Библиотека Омского государственного университета им. Ф.М. Достоевского

Электронные ресурсы

Базы данных

Статьи из журналов: 2001-2014 - результаты поиска

Вид поиска

Электронный каталог

Статьи из журналов: 2001-2014

Труды ОмГУ

История ОмГУ

Сводный каталог периодических изданий вузовских библиотек г.Омска

Область поиска

Формат представления найденных документов:
полный	информационный	краткий

Отсортировать найденные документы по:
автору	заглавию	году издания	типу документа

Поисковый запрос: (<.>A=Сердобинцев, А. А.$<.>)

Общее количество найденных документов : 12
Показаны документы с 1 по 12

539.2
Р 66

Роках, А. Г.
О вторично-ионном фотоэффекте [Текст] / А. Г. Роках, С. В. Стецюра, А. А. Сердобинцев, А. Г. Жуков // Известия вузов. Прикладная нелинейная динамика. - 2006. - Т. 14, N 1. - С. 113-119. - Библиогр.: с. 118 (10 назв. ) . - ISSN 0869-6632

УДК

539.2

621.38

ББК 32.85 + 22.37
Рубрики: Радиоэлектроника--Электроника
Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
фотоэффект -- вторично-ионный фотоэффект -- полупроводники -- фоточувствительные полупроводники -- физические эксперименты
Аннотация: Показано, что в процессе ионной бомбардировки освещение может изменять выход вторичных ионов из фоточувствительных полупроводников. Дана классификация наблюдаемого явления по реакции на освещение. Приведена аппроксимация зависимости выхода ионов от изменения электронной работы выхода на основе предположения, что изменение определяется смещением электронного квазиуровня Ферми в результате освещения.

Доп.точки доступа:
Стецюра, С. В.; Сердобинцев, А. А.; Жуков, А. Г.

Найти похожие

539.2
С 324

Сердобинцев, А. А.
Вторично-ионная масс-спектрометрия фотопроводящих мишеней [Текст] / А. А. Сердобинцев, А. Г. Роках, С. В. Стецюра, А. Г. Жуков // Журнал технической физики. - 2007. - Т. 77, N 11. - С. 96-102. - Библиогр.: c. 102 (16 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика--Физика твердого тела
Кл.слова (ненормированные):
вторично-ионная масс-спектрометрия; вторично-ионный фотоэффект; ионное распыление; масс-спектрометрия; фотопроводящие мишени; фотопроводящие пленки; фотоэффект
Аннотация: В результате исследований фотопроводящих пленок CdS-PbS методом вторично-ионной масс-спектрометрии обнаружено изменение выхода положительных вторичных ионов при освещении. При бомбардировке положительными ионами кислорода выход ионов кадмия уменьшался, а ионов свинца - увеличивался при облучении пленок видимым светом. Обнаруженные явления дали основания говорить об обнаружении вторично-ионного фотоэффекта и были названы нормальным и аномальным вторично-ионным фотоэффектом соответственно. Предложены объяснения и предварительное количественное описание наблюдаемых явлений.

Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2007/11/p96-102.pdf

Доп.точки доступа:
Роках, А. Г.; Стецюра, С. В.; Жуков, А. Г.

Найти похожие

537.311.33
С 324

Сердобинцев, А. А.
Показатель преломления и постоянная решетки пленок оксида цинка, модифицированных в низкотемпературной плазме [Текст] / А. А. Сердобинцев, Е. И. Бурылин [и др.] // Журнал технической физики. - 2008. - Т. 78, N 3. - С. 83-85. - Библиогр.: c. 77 (6 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

537.311.33

ББК 22.379
Рубрики: Физика
Физика полупроводников и диэлектриков
Кл.слова (ненормированные):
показатель преломления -- постоянная решетки -- оксид цинка -- гомогенные структуры -- тонкие пленки -- модифицированные пленки
Аннотация: Исследованы кристаллографические и оптические свойства пленок ZnO, полученных в области рекомбинационного горения низкотемпературной плазмы. Определен показатель преломления и установлена его корреляция с постоянной решетки по оси c. Получена планарная гомогенная структура из двух пленок ZnO с разными показателями преломления, на примере которой показаны возможные области практического использования.

Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2008/03/p83-85.pdf

Доп.точки доступа:
Бурылин, Е. И.; Веселов, А. Г.; Кирясова, О. А.; Джумалиев, А. С.

Найти похожие

621.315.592
С 324

Сердобинцев, А. А.
Свойства пленок оксида цинка, синтезированных в низкотемпературном плазменном разряде в условиях бомбардировки компонентами плазмы [Текст] / А. А. Сердобинцев, А. Г. Веселов, О. А. Кирясова // Физика и техника полупроводников. - 2008. - Т. 42, вып. 4. - С. 496-499 . - ISSN 0015-3222

УДК

621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Полупроводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
пленки (физика) -- оксид цинка -- низкотемпературная плазма -- плазменный разряд -- диффузный режим
Аннотация: Изучены оптические и структурные свойства тонких пленок оксида цинка, синтезированных в условиях бомбардировки компонентами низкотемпературной плазмы. Пленки синтезировались на холодной подложке, расположенной на расстоянии от мишени, сравнимом с длиной свободного пробега выбитых из мишени частиц. Определены показатель преломления, оптическая ширина запрещенной зоны и межплоскостное расстояние исследуемых пленок. Обнаружена зависимость этих параметров от длины свободного пробега частиц, определяемой давлением в распылительной камере. Выявлена устойчивая корреляция между параметрами пленок и интенсивностью бомбардировки. Предлагается качественное объяснение, основанное на анализе энергетических условий синтеза пленок.

Доп.точки доступа:
Веселов, А. Г.; Кирясова, О. А.

Найти похожие

Свойства пленок пермаллоя, полученных в потоках низкотемпературной плазмы с управляемым составом [Текст] / В. А. Александров [и др. ] // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 8. - С. 142-145. - Библиогр.: c. 146 (6 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

^a533.9

ББК 22.333
Рубрики: Физика
Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Кл.слова (ненормированные):
плазма -- плазменные распылительные системы -- пленки пермаллоя -- магнитоактивные пленки -- рост пленок -- пермаллой
Аннотация: Предложена простая реализация потокообразующей плазменной распылительной системы. Управление составом, энергией и плотностью потока частиц позволило установить причины, определяющие свойства пленок. Установлено, что электронная составляющая потока, а также усиление ионной компоненты негативно влияют на магнитные свойства пленок. Определяющее влияние на ширину линии ферромагнитного резонанса (ФМР) пленок толщиной 10-150 nm оказывает энергия нейтральной составляющей потока, определяемая условиями распыления при напряжении на аноде 400-700 V. В этом достаточно узком диапазоне энергий значение ФМР составило 25 Oe на холодных подложках.

Доп.точки доступа:
Александров, В. А.; Веселов, А. Г.; Кирясова, О. А.; Сердобинцев, А. А.

Найти похожие

Морфология поверхности, оптические и магнитные свойства мультислойных наноразмерных пленок полиэлектролит/наночастицы магнетита [Текст] / Д. А. Горин [и др. ] // Журнал технической физики. - 2009. - Т. 79, N 11. - С. 113-119. - Библиогр.: c. 118-119 (31 назв. ) . - ISSN 0044-4642

УДК

^a539.2

ББК 22.37
Рубрики: Физика
Физика твердого тела. Кристаллография в целом
Кл.слова (ненормированные):
мультислойные пленки -- нанормазмерные пленки -- подиэлектролит -- магнетит -- полиионная сборка -- композитные покрытия -- нанокомпозитные пленки -- наночастицы
Аннотация: Методом полиионной сборки получены наноразмерные композитные покрытия полиэлектролит/наночастицы оксида железа, проведена их характеризация с помощью методов атомно-силовой микроскопии, электронного магнитного резонанса, эллипсометрии, вторично-ионной масс-спектрометрии. Проведенный комплекс исследований позволил установить зависимость между количеством слоев наночастиц магнетита в нанокомпозитной пленке и ее показателем преломления, толщиной и шероховатостью поверхности. Обнаружена нелинейная зависимость интенсивности сигнала электронного магнитного резонанса от числа слоев магнитных наночастиц в пленке.

Доп.точки доступа:
Горин, Д. А.; Ященок, А. М.; Кокшаров, Ю. А.; Невешкин, А. А.; Сердобинцев, А. А.; Григорьев, Д. О.; Хомутов, Г. Б.

Найти похожие

Импульсное напыление в низкотемпературной плазме тонких пленок с наноразмерной периодичностью свойств [Текст] / А. А. Сердобинцев [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып: вып. 6. - С. 859-862 : ил. - Библиогр.: с. 862 (10 назв. ) . - ISSN 0015-3222

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Проводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
напыления -- импульсные напыления -- распылительные системы -- импульсы -- импульсы напряжения -- импульсный режим -- низкотемпературные плазмы -- масс-спектроскопия -- вторично-ионная масс-спектроскопия -- фотолюминесценция
Аннотация: Исследован процесс формирования пленки в низкотемпературной плазме с импульсным режимом работы. Последовательность импульсов напряжения на распылительной системе содержала серии коротких и длинных импульсов, причем время короткого импульса выбиралось меньше времени установления режима тлеющего разряда. Методом вторично-ионной масс-спектрометрии подтверждено формирование наноразмерной периодичности состава в полученных пленках. Исследована фотолюминесценция синтезированных в импульсном режиме пленок, обнаружена возможность управления характером и интенсивностью люминесценции.

Доп.точки доступа:
Сердобинцев, А. А.; Веселов, А. Г.; Кирясова, О. А.; Портнов, С. А.; Браташов, Д. Н.

Найти похожие

Влияние параметров узкозонных включений на тип и величину вторично-ионного фотоэффекта в гетерофазных фотопроводниках [Текст] / С. В. Стецюра [и др. ] // Физика и техника полупроводников. - 2009. - Т. 43, вып: вып. 8. - С. 1102-1108 : ил. - Библиогр.: с. 1107-1108 (12 назв. ) . - ISSN 0015-3222

УДК

^a621.315.592

ББК 31.233
Рубрики: Энергетика
Проводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
фотоэффекты -- вторично-ионные фотоэффекты -- ВИФЭ -- типы -- величины -- фотопроводники -- гетерофазные фотопроводники -- твердые растворы -- пересыщенные твердые растворы -- распад -- технология Ленгмюра-Блоджетт -- технология ЛБ -- Ленгмюра-Блоджетт технология -- ЛБ технология -- узкозонные включения -- преципитаты -- масс-спектрометрия -- масс-спектры -- масс-спектрометрический метод -- вторично-ионная масс-спектрометрия -- ВИМС -- математическое моделирование -- распыление -- глубина распыления -- корреляция -- экспериментальные данные -- сульфид кадмия -- Cds -- сульфид свинца -- PbS
Аннотация: Применение технологии Ленгмюра-Блоджетт при получении гетерофазных поликристаллических пленочных образцов CdS-PbS позволило определить параметры образованных в результате распада пересыщенного твердого раствора CdS и PbS узкозонных преципитатов PbS с использованием методов анализа масс-спектров и математического моделирования. Обнаружена корреляция между размерами преципитатов и величиной вторично-ионного фотоэффекта. На основе экспериментальных данных и результатов моделирования предлагается объяснение впервые обнаруженной смены типа вторично-ионного фотоэффекта с увеличением глубины распыления. Сделан вывод о нелинейной зависимости вторично-ионного фотоэффекта от размеров преципитатов PbS и о существовании минимального среднего размера преципитата, при котором наблюдается влияние узкозонных включений PbS на тип вторично-ионного фотоэффекта.

Доп.точки доступа:
Стецюра, С. В.; Маляр, И. В.; Сердобинцев, А. А.; Климова, С. А.

Найти похожие

621.382.049.772.1
В 586

Влияние ионов металлов на формирование и свойства монослоев и наноразмерных пленок Ленгмюра-Блоджетт на основе дифильных аминометилированных каликс[4]резорцинаренов [Текст] / А. А. Невешкин [и др.] // Журнал физической химии. - 2008. - Т. 82, N 2. - С. 316-321. - Библиогр.: c. 320-321 (19 назв. ) . - ISSN 0044-4537

УДК

621.382.049.772.1

ББК 32.85
Рубрики: Радиоэлектроника
Электроника
Кл.слова (ненормированные):
дифильные аминометилированные производные -- ионы металлов -- каликс[4]резорцинарены -- Ленгмюра-Блоджетт технология -- молекулы органических соединений -- молекулы-рецепторы -- монослои -- наноразмерные пленки -- пленки -- твердые подложки -- технология Ленгмюра-Блоджетт
Аннотация: изучено поведение монослоев трех дифильных аминометилированных производных каликс[4]резорцинаренов на поверхности как чистой водной субфазы, так и субфазы, содержащий ионы меди. никеля, европия, тербия, лантана.

Доп.точки доступа:
Невешкин, А. А.; Русанова, Т. Ю.; Румянцева, С. С.; Сердобинцев, А. А.; Подкосов, К. В.; Штыков, С. Н.; Климов, Б. Н.; Горин, Д. А.; Рыжкина, И. С.

Найти похожие

10.

539.21:535
С 585

Создание микронных областей с измененными люминесцентными свойствами и топологией на пленках CdS[x]Se[1-x] посредством лазерного отжига [Текст] / Д. Н. Браташов [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 12. - С. 45-52 : ил. - Библиогр.: с. 52 (14 назв.) . - ISSN 0320-0116

УДК

539.21:535

535.37

ББК 22.374 + 22.345
Рубрики: Физика
Оптические свойства твердых тел
Люминесценция
Кл.слова (ненормированные):
твердые растворы -- поликристаллические пленки -- тонкие пленки -- лазерный отжиг -- люминесцентные свойства -- изменение люминесцентных свойств -- микронные области -- создание микронных областей -- топологические рельефы -- микронная точность областей -- физические свойства -- полупроводниковые датчики
Аннотация: Проведен лазерный отжиг тонких поликристаллических пленок твердых растворов CdS[x]Se[1-x], имеющий пороговый характер и сопровождающийся скачкообразным изменением люминесцентных свойств материала в области отжига. Образуемый в результате локального лазерного отжига топологический рельеф и возможность создания на заданном участке с микронной точностью областей с резко отличающимися физическими свойствами делает разработку перспективной для производства матриц полупроводниковых датчиков.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/12/p45-52.pdf

Доп.точки доступа:
Браташов, Д. Н.; Климова, С. А.; Сердобинцев, А. А.; Маляр, И. В.; Стецюра, С. В.

Найти похожие

11.

539.21:534
И 889

Исследование зависимости пьезоактивности пленок оксида цинка от условий синтеза в критических режимах тлеющего разряда [Текст] / В. А. Александров [и др.] // Письма в "Журнал технической физики". - 2012. - Т. 38, вып. 18. - С. 41-44 : ил. - Библиогр.: с. 44 (3 назв.) . - ISSN 0320-0116

УДК

539.21:534

536.22/.23

533.9

ББК 22.372 + 22.365 + 22.333
Рубрики: Физика
   Механические и акустические свойства монокристаллов
   Газы и жидкости
   Электронные и ионные явления. Физика плазмы
Кл.слова (ненормированные):
цинк -- оксид цинка -- пленки оксида цинка -- пьезоактивность пленок -- синтез пленок -- тлеющие разряды -- критические режимы -- условия синтеза -- газы -- давление газов -- результаты исследований -- магнетронные распылительные системы -- МРС -- гиперзвук -- объемный гиперзвук -- возбуждение гиперзвука -- ионы -- электроны -- дрейфовая компонента -- осаждаемые частицы -- потоки частиц -- свойства пленок
Аннотация: Представлены результаты исследования влияния давления газов в магнетронной распылительной системе (МРС) при синтезе пленок ZnO на эффективность возбуждения объемного гиперзвука. Эксперименты проведены при давлениях, близких к переходу тлеющего разряда в МРС в таунденсовский, где длина свободного пробега ионов и электронов возрастает и появляется дрейфовая компонента в потоке осаждаемых частиц. Показано, что в этих условиях возрастает эффективность возбуждения гиперзвука (частота больше 1 GHz), что авторы связывают с уменьшением текстуры зарождения и возрастанием плотности пленки. Выводы сделаны на основании сравнения со свойствами пленок, полученных в классическом диффузном тлеющем разряде.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/pjtf/2012/18/p41-44.pdf

Доп.точки доступа:
Александров, В. А.; Веселов, А. Г.; Кирясова, О. А.; Сердобинцев, А. А.

Найти похожие

12.

537
М 662

Митин, Д. М.
Свойства пленок кремния, выращенных при разных давлениях в плазмообразующей системе / Д. М. Митин, авт. А. А. Сердобинцев // Физика и техника полупроводников. - 2013. - Т. 47, вып. 9. - С. 1276-1278 : ил. - Библиогр.: с. 1278 (9 назв.) . - ISSN 0015-3222

УДК

537

621.315.592

ББК 22.33 + 31.233
Рубрики: Физика
   Электричество и магнетизм в целом
   Энергетика
   Полупроводниковые материалы и изделия
Кл.слова (ненормированные):
тонкие пленки -- свойства пленок -- магнетронное распыление -- метод магнетронного распыления -- пленки кремния -- кремний -- Si -- шероховатость -- удельное сопротивление -- давление
Аннотация: Изучено влияние давления рабочего газа на свойства тонких пленок кремния, синтезированных методом магнетронного распыления на постоянном токе. Пленки, полученные при более низких давлениях, отличаются меньшей шероховатостью и меньшим удельным сопротивлением. Качественно это можно объяснить большей длиной свободного пробега частиц в потоке осаждения при меньших давлениях.
The influence of plasma-forming gas pressure on the properties of silicon thin films synthesized by DC magnetron sputtering has been investigated. The films obtained at lower pressures have less roughness and lower resistivity. This can be qualitatively explained by a greater free path of the particles in the deposition flow at lower pressures.

Перейти: http://journals.ioffe.ru/ftp/2013/09/p1276-1278.pdf

Доп.точки доступа:
Сердобинцев, А. А.; Саратовский государственный университет им. Н. Г. ЧернышевскогоСаратовский филиал Института радиотехники и электроники им. В. А. Котельникова Российской академии наук

Найти похожие

© Международная Ассоциация пользователей и разработчиков электронных библиотек и новых информационных технологий
(Ассоциация ЭБНИТ)