Тюрин, Ю. Н. Особенности электролитно-плазменной закалки (ЭПЗ [Текст] / Ю. Н. Тюрин, А. Д. Погребняк // Журнал технической физики. - 2002. - Т.72,N11. - Библиогр.: с.120 (9 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика плазмы Кл.слова (ненормированные): плазменные слои -- электролитно-плазменная закалка -- электролиты Аннотация: Приведен анализ процессов в электролите и плазменном слое, который образуется между жидким электродом-анодом и твердой поверхностью изделия. В результате обоснован метод управления плотностью мощности нагрева поверхности за счет периодического изменения времени подключения повышенного электрического напряжения и его величины. Это позволяет управлять скоростью нагрева и охлаждения поверхности изделия в диапазоне от 20 до 500`C/s и соответственно нагревать поверхностные слои на глубину 0.1... 10 mm Доп.точки доступа: Погребняк, А.Д. |
539.2 П 438 Погребняк, А. Д. Структура и свойства покрытия из Al2O3 и Al осажденных микродуговым оксидированием на подложку из графита [Текст] / А. Д. Погребняк, Ю. Н. Тюрин // Журнал технической физики. - 2004. - Т. 74, N 8. - Библиогр.: c. 112 (10 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): графит -- металлизация -- микродуговое оксидирование -- оксид алюминия -- электродуговвая металлизация Аннотация: С помощью электродуговой металлизации Al и микродугового оксидирования (анодно-искрового процесса) получено защитное покрытие из alpha-Al[2]O[3] на поверхности изделия из графита. Анализ, проведенный с помощью растровой электронной микроскопии (SEM) , рентгено-фазового анализа (XRD) и упругого резонанса на протонах (ERDA) , показал хорошее качество покрытия из alpha-Al[2]O[3] и Al. Предложенную технологию можно использовать для создания защитного покрытия в труднодоступных местах изделия, которое изготовлено из графита. Перейти: http://www.ioffe.ru/journals/jtf/2004/08/page-109.html.ru Доп.точки доступа: Тюрин, Ю. Н. |
Погребняк, А. Д. Структура и свойства твердого сплава, нанесенного на медную подложку с помощью импульсно-плазменной технологии [Текст] / А. Д. Погребняк, М. В. Ильяшенко [и др.] // Журнал технической физики. - 2001. - Т.71,N7. - Библиогр.: с. 118 (24 назв.) . - ISSN 0044-4642 Рубрики: Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): импульсные плазмотроны -- твердые сплавы -- металлокерамика -- керамика -- металлы -- покрытия Аннотация: Разработан новый принцип плазменного плазмотрона для нанесения покрытий из металлокерамики, керамики и металлов на твердую подложку. Представлены расчеты, по которым подбирались параметры плазмотрона. На примере твердого сплава (W-Co), нанесенного на подложку из Cu, показано использование данного плазмотрона. С помощью методов резерфордовского обратного рассеяния (RBS), рентгенофазового анализа, просвечивающей электронной микроскопии (TEM) с дифракцией, измерения твердости и адгезии исследовано покрытие из твердого сплава. Показано, что покрытие состоит из кристаллов WS с гексагональной и кубической решеткой, имеются кристаллиты альфа- и бетта-кобальта размерами около 25nm, а по границам кристаллитов обнаружены частицы W[3]Co[3]C Доп.точки доступа: Ильяшенко, М.В.; Кульментьева, О.П.; Тюрин, Ю.Н.; Кобзев, А.П.; Иванов, Ю.Ф.; Иваний, В.С.; Княшкин, В.С. |
621.9 П 438 Погребняк, А. Д. Физико-химическое состояние покрытия из нержавеющей стали SUS316L, нанесенного на подложку из малоуглеродистой стали SS400 [Текст] / А. Д. Погребняк, О. П. Кульментьева [и др.] // Физика металлов и металловедение. - 2004. - Т. 97, N 5. - Библиогр.: с. 52 (20 назв. ) . - ISSN 0015-3230
Рубрики: Машиностроение--Станки и инструменты Кл.слова (ненормированные): стали -- нержавеющие стали -- малоуглеродистые стали -- электронная микроскопия -- плазменная обработка -- подложки -- рассеяние Аннотация: Методами просвечивающей электронной дифракционной микроскопии, рентгеноструктурного анализа, упругого резонанса протонов изучены дефектная субструктура, фазовый и элементный состав покрытий из нержавеющей стали SUS316L, нанесенных на подложку из малоуглеродистой стали SS400 плазменно-детонационным методом. Доп.точки доступа: Кульментьева, О. П.; Кшнякин, В. С.; Тюрин, Ю. Н.; Кобзев, А. П.; Курода, С.; Иванов, Ю. Ф. |
621.795.3 П 43 Погребняк, А. Д. Модификация свойств материалов и покрытий с помощью плазменных струй [] / А. Д. Погребняк, Ю. Н. Тюрин // Успехи физических наук. - 2005. - Т. 175, N 5. - С. 515-544. - Библиогр.: с. 543-544 (97 назв. ). - ил.: 23 рис., 8 табл. . - ISSN 0042-1294
Рубрики: Физика--Физика твердого тела Техника--Обработка материалов Кл.слова (ненормированные): осаждение покрытий -- плазменные струи -- процессы легирования -- термическая плазма -- обработка материалов -- нанесение покрытий -- напыление покрытий Аннотация: Обсуждается влияние параметров термической плазмы на эффективность обработки поверхности металлических материалов. Анализируются структура и свойства защитных покрытий, полученных посредством воздействия импульсной плазмы. Рассмотрено новое направление формирования комбинированных покрытий. Их структура и свойства изучения на примере Fe, Cu, сталей и сплавов, включая титановые сплавы; показана возможность управления процессом модификации с помощью воздействия импульсных плазменных струй. Проанализированы физические факторы, влияющие на процессы модификации, нанесение покрытий, и их влияние на структуру и свойства металлических, металлокерамических и керамических покрытий. Доп.точки доступа: Тюрин, Ю. Н. |
О теории вероятностей и статистике в школьном курсе [Текст] / Е. А. Бунимович [и др. ] // Математика в школе. - 2009. - N 7. - С. 3-13. - Библиогр.: с. 13 (11 назв. ) . - ISSN 0130-9358
Рубрики: Образование. Педагогика Методика преподавания учебных предметов Кл.слова (ненормированные): преподавание математики -- школьный курс -- учебные пособия -- учебники математики -- теория вероятностей в школе -- математические термины -- комбинаторика в школе -- статистика в школе Аннотация: По итогам работы по введению в школьный курс математики элементов теории вероятностей и статистики, предусмотренных стандартом образования. Предлагается единая система понятий, обозначений и терминологии для преподавания данного раздела математики в школе, согласованная между авторами ряда новых учебных пособий по вероятности и статистике. Доп.точки доступа: Бунимович, Е. А.; Булычев, В. А.; Тюрин, Ю. Н.; Макаров, А. А.; Высоцкий, И. Р.; Ященко, И. В.; Семенов, П. В. |
Преподавание теории вероятностей и статистики в школе по учебному пособию Ю. Н. Тюрина "Теория вероятностей и статистика" [Текст] / Ю. Н. Тюрин [и др. ] // Математика в школе. - 2009. - N 7. - С. 14-31 : 7 табл. - Библиогр.: с. 31 (11 назв. ) . - ISSN 0130-9358
Рубрики: Образование. Педагогика Методика преподавания учебных предметов Кл.слова (ненормированные): преподавание математики -- учебные пособия -- учебники математики -- уроки математики -- школьный курс -- комбинаторика в школе -- тематическое планирование -- статистика в школе -- теория вероятностей в школе Аннотация: Назначение и место статистики и теории вероятностей в школе, приводится краткое описание учебного материала, а также варианты примерного почасового планирования. Об опыте поддержки изучения статистики и теории вероятностей специальными задачами и упражнениями в курсе информатики. Доп.точки доступа: Тюрин, Ю. Н.; Макаров, А. А.; Высоцкий, И. Р.; Ященко, И. В.; Тюрин \ю. Н.\ |
539.2 А 640 Анализ свойств и структура оксидированых покрытий, полученных на Al-Cu- и Al-Mg-сплавах [Текст] / А. Д. Погребняк [и др.] // Журнал технической физики. - 2012. - Т. 82, № 6. - С. 106-114. - Библиогр.: c. 114 (21 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): оксидированные покрытия -- оксидные покрытия -- защитные покрытия -- оксиды алюминия -- окислы алюминия -- сплавы алюминия -- электролитно-плазменное оксидирование -- микродуговое оксидирование -- растровая электронная микроскопия -- рентгенофазовый анализ -- резерфордовское обратное рассеяние -- обратное рассеяние ионов -- наноинденторы -- тесты на износ -- коэффициент трения -- акустическая эмиссия -- твердость -- износостойкость -- температуропроводность -- стехиометрия Аннотация: Представлены результаты новых исследований по созданию защитных оксидных покрытий на основе Al[2]O[3] (Si, Mn) на сплавах алюминия с помощью электролитно-плазменного оксидирования. Анализ проводился с помощью растровой электронной микроскопии (энергодисперсным микроанализом), а также рентгенофазового анализа (XRD), резерфордовского обратного рассеяния ионов (RBS) {4}He{+}, применения наноиндентора и тестов на износ, определения коэффициента трения и акустической эмиссии. Результаты показали, что формируются покрытия хорошего качества с высокой твердостью и стойкостью к износу, а также малой температуропроводностью. Обнаружено, что наряду с Al[2]O[3] в покрытии находятся Si, Mn, C и Ca. Определена стехиометрия данного покрытия. Плотность и твердость покрытия близка по значениям к таковым у alpha-фазы Al[2]O[3] в покрытии на подложке Al-Cu (D-16), а на покрытии, осажденном на подложке Al-Mg (S006), эти величины в 1. 5 раза меньше. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2012/06/p106-114.pdf Доп.точки доступа: Погребняк, А. Д.; Кылышканов, М. К.; Тюрин, Ю. Н.; Каверина, А. Ш.; Якущенко, И. В.; Борисенко, А. А.; Постольный, Б. А.; Кулик, И. А. |
539.2 И 889 Исследование влияния параметров осаждения на структуру и физико-химические свойства защитных покрытий из Al[2]O[3] / А. Д. Погребняк [и др.]. // Журнал технической физики. - 2013. - Т. 83, № 11. - С. 142-145. - Библиогр.: c. 145 (17 назв. ) . - ISSN 0044-4642
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): защитные покрытия -- микродуговое оксидирование -- SEM-микроскопия -- рентгенофазовый анализ -- позитронная аннигиляционная спектроскопия -- PALS -- электролитно-плазменная обработка -- электролитно-плазменное оксидирование -- вакансионные дефекты -- оксид алюминия Аннотация: Три серии образцов покрытий Al[2]O[3] были получены методом микродугового оксидирования при различных условиях осаждения. Они были исследованы с помощью SEM-микроскопии и рентгенофазового анализа XRD. Дефекты и поры в покрытии были исследованы методом позитронной аннигиляционной спектроскопии (PALS) при комнатной температуре, без вакуума. В процессе исследования не обнаружено образование нанометровых пор. Показано, что, меняя условия электролитно-плазменной обработки, можно изменять концентрацию и соотношение разного типа вакансионных дефектов в покрытии из Al[2]O[3]. Перейти: http://journals.ioffe.ru/jtf/2013/11/p142-145.pdf Доп.точки доступа: Погребняк, А. Д.; Комаров, Ф. Ф.; Каверина, А. Ш.; Соболь, О. В.; Тюрин, Ю. Н.; Купчишин, А. И.; Кылышканов, М. К.; Сумский государственный университет; Белорусский государственный университет; Сумский государственный университет; Харьковский политехнический университет; Институт электросварки им. Е. О. Патона НАН Украины; Казахский национальный педагогический университет; Восточно-Казахстанский государственный технический университет им. Д. Серикбаева |