543 А 659 Андрианов, М. В. Эффект контаминации поверхности диэлектрических мишеней при электронном облучении [Текст] / М. В. Андрианов, авт. Э. И. Рау> // Заводская лаборатория. Диагностика материалов. - 2007. - Т. 73, N 8. - С. 41-44. - Библиогр.: с. 44 (20 назв. ) . - ISSN 1028-6861
Рубрики: Химия--Аналитическая химия Физика--Физика твердого тела Кл.слова (ненормированные): артефакты; диэлектрические мишени; контаминационные пленки; контаминация поверхности; микроанализаторы; микроскопы; мишени; облучение; рентгеновские микроанализаторы; сканирующие электронные микроскопы; электронное облучение; электронно-зондовые приборы; электронные микроскопы; эффект контаминации Аннотация: Рассмотрено влияние контаминационной пленки, образующейся при электронной бомбардировке поверхности образца, на условия экспериментов при исследованиях в аналитических электронно-зондовых приборах (сканирующих электронных микроскопах, рентгеновских микроанализаторах). Доп.точки доступа: Рау, Э. И. |
539.2 Р 258 Рау, Э. И. Механизмы зарядки диэлектриков при их облучении электронными пучками средних энергий [Текст] / Э. И. Рау, Е. Н. Евстафьева, М. В. Андрианов> // Физика твердого тела. - 2008. - Т. 50, вып. 4. - С. 599-607. - Библиогр.: с. 607 (18 назв. ) . - ISSN 0367-3294
Рубрики: Физика Физика твердого тела. Кристаллография в целом Кл.слова (ненормированные): диэлектрики -- облучение -- равновесная энергия падающих электронов -- электронное облучение -- электронные пучки средних энергий Аннотация: Качественно и количественно исследованы электронно-эмиссионные и зарядовые характеристики широкого класса массивных диэлектриков. Показано, что при облучении диэлектриков непрерывным электронным пучком средних энергий происходит уменьшение значения равновесной энергии падающих электронов (второй критической энергии) по сравнению с их теоретическими значениями. Равновесное состояние зарядки до насыщения наступает за время от единиц до сотен секунд в зависимости от плотности облучающего тока и энергии электронов, а также в зависимости от материала диэлектрика. Механизмы зарядки объяснены на основе модели образования в процессе облучения двойного слоя зарядов: положительного (с толщиной, равной глубине выхода вторичных электронов) и отрицательного (с толщиной, равной глубине пробега первичных электронов). Доп.точки доступа: Евстафьева, Е. Н.; Андрианов, М. В. |
796.01 А 659 Андрианов, М. В. Спортивная специализация как современный подход к совершенствованию физкультурного образования школьников / М. В. Андрианов> // Теория и практика физической культуры. - 2014. - № 2. - С. 9 . - ISSN 0040-3601
Рубрики: Физическая культура и спорт Теория и методика физического воспитания Образование. Педагогика Методика преподавания учебных предметов Кл.слова (ненормированные): школьники -- физкультурное образование -- физическая подготовленность -- физическое воспитание -- спортивные тренировки -- младшие классы -- средние классы -- старшие классы Аннотация: Основные факторы повышения уровня подготовленности учащихся с помощью использоования принципов, средств и методов спортивной тренировки. |