профилей исследуемых рентгеновских линий функциями Фойгта (свертка функций Коши и Гаусса) - метод Фойгт-аппроксимации. Доп.точки доступа: Шелехов, Е. В.; Кузьмина, Е. Н. |
539.2 И 201 Иванов, А. Н. Диагностика начальных стадий выделения фазы по изменению профиля рентгеновских линий твердого раствора [Текст] / А. Н. Иванов, Л. М. Крюкова, В. М. Чернов // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 12. - С. 22-25. - Библиогр.: с. 25 (4 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Физика Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): PROFILE (программы) -- диагностика -- программы -- профили рентгеновских линий -- рентгеновские линии -- синхротронное излучение -- твердые растворы -- фазы Аннотация: Проведена диагностика начальных стадий выделения фазы по изменению профиля рентгеновских линий твердого раствора. Доп.точки доступа: Крюкова, Л. М.; Чернов, В. М. |
Исследование электронной структуры катионов Mn, Sr, La, Ce и Sm в манганитах Ln[1-x]Sr[x]MnO[3] (Ln = La, Ce, Sm) методом смещений рентгеновских линий [Текст] / А. Е. Совестнов [и др. ] // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 1. - С. 55-62 . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Теоретическая физика Кл.слова (ненормированные): рентгеновские линии -- катионы -- манганиты -- электронные структуры Аннотация: На кристалл-дифракционных спектрометрах измерены смещения рентгеновских Kх[альфа]-линий Mn, Sr, La, Ce и Sm в манганитах Ln[1-x]Sr[x]MnO[3] (Ln = La, Ce, Sm). Доп.точки доступа: Совестнов, А. Е.; Тюнис, А. В.; Фомин, Э. В.; Петрунин, А. А.; Курбаков, А. И.; Мелех, Б. Т. |
Кристалл-дифракционный спектрометр по Иоганну для измерения малых энергетических смещений рентгеновских линий в области "мягких" энергий [Текст] / А. А. Петрунин [и др. ] // Письма в журнал технической физики. - 2009. - Т. 35, вып: вып. 2. - С. 42-48 . - ISSN 0320-0116
Рубрики: Физика Физические приборы и методы физического эксперимента Кл.слова (ненормированные): кристалл-дифракционные спектрометры -- малые энергетические смещения -- рентгеновские линии -- спектрометры -- схема Иоганна -- Иоганна схема Аннотация: Описывается созданный в ПИЯФ спектрометр по схеме Иоганна. Прибор предназначен для изучения электронной структуры легких элементов, в частноcти 3d-металлов (начиная со Sc), в их соединениях. Область энергий, на которую он рассчитан, составляет от 4 до 15 keV. Его особенностью является то, что на нем, как и на имеющихся в лаборатории спектрометрах по схеме Кошуа, предусмотрена возможность одновременно измерять химические смещения и другие параметры рентгеновских линий одного и того же элемента в двух соединениях, обладающих особыми физическими свойствами (валентностью, магнитным сопротивлением и другими характеристиками). На этом приборе возможны исследования электронной структуры элементов от Sc до Br на K-серии и от Ba до Pb на L-серии. Исследования в этой области физики твердого тела актуальны и обширны как с экспериментальной, так и с теоретической точки зрения. Доп.точки доступа: Петрунин, А. А.; Совестнов, А. Е.; Тюнис, А. В.; Фомин, Э. В. |