539.2 Т 529 Толстогузов, А. Б. Послойный анализ методом вторично-ионной масс-спектрометрии с измерением тока в цепи образца [Текст] / А. Б. Толстогузов, У. Барди, С. П. Ченакин> // Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования. - 2007. - N 12. - С. 44-51 . - ISSN 0207-3528
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): послойный анализ -- вторично-ионная масс-спектроскопия -- магнетронное напыление -- диоксид титана Аннотация: Детально обсуждаются особенности метода измерения интегрального тока в цепи образца в комбинации с вторично-ионной масс-спектрометрией (ВИМС) при послойном анализе различных тонко-пленочных структур. Приведены результаты профилирования многослойных покрытий CrN/AIN, нанесенных методом магнетронного напыления на поверхность никелевого сплава, пленок диоксида титана на нержавеющей стали и коррозионных слоев, сформированных на поверхности магниевого сплава при взаимодействии с ионной жидкостью. Эти результаты дают основание рассматривать предложенный метод измерения тока образца как полезное и информативное дополнение к традиционному послойному анализу методом ВИМС. Доп.точки доступа: Барди, У.; Ченакин, С. П. |
537 Т 529 Толстогузов, А. Б. Исследование процессов высокотемпературной деградации многослойных тонкопленочных покрытий на основе нитридов хрома и алюминия [Текст] / А. Б. Толстогузов, У. Барди, С. П. Ченакин> // Известия РАН. Серия физическая. - 2006. - Т. 70, N 8. - С. 1217-1221. - Библиогр.: с. 1221 (7 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Электричество и магнетизм Кл.слова (ненормированные): процессы деградации покрытий -- многослойные тонкопленочные покрытия -- высокостойкие покрытия -- фотоэлектронная спектроскопия -- структура защитных покрытий Аннотация: Проведено детальное изучение процессов деградации многослойных тонкопленочных покрытий, осажденных на никелевый сплав методом магнетронного напыления. Доп.точки доступа: Барди, У.; Ченакин, С. П. |
537.534.8 Т 529 Толстогузов, А. Б. Исследование процессов коррозии металлических сплавов под действием ионной жидкости [Текст] / А. Б. Толстогузов, У. Барди, С. П. Ченакин> // Известия РАН. Серия физическая. - 2008. - Т. 72, N 5. - С. 641-644. - Библиогр.: c. 644 (11 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Движение заряженных частиц в электрических и магнитных полях Кл.слова (ненормированные): металлические сплавы -- коррозия -- ионная жидкость -- поверхности -- масс-спектрометрия -- рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия -- поверхностная коррозия Аннотация: Методами масс-спектрометрии вторичных ионов и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии проведено исследование коррозионных слоев, сформированных на поверхности различных сплавов после их длительного взаимодействия с ионной жидкостью. Доп.точки доступа: Барди, У.; Ченакин, С. П. |
535.33 И 889 Исследование состава и энергетических процессов на поверхности электродов свинцово-кислотного аккумулятора [Текст] / С. С. Волков [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 2. - С. 293-297. - Библиогр.: c. 297 (15 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Спектроскопия Энергетика Электротехника в целом Кл.слова (ненормированные): Вольта контактная теория -- вторично-ионная масс-спектроскопия -- десульфатация -- контактная теория Вольта -- оже-спектроскопия -- окислительно-восстановительные реакции -- поверхности электродов -- реакции двойной сульфатации -- свинцово-кислотные аккумуляторы -- спектроскопия обратно рассеянных ионов низких энергий -- химическая энергия -- электрическая энергия Аннотация: Методами спектроскопии обратно рассеянных ионов низких энергий, оже-спектроскопии и вторично-ионной масс-спектроскопии установлено, что на поверхности электродов свинцово-кислотного аккумулятора при работе и зарядке протекают окислительно-восстановительные реакции (Pb Pb[x]O[y]) без участия серы и сульфатов. Доп.точки доступа: Волков, С. С.; Аристархова, А. А.; Гумелев, В. Ю.; Дмитриевский, Ю. Е.; Китаева, Т. И.; Николин, С. В.; Тимашев, М. Ю.; Толстогузов, А. Б.; Трухин, В. В. |
535.33 И 755 Ионно-нейтрализационная модель работы гальванического элемента [Текст] / С. С. Волков [и др.]> // Известия РАН. Серия физическая. - 2010. - Т. 74, N 2. - С. 302-305. - Библиогр.: c. 305 (13 назв. ) . - ISSN 0367-6765
Рубрики: Физика Спектроскопия Энергетика Электротехника в целом Кл.слова (ненормированные): гальванические элементы -- зарядовая емкость -- ионно-нейтрализационная модель -- поверхности -- электродвижущая сила -- электроды -- электролиты -- электроны -- электрохимическая деградация -- энергия связи электронов Аннотация: Разработана ионно-нейтрализационная модель работы гальванического элемента. В этой модели электродвижущая сила образуется на границе раздела электродов вследствие разной энергии связи электронов проводимости в электродах. Длительный ток постоянной величины обеспечивается нейтрализацией ионов электролита на поверхности электродов. Зарядовая емкость определяется объемом электролита и скоростью электрохимической деградации поверхностей электродов в электролите. Источник энергии - потенциальная энергия ионов электролита. Доп.точки доступа: Волков, С. С.; Аристархова, А. А.; Дмитриевский, Ю. Е.; Китаева, Т. И.; Николин, С. В.; Тимашев, М. Ю.; Толстогузов, А. Б.; Трухин, В. В.; Шевченко, Н. П. |